Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Спектроскопия

См. Д е II н с ю к Ю. Н. ДАН СССР, 144, 1275 (1960) его ж е. Оптика и спектроскопия, 15, 522 (1963). Об отображении оптических свойств объекта в волновом поле рассеянного им излучения .  [c.218]

Направляя на вещество излучение, имеющее сплошной спектр, и анализируя спектральный состав прошедшего через вещество излучения, т. е. изучая спектр поглощения (спектр абсорбции), проводят структурный анализ вещества. Такой метод исследования носит название абсорбционной атомной и молекулярной спектроскопии.  [c.282]


Аналогичные опыты в оптическом диапазоне требуют большей точности, так как длина волны очень мала. Однако метод нашел применение при исследовании качества поверхностей и в некоторых задачах спектроскопии. Из-за того, что здесь искусственно создается перераспределение потоков, метод получил название нарушенного внутреннего отражения  [c.96]

Остановимся кратко на нелинейных эффектах, связанных с воздействием света большой интенсивности на коэффициент его поглощения fe(v) в том или ином веществе, что приводит к нарушению закона Бугера (см. 2.5). Возникающее нелинейное поглощение света определенной длины волны, обычно совпадающей с резонансными линиями исследуемого вещества, может быть использовано в диагностических целях или других приложениях и нашло широкое применение в современной спектроскопии.  [c.171]

Для уменьшения доплеровской ширины спектральных линий в спектроскопии высокого разрешения используют излучение  [c.393]

Таким образом, несмотря на обилие разнообразных элементарных частиц, только некоторые из них играют очевидную роль в строении нормального вещества. Нейтроны и протоны вступают в связь между собой с образованием заряженных ядер. Вокруг ядра движется электронное облако, и все это вместе составляет атом. Атомы соединяются в молекулы. Большие совокупности молекул образуют макроскопические тела газы, жидкости, кристаллы... Ускоряемые электроны излучают или поглощают фотоны. Средством исследования переходов между стационарными атомными состояниями является спектроскопия,  [c.425]

Ядерная спектроскопия — раздел ядерной физики, в котором исследуются ядерные энергетические уровни, их свойства и переходы между ними. Большое количество ядерных уровней возбуждается в результате радиоактивного распада. Поэтому, исследуя а-, 3- и 7-переходы ядер, удается изучить дискретные спектры ядер с большим числом уровней. В наши дни сохраняется традиционное деление ядерной спектроскопии на а-, Р- и 7-спектроскопию.  [c.8]

З. Спектроскопия оптического поглощения в ультрафиолетовой  [c.230]

Одной ИЗ разновидностей спектроскопии поглощения в УФ/видимом диапазоне излучения является колориметрия. Колориметрический анализ растворов фуллеренов СбО и С70 в ССЦ, толуоле я гексане разработан в  [c.231]

Чекалинская Ю. И. Влияние параметров рассеивающего слоя на тепловое излучение светорассеивающих объектов.— В кн. Спектроскопия светорассеивающих сред. Мн., 1963, с, 97—104.  [c.203]

Для анализа СО в ОГ применяются в основном методы инфракрасной спектроскопии (ИКС). ИКС базируется на селективном поглощении инфракрасного излучения в области длин волн 4,7 мкм. ИКС-анализаторы обладают высокой селективностью, стабильностью и надежностью показаний. Преимущественное распространение получили бездисперсионные анализаторы, работающие на полихроматическом излучении, в которых применяются оптико-акустические детекторы, заполненные анализируемым газом. Эти приборы отличают простота и надежность конструкции устойчивость к механическим и тепловым нагрузкам, что и определило их преимущественное распространение. При заполнении рабочих полостей другим газом (метаном, сернистым ангидридом, двуокисью углерода, окисью азота) и соответствующей корректировке оптической и измерительной систем ИКС-анализаторы могут быть использованы и для анализа других компонентов отработавщих газов.  [c.20]


