Условие максимумов интенсивности решетки

Разрешающая способность. Для дифракционной решетки она определяется так же, как и в случае интерферометра Фабри — Перо (см. 28), однако в качестве условия разрешения линий принимается условие Рэлея линии считаются разрешенным-и, если максимум интенсивности одной попадает на минимум интенсивности другой. [c.226]

Р, а по условиям построения лучей т]) — а = —фЧ-а, откуда 2а= ф-Ьф, или а=( ф-Ьф)/2. Главный максимум интенсивности излучения, дифрагированного на одном отдельном элементе, располагается в направлении р — направлении зеркального отражения от отдельного элемента решетки. При заданном угле падения т]), изменяя угол профиля а, можем изменять направле- [c.349]

В направлениях, определяемых этим условием, получаются максимумы, интенсивность которых в раз превосходит интенсивность волны от одной щели в том же направлении. Они называются главными максимумами. Целое число т называют порядком главного максимума или порядком спектра. Условие (46.4) определяет направления, в которых излучения от всех щелей решетки приходят в точку наблюдения в одинаковых фазах, а потому усиливают друг друга. В таких направлениях при отдельных значениях т могут и не возникнуть максимумы. Это будет, когда /х = О, т. е. в направлениях на дифракционные минимумы от одной щели. Например, если a = b,io все главные максимумы четных порядков не появятся. Действительно, условие появления главного максимума порядка 2п имеет вид d sin = 2п к. При d = 2Ь оно переходит в 6 sin = = nk, т. е. в условие дифракционного минимума на щели. Таким образом, в рассматриваемом направлении ни одна щель, а потому и решетка в целом не излучают. [c.304]

Разрешение оптического прибора определяется его способностью разделять соседние спектральные линии. Оно обычно выражается как R = Уйк, где d% — разница в длине между двумя разделяемыми спектральными линиями одинаковой интенсивности. Два пика считаются разрешенными, если расстояние между ними по крайней мере таково, что максимум одного из них соответствует первому минимуму другого. Это условие называют критерием Рэлея. Предполагая, что решетка дифрагирует идеально плоскую волну, получают следующее выражение [c.252]

Центральному максимуму соответствует и = 0, т. е. 02 = 0,,—он расположен в направлении зеркального отражения падающей волны от плоскости грани (угол блеска). Переходя к углам 0 и 0, это условие запишем в виде 0 = 0 + 2е. Если в этом направлении находится какой-либо главный максимум интерференционного сомножителя sin (yV6/2)/sin (6/2), то практически весь дифрагировавший свет сконцентрируется в спектр одного порядка. Покажем это, ограничиваясь случаем малых углов 0, 0 и Е. Направление 0 на максимум порядка т определяется из условия (6.40) (0m — 0 ) = mX. Направление зеркального отражения 0=0 - -- -2е совпадает с 0 , если наклон граней е таков, что 2t, = Qm — =mX/d. Тогда (яаД) (02 — 0,) =(яа/Х) (0 —0 — 2е) =(па/Х) (Q — Q — mX/d). Ширина а отдельного штриха для решетки рассматриваемого профиля (рис. 6.28, б) практически совпадает с ее периодом d. Поэтому и г n[d(0 —0 )/Х —т]. Отсюда следует, что для направлений на главные максимумы интерференционного сомножителя, т. е. когда d(0 —0 ) = = т Х, получается и л т — т) и интенсивность /, обращается в нуль для всех т кроме т =т. Решетка, у которой 2е = mX/d, дает только один главный максимум порядка т. [c.313]

Метод определения периода решетки путем измерения положения дифракционных максимумов имеет некоторые недостатки, снижающие его точность (трудности учета формы кривой интенсивности, геометрических условий съемки и т. д.). Для повышения точности прецизионных измерений периодов применяют метод определения положения центра тяжести кривых интенсивности. Положение центра тяжести определяется из соотношения [c.658]

