Интегральная интенсивность в лини

Обозначения были введены ранее а — полуширина линии, d — расстояние между линиями. Л —интегральная интенсивность в линии, у — толщина слоя газа. [c.132]

Интегральная интенсивность в линии 108 [c.607]

Ранее неоднократно отмечалось, что свет, излучаемый атомами, не является строго монохроматическим и состоит из спектральных составляющих, которые расположены в некотором интервале частот, имеющем определенную конечную ширину (см. 158). Все изложенное в настоящем параграфе относилось к так называемой интегральной интенсивности спектральной линии, т. е. к сумме всех ее монохроматических составляющих. Если применяется спектральный аппарат достаточно высокой разрешающей силы, то можно измерить и спектральную плотность излучения внутри линии, или, как говорят, контур спектральной линии. [c.737]

Этот способ можно видоизменить. Входную щель спектрометра сделать широкой, а выходную узкой. Максимальное отклонение пера записывающего потенциометра в данном случае также будет определять интегральную интенсивность исследуемой линии. [c.126]

Анализу подвергали рентгенограммы образцов, испытанных в условиях установившегося режима трения. Оценивали изменение интегральной интенсивности дифракционных линий — отражений от плоскостей (220), (311), (222) по отношению к интенсивности эталонной линии (222) (0 = 50°) алюминия. Результаты анализа показали, что если на глубине около 5 мкм аномальный характер изменения интенсивности дифракционных максимумов, вызванный предварительной обработкой образцов, несколько сохраняется, то в тонких поверхностных слоях указанная аномалия полностью отсутствует. [c.107]

Формирование слоистой структуры в результате диффузионных и деформационных процессов в присутствии поверхностноактивной смазочной среды обусловливает усложненную картину рентгенограммы металла с ГЦК решеткой кроме основных линий твердого раствора появляется другая система линий, соответствующая отражению рентгеновских лучей от кристаллографических плоскостей медной пленки. По соотношению интегральных интенсивностей интерференционных линий разных фаз можно оценить толщину отражающих слоев. Особенно отчетливо выявляются две системы линий на рентгенограммах образцов с высоким начальным содержанием цинка, приводящим к увеличению разности периодов кристаллических решеток. На рис. 61 приведены две рентгенограммы, полученные после испытания на трение латуни Л63 в течение 17 и 40 ч. Соотношение интенсивностей линий сви-154 [c.154]

Процесса. Это относится, строго говоря, ко всем жидкостям, но различие между (7.4) и соответствующей термодинамической формулой выступает особенно сильно, когда в жидкости обнаруживается заметная дисперсия скорости звука. Примером могут служить такие жидкости, как бензол, сероуглерод, четыреххлористый углерод и др., в которых нами была обнаружена дисперсия МО—20% (см. гл. VI). Вследствие дисперсии скорости звука интегральная интенсивность в этих жидкостях должна быть примерно на 20— 40% ниже вычисленной из термодинамических значений параметров. Интенсивность центральной компоненты, так же как и /мб, должна рассчитываться с учетом скорости рассасывания изобарических флуктуаций. Но если флуктуации давления меняются быстро, что выражается в смещении компонент Мандельштама— Бриллюэна на величину 10 гц, то изобарические флуктуации плотности изменяются несравненно более медленно. В рассеянном свете они проявляются в виде несмещенной линии, максимум которой соответствует со=соо. Полуширина этой линии для различных жидкостей несколько различна, но в среднем лишь немного отличается от 6(0/-- 10 гц. Таким образом, в формировании центральной компоненты принимают участие процессы, почти на три порядка более медленные, чем процессы, обусловливающие смещенные линии. [c.114]

Сплошной спектр интегрально дает наибольшую часть излучения дуги. Однако интенсивность отдельных линий линейчатого спектра на фоне сплошного спектра гораздо выше. По частоте (длине волны) и интенсивности определенных спектральных линий, излучаемых в разных зонах дугового разряда, можно судить [c.48]

Таким образом, если все линии имеют одинаковую форму, то отношение их истинных интегральных интенсивностей равно отношению произведений из наблюдаемых интенсивностей в максимуме /о и ширин б. [c.125]