Вот что рассказьшает об Игоре руководитель его дипломной работы профессор МГУ В.С.Шпигель - Будучи студентом 3—4 курсов, он по собственной инициативе регулярно приходил работать в лабораторию ядер-ной спектроскопии. Дипломное исследование проводилось им там же и было посвящено изучению мультипольности гдллд-квантов методом угловых корреляций. Метод в то время делал первые шаги, и Игорь Фомич проявил себя и как незаурядный экспериментатор, и как прекрасный теоретик, самостоятельно изложил теорию этих корреляций, конкретизировал ее . Проф. Шпигель уже тогда считал Игоря очень перспективным молодым ученым.  [c.224]

Спектральный прибор, диспергирующим элементом которого является призма, называется призменным спектроскопом (если картина наблюдается визуально) и и1 спектрографом (если спектр фотографируется или записывается при помощи специального устройства). Схема Рмс. 7.22 нризмешюго спектрографа такая же, как  [c.190]

В ходе исследования продуктов термолиза 1яжелых нефтяных фракций (остатков) [2] предложен и экспериментально подтвержден механизм образования твердых углеродистых веществ из жидкой углеводородной фазы, рассмотрена структурная организация вещества на разных пространственных масштабах. Кроме того, методами ЭПР-спектроскопии выявлено фрактальное распределение концентрации парамагни гных частиц, являющихся центрами комплексообразования и непосредственным образом влияющих на формирование структуры и свойств тяжелых нефтяных фракций.  [c.135]

Спектроскоп. Прибор для разложения сложного света и наблюдения спектров называется спектроскопом. Спектроскоп (рис. 285) состоит из двух труб — коллима-  [c.276]

Представляет интерес искусственное вращение плоскости поляризации при освещении образца излучением, частота которого близка к частоте поглощения исследуемого вещества, т.е. когда затуханием колебаний нельзя пренебречь. Эта задача осложнена тем, что до сего времени мы не интересовались, что происходит со спектральной линией, если источник света или поглощающая среда помещены в магнитное поле, Как было впервые установлено в 1896 г. Зееманом, при этом линия расш,епляется на несколько компонент (эффект Зеемана). Число таких компонент, взаимное расположение и относительная интенсивность определяются структурой энергетических уровней, при переходах между которыми возникла исследуемая спектральная линия, и существенно зависят от напряженности прилаженного магнитного по ля. Эффект Зеемана — важное для спектроскопии и атомной физики явление, которое до конца объясняется с позиций кван товой механики.  [c.165]

В 5.6 описаны опыты, в которых исследовалась зависимость видимости интерференционной картины от степени монохрома-гичности излучения, используемого для освещения интерферометра Майкельсона. Эти классические опыты позволили внести простейшие понятия теории когерентности и явились базой дальнейшего развития методов спектроскопии (Фурье-спектроскопия и др.). В последующем изложении мы подробно рассмотрим физический смысл понятий временной и пространственной когерентности, играющих большую роль при выборе оптимальных условий эксперимента по интерференции различных световых потоков.  [c.185]

Разрешающая сила современных дифракционных решеток весьма велика. Она достигает 100 000—200 ООО. Реализовать такую разрешающую силу в эксперименте достаточно сложно — необходимо располагать высококачественными длиннофокусными объективами настолько большого диаметра, чтобы дифракция на их оправе не лимитировала разрешающей силы спектрального прибора, по.чтому работают с очень узкими спектральными пи лями, применяют специальные сорта мелкозернистых фотографических пластинок и т.д. Все подобные приемы подробно обсуждены в руководствах по практической спектроскопии. Мы упоминаем о них лишь для того, чтобы показать, что разрешающая сила, реализуемая в эксгкфименте, часто оказывается значительно меньше теоретического значения, вычисленного по приведенным выше формулам.  [c.323]

