Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Масс-спектроскопия

Для анализа свойств атомного ядра особенно важно иметь точные значения масс протона и нейтрона, являющихся составными частями всех атомных ядер. Как видно из табл. 1, современная масс-спектроскопия позволила получить для массы атома водорода (и, следовательно, для массы протона) значение с девятью десятичными знаками. Ниже приведены приближенные значения для массы атома водорода и массы протона в разных единицах  [c.32]


K- I j, где С — относительная концентрация атомов -го сорта в мишени) P+=A +/S — коэффициент ионизации (табл. 25.30—25.32). Вторичная ионная эмиссия широко используется в масс-спектроскопии вторичных ионов для анализа состава приповерхностных слоев твердых тел [34],  [c.590]

В практике анализа воздуха на содержание вредных примесей широко применяются методы абсорбционной спектрометрии, флуоресцентные методы, газовая хроматография, атомно-абсорбционная спектроскопия, нейтронно-активационный анализ, ядерный магнитный резонанс, масс-спектроскопия [14]. В промыщленных масштабах производятся автоматические газоанализаторы, обеспечивающие непрерывный контроль уровня загрязнения атмосферы [4, 14, 15]. В СССР получили широкое применение газоанализаторы ГПК-1 и Атмосфера , предназначенные для непрерывного контроля содержания SO2 в атмосфере и в воздухе производственных помещений. Разработаны специальные методы измерения скорости осаждения пыли, сажи и других аэрозолей [4, И]. Инструментальные методы оперативного контроля загрязненности атмосферы позволяют принимать действенные меры регулирования и ограничения промышленных выбросов в воздух.  [c.25]

В [16] анализ органических веществ (ОВ) хозяйственно-бытовых сточных вод выполнялся методами ионно-обменной хроматографии и Масс-спектроскопии с предварительным концентрированием проб в 10 —10 раз в низкотемпературном вакуумном испарителе. Однако даже при таком анализе в механически очищенном бытовом стоке были идентифицированы лишь 56 соединений, а в биологически очищенном стоке—13 соединений. На основании изучения состава исходных продуктов число содержащихся примесей должно в несколько раз превышать эти величины.  [c.15]

И.-н. D. В сочетании с анализом частиц по массе используется для исследования состава и структуры поверхности твёрдого тела и распределения элементов по глубине (вторично-ионная масс-спектроскопия).  [c.201]

Кроме спектроскопических исследований в инфракрасной, а также в упомянутых ранее видимой и ультрафиолетовой областях, фурье-ме-тоды применяются в настоящее время и в других видах спектроскопии, включая спектроскопию ядерного магнитного резонанса (ЯМР), масс-спектроскопию и ее модификацию, известную как спектроскопия ион-циклотронного резонанса (ИЦР).  [c.150]

Следующие три метода характеризуют агрессивность водных вытяжек. Водные вытяжки готовят следующим образом ПИНС в растворителе смешивают с дистиллированной водой 1 1, смесь тщательно перемешивают и отстаивают в делительной воронке в течение 24 ч (разрешается разделение эмульсии центрифугированием). В исследовательских целях водные вытяжки анализируют методами УФ-, ИК- и масс-спектроскопии, хроматографическим и атомно-абсорбционными методами [20, 123].  [c.96]


Другим важным применением однородных полей является масс-спектроскопия (определение отношения заряда к массе для различных ионов в пучке). В масс-спектрометрах обычно применяется сочетание статических электрических и магнитных полей. В простейшем случае как те, так и другие поля однород-  [c.52]

В аспекте кинетической концепции разрушения микропроцесс разрушения полимеров состоит из ряда стадий деформаций межатомных связей под нагрузкой, вследствие чего энергия распада связи снижается разрыва деформированных связей в результате тепловых флуктуаций с образованием химически активных свободных радикалов зарождения субмикротрещин в результате разрыва макромолекул. Реальность указанных стадий разрушения подтверждается методами инфракрасной спектроскопии (ИКС), электронного парамагнитного резонанса (ЭПР), масс-спектроскопии и рассеяния рентгеновских лучей под малыми углами [1441,  [c.269]

МАСС-СПЕКТРОСКОПИЯ — метод исследования вещества по спектру масс атомов и молекул, в одя-щих в его состав. Сущность метода состоит в том, ято ионизованные атомы и молекулы вещества разделяются по величине отношения то/е (т — масса, е — заряд иона) и раздельно регистрируются (см. Масс-спектрометр). Из полученного масс-спектра определяются величины масс и относит, содержание компонентов в исследуемом веществе.  [c.146]

МАСС-СПЕКТРОСКОПИЯ —МАССЫ АСТРОНОМИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ  [c.151]

Химический состав ПС и его фаз характеризуют элементным составом, концентрацией фаз и их распределением. Для исследования СФС и элементного состава используют различные методы. Наибольший интерес представляют методы прямого исследования СФС, в частности, дифракционные и микроскопические. Параметры химического состава ПС деталей определяют методами рентгеновского микроанализа, ионной масс-спектроскопии, электронной оже-спектроскопии. Эти методы обладают высокой разрешающей способностью.  [c.52]

Коэффициенты С ш В характеризуют потерю массы ПДМФС до 300 °С, а коэффициент А = С1В характеризует потерю массы ПДМФС при полном разложении, при условии, что воздействие неорганических добавок происходит однотипно как на циклы В , так и (Тф) .. Коэффициенты В, С, А можно определить ио данным количественной пиролитической масс-спектроскопии или хроматографии.  [c.223]