Интегральную интенсивность линии можно измерить и другим способом. Входную щель спектрометра следует установить достаточно узкой, чтобы контур линии в фокальной плоскости спектрометра не искажался, а выходную щель взять в несколько раз (в три-четыре) больше ширины линии (рис. 48). В момент, когда середина линии достигает середины выходной щели, через нее будет проходить максимальный поток света, соответствующий всему контуру линии, за исключением дальних участков крыльев (заштрихованная площадь на рис. 48). Поэтому максимальное отклонение пера самопишущего потенциометра в данном случае будет выражать интегральную интенсивность линии. Потерями света, заключенными в дальних участках крыльев линии, можно пренебречь. Это тем более оправдано, что интенсивности разных линий берутся по отношению к интенсивности какой-либо одной [c.125]

Метод с использованием интенсивностей линий индивидуальных веществ. Для многих углеводородов известны интенсивности линий комбинированного рассеяния света, измеренные в стандартных условиях для одинаковых объемов вещества и выраженные в единой шкале, в которой линия с частотой 802 см циклогексана имеет интенсивность в максимуме /о = 250, а интегральную интенсивность /ао=500 условным единицам. Для некоторых веществ эти данные приведены в приложении 4. Измерив интенсивности линий каких-либо веществ в смеси и сравнив полученные данные [c.139]

В случае решения прямой задачи выражения (V.2.1), (V.2.2) рассматриваются как линейные интегральные уравнения относительно неизвестной интенсивности вихревой линии у (Si). При [c.197]

До сих пор мы считали излучение строго монохроматичным, однако в действительности спектральные линии имеют конечную ширину. Поэтому под интенсивностью линии следует рассматривать интегральную интенсивность, распространенную на всю ширину линии. Ограничимся случаем допплеровского контура линии причем будем считать, что как линия испускания, так и линия поглощения имеют одинаковый контур. Тогда по формуле (12) 70 коэффициент поглощения можно представить в виде [c.415]

Погрешность в вычислении интегральной интенсивности фона в основном зависит от правильности выбора базисных линий. Поскольку рентгеновские пики на рентгенограммах наноструктурной Си преимущественно описываются функцией Лоренца, т. е. имеют длинные хвосты, то оказалось очень трудно достаточно точно определить место, где кончается рентгеновский пик и начинается фон 79-82]. Для уменьшения погрешности базисные линии выбирали таким образом, чтобы их концы совпадали с концами широких интервалов углов дифракции, в которых производилась съемка рентгеновских пиков [79-82]. Как показано в работах [80, 81], ИПД Си приводит к росту интегральной интенсивности диффузного фона рассеяния рентгеновских лучей на 6 3 %. [c.79]

Количественный фазовый анализ. Измерение интегральной интенсивности линий данных веществ и сравнение этих интенсивностей друг с другом или со стандартными интенсивностями с учетом соответствующих поправок (структурный множитель, угловой множитель и т. д.) для определения доли (по массе или объему) данной фазы в смеси фаз. [c.158]

Здесь I[ и I2 — измеренные значения интегральной интенсивности линии с малыми индек-са.чй (HKL)i и линии с большими индексами (HK,L)2, ih nqi)[nqi — поправочный множитель для интенсивности линии с малыми индексами HKL)i п — число плоскостей в пределах блока или, точнее, в пределах области когерентного рассеяния (ОКГ). [c.140]

В общем случае ЯГР-спектр поглощения может быть сложным. Ниже рассмотрены основные параметры спектра число линий (сверхтонкая структура) спектра, положение центра каждой линии, ширина линии и ее высота, характеризующая интегральную интенсивность резонанса. [c.163]

Высота линии характеризует интегральную интенсивность эффекта и позволяет найти вероятность перехода без отдачи (f или fa — в источнике и поглотителе соответственно) — величину, непосредственно связанную с колебаниями атомов, динамикой их движения в кристалле. [c.165]

Сравнительный анализ изменения механических свойств (см. табл. 7) и фазового состава сплава МА21 (см. рис. 49) дает основание предполагать, что термическое упрочнение его обусловлено дисперсионным твердением и выделением при закалке из твердого раствора мелкодисперсной 8-фазы, высокое содержание которой определяет повышенный уровень механических свойств. Действительно, в исходном (горячепрессованном) состоянии в сплаве с невысоким содержанием 6-фазы свойства существенно ниже, чем после закалки, когда резко возрастает количество б-фазы. В пользу высказанного предположения свидетельствует и тот факт, что при отжиге закаленных образцов наблюдалась четкая корреляция между снижением уровня прочностных характеристик и уменьшением интегральных интенсивностей дифракционных линий 0-фазы. [c.143]

