Дифракционные полосы

Размеры объектов очень важны и в вопросе образования резких теней, существование которых является одним из основных аргументов в пользу лучевых представлений оптики (см. 1). Как ясно из 37, при относительно небольших расстояниях от объекта до точки наблюдения (дифракция Френеля) ширина области вблизи геометрической тени, где наблюдаются дифракционные полосы, примерно равна радиусу первой зоны Френеля в случае плоской волны (бесконечно удаленный источник) радиус этой зоны г = (/— рас- [c.273]

Интересен дефектоскоп для контроля поверхности при дрессировке тонких листов, который измеряет шероховатость листов, движущихся с большой скоростью. Сканирующий луч создает в плоскости детектора изображение, состоящее из основного светового пятна и дифракционных полос, форма которых зависит от структуры исследуемой поверхности. Для того чтобы выделить световые сигналы, соответствующие дефектам поверхности, перед детектором помещают компенсационный фильтр. Благодаря непрозрачным участкам, которые по форме совпадают с дифракционным изображением поверхности нормального качества, не имеющей дефектов, фильтр задерживает сигналы, отраженные основной частью поверхности, и пропускает только сигналы от участка поверхности с дефектами. [c.95]

Считая, что требуемое отношение 5/Л =10, из условия равенства суммы пространственных частот дифракционных полос Френеля и несущей частоты половине частоты отсечки фотопленки получаем следующее выражение для требуемого разрешения регистрирующей среды [c.171]

И S2, которые могут принадлежать набору призм или отражаться плоским зеркалом. Поскольку дифракционные полосы составляю щих голограмм параллельны, процесс дифракции, обеспечивающий цветное изображение, может быть ограничен одной плоскостью следовательно, отражающие поверхности должны направлять считывающий свет в эту плоскость апертура может представлять собой щель, а нить накаливания лампы —- прямую линию. [c.472]

Дифракционные полосы, вызываемые фазовой пластинкой [c.114]

Один из менее благоприятных случаев, который часто встречается, это восстановление более или менее прямого и резкого края протяженного предмета. Для простоты мы обсудим лишь случай поглощающей полуплоскости, ограниченной прямым краем. Восстановление дает одно резкое изображение, но за ним на расстоянии 2zo появляется изображение- двойник в виде сопряженной плоскости с протяженной системой полос Френеля, которые могут быть настолько контрастными, что маскируют даже изображения немного отступающих от края малых предметов, которые сами по себе могли бы быть весьма подходящими предметами для дифракционной микроскопии. Покажем теперь, что в этом весьма неблагоприятном случае результат может быть значительно улучшен с помощью метода темного поля. Как уже говорилось, в этом методе прямая, или освещающая, волна устраняется после того, как она пройдет голограмму, с помощью малого, предпочтительно размытого черного пятна, наложенного на действительное изображение отверстия источника. Размытие , т. е. распределенное пропускание пятна, приводит к тому, что дифракционные полосы, которые могут возникнуть в случае резко ограниченного пятна, здесь отсутствуют. [c.298]

Здесь мы снова не рассматриваем дифракционную картину, расположенную непосредственно вблизи точки F, хотя она и имеет значительную интенсивность. Тогда в плоскости Fuv будет наблюдаться классический спектр одной щели, интенсивность в котором меняется в направлении Fv, параллельном нашим щелям. При этом, поскольку щели считаются бесконечно узкими, интенсивность света в направлении, перпендикулярном щелям, будет постоянной. Пренебрегая дифракционными полосами высоких порядков, можно сказать, что в наблюдаемом спектре дифрагированный свет сосредоточен в узкой полосе шириной 2v = 2X/I0. [c.21]

Параллельный пучок монохроматического света падает на проволоку диаметром 1 мм, натянутую перпендикулярно направлению распространения света. На экране, расположенном перпендикулярно направлению распространения света, на расстоянии 1 м от проволоки наблюдаются дифракционные полосы, расстояние между которыми 0,5 мм. Наши длину волны света. [c.234]

