Спектроскопы высокой разрешающей силы

Интерферометр Фабри—Перо. Интерферометр, или эталон Фабри—Перо, является в настоящее время основным прибором в спектроскопии высокой разрешающей силы. Его действие основано на интерференции большого числа лучей, получаемых при многократном отражении световой волны между двумя параллельно расположенными плоскими зеркалами, обладающими частичным пропусканием (рис. 26). В современных интерферометрах, как правило, используют многослойные диэлектрические зеркальные покрытия, которые наносят на подложки из оптического стекла или кварца в вакууме. Они позволяют получать высокие коэффициенты отражения света при малой величине потерь на поглощение. Худшие характеристики имеют покрытия из тонких пленок серебра и алюминия. [c.76]

Авторы приносят глубокую благодарность за помощь и ценные советы сотрудникам лаборатории спектроскопии высокой разрешающей силы кафедры оптики ЛГУ и руководителю кафедры профессору Н, П. Пенкину, профессорам К-И. Тарасову и [c.4]

Эта формула используется во многих расчетах в спектроскопии высокой разрешающей силы. Полученный НК симметричен относительно точек 0=1, 2, 3,. .., т. е. относительно точек [c.63]

Данная глава посвящена применению полученных в главах 1—3 результатов в типичных, для спектроскопии высокой разрешающей силы ситуациях с целью увеличения точности и чувствительности интерферометрических измерений, а также расширения их возможностей. [c.104]

Как известно, в спектроскопии высокой разрешающей силы из контура спектральных линий извлекается информация об атомах, изотопах, плазме и т. д. В этом параграфе исследуется возможность прецизионного решения довольно общей задачи извлечения информации из контуров спектральных линий, когда требуется определить положение компонентов сложного контура спектральной линии, их относительные интенсивности и полуширины, а форма контура одиночного компонента известна. [c.119]

Интерферометры с боковым входом лучей не получили распространения в технике исследования оптических неоднородностей, а используются преимущественно как интерференционные спектроскопы высокой разрешающей силы. [c.11]

Рассмотрим основные параметры многолучевого интерферометра. ПрИ использовании интерферометра для количественной Диагностики прозрачных сред сохраняется смысл и определение большинства характеристик многолучевого интерференционного спектроскопа высокой разрешающей силы. Некоторые из характеристик приобретают большое значение, другие, например, пре-разрешения двух близко расположенных линий источника, играют менее существенную роль и рассматриваться не будут. [c.25]

К многолучевым интерферометрам, которые используются в качестве инструментов для изучения свойств некоторой среды, помещаемой между зеркалами, предъявляются два основных конструктивных требования. Во-первых, конструкция интерферометра должна обеспечивать возможность расположения объекта исследования между зеркалами, при этом элементы интерферометра не должны оказывать какого-либо влияния на параметры исследуемого объекта, а последний не должен разрушать покрытие зеркал или изменять их оптические характеристики. Второе Требование заключается в том, чтобы в конструкции интерферометров были предусмотрены механизмы для точного перемещения одного из зеркал. Это обусловлено значительным влиянием настройки интерферометра уровня освещенности поля интерференции по сравнению с максимальной) на его чувствительность подробное изложение этого вопроса см. в гл V). В остальном все требования к конструктивным элементам и конструкции в целом не отличаются от общепринятых в технике спектроскопии высокой разрешающей силы. [c.86]

Таким образом, характеристики приборов, основанных на применении дифракционных решеток, в настоящее время близки к тем характеристикам, которые необходимы для спектроскопии высокой разрешающей силы. Но интерферометр Фабри—Перо все еще остается непревзойденным по своей разрешающей силе и светосиле во многих областях спектра. Поскольку у него мала область дисперсии ( 1 А), его иногда приходится применять в схемах со скрещенной дисперсией. [c.329]

Только самые большие спектрографы с вогнутой решеткой обеспечивают разрешение, позволяющее разделить длины волн осевых мод твердотельных лазеров. Поскольку в лазерной спектроскопии высокой разрешающей силы спектрографы с вогнутой решеткой почти совершенно вытеснены сканирующими интерферометрами Фабри—Перо, мы не будем останавливаться на преимуществах и недостатках многих систем с решетками. По данному вопросу имеется обширная литература [46 [c.341]

СПЕКТРОСКОПЫ высокой РАЗРЕШАЮЩЕЙ СИЛЫ 447 [c.447]

СПЕКТРОСКОПЫ ВЫСОКОЙ РАЗРЕШАЮЩЕЙ СИЛЫ [c.447]

Спектроскопами высокой разрешающей силы называют приборы, разрешающая способность которых значительно превосходит разрешающую способность спектральных приборов с призмами и дифракционными решетками. Наиболее важными областями применения данных спектроскопов являются исследование изотопических [c.447]

Интерферометр Фабри — Перо является самым распространенным спектроскопом высокой разрешающей силы. Интерференционная картина образуется в результате многолучевой интерференции при прохождении пучка лучей через плоскопараллельную пластину с двумя зеркальными поверхностями (рис. 284) [c.450]

Характерным спектроскопом высокой разрешающей силы является интерферометр Фабри—Перо, в котором порядок интерференции может достигать нескольких десятков тысяч. [c.417]