Используя значение абсолютной интенсивности линии 459 см СС , определенное в работе — 29.6 10см7г — по экспериментальным значениям 5, можно определить абсолютные интенсивности линий V (С=С). В табл. 4 приведены найденные значения абсолютных интенсивностей для олефинов различных типов. Как мы видим, значения абсолютных интенсивностей, определенные на основе экспериментальных данных Ри [ ] на 15—20% выше, чем по данным Мозера и Вебера [ ] (ошибка при измерении интегральных интенсивностей в указанных работах составляет 10%). [c.312]

Изучение адсорбционных слоев ФАК на железе методом РФЭС проводилось следующим образом. Образцы железа выдерживали в 1 М НС1 с содержанием 10 моль/л ФАК в течение нескольких часов, промывали дистиллированной водой и высушивали. Электронные спектры снимали на магнитном спектрометре конструкции Института физики металлов УНЦ АН СССР. Положение линий стандартизировали по линии С15 остаточных углеводородов. Были измерены положение и интегральная интенсивность фотоэлектронных линий As Зрз , As ls порошка ФАК, порошка АзгОз, ФАК, адсорбированной на железе из спирта и из раствора в 1 М НС1. [c.50]

При наличии локального колебания частоты О, в спектре через интервалы О (5 — целое число) имеются колебательные повторения чистоэлектронной линии. В данном приближении теории они также суть б-образные пики. Распределение интегральных интенсивностей в серии пиков при температурах, когда локальные колебания еще не возбуждены, дается формулой (/ х ) /ц Т), где — безразмерные стоксовы потери, приходящиеся на локальное колебание номера к. [c.24]

Неоднородность распределения элементов измеряли по методике 6] на стандартном микрорентгеноспектральном ана-лизаторе марки МАР-2, локальность исследуемого объема 10-100 мкм , количество измерений концентрации элемента на одном образце - 250-300 точек. Фазовый анализ проводили рентгеновским методом при съемке на дифрактометре ДРОН-3,0 в СоК -излучении. Объемное содержание фаз рассчитывали по данным интегральной интенсивности дифракционных линий (111) у-Ге, (110) а-Ре и (111) фазы на основе меди. Микроструктуру сталей изучали на микроскопе Неофот-21 , микротвердость измеряли на приборе ПМТ З (нагрузка 0,49Н), Механические свойства определяли по ГОСТ 18227-85, 25506-85, [c.261]

Искажения контура линии за счет инерционности фотоэлектрической установки, так же как и любые аппаратурные искажения, не влияют на величину ее интегральной интенсивности. Во всех случаях ширина и интенсивность в максимуме линии изменяются таким образом, что их произведение, пропорциональное интегральной интенсивности линии, остается постоянным [c.121]

При фотографической регистрации спектра для получения почернений линий, соответствующих их интегральным интенсивностям, ширина щели спектрографа должна быть также в несколько раз больше ширины линий. Роль выходной узкой щели спектрометра в данном случае играет щель микрофотометра при фотомет-рировании фотопластинки. [c.126]

Кривые 1а дают связь между отношениями интегральных интенсивностей второй и первой колебательных полос и температурой. Интегральные интенсивности полос подсчитываются графически как площади, ограниченные линиями БИПУБ и АКУЛА (рис. 92). В зависимости от величины спектральной ширины щели спектрографа, использованной при съемках спектров, необходимо выбирать разные кривые 1а. На рис. 90 приведены кривые 1а для спектральных ширин щели, равных 4, 8, 12 и 16 см . [c.246]

Частоты (волновые числа) м, интенсивности в максимуме /о, интегральные интенсивности /м, ширины у степени деполяризаций р линий комбинационного] рассеяния (у и у в см 1) [c.314]