В фокальной плоскости Р линзы создается картина дифракции Фраунгофера на решетке. Если ее наблюдать на реальной плоской поверхности, то она представляется в виде дифракционных полос (см. 33). Если эта поверхность воображаемая и лучи беспрепятственно проходят дальше, то в плоскости Рг образуется изображение решетки. [c.247]

Величину сопротивления 7 , всегда можно установить такой, что результирующий сигнал на входе усилителя будет равен пулю при любой желаемой фазе дифракционной полосы. При этом регистратор будет давать сигнал в случае отклонения фазы дифракционной полосы от за- данной регулировки. [c.696]

Т Объясните, почему дифракционные полосы нельзя наблюдать при протяженном или при немонохроматическом источнике света. [c.278]

Проведенное исследование показывает, что между светом и тенью от края экрана нет резкой границы в области геометрической тени интенсивность спадает постепенно и монотонно, а край освещенной области расщепляется в дифракционные полосы. Полученные закономерности хорошо подтверждаются на опыте. [c.282]

Оценить ширину дифракционных полос вблизи границы тени от прямолинейного края экрана. Дифракционная картина наблюдается в плоскости, перпендикулярной направлению падающей плоской волны (Я=5СЮ нм) и расположенной на расстоянии 1 м от отбрасывающего тень экрана. [c.284]

В обыденной жизни невооруженному глазу, как правило, дифракционные явления не доступны из-за слишком малой интенсивности дифракционных полос и малого масштаба картины. Однако иногда мы наблюдаем эти явления, не подозревая, что имеем дело с эффектом дифракции. Если, прищурив глаз, смотреть на какой-либо далекий источник света, то можно отчетливо видеть цветную дифракционную картину — наши ресницы представляют собой грубую дифракционную решетку, способную разложить белый свет в спектр. [c.331]

Переходя от общего электромагнитного поля к оптическому полю, характеризующемуся очень высокими частотами (короткие волны), мы нашли, что в определенных областях простая геометрическая модель распространения энергии становится неверной. В частности, мы увидели, что отклонений от нее нужно ожидать в непосредственной близости к границам тени и в областях, где концентрируется большое число лучей. Подобные отклонения проявляются появлении темных и светлых линий— дифракционных полос. Теория дифракции занимается главным образом изучением поля в этих особых областях, и естественно, чти такие области, в которых лежит часть пространства, где образуется оптическое изображение (область фокуса), представляют большой практический интерес. [c.341]

Если источник точечный, а края экрана резкие, то граница геометрической тени расщепляется в дифракционные полосы, как это мы видели при рассмотрении дифракции на круглых отверстии и экране. Однако, если края экрана неровные, то полосы начинают размываться, а при увеличении размеров источника переходят в полутень. [c.274]

Когда звезда проходит мимо края Луны, получаются дифракционные полосы. Определить скорость их движения V по земной поверхности и оценить порядок их ширины Ах. Для наблюдения полос можно воспользоваться телескопом, в фокусе которого помещен фотоэлемент. Полосы, проходя перед объективом телескопа, возбуждают переменные электрические токи, которые могут быть усилены и с помощью осциллографа записаны на движущейся ленте. Оценить длительность t прохождения полос перед объективом. [c.287]

Если углы и fl o малы, то Ь — о) Основная доля света сосредоточена в центральной дифракционной полосе, т. е. между минимумами первого и минус первого порядков. Этим можно воспользоваться для оценки дифракционной расходимости световых пучков, выделяемых тем или иным способом, например в результате прохождения плоской волны через диафрагму. Световые лучи, прошедшие через диафрагму, отклоняются от своего исходного направления на угол [c.296]

Вычитая отсюда (44.5) и заменяя разности дифференциалами, получим Ь os u б О = Я/2. Пусть другой такой же (некогерентный) источник света сдвинут относительно первого как раз на угол бО. Тогда дифракционные максимумы от одного из этих источников наложатся на минимумы от другого. В результате дифракционные полосы пропадут. Угловое расстояние oi) между точечными (или линейными) источниками, когда это произойдет, определяется формулой [c.296]

