Рентгеновская флуоресцентная спектроскопия

Рентгеновскую флуоресцентную спектроскопию широко используют для определения содержания различных элементов в анализируемых материалах на глубину, соответствующую 10 —3-10 атомным слоям. Для этих [c.968]

В последнее время для определения состава и идентификации сплавов находит применение метод рентгеновской флуоресцентной спектроскопии. Метод основан на взаимодействии испускаемого рентгеновского излучения с веществом, в результате чего в последнем возникает возбуждение и эмиссия характерных для каждого элемента вторичных рентгеновских лучей. Интенсивность вторичного излучения и его спектральное распределение пропорциональны элементному содержанию вещества. С помощью этого метода возмОг жен анализ порошковых, твердых и жидких проб металла всех элементов атомных номеров от 9 (фтора) до 92 (урана). [c.189]

Современная рентгеновская флуоресцентная спектроскопия дает возможность детектировать количество вещества = 10 г. Однако из-за высокой проникающей способности рентгеновского излучения можно говорить лишь о составе достаточно толстого (10-100 нм) приповерхностного слоя. Поэтому для определения состава самой поверхности и тонкого прилегающего слоя толщиной, определяемой длиной свободного пробега оже-электронов (0,5—1 нм) предпочтительно использовать оже-спектроскопию. [c.139]

Каждое из перечисленных явлений порождает группу приборов. Так, явление радиоактивности нашло применение в рентгено-флуоресцентном анализе, авторадиографии, гамма-резонансной спектроскопии, основанной на эффекте Мессбауэра явление ионизации веществ — в масс-спектрометрическом анализе явление резонансов широко используются в радиоспектрометрических исследованиях при регистрации ядерного магнитного, электронного парамагнитного, ядерного, квадрупольного, двойного электронно-ядерного и других резонансов явление взаимодействия среды с рентгеновским излучением нашло применение в рентгеноструктурном и рентгеноспектральном анализах явление взаимодействия вещества с потоком электронов используется в электронных микроскопах. [c.170]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...