Доплеровское уширение спектральных линий в значительной степени лимитирует возможности оптической спектроскопии высокого разрешения. Известно (см. 5.7), что, увеличивая коэффициент отражения зеркал интерферометра при высокой точности их изготовления, повышая расстояния между отражающими поверхностями и используя сложные интерфером.етры (мультиплексы), можно довести разрешающую силу интерферометра до значения порядка 10 и даже более. Однако при реализации столь большой разрешающей силы в оптических экспериментах часто возникают серьезные затруднения. Конечно, могут появиться задачи, при которых требуется с высокой точностью записать широкий контур, но если обратиться к возможности раздельного наблюдения двух близких по длине волны линий при учете неизбежных флуктуаций источника, то, даже используя прибор высокой разрешающей силы, нельзя их разрешить, если доплеровские контуры сильно перекрываются. Нетрудно оценить ту область, где возникают такие перекрытия пусть л = 5000А и 6Лдо = 0,005А тогда У./ЪУ. 10 , что и объясняет трудность реализации разрешающей силы, если она составляет несколько миллионов.  [c.393]


Проведенное рассмотрение также сможет в какой-то степени подготовить читателя к пониманию открывшихся за последнее время возможностей реализации исключительно точных оптических измерений, которые проводмгся < Под крышей допле-ровской линии . Изложение таких современных методов оптической спектроскопии (интерференция агомнь х состояний, некоторые способы лазерной спектроскопии) в рамках этой книги, к сожалению, невозможно.  [c.398]

В таких экспериментах широко применяется понятие оптической накачки, введенное А.Кастлером в 50-е годы. Это явление, связанное с опустошением нижнего (основного) уровня и переходом атомов на какой-либо третий (промежуточный) уровень, широко используется в спектроскопии и лазерной физике, так как здесь создается значительное превышение числа атомов в более высокоэнергетическом состоянии (рис. 8.28), создающее предпосылки для возникновения лазерного излучения.  [c.450]

Наиболее убедительные доказательства существования эндоэдральной структуфы были получены с помощью ЭПР-, фотоэлектронной, мессбауэров-ской спектроскопии и рентгеновской спектроскопии поглощения, причем ЭПР-спектроскопия позволяет получить информацию об элеюронной структуре и химическом состоянии атомов в некоторых металлофуллеренах. Эта  [c.59]

Спектральный анализ служит для установления полной информации о структуре и свойствах фуллеренов. С помощью различных видов спектроскопии удается качественно идентифицировать фуллерены в исследуемых образцах, определять их количество, а также структуру и свойства фуллеренов и их различных соединений. Поскольку спектральных методов исследований насчитывается весьма большое количество, опишем лишь некоторые примеры спектроскопических исследований фуллеренов.  [c.226]

Основную долю публикаций по изучению строения производных фул-леренов методами колебательной спектроскопии составляют данные по ИК-спектрам [131]. Присоединение заместителей существенно понижает симметрию исходного фуллерена,и запрещенные симметрией колебания стшю-вятся активными. По этой причине ИК-спектроскопия является полезной при анализе структуры заместителей.  [c.229]

В [134] успешно апробирован спектрально-оптический метод фракционного определения концентраций С60 и С70 в угольном конденсате - фул-леренсодержащем полупродукте - без предварительной хроматографической очистки. Количественный анализ гексановых экстрактов смесей СбО и С70 проводился по электронным УФ/виднмьщ-спектрам поглощения методом трех аналитических длин волн. В [135] предложена методика исследования кинетики экстракции фуллеренов с использованием оптической спектроскопии в УФ-области. Это подтверждает высокую чувствительность данного диапазона частот в области низких концентраций фуллереновых растворов.  [c.231]


Смотреть страницы где упоминается термин Спектроскопия : [c.225]    [c.197]    [c.268]    [c.282]    [c.217]    [c.364]    [c.7]    [c.7]    [c.224]    [c.252]    [c.252]    [c.350]    [c.362]    [c.61]    [c.227]    [c.227]    [c.92]    [c.101]    [c.203]    [c.311]    [c.203]   
Смотреть главы в:

Карманный справочник инженера-метролога  -> Спектроскопия


Поверхности раздела в полимерных композитах Том 6 (1978) -- [ c.25 , c.89 , c.94 ]