На рис. 9.5 показаны положения главных максимумов от краев источника, которые располагаются по обе стороны главного максимума от центральной С точки на-щего источника на угловых расстояниях а. Промежуточные точки источника дают максимумы, располагающиеся между Л и Б. Если щель широкая, так что ф = = Х/Ь значительно меньще а, то изображение источника геометрически почти подобно источнику и лишь по краям окаймлено слабыми дифракционными полосами (вторичные максимумы). По мере уменьшения ширины щели ф увеличивается, приближаясь к а. Изображение источника становится более расплывчатым, и дифракционное уширение составляет все большую и большую часть геометрической ширины изображения. При очень узкой щели, т. е. при ф, значительно большем а, дифракционное уширение становится значительно больше, чем геометрическая ширина изображения, так что наблюдаемая картина мало отличается от картины, даваемой точечным источником. [c.180]

Таким образом, возникновение дифракционных полос вблизи границы геометрической тени характерно только в случае ограничения сечения волнового фронта непрозрачным экраном с отверстием. В случае же постепенного уменьщения амплитуды колебаний, что тоже эквивалентно некоторому эффективному ограничению волнового фронта, дифракционные явления приводят только к расширению поперечного сечения пучка, а чередования областей с ббль-шими и меньшими значениями освещенности не наблюдается. Это хорошо видно на фотографиях (рис. 9.8, б, в, г), полученных с помощью гелий-неонного лазера при последовательном смещении плоскости наблюдения. Фотография рис. 9.8, д получена после ограничения пучка в плоскости ЕЕ щелью из лезвий бритв, в результате чего появились характерные дифракционные полосы (ср. рис. 9.7, а). [c.189]

Дифракция рентгеновских лучей в жидкостях отличается от их дифракции в кристаллах. На рентгенограмме жидкости, полученной фотографическим методом, при длительных экспозициях вместо резких интерференционных линий, характеризующих структуру кристаллической решетки, обнаруживаются широкие дифракционные полосы с размытыми краями. При фотомет-рировании рентгенограмм получаются кривые интенсивности с несколькими максимумами. Расчетным путем по кривым интенсивности определяют ближний порядок атомов в жидкости. В качестве примера на рис. 1 приведена кривая интенсивности ртути (В. И. Данилов, [c.12]

Сравнение результатов осевой и внеосевой голографической записи показывает, что при использовании внеосевой голограммы для записи информации о частицах в исследуемом объеме требуется фотопленка со значительно более высоким разрешением. Если ту же самую фотопленку с разрешением /2=1П4,64 пар линий/мм использовать для записи осевой голограммы Френеля, то мы будем иметь ППШПП= 156 050. Это означает, что на данной фотопленке можно записать большее число дифракционных полос Френеля следовательно, и восстановленное изображение будет характеризоваться высоким разрешением. Однако в этом случае голограмный шум, вызывающий ухудшение восстановленного изоб- [c.171]

Выражение (6.7) дает распределение амплитуд в изображении частицы величина в квадратных скобках показывает изменение изображения, обусловленное фазовой пластинкой. Центральный максимум теперь становится равным l + mi —вместо 1, и дифракционные кольца усиливаются. Этот последний эффект, хорошо известный микроскопистам, использующим фазовый контраст, сводится к появлению дифракционных полос (большей частью хорошо заметных), которые окружают дефазирующие объекты. Они создают вокруг изображения нечто напоминающее гало , которое мешает наблюдению слабо выраженных деталей по соседству с более заметными объектами, дифрагирующими больше света. [c.116]

Если к целое, то поле позади пластинки будет равномерно освещенным, а пластинка будет казаться невидимой. Когда к полуце-лое, то вдоль геометрической тени пластинки образуется резкая томная полоса, окаймленная слабыми дифракционными полосами (дифракция Френеля) и пластинка будет резко видна на общем фоне освещенности. При освещении пластинки белым светом вдоль [c.476]

Таким образом, по своему принципу автоматический регистратор является дифференциальным фотометром, сравнивающим интенсивности двух световых пучков. Разность падения напряжений на сопротивлениях Л, и иропорциональная разности интенсивности фона и дифракционной полосы, подается на усилитель, а затем на синхронный детектор. Непосредственно с вы- [c.695]