Интенсивность фона, наблюдаемого на рентгенограммах, является не только результатом диффузного рассеяния рентгеновских лучей на образце, но также связана с инструментальными факторами (например, с рассеянием дифрагировавшего излучения атмосферным воздухом) [141]. Если инструментальные факторы одинаковы для исследуемых образцов, то появляется возможность сравнительного анализа роли самих образцов в формировании диффузного фона рассеяния на рентгенограммах. Интенсивность дифрагировавших рентгеновских лучей, зафиксированная на рентгенограмме, складывается из интенсивности рентгеновских пиков и интенсивности фона [130]. Для отделения интенсивности, связанной с фоном, в районе рентгеновских пиков, представленных псевдофункциями Фойгта, проводят базисные линии. Левая и правая точки каждой базисной линии соответствуют интенсивности фона слева и справа от рентгеновского пика. Для получения интегральной интенсивности фона площади под базисными линиями суммируют с площадями под линией фона вне рентгеновских пиков. [c.79]

Традиц. методом изучения 3. остаётся анализ их положения на Герцшпрупга — Ресселла диаграмме (рис.) (на основании данных об эффективной температуре Уд излучения 3. и её полной светимости L). Светимость L и теип-рэ позволяют найти радиус излучающей поверхности — фотосферы 3. с помощью ф-лы 4ло7 / 2=/,, где o=s5,75-10 г-с -К-- (см. Стефана — Больцмана закон излучения). Темп-ра 3. может быть оценена песк. способами, напр, сравнением распределения знергии в спектре излучения 3. с Планка законом излучения или по относит, интенсивностям спектральных линий разл. элементов, чувствительных к темп-ре. Светимости 3. оцениваются по интегральному (на всех длинах волы) патоку излучения при известном расстоянии до них. Лучшим методом определения расстояния до звёзд остаётся измерение их параллакса (см. Расстояний шкала). [c.68]

Интенсивность отд. линий полосы и интегральная интенсивность всей полосы несут информацию о строении молекул и используются в молекулярном спектральном анализе. Относит, интенсивность линий используется обычно для идентификации линий. Интегральная интенсивность осн. полосы зависит гл. обр. от первой производной дипольного момента молекулы по данной нормальной координате. Интегральные интенсивности обертонов и составных полос зависят от более высоких производных дипольного момента по нормальным координатам и от коэф. ангармонизма. Кроме того, интенсивности отд, линий вследствие эффектов колебательно-вращат. взаимодействия зависят от определ. комбинаций дипольного момента и его производных. Поэтому измеряемые величины интенсивности линий и полос дают ценную информацию о функции дипольного момента. [c.204]

Описанная модель Эльзассера может быть использована для колебательно-вращательной полосы, если расстояния между линиями примерно одинаковы, а интегральная интенсивность поглощения в линии является медленно изменяющейся функцией частоты. Оба параметра К vt. d можно определить с помощью спектроскопических измерений. [c.112]

ЛИННОМ смысле, поскольку функция источника Sm s, Й) зависит от интенсивности. Однако эта интегральная форма дает возможность выявить роль различных физических факторов, влияющих на интенсивность в любой точке вдоль пути s. [c.278]

В кристаллической решетке металла в результате пластической деформации создаются сильные искажения, сосредоточенные в весьма малых объемах (порядка десятков или сотен атомов). Искажения или несовершенства решетки обычно располагаются вблизи плоскостей сдвига, возникающих при деформировании металла. Об этом свидетельствует ослабление отношения интегральных мощностей интерференционных линий на рентгенограммах образцов сталей 25 и 12Х18Н9Т после испытания. Изменение состояния кристаллической решетки дислоцированных участков металла после микроударного воздействия отражает зависимость па рис. 67. Размеры блоков структурной мозаики и угол их дезориентировки изменяются в зависимости от продолжительности микроударного воздействия. Наиболее интенсивно блоки измельчаются в самом начале испытания. В это же время происходит значительное искажение кристаллической решетки (Да/а). [c.109]

Рентгенографированию подвергали образцы в исходном состоянии и после микроударного воздействия различной продолжительности. Рентгенограммы снимали в дебаевской камере в хромовом излучении, фазовый состав определяли по относительной интегральной интенсивности линий. Для стали 12Х18Н9 фокусировали интерференционные линии (200) а и (ПО) а, для стали 25Х14Г2 — линии (П1) а и (101) tz таким образом были обнаружены у-, а- и 8-фазы. [c.111]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...