Наряду с разрешающей способностью и чувствительностью важными характеристиками М.-с. являются диапазон масс и быстродействие. Диапазон масс у приборов для анализа органич. веществ превышает 10 а. е. м. (см. Масс-спектроскопая). Быстродействие, под к-рым принято подразумевать мин. время, необходимое для регистрации масс-спектра в пределах т. н. декады а. е, м. (1 — 10, 10 — 100 и т. д.) без потери информации, составляет 0,1—0,5 с для статич. приборов и 10 с для время-пролётных (динамических сы, ниже).  [c.54]

МАСС-СПЕКТРОСКОПЙЯ (масс-спектрометрия, масс-спектрография, масс-спектральный анализ) — метод исследования вещества путем определения массы т (чаще, отношения массы к заряду т/е) и относит, кол-ва ионов, образующихся (или имеющихся) в веществе. М.-с. применяется для прецизионного определения массы ионов, изотопного анализа, молекулярного хим, анализа, идентификации и установления структуры сложных органич. молекул и др.  [c.57]

Мартенситные превращения 56 Масс-спектроскопия вторичных ионов 151, 154, 155 Маттиссена правило 295 Маятниковые копры  [c.349]

Макроанализ 1 7, 8, 17 Макронапряжения 1 264 Макрошлифы, полирование 1 100 Масс-спектроскопия вторичных ионов (МСВИ) 2 117, 123, 124, 125  [c.457]

Создание искусственных молекул углерода — третьей формы структуры углерода — привело к пересмотру строения углеродистых сталей и чугунов на атомно-молекулярном уровне. Исследования в этом направлении, впервые выполненные М.М.Закирничной [8, 9], привели к установлению в структурах сталей и чугунов фуллеренов, стабильно сосуществующих с атомами. Это было экспериментально установлено на экстрактах-пробах из сталей и чугунов с использованием тонких физических методов (масс-спектроскопия, ИК-спектроскопия, жидкофазная хромотопография и др.).  [c.100]

При нагревании монокристалла кремния в высоком вакууме (5 10 Topp) обнаружено существенное изменение параметров А и ф, не объясняемое одним только изменением температуры 4.34]. Наблюдалась следующая динамика измеряемых параметров. При медленном (в течение 5 мин) изменении температуры от 560 до 870 °С происходило изменение в диапазонах А 172-ь175,5° и ф 10,65-ь10,8°. При дальнейшем нагревании в диапазоне 975-ь1080 °С А уменьшался, тогда как ф продолжал увеличиваться. При 1080 °С происходило резкое уменьшение обоих параметров до А Ra 172° и / Ra 10,63°. Дополнительные методы исследования поверхности (микрофотографирование, Оже электронная спектроскопия и масс-спектроскопия) показали, что при высоких температурах происходит испарение атомов с поверхности, что сопровождается развитием шероховатости.  [c.105]


Лабораторные и административные помещения /—склад 2 —служебные помещения 5 — мойка посуды 4 — дозиметрическая 5 — аварийный душ 5 — лабора тория приборов 7 — счетная комната S —теплая лаборатория 5 — разбавление проб W — оптическая лаборатория // —темная комната /2 — препаратопскяя химической спектроскопии /3 препараторская масс-спектроскопии / -масс-спектрометр /5 — неактивная лаборатория /5 — работы средней активности (разные) /7 — сушильня /5 — мужской душ /9 — мужгкля комната 20, 22 — гардеробная 2/— женская комната 25 —бельевая. Производственная часть здания  [c.24]

В нек-рых случаях, напр, для усиления слабых ионных токов в масс-спектроскопии или для усиления слабых электронных токов в суперортиконах, применяют электронные умножители (ионные умножители), представляющие собой динодпую систему Ф. у. В случае ионных умножителей иреобразование ионов в электроны происходит на первом динодо за счет вторичной ионно-электронной эмиссии.  [c.361]

Методы измерения М. см. Массы элементарных частиц, Масс-спектроскопи.ч. Атомный вес. Молекулярный вес. Молекулярный вес полимеров, Взвешивание, Массы астрономических объектов. в В Судаков  [c.136]

Методы измерения М. в. разделяются на две группы — абсолютные и статистические. К абс. методам, дающим истинные М. в., относится метод масс-спектроскопии. Все остальные методы дают лишь среднестатистич. значение М. в.  [c.298]

МСВИ - масс-спектроскопия вторичных ионов  [c.5]

Масс-спектроскопические методы. Остановимся, наконец, еще на одном распространенном способе анализа химического состава поверхностной фазы твердого тела — масс-спектроскопии продуктов термодесорбции ТД).  [c.146]


Смотреть страницы где упоминается термин Масс-спектроскопия : [c.225]    [c.227]    [c.247]    [c.32]    [c.152]    [c.591]    [c.126]    [c.57]    [c.199]    [c.199]    [c.268]    [c.115]    [c.632]    [c.216]    [c.70]    [c.184]    [c.145]    [c.146]    [c.147]    [c.148]    [c.149]    [c.150]    [c.151]    [c.417]    [c.711]    [c.375]   
Электронная и ионная оптика (1990) -- [ c.52 ]



ПОИСК



Масс-спектроскопия вторичных

Масс-спектроскопия вторичных ионов

Масс-спектроскопия вторичных ионов (МСВИ)

Масс-спектроскопия продуктов термодесорбции

Масс-спектроскопия с электронным поверхностным зондом (МСЭПЗ)

Спектроскоп

Спектроскопия



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте