Спектроскопия энергетических потерь

Спектроскопия энергетических потерь электронов. Анализ потерь энергии электронов при их прохождении через тонкую фольгу. При этом можно сделать заключение об элементах, содержащихся в фольге. [c.160]

Полученные данные об электронных состояниях корунда были с успехом использованы для теоретической интерпретации экспериментов по оптическому отражению, спектроскопии энергетических потерь электронов, электронных и рентгеноэмиссионных измерений [19]. Были проведены также аналогичные расчеты для высокотемпературной фазы а-А120з, где использованы параметры структуры, установленные для нагретой до / 2000 °С а-фазы, когда происходит анизотропное расширение решетки параметры а, с возрастают на 1,83 и 1,86 %, отношение с/а уменьшается на 0,66 %. Наиболее короткая связь А1—О (1,857 А) увеличивается на 2,7 %, наиболее длинные (1,969 А) — всего на 0,1 % [40]. [c.122]

Структура низкоразмерных объектов не может быть определена только на основе метода рентгеновской дифракции. Известно, что наноструктурные многокомпонентные пленки имеют очень широкие дифракционные максимумы низкой интенсивности, что обычно объясняется аморфным состоянием вещества, хотя кристаллическая природа наноструктурных пленок может быть подтверждена другими методами. Поэтому для характеристики низкоразмерных объектов рекомендуется использование комбинированного подхода с применением различных методов, таких как рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия, Рамановская спектроскопия, расширенные измерения поглощения рентгеновских лучей тонкой структурой (EXAFS), электронная микроскопия высокого разрешения и спектроскопия энергетических потерь электронов. [c.480]

Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) 125-127 Спектроскопия энергетических потерь электронов (СЭПЭ) 167 [c.282]

Микродифракция и рентгеновский микроанализ давно применяются в электронной микроскопии, но в последнее время развиваются тонкие методы так называемой аналитической электронной микроскопии, например регистрация и анализ энергетических потерь электронов первичного прощедшего пучка (спектроскопия электронов, потерявших энергию). За счет уменьшения диаметра пучка и повышения чувствительности детекторов удается добиться пространственного разрешения порядка 0,5 нм с пределом детекции около 100 атомов. Это открывает новые перспективы анализа сегрегаций на межкристаллитных границах в наноматериалах. [c.184]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...