Спектроскопия матрично-изолированных частиц

Спектроскопия матрично-изолированных частиц 91 [c.91]

Спектроскопия матрично-изолированных частиц 93 [c.93]

Спектроскопия матрично-изолированных частиц [c.95]

Спектроскопия матрично-изолированных частиц 97 [c.97]

Спектроскопия матрично-изолированных частиц 99 [c.99]

Спектроскопия матрично-изолированных частиц 105 [c.105]

Известны также нерезонансные спектроскопические методы, котором обычно соответствуют менее интенсивные спектры. Наиболее часто применяют спектроскопию комбинационного рассеяния (КР), основанную на различии частоты падающего и рассеянного образцом излучения. Фотон теряет энергию в результате поглощения ее молекулами вещества, чему обычно соответствует их колебательное возбуждение, хотя возможно также вращательное или электронное возбуждение. Иногда испускаемый фотон имеет более высокую энергию, чем падающий, если молекулы образца находятся в колебательно-возбужденном состоянии. Однако для матрично-изолированных частиц это не характерно. [c.91]

Большинство перечисленных спектроскопических методов трудно использовать для изучения матрично-изолированных частиц. Поскольку в матрицах молекулы, как правило, не могут свободно вращаться, вращательная спектроскопия практически не применяется для их исследования, Ядерный магнитный резонанс дает лишь широкие сигналы низкой интенсивности вследствие большого времени релаксации в твердых образцах. Сигналы в спектрах ЯКР также очень слабые, и даже в случае массивных образцов их нелегко обнаружить. Таким образом, эти методики также не могут быть успешно применены для матрично-изолированных частиц. [c.91]

Физические явления, которые лежат в основе рассмотренных видов спектроскопии, тесно связаны с определенными преимуществами и недостатками методов, применяемых для идентификации матрично-изолированных частиц и исследования их строения и свойств. Области применения каждого метода ограничены, и в данной главе мы подробно обсудим эти ограничения, чтобы наметить оптимальные пути использования спектроскопических методов. [c.92]

Условия исследования электронных спектров матриц. В случае использования электронной спектроскопии для идентификации матрично-изолированных частиц должны выполняться следующие условия [c.93]

Большой прогресс в исследовании матрично-изолированных частиц достигнут в последнее время в результате использования спектроскопии КР в будущем можно ожидать дальнейшего повышения чувствительности этого метода. [c.163]

Такие спектро.скопические методы, как фотоэлектронная спектроскопия, магнитный круговой дихроизм и мессбауэровская (гам-ма-резонансная) спектроскопия, вероятно, не будут широко применяться для исследования матрично-изолированных частиц по причинам, отмеченным в гл. 5. [c.164]

Основными методами идентификации и исследования матричноизолированных частиц являются электронная и колебательная спектроскопия, а также электронный парамагнитный резонанс. Электронные переходы в видимой и УФ-областях изучают в спектрах испускания и поглощения, а колебательные переходы - в ИК-спектрах поглощения и спектрах КР наконец, спектры ЭПР получают, используя сверхвысокочастотное излучение в сильном магнитном поле. Для реализации всех этих методов пригодны выпускаемые промытлен-носгью спектрометры, которые можно приспособить к исследованию матрично-изолированных частиц. [c.92]

Вид эпектронного спектра. Мы убедились, что, несмотря на простую технику эксперимента, электронная спектроскопия недостаточно надежна для идентификации матрично-изолированных частиц. Однако если спектр отнесен к определенной частице, то в ряде случаи удается получить дополнительную инффмацию о частоте одного из ее колебаний. (У молекул, состоящих более чем из двух атомов, имеется не одно колебание, однако из электронного спектра обычно не удается получить несколько частот.) Позже (в гл. 6) мы обсудим влияние матрицы на эти частоты и энергию соответствующих электронных переходов здесь же отметим, что электронный спектр, полученный в матрице, отличается от спектра в газовой фазе. В газофазном спектре присутствуют полосы, обусловленные поглощением энергии колебательно-возбужденными частицами (в результате получения их при высоких эффективных температурах). Напротив, матрично-изолированные частицы находятся при очень низких температурах, и их полосы поглощения обусловлены переходами с низшего колебательного уровня основного электронного состояния. На рис. 5.2 приведена диаграмма, демонстрирующая различие этих спектров. [c.94]

При использовании колебательной спектроскопии для идентификации матрично-изолированных частиц также имеются определенные ограничения, но они отличаются от рассмотренных в разд. 5.2. Во-первых, только два класса частиц (атомы и гомоядерные двухатомные молекулы) не имеют колебаний, активных в ИК-области спектра. Выпускаемые промышленностью в настоящее время ИК-спектрометры рассчитаны на диапазон измерений, охватывающий частоты всех известных валентных колебаний ( 4000-100 см 1) большинство деформационных колебаний также находится в этом интервале, хотя они имеют более низкие частоты, чем валентные колебания, включающие те же атомы. При этом наиболее подробно изучена область пропускания бромида калия (V > 400 скг ), используемого в качестве материала окошек и деталей спектрометров. Однако дальняя инфракрасная область (ниже 400 см"1) также доступна для измерений и все чаще становится объектом исследований. [c.96]

Подобно ИК-спектроскопии, этот метод связан в большинстве случаев с колебательным возбуждением частиц, причем даже гомоядерные двухатомные молекулы дают спектры КР. Эффект комбинационного рассеяния довольно слабый, поскольку это нерезонансный процесс, и поэтому для изучения частиц, находящихся в матрице в низкой концентрации, необходимы очень мощные источники света (лазеры) и светосильные спектрометры. Даже при соблюдении этих условий в большинстве полученных спектров КР матрично-изолированных частиц обнаружены линии только главных компонентов смеси. Метод наиболее пригоден для изучения колебаний, не активных в ИК-спектре (согласно правилам запрета по симметрии), причем исследоваться должны молекулы, которые предварительно идентифицированы при помощи ИК-спектроскопии. Частоты таких колебаний весьма важны для расчета силового поля (см. выше). Методика КР-исследования сходна с получением электронных спектров испускания (см. рис. 1.1, б). [c.106]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...