На протяжении между 1930 и 1960 гг. спектру рассеянного света было посвящено большое число исследований, главным образом русских и индийских экспериментаторов [63, 118, 154]. Исчерпывающий обзор этих исследований можно найти в статье Фабелинского [63] ). Следует заметить, однако, что естественная ширина линии применявшихся источников света была слишком большой, из-за чего не удавалось получить удовлетворительного разрешения спектра. С появлением лазерных источников света и развитием спектроскопии высокой разрешающей силы открылась возможность для исключительно точных измерений. [c.123]

Разрядная трубка с полым катодом. Разряд в полом катоде, широко используемый в спектроскопии высокой разрешающей силы, представляет собой разновидность тлеющего разряда с катодом особой формы в виде полости. В определенном диапазоне давлений наполняющего газа - 100 Па) внутри полости катода возникает яркое свечение с интенсивным возбуждением линий как нейтральных, так и ионизованных атомов. Это свечение является аналогом отрицательного свечения в обычном тлеющем разряде, однако имеет ряд важных особенностей. Разряд с полым катодбм характеризуется небольшой величиной катодного падения напряжения. Напряжение зажигания разряда выше, чем напряжение горения, поэтому для полого катода необходим источник питания с напряжением 1000 В. [c.73]

Вид интерференционной картины, получаемой с реальным ИФП, обусловливается аппаратным контуром (АК) интерферометра и собственным контуром (СК) спектральной линии. Рассчитаем вначале интерференционную картину, которая формируется при прохождении света через идеальный ИФП. СК спектральной линии во многих возникающих в спектроскопии высокой разрешающей силы ситуациях описывается фойхтовским. контуром [5,15,34,43]. Последний возникает, когда одновременно действуют две причины уширения спектральных линий, одна из которых приводит к возникновению гауссовского контура спектральной линии, другая — дисперсионного. [c.61]

Методы классической спектроскопии высокой разрешающей силы с ИФП позволяют получать информацию о параметрах хаотического и направленного движения атомов [34], изотопическом смещении [7, 25], изучать весь спектр одновременно, работать в областях спектра, где лазерная генерация отсутствует. Их применение не связано с каким-либо воздействием на исследуемый объект. Этот метод, как будет показано ниже, в некоторых случаях позволяет даже исследовать структуру спектральных линий, скрытую под допплеровским контуром, причем одновременно определять и параметры последней. Простота и применимость к широкому кругу задач и объектов исследования делают метод классической спектроскопии высокой разрешающей силы с ИФП по-прежнему одним из основных методов извлечения информации из контуров спектральных линий. [c.103]

Сравнение методов восстановления СКСЛ позволяет сделать следующий практический вывод. В тех ситуациях, когда заранее известна форма контура спектральной линии, целесообразно использовать менее общий прямой метод извлечения информации. Заметим, что такие ситуации являются весьма распространенными в спектроскопии высокой разрешающей силы. [c.105]

Наряду с широко известным лримепецием многолучевой интер( ренциониой техники для спектроскопии высокой разрешающей силы и метрологии в данной кгшге рассматривается специфика применения многолучевого интерферометра как прибора для количественного исследования прозрачных сред, помещенных между его зеркалами. [c.2]

Основной сферой Применения многолучевых интерферометров Фабри-Перо является спектроскопия высокой разрешающей силы [61, 117, НО]. Свойство Интерферометра разрешать очень близко расположенные друг к другу линии источника позволяет успешно исследовать сверхтонкую структуру спектральных линий, обусловленную наличием у атомного ядра механического и магнитного моментов, свойства атомного ядра по изотопическому сдвигу спектральньгх линий, вызванному движенйем ядра и электрона вокруг общего центра тяжести, влияние внешних электрических полей на тонкую структуру линии и т. д. Наряду с этим интерференционные спектроскопы Фабри-Перо широко применяются для определения температуры в плазме, пламенах, газах, для измерения скорости течений по допплеровскому уширению, для изучения спектров поглощения и т. д. [c.5]

Ко второй группе относятся источники света, которые используются лишь для получения узких и интенсивных спектральных линий, легко воспроизводимых и достаточно постоянных но интенсивности. Несмотря на то, что многолучевой интерферометр относится к классу спектроскопов высокой разрешающей силы при исполь ованйи его для изучения прозрачных объектов он работает как интерференционный рефрактометр. Очевидно, что в этом качестве вполне достаточно использование источников света второй группы. [c.55]

Королев Ф- А- Новые методы применения мультиплекс-эталона для спектроскопии высокой разрешающей силы- Известия АН СССР сер. физическая, 1955, 19, № 1, стр. 78—79. [c.238]

К о р о л е в Ф. А. П]зименение клинообразных пластинок для спектроскопии высокой разрешающей силы, Вестник Московского Университета , сср. Физика, 1953, № 8, стр. 101 — 104. [c.239]

СДВИГОВ уровней энергии атомов, изучение вакуумных эффектов, исследование тонкой структуры линий рэлеевского рассеяния и др. К спектроскопам высокой разрешающей силы относятся ступенчатая решетка (эшелон Майкельсона) отражательный эшелон, пластина с боковым входом луча (пластина Люммера—Герке) интерферометр (пластина) Фабри —Перо и сложный интерферометр-мультиплекс (на основе последнего прибора). [c.448]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...