I Л (со) 1 do) для излучения, выходящего из решетки под углом . Теперь дифрагированное излучение, распространяющееся от решетки в определенном направлении, состоит не из одной монохроматической волны, как было в случае неограниченной решетки, а непрерывно распределено по спектру частот. Главные максимумы в этом распределении приходятся на частоты, при которых знаменатель в выражении (50.4) обращается в нуль, т. е. сох/2 = тл. Это приводит к соотношению (50.2). Главные максимумы не появятся, если F (ю) = О, т. е. когда в падающем импульсе, не представлено излучение соответствующей частоты. Ближайший минимум в распределении интенсивности по частотам приходится на частоту, определяемую условием сот/2 = Nmx + я, так как при такой частоте числитель в с х)рмуле (50.4) обращается в нуль. Величина [c.329]

Модель статической решетки приводит к неправильным значениям интенсивности рассеянного рентгеновского излучения в брэгговских максимумах. Тепловые колебания ионов относительно положений равновесия (и даже нулевые колебания при Г = 0) уменьшают амплитуду брэгговских максимумов. Кроме того, поскольку решетка не неподвижна, существует фон рассеянного рентгеновского излучения в направлениях, не удовлетворяющих условию Брэгга. [c.49]

Пример 3.10. Простейшая решетка (3.235) с одной ступенькой может быть пс-пользована только при размерах зон близких к длине волны. Приведем пример расчета более сложной бинарной линзы с большими зонами и большим интервалом изменения размеров зон. Линза с непрерывным рельефом (3.236) при следующих параметрах апертура линзы й ЗОЛо, координаты точки фокусировки (хо ) = (О,—130Ао), в = 10°, е = 2,25, имеет 10 полных зон с размером от 5Ло, в начале апертуры, до 2Ао на краю апертуры. Для расчета бинарной линзы требуется рассчитать решетку из условия максимума интенсивности в 1-м порядке для интервала периодов [2Ло,5Ло]. Градиентным методом для ТМ-поляризации была рассчитана [c.187]

Его выполнение обеспечивает взаим- нее усиление лучей, -прошедших через все щели решетки. -Это легко видеть, так как разница хода, например, между лучами 1 и 3 равна 2d sin ф и также удовлетворяет уравнению. Поэтому в направлениях, характеризуемых хорошими значениями углов ф (т. е. когда выполняется условие 81пф = п 1,), максимум интенсивности должен быть очень заметным. И тем заметнее, чем больше число щ,елей. Это прекрасно подтверждают фотографии дифракционной картины, полученные при разном числе ш,елей (рис. 21). Уже при 20 щелях картина становится очень контрастной. Либо яркая линия, либо чернота. И никаких полутонов. Как это можно объяснить [c.63]

Измерения высокой точности стали возможными благодаря разработке рентгеновских интерферометров Бонзе и Хартом [25,26]. Был создан ряд модификаций этих приборов, в которых использованы как прохождение рентгеновских лучей через почти совершенные кристаллы кремния и германия, так и их отражение. Наиболее простая схема показана на фиг. 15.1. Три почти совершенных толстых кристалла расположены точно параллельно. Прошедаиий и дифрагированный пучки от первого кристалла вновь дифрагируют на втором кристалле, давая пучки, которые вместе идут к третьему кристаллу. Интерфгренция между этими пучками создает волновое поле, модулированное с периодичностью плоскостей решетки. Если решетка третьего кристалла представляет собой точное продолжение решетки первых двух, то максимумы интенсивности волнового поля будут совпадать с промежутками между атомными плоскостями и будет наблюдаться максимум прохождения. Поперечный сдвиг либо третьего кристалла, либо модуляций волнового поля на половину межплоскостного расстояния даст условие для максимума поглощения в третьем кристалле и, следовательно, для минимума прохождения. Следовательно, интенсивность прошедшего через это [c.334]

Основная количественная характеристика, определяемая при теоретическом рассмотрении дифракции на объемной решетке (5.1),—это максимальная интенсивность продифрагировавшего пучка, т. е. фактически дифракционная эффективность решетки т]. Очень важно также знать условия брэгговской дифракции, при которой достигается этот максимум,и провести анализ влияния отклонения параметров считывающего светового пучка (его угла падения и длины волны) от их брэгговских значений (5.2) на интенсивность дифракции, т. е. анализ селективных свойств объемной голограммы. При рассмотрении этих и аналогичных проблем в настоящее время широко используются два основных подхода, а именно описание процесса дифракции в кинематическом и динамическом приближениях. [c.77]