Техника в ее историческом развитии (1982) -- [ c.348 , c.370 ]

Аморфные металлы (1987) -- [ c.0 ]

Оптическая голография Том1,2 (1982) -- [ c.6 , c.17 , c.55 ]

Карманный справочник инженера-метролога (2002) -- [ c.176 ]

Ракетные двигатели (1962) -- [ c.563 ]



ПОИСК



11нбл юдател ыыя разрешлющая лазерная спектроскопия

Аббе—Портера эксперимент спектроскопия

Активная спектроскопия

Акустическая спектроскопия

Акустическая спектроскопия материалов и изделий

Аппаратура для флуоресцентной спектроскопии

Введение в теорию молекулярных спектров Спектроскопия, ее классификация и применение

Введение в технику и методы молекулярной спектроскопии Принципиальная оптическая схема спектральных приборов

Внутрирезонаторная лазерная спектроскопия

Вторичные спектры и эффекты химической связи в рентгеновской спектроскопии

Голографическая спектроскопия

Голографическая спектроскопия Фурье при спектральнонекогерентном источнике

Двух- и однофотонные методы счета в спектроскопии одиночного примесного центра

Диагностика вещества методами нелинейной лазерной спектроскоНелинейный оптический отклик в лазерной диагностике вещества принципы диагностических методов нелинейной спектроскопии

Диагностика газовых сред с помощью спектроскопии КАРС

Дистанционная спектроскопия газовых сред при многофотонном оптическом смешении

Дифракционная спектроскопия

Единицы измерения и некоторые обозначения, принятые в спектроскопии

Измерение количественного и качественного состава стационарных газовых смесей с помощью спектроскопии КАРС

Измерение малых усилений в лазерах непрерывного действия резонаторным методом абсорбционной спектроскопии

Изучение комплексообразования солей кобальта (II) минеральных и органических кислот с сульфоксидами методом электронной спектроскопии Карасева Е.В., Амиинева Н.А., Колосницин

Интерференционная природа спектров когерентного рассеяния света. Связь со спектроскопией спонтанного комбинационного рассеяния

Интерференционные явления в когерентной активной спектроскопии рассеяния и поглощения света голографическая многомерная спектроскопия

Интерферометры голографические применение в спектроскопии

Инфракрасная спектроскопи

Инфракрасная спектроскопия

Ионно-нейтрализационная спектроскопия

Использование методов фотоэлектронной спектроскопии для химического анализа

Исследование валентного состояния соединений, образующихся при анодном растворении молибдена, методом электронной спектроскопии Яцик Н.П., Колосницин

Исследование поливинилхлоридных пластикатов методом инфракрасной спектроскопии

Исследование поливинилхлоридных пластикатов методом люминесцентной спектроскопии

Исследование релаксации ДУС с помощью спектроскопии одиночных молекул

Исследование строения полиметаллической оксидной системы СиО-МоОз методом электронной спектроскопии. Каричковская Н.В., Слободчикова , Колосницин

Исследование химических реакций на мономолекулярном уровне с помощью спектроскопии одиночных молекул

КОЛЕБАТЕЛЬНАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ КОЛЕБАТЕЛЬНЫЕ СПЕКТРЫ

КРИСТАЛЛЫ И МНОГОСЛОЙНЫЕ МОЛЕКУЛЯРНЫЕ СТРУКТУРЫ ДЛЯ СПЕКТРОСКОПИИ МЯГКОГО РЕНТГЕНОВСКОГО ДИАПАЗОНА

Когерентная спектроскопия рассеяния света

Колебательная ИК-спектроскопия

Колебательная спектроскопия водородной связи жидкостей

Контролируемое формирование спектрального контура оптического резонанса в когерешгной активной спектроскопии