Таким образом, основная часть светового потока сосредоточена в центральной дифракционной полосе между минимумами порядков т = 1, т. е. в пределах углов— 0i<0<0i. где sin Qy = k/a. Угловая ширина максимумов уменьшается при увеличении ширины а щели если 0<С1, то Q =K/a. Центральный максимум становится резче, первые минимумы придвигаются ближе к центру картины. Высота максимума интенсивности пропорциональна квадрату ширины щели, так как возрастающий пропорционально а световой поток распространяется в пределах убывающего угла (0, 1/а). Относительная интенсивность остается неизменной распределение света по максимумам разных порядкор (6.22) не зависит от ширины щели. При сужении щели картина расширяется, а ее яркость уменьшается. Когда а приближается к к, центральный максимум охватывает все поле зрения освещенность экрана уменьшается от центра к краям монотонно. [c.287]

I ри голографировании сложного объ- екта его освещают когерентным лазерным пучком. Рассеянное объектом волновое поле можно в соответствии с теоремой Фурье представить в виде совокупности плоских волн. Каждая из них при интерференции с опорной волной, получаемой из того же лазерного пучка, создает на фотопластинке свою систему интерференционных полос с характерными для нее ориентацией и периодом. После проявления на голограмме образуется совокупность дифракционных решеток с синусоидальным пропусканием. Каждая из этих решеток на этапе восстановления при дифракции пучка, идентичного с опорным, формирует соответствующую ей исходную элементарную плоскую волну. Это главный дифракционный максимум с т=1. Все восстановленные элементарные волны находятся в таких же амплитудных и фазовых соотношениях, как и при записи голограммы. Их совокулность воссоздает полное рассеянное объектом световое поле и вызывает те же зрительные образы, что и при непосредственном наблюдении объекта. Другими словами, в том месте, где находился объект при записи голограммы, возникает его мнимое изображение. Кроме того, каждая элементарная система дифракционных полос (решетка) формирует еще две волны, соответствующие главным максимумам с т=0 и т= — 1. Волны с т=0 распространяются в направлении опорной волны и не попадают в глаз наблюдателя при надлежащем его расположении. Волны с т= —1 формируют, как показано ниже, еще одно (действительное) изображение объекта. [c.380]

Влияние времени нагревания на структурные изменения углеродистых веществ подтверждается также данными, приведенными в работе В. И. Касаточкина, Э. Ю. Золотаревской и Л. Л. Разумовой [10-5], о зависимости полуширины дифракционной полосы (002) от времени нагревания угля марки К. [c.182]

Некоторые численные расчеты. Типичная теоретическая кривая, полученная из (26), приведена на рис. 11.11. Она построена для случая нормального падения -поляризованной плоской волны единичной амплитуды и представляет собой график изменения амплитуды Е в зависимости от х на расстоянии трех длин волп позади экрана (ky = — 6я). На рисунке отчег-ливо видны дифракционные полосы в освещенной области и постепенное ос-лаблепис поля в глубине области геометрической тени. [c.530]

Примем волновой фронт за координатную плоскость ХУ, а начало координат поместим в точке О. Тогда = 6 + х + у" ), а следовательно, г — Ь = х + у )/(2Ь) +. .. Члены высших степеней можно отбросить, если даже они добавляют в фазу слагаемые порядка л и больше. Дело в том, что такие члены, как это видно из формы спирали Корню, не меняя обш,его характера дифракционной картины, производят в ней только практически незаметные смещения высших дифракционных максимумов и минимумов. Кроме того, высшие дифракционные максимумы и минимумы следуют друг за другом столь часто, что для их реального осуществления требуются точечные источники света высокой степени юиoxpoмa-тичности. В противном случае все дифракционные полосы высших порядков размываются и переходят в равномерно освещенный фон. Отбросим все фазовые множители, ие влияющие на относительное раснределенпе интенсивности светового поля. Тогда поле в точке наблюдения Р представится интегралом [c.284]

Образуется система дифракционных полос, показанная на рис. 176. Центральная полоса светлая и примерно вдвое шире остальных светлых и темных полос. Максимальный порядок минимума, который может наблюдаться, определяется условием sin [c.295]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...