Спектроскопия рентгеновская мягкая

В первых попытках синтеза МИС [49— 52] ставилась цель создать элементы, которые распространили бы явление брэгговской дифракции рентгеновских лучей в кристаллах на более длинноволновый диапазон и тем самым позволили бы развить спектроскопию в мягком рентгеновском диапазоне. [c.117]

В физике плазмы рентгеновская спектроскопия применяется для диагностики источников двух типов с большим размером плазменного объема 0,1—1,0 м (например, токамаков) и источников малого размера 0,1—1,0 мм (лазерной плазмы, плазменного фокуса, вакуумной искры). Температура этих источников одного порядка — от единиц до нескольких десятков миллионов градусов, и основная часть линейчатого и непрерывного излучения приходится на мягкий рентгеновский диапазон от нескольких сотен электронвольт до нескольких килоэлектронвольт. В термоядерных установках проводятся исследования Н, Не, Ы, Ве — подобных ионов легких (О, С, Н) и тяжелых (Т1, N1, Ре) элементов, по которым определяются электронная и ионная температуры, ионный состав и состояние равновесия, а также исследуются макроскопические процессы и кинетика плазмы. Исследуемые линии принадлежат ионам примесей, поступающих в плазменный объем из стенок или остаточного газа, поэтому их интенсивность по сравнению с континуумом относительно невелика. Для разделения линий ионов различных элементов и кратностей необходимо разрешение порядка (1 — 3). 10 в отдельных, относительно узких, участках спектра. По изменению интенсивностей линий ионов различных кратностей можно судить об изменениях температуры, плотности и ионного состава плазмы по объему. Для таких измерений спектральная аппаратура должна иметь пространственное разрешение порядка 1 см для токамаков и 1 мкм для лазерной плазмы. Горячая плазма существует непродолжительное время (характерное время изменения параметров плазмы токамаков порядка 1 мс, лазерной плазмы — 10 нс), поэтому приборы должны обладать достаточно большой апертурой и многоканальной системой детектирования. Поскольку большинство координатно-чувствительных детекторов высокого разрешения имеют плоскую чувствительную поверхность, фокальная поверхность спектрометра тоже должна быть плоской, и угол падения излучения к ней должен по возможности быть небольшим. [c.286]

КРИСТАЛЛЫ И МНОГОСЛОЙНЫЕ МОЛЕКУЛЯРНЫЕ СТРУКТУРЫ ДЛЯ СПЕКТРОСКОПИИ МЯГКОГО РЕНТГЕНОВСКОГО ДИАПАЗОНА [c.302]

И РЕНТГЕНООПТИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ КРИСТАЛЛОВ И МНОГОСЛОЙНЫХ МОЛЕКУЛЯРНЫХ СТРУКТУР ДЛЯ СПЕКТРОСКОПИИ мягкого РЕНТГЕНОВСКОГО ДИАПАЗОНА [c.308]

Накопленный опыт применения показывает, что существующие кристаллы (и в меньшей степени ММС, имеющие худшие стабильность и дифракционные параметры) удовлетворяют целому ряду требований физического эксперимента и техники и, по-видимому, в ближайшее время сохранят свое значение в спектроскопии мягкого рентгеновского диапазона. [c.314]

Общим для всех спектроскопических методов является измерение тех или иных характеристик взаимодействия излучения с веществом (поглощение, отражение, рассеяние, возбуждение и др.) в зависимости от энергии кванта падающего на вещество излучения. И если оптическая спектроскопия в основном использовала область энергий до 5 эВ (инфракрасную, видимую, ультрафиолетовую), то возможность использования такого источника, как СИ, расширила ее в тысячи раз (до десятков КэВ, т. е. на области ВУФ, мягкую рентгеновскую и рентгеновскую). [c.249]

Развитие дифракционной рентгеновской спектроскопии началось в конце 1920-х годов, когда Комптон и Доан [43] впервые предложили использовать для разложения рентгеновских спектров штриховую решетку, работающую при малых скользящих углах, а Осгуд [80] применил для этой цели вогнутую решетку. Вплоть до 1950-х годов центральной задачей спектроскопии в мягкой рентгеновской области оставалась систематизация спектров и измерение длин волн линий, а основным типом прибора классический спектрограф скользящего падения со сферической решеткой на роуландовском круге (схема Пашена— Рунге или ее модификации). Регистрация спектров проводилась на фотопленку. Достоинствами таких спектрографов являются широкая рабочая область спектра (в типичном случае от 0,5 до 50—100 нм), высокое разрешение, превышающее 10 при оптимальных размерах решетки и входной щели, и универсальность для различных типов источников. Основные недостатки — малая светосила, связанная с аберрационными ограничениями ширины решетки, а также отсутствие пространственного разрешения по высоте щели вследствие астигматизма. [c.281]

СПЕКТРОСКОПИЯ (раздел физики, в котором изучают спектры оптические абсорбпионпая изучает спектры поглощения видимого, инфракрасного и ультрафиолетового света акустическая — совокупность методов измерения фазовой скорости и коэффициента поглощения звуковых волн различных частот, распространяемых в веществе вакуумная — спектроскопия коротковолнового ультрафиолетового и мягкого рентгеновского излучения, в которой применяют вакуумные спектральные приборы лазерная изучает полученные с помощью лазерного излучения спектры испускания, поглощения и рассеяния света мессбауэровская — метод изучения электрических и магнитных полей, создаваемых на атомных ядрах их окружением микроволновая — радиоспектроскопия электромагнитных волн сантиметрового и миллиметрового диапазонов длин волн нелинейная — методы исследования строения вещества, основанные на нелинейных оптических явлениях оптико-акустическая — метод анализа вещества, основанный на изучении спектров поглощения света, возникающих [c.278]

В настоящей главе приводятся результаты расчетов плотности состояния электронов, основанные главным образом на моделях структуры аморфных твердых тел (см. 6.2.1). Далее (6.2.2 и 6.2.3) обсуждаются наиболее типичные экспериментальные результаты, полученные методами рентгеновской и ультрафиолетовой фотоэлектронной спектроскопии (РФС и УФС), позволяющими непосредственно наблюдать уровни энергии электронов, а также результаты анализа спектров испускания мягкого рентгеновского излучения (МРС). Кроме того, рассмотрены результаты экспериментов по комптоновскому рассеянию для определен1Ия волновых фунвдий элек1 ронов, находящихся в различ1ных электронных состояниях (см. 6.3.1) и результаты некоторых экспериментов по аннигиляции позитронов (см. 6.3.2). [c.178]

Грудский Л. Я-> Брытов И. А. Спектральные и угловые зависимое ) фициепта отражения и определение оптических констант Be, В и Pd в мягкой рентгеновской области//Тез. докл. XIV Всесоюз. конф. по рен пс и электронной спектроскопии. — Иркутск, 1984. — С. 156. [c.413]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...