Лагранжа-Гельмгольца теорема спектроскопия

Лазерная оптико-акустическая спектроскопия

Лазерная спектроскопия

Лазерная спектроскопия абсорбционная

Лазерная спектроскопия внутрирезонаторный метод

Лазерная спектроскопия вптрнрезонаторная

Лазерная спектроскопия комбинационного рассеяния

Лазерная спектроскопия комбинационного рассеяния света

Лазерная спектроскопия опгнко-акустическая

Лазерная спектроскопия оптико-акустический метод

Лазерная спектроскопия спектрофотометрический мето

Лазерная спектроскопия флуоресценции

Лазерная спектроскопия флуоресценции и комбинационного рассеяния

Люминесценция спектроскопия

МЕТОДЫ СЕЛЕКТИВНОЙ СПЕКТРОСКОПИИ Метод флуоресцентного сужения линий

Марс-спектроскопия

Масс-спектроскопия

Масс-спектроскопия вторичных

Масс-спектроскопия вторичных ионов

Масс-спектроскопия вторичных ионов (МСВИ)

Масс-спектроскопия продуктов термодесорбции

Масс-спектроскопия с электронным поверхностным зондом (МСЭПЗ)

Мессбауэровская (ЯГР) спектроскопия (Б. С. Бошитейн)

Метод возмущений в акустической спектроскопии

Метод инфракрасной спектроскопии

Метод многофотонной резонансной ионизационной спектроскопии

Методы нелинейной спектроскопии комбинационного рассеяния газовых и аэрозольных сред

Методы решения обратной задачи молекулярной спектроскопии на основе САВ

Методы решения обратных задач молекулярной спектроскопии

Методы электронной спектроскопии

Многофотонная резонансная спектроскопия

Многочастотный метод, фаза эхо-импульса и спектроскопия

Модуляционная спектроскопия

Нейтронная спектроскопия

Некоторые применения ЯГР-спектроскопии

Некоторые применения спектроскопии межмолекулярных взаимодействий

Некоторые результаты экспериментальных исследований по спектроскопии атмосферы

Некоторые физические константы, единицы и численные множители, используемые в спектроскопии и физической химии

Нелинейная спектроскопия комбинационного рассеяния света

Нестационарная когерентная спектроскопия методы и результаты

Нестационарная поляризационная КАРС-спектроскопия атомов

Нестационарный случай Принципы релаксационной спектроскопии глубоких уровней

О технике абсорбционной спектроскопии

ОДИНОЧНЫЙ АТОМ В ЭЛЕКТРОМАГНИТНОМ ПОЛЕ Квантовые основы спектроскопии двухуровневого атома

ОСНОВЫ СПЕКТРОСКОПИИ И ЛЮМИНЕСЦЕНЦИИ

Общие сведения и рентгенооптические характеристики кристаллов и многослойных молекулярных структур для спектроскопии мягкого рентгеновского диапазона

Оже-электронная спектроскопия

Основные принципы фурье-спектроскопии

Основы техники ИК-спектроскопии

Особенности техники спектроскопии при использовании СИ

Отклонения от стандартной модели ДУС, найденные с помощью спектроскопии одиночных молекул

П часть. ЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ ЭЛЕКТРОННЫЕ СПЕКТРЫ ПОГЛОЩЕНИЯ

Переходная спектроскопия глубоких

Переходная спектроскопия глубоких исследования деградировавших лазеров

Переходная спектроскопия глубоких описание метода

Переходная спектроскопия глубоких отжиг радиационных дефектов

Переходная спектроскопия глубоких уровней (ПСГУ)

Поляризационная спектроскопия

Поляризационные аспекты спектроскопии стабильных провалов и антипровалов

Практическое применение методов спектроскопии

Преимущества СИ как источника для спектроскопии

Приемы освещения входной щели спектроскопа и спектрографа

Приложения ЯМР-спектроскопии к решению некоторых металлофизических задач

Применения инфракрасной спектроскопии

Принцип Фурьс-спектроскопии

Принципы нелинейной лазерной спектроскопии

Программа коллоквиума по молекулярной спектроскопии

Резонансная двухфотонная спектроскопия колебательно-вращательных переходов молекул

Релаксационная спектроскопия

Релаксационная спектроскопия глубоких уровней (PCГУ)