Если перед дифракцией на решетке запаздывание происходило нормально к волновому вектору, то после дифракции направление запаздывания образует с волновым вектором угол у, определяемый соотношением tgy=Kd /dK d jd k — угловая дисперсия решетки). Если импульс с таким фронтом направить в DFDL, как это показано на рис. 2.27, то после наложения обоих пучков в кювете с красителем возникнет интерференционная Картина, как и в нормальном DFDL. Положения максимумов и минимумов в этой картине будут стационарными, но контур интенсивности будет перемещаться вдоль кюветы слева направо со скоростью u = /tgY. Такая бегущая волна света накачки в свою очередь создает в DFDL бегущую волну, распространяющуюся в растворе красителя со скоростью v. В случае синхронного распространения обеих волн, т. е. при v = v, угол у между фронтом замедленного импульса и первоначальным фронтом должен удовлетворять условию tgY = AZi,. Его выполнения можно достичь двумя способами вращением замедляющей решетки или подбором показателя преломления путем изменения концентрации раствора. Первые эксперименты, в которых использовалась описанная методика, позволили получить импульсы с максимальной длительностью 1 пс, причем отдельные импульсы генерировались в условиях значительного превышения порога. [c.101]

Фазовые решетки. Если во все щели дифракционнш решетки поставить призмы, как это только что было рассмотрено, то максимум дифракции сместится на дифракционный угол (п — 1)а. Направление на главные максимумы не изменяется, посколы они обусловлены интерференцией между волнами от различных щелей, а условия этой интерференции не меняются (разность хода между лучами от соседних щелей по-преж-ne ty dsm ф). Поэтому общий характер интерференционной картины постоянен, изменяется лишь распределение интенсивностей максимальной йнтенсивностью обладает не главный максимум на угле ф=0, а тот главный максимум, который попадает на угол ф = (w — 1)а или находится вблизи этого угла. Это позволяет работать с более высокими порядками т интерференции, что улучшает разрешающую способность, и в то же время избегать потерь в интенсивности. [c.228]

Положение главных максимумов интерференционного сомножителя 6= = 2пт, за исключением т = 0 и т= (. совпадает с минимумами /,(0). Этому соответствует сокращение 51п (б/2) в числителе и знаменателе. Поэтому амплитудная дифракционная решетка с синусоидальным пропусканием дает центральный максимум при 0 = 0 (т = 0) и только два спектра порядка т = + в направлениях, которые удовлетворяют условию б = 2п, т. е. Й5ш0= Х. Их интенсивность найдем, раскрывая неопределенность при 6 = 0, 2п в полученном выражении /(0)=/(,Л . /( 0,)=/ Л/ а74. О [c.314]

СТРУКТУРНЫЙ МНОЖИТЕЛЬ — множитель выражающий завнспмость интенсивности интерференционных рентгеновских лучей, рассеянных трехмерной кристаллич. решеткой, от атомного фактора и от числа и расположения атомов в элементарней ячейке.. За счет С. м. нек-рые интерференционньЕе максимумы, удовлетворяющие условиям Лауэ, могут быть ослаблены или полностью погашены. Ф-лу [c.98]

По-прежнему волновое поле за решеткой складывается из волн различных порядков т. Однако волна Е уже не сводится к единственной плоской волне определенного направления, а состоит из суперпозиции непрерывного множества плоскк . волн различных направлений. Распределение интенсивности по направлениям в отдельной волне определяется той же кривой, что и в волне, дифрагированной на щели (см. рис. 175). Интенсивность достигает максимума, когда знаменатель обращается в нуль, т. е. когда тр = 0. Это условие определяет направление на главный максимум т-го порядка. В рассматриваемом случав [c.340]

Если nmbid = пп, т. е. bid = nim, где п — целое число, меньшее т и взаимно простое с ним, то обращаются в нуль интенсивности спектров с порядками т, 2т, Зт,. .. Так, при bld — 1/2 пропадают все спектры четных порядков. Смысл этого результата, как уже отмечалось в 46, станет очевидным, если заметить, что условие т-го главного максимума d sin d = тХ умножением на bld = nim преобразуется в 6 sin d = пХ, т. е. в условие п-го дифракционного минимума при дифракции на отдельной щели. Таким образом, под углом d каждая щель, а потому и решетка в целом света не посылают. [c.341]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...