ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Для определения высоты пирамиды по рис. 117 изобразим отдельно её основание GKL и вершину V (рис. 120, б). В плоскости основания построим горизонталь h(h|h2) и фронталь f(f|f2). Из вершины V(V|V2) проведем нормаль п(п1 Из) к плоскости основания (ni ± hi, П2 J- f2) и построим точку 0(0]02) = п ri(GKL), для чего провели горизонтально проецируюшую плоскость ф(ф|) через прямую п, и прямую (3 - 4) (3i - 4], З2 - 4г) = ф fl(GKL); 0 = (3-4)Пп. Строим Д ViOiO , в котором; [О]О ] = Az; [V1 О ] = [VO] - высота пирамиды; у - угол наклона высоты (нормали) к горизонтальной плоскости проекций; а - угол, равный углу наклона основания (грани) (GKL) к горизонтальной плоскости проекций. Прямая (3 - 4) является линией наибольшего наклона (линией ската) плоскости (GKL) к горизонтальной плоскости проекций. Фронтальная проекция П2 нормали по направлению совпадает с фронтальной проекцией линии наибольшего наклона плоскости (GKL) к фронтальной плоскости проекций. По аналогии с линией (3 - 4) можно построить её горизонтальную проекцию. В треугольнике V2O2O : [О2О ] = Ау; [V2O ] = [V0]; X - угол наклона нормали п к фронтальной плоскости проекций; (3 - угол, равный углу наклона плоскости (GKL) к фронтальной плоскости проекций. [Выходные данные]