Рентгеновская флуоресцентная спектроскопия

Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия

Рентгеновское излучение Основные определения и обозначения в спектроскопии рентгеновского излучения

СПЕКТРОСКОПИЯ ВОДОРОДНОЙ СВЯЗИ

СПЕКТРОСКОПИЯ ОДИНОЧНОГО ПРИМЕСНОГО ЦЕНТРА Матрица плотности примесного центра

Сверхкороткие световые импульсы в когерентной спектроскопии рассеяния света

Системы аналитических вычислений в колебательно-вращательной спектроскопии молекул

Сорэ решетка спектроскопия лазерная

Спектроскоп

Спектроскоп

Спектроскоп оптический

Спектроскоп электронно-лучевой

Спектроскоп, определение

Спектроскопические методы исследования частиц в матрицах инфракрасная спектроскопи

Спектроскопические методы исследования частиц в матрицах спектроскопия комбинационного рассеяния

Спектроскопические методы исследования частиц в матрицах фотоэлектронная спектроскопия

Спектроскопические методы исследования частиц в матрицах электронная спектроскопи

Спектроскопия (Г. Колфилд)

Спектроскопия Фабри—Перо (интерференционная)

Спектроскопия атомная эмиссионная

Спектроскопия атомно-абсорбционная

Спектроскопия в области сантиметровых

Спектроскопия внутри доплеровского

Спектроскопия внутри доплеровского контура

Спектроскопия высокого разрешения

Спектроскопия и удельная теплоемкость

Спектроскопия комбинационного рассеяния

Спектроскопия матрично-изолированных частиц

Спектроскопия мессбауэровская

Спектроскопия молекулярная

Спектроскопия насыщения

Спектроскопия насыщения пробными импульсами

Спектроскопия насыщения сверхвысоким временным разрешение

Спектроскопия обратного резерфордовского рассеяния

Спектроскопия оптического поглощения в ультра

Спектроскопия первой производно

Спектроскопия поглощения излучения

Спектроскопия пороговых потенциалов

Спектроскопия рентгеновская

Спектроскопия рентгеновская мягкая

Спектроскопия с лампами-вспышками

Спектроскопия с применением СИ

Спектроскопия с пробными импульсами

Спектроскопия со сверхвысоким временным разрешением

Спектроскопия ультразвуковая

Спектроскопия флуоресцентная

Спектроскопия фотоэлектронная

Спектроскопия фуллеренов

Спектроскопия характеристического

Спектроскопия характеристического излучения (СХИ)

Спектроскопия электронного парамагнитного резонанса

Спектроскопия энергетических потерь

Спектроскопия энергетических потерь электронов (СЭПЭ)

Спектроскопия ядерного магнитного резонанса

Спектроскопы высокой разрешающей силы

Спектроскопы с поляризационным фотометром

Сравнение методов абсорбционной лазерной спектроскопии

Стационарная спектроскопия спектрохронография нестационарная спектроскопия

Стилометры-см. Спектроскопы с поляризационным фотометром

Техника и методы молекулярной спектроскопии

Требования лазерной спектроскопии

УЛЬТРАЗВУКОВАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ Герике Теория

Фабри — Перо спектроскопия

Фабри — Перо спектроскопия эталон

Фемтосекундная КАРС-спектроскопия поляритонов с разрешением во времени и пространстве

Фурье-анализ спектроскопия

Фурье-спектроскопия

Фурье-спектроскопия газов

Четырехфотонное рассеяние и нелинейная спектроскопия

ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ Лазерная спектроскопия ДНК. Развитие метода

ЭЛЕКТРОННАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ СЛОЖНЫХ СИСТЕМ I Электронные спектры и взаимосвязь между физико-химическими свойствами органических веществ. Мукаева

Электрон-фотонная спектроскопия

Электронная спектроскопия для химического анализа

Электронная спектроскопия для химического анализа ЭСХА)

Электрсшая спектроскопия

Эффект насыщепия в лазерной спектроскопии

Ядерная гамма-резонансная спектроскопия



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте