Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Резонанс ширина кривой

Чем выше добротность системы Q (чем меньше затухание d), тем острее кривая резонанса. Ширина кривой резонанса на некоторой условно выбранной высоте может также служить количественной характеристикой эфс )екта резонанса. Ширину кривой резонанса принято измерять на высоте X = DJX sk (см. рис. 388). При так выбранном значении амплитуды смещений энергия колебаний составляет 0,5 от максимальной энергии колебаний при резонансе (так как энергия колебаний пропорциональна Х ). Ширина полосы резонанса Д(о на выбранной таким образом высоте называется шириной полосы резонанса по половине мощности . Ао> тем меньше, чем меньше затухание d, и при малых затуханиях пропорциональна d.  [c.614]


ВКЛАД ИОНОВ Со2+ ФЕРРИТОВ-ШПИНЕЛЕЙ В ШИРИНУ КРИВОЙ ПОГЛОЩЕНИЯ ФЕРРОМАГНИТНОГО РЕЗОНАНСА  [c.199]

Измерения намагниченности, проведенные методом Фарадея (см. таблицу), показали, что величина плавно снижается с ростом концентрации Сверхвысокочастотные свойства кристаллов исследовались на сферах диаметром 1,4—1,6 мм при частоте 9260 мгц. Ширина кривой ферромагнитного резонанса практически не зависит от величины замещения и составляет примерно 1 э для всех исследованных кристаллов.  [c.203]

Вклад иоиов Со-+ ферритов-шпинелей в ширину кривой поглощения ферромагнитного резонанса. . .........199  [c.216]

Ширина кривой резонанса 42S, Шихта 140.  [c.467]

Резонанс шириной I кэв приводит к образованию нестабильной частицы с массой 500 Мэе и с временем жизни 10 сек, которая распадается на две частицы с. массами 100 и 200 Мэе. Наблюдение продуктов распада производят на расстоянии 1 м. Приблизительно через какое время кривая распада становится экспоненциальной В течение какого времени по сравнению с временем жизни кривая распада остается экспоненциальной Ответить на те же вопросы для случая, когда расстояние до точки наблюдения равно 10 м  [c.556]

Это — резонанс Брейта — Вигнера ( 9.4). Вероятность того, что масса покоя резонанса будет соответствовать энергии покоя Е, пропорциональна величине х( ) . На рис. 2.1 представлена соответствующая кривая распределения энергии. Максимум распределения приходится на энергию Ео соответствующая масса покоя есть средняя масса этого резонанса. Величина Г есть ширина кривой (на половине высоты) максимума ( 9.4.2, рис. 9.10).  [c.50]

Острота резонанса осциллятора с трением определяется с помощью половинной ширины резонансной кривой, равной разности между двумя частотами, для которых амплитуда колебания равна половине амплитуды при резонансной частоте vq. Доказать, что если собственный период колебания ничтожно мал по сравнению с 2п, умноженным на коэффициент затухания (т. е. если /с/4те мало по ср нению с vo), тогда эта половинная ширина кривой резонанса равна 3 /тс, умноженному на обратную величину коэффициента затухания осциллятора. Чему равна половинная ширина кривои для диафрагмы задачи 2  [c.87]

Поскольку ширина резонансной кривой колебательного контура обратно пропорциональна его добротности Qg, а амплитуда вынужденных колебаний при резонансе почти в Qg раз превосходит амплитуду внешней силы, то, увеличивая добротность резонансного прибора, можно одновременно повысить его чувствительность и избирательность. При высокой добротности (<Зо = — 10 и выше)  [c.96]


Параметры образца С и 1й б удобно также выразить через добротность контура. Не присоединяя С , настраивают контур в резонанс, измеряют добротность контура и отсчитывают емкость С,. Отсюда находят проводимость контура gк по формуле (4-33). Добротность Q, можно определить по ширине резонансной кривой  [c.80]

В отличие от предыдущей схемы, здесь система машина — амортизаторы имеет два резонанса. Благодаря этому и виброизоляция имеет ряд отличий. На низких частотах промежуточная масса, если она не очень велика, мало влияет на величину Q. Частота первого резонанса близка к собственной частоте массы машины на жесткости амортизаторов. При увеличении частоты кривая ( (о)) мало отличается от изображенных на рис. 7.14, вплоть до второй резонансной частоты, на которой машина и промежуточная масса колеблются в противофазе. На этой частоте наблюдается резкий спад эффективности виброизоляции, ширина и глубина которого зависят от величины демпфирования т]. Но на частоте выше второй резонансной частоты кривая ( (и) растет круче, чем кривые на рис. 7.14. Для идеальных пружин С и С2 она стремится на высоких частотах к асимптоте, имеющей наклон 24 дБ на октаву. Таким образом, промежуточная масса увеличивает виброизоляцию на высоких частотах, но ухудшает ее в окрестности второй (дополнительной) резонансной частоты.  [c.229]

Рассмотрим схему эксперимента, а также, кривые зависимостей динамической податливости и фазового угла от частоты (рис. 4.30). На рисунке указаны размеры образца, изготовленного из материала 3M-ISD-110, значения комплексного модуля приведены на рис. 7.17. Динамические перемещения тела с массой т = 5,355 кг измерялись с помощью акселерометра, колебания возбуждались с помощью удара, создаваемого силовым датчиком. С помощью быстрого преобразования Фурье находится податливость, измеряемая в метрах на ньютон. Из рис. 4.30 можно видеть, что ни k, ни т) нельзя найти ни методом амплитуд, ни методом определения ширины полосы резонанса, при любых значениях частот, включая резонансную. По  [c.192]

Подобного рода явления характерны не только для решеток из брусьев круглого поперечного сечения, но и, например, ленточных. Кривые на рис. 10, соответствующие узким лентам, имеют соответственно всплески или минимумы в точках пространственных резонансов. С повышением частоты при фиксированной ширине лент максимумы boi (минимумы 1ао ) исчезают, когда длина волны соизмерима с размером элемента решет-  [c.68]

Представленная на рис. 29 решетка при ф + 2г1) < 90° принадлежит к первой группе, и, таким образом, прошедшая сквозь решетку энергия в среднем возрастает с увеличением х. При целочисленных значениях х зависимости имеют изломы, обусловленные резонансами в точках появления новых распространяющихся волн. Вследствие того, что ширина лент при б = 0,05 0,25 невелика, значительная часть энергии проходит сквозь решетку еще до появления первой распространяющейся волноводной волны в щелях, а в самих точках появления волноводных волн поведение кривых практически не изменяется.  [c.77]

Интенсивность и форма резонансной кривой поглощения определяются процессами релаксации. Наличие их приводит к тому, что компоненты тензора магнитной проницаемости становятся комплексными величинами. Ширина резонансной кривой ферромагнитного резонанса ДЯ обычно определяется как разность полей, при которых мнимая часть диагональной компоненты тензора проницаемости fx" составляет половину своего значения в точке резонанса. При отсутствии внешнего магнитного поля магнитная проницаемость ска-лярна. Зависимости ее вещественной и мнимой [х" частей от частоты называют магнитными спектрами. Для магнитных спектров ферритов характерно наличие двух областей дисперсии. Низкочастотная область дисперсии обусловлена смещением границ доменов, а более высокочастотная — естественным ферромагнитным резонансом в эффективных полях анизотропии и размагничивающих полях.  [c.563]

Ширину резонансной кривой принято оценивать величиной АЯ, которую называют шириной линии гиромагнитного резонанса и определяют как разность полей, при которых  [c.305]

Исследуем теперь положение и ширину резонансной кривой при постоянной частоте. Согласно (4.17), резонанс имеет место при  [c.41]


Корень к, уравнения Хт к) = 0 является центром резонансной кривой, т. е. квазистационарным уровнем (вещественным). Ширина резонанса 26 (полоса значений к, в которой рассеянное поле сильно зависит от энергии) определяется скоростью изменения функции Хт к) на квазистационарном уровне  [c.70]

Функция к( >(г1)/у отражает связь между отдельным дипольным моментом и напряженностью поля она представлена схематически на фиг. 10. Время Ге = 2тЕ уменьшения амплитуды в е раз может рассматриваться в смысле разд. 1.12 как время запоминания если действует только затухание излучения, то То 10 с. Если же, кроме того, эффективны другие релаксационные механизмы, то для времени могут получаться меньшие порядки. Функция, представленная на фиг. 10, характеризует изменение дипольного момента со временем после того, как в момент времени Т1 = О подействовал единичный импульс напряженности поля. Частотную зависимость отдельного дипольного момента описывает функция Кривая на фиг. 10 является типичной резонансной кривой, где и — Г /4 представляют соответственно резонансную ширину и резонанс-  [c.114]

Для наблюдения явления парамагнитного резонанса испытуемый образец вносят в ячейку с волноводом или объемным резонатором, помещенную между полюсами магнита. Источник переменного модулирующего напряжения вырабатывает пилообразное напряжение, которое подается в усилитель мощности и служит для питания катушки электромагнита или для модуляции СВЧ генератора. В контрольную ячейку помещается исследуемый образец и от источника вводится энергия СВЧ. Выходной сигнал этой ячейки поступает на прие.мник или болометрический детектор, мост, синхронный усилитель и гальванометр. Болометр включается в плечо моста, который балансируется нри бездефектном образце. Возникновение дефекта и связанного с ним резонансного поглощения приводит к разбалансу моста, сигнал с частотой модуляции усиливается синхронным усилителем и гальванометр фиксирует появление дефекта. В тех случаях, когда линии поглощения очень острые (например, когда полость дефекта заполняется некоторыми газами), применяется модуляция СВЧ источника, а выходной сигнал ячейки детектируется балансным смесителем СВЧ приемника, усиливается и после вторичного детектирования наблюдается на осциллографе. развертка которого производится пропорционально частоте СВЧ источника. Появление дефекта фиксируется по форме кривой на осциллографе. В этом случае можно использовать другой вид индикатора. Измеряя расстояние между пиками поглощения (по частоте или напряженности магнитного поля), можно судить о составе материала дефекта, а по ширине пика на определенном уровне контролировать его структуру. Резонансные частоты не зависят от размеров образца, поэтому результаты контроля свидетельствуют об эффектах, связанных только с материалом изделия или дефекта.  [c.458]

Сверхвысокочастотны в ферриты (ферриты СВЧ) характеризуются малыми магнитной кристаллографической анизотропией и коэрцитивной силой, очень высоким удельным электрическим сопротивлением (W—10 Ом-м), Основным параметром СВЧ ферритов является величина ДЯ — ширина кривой феррИ" магнитного резонанса, определяюшаЯ  [c.558]

Рис. 29.9. Зависимости резонансного поля Нрез (кривые /, 2) и ширины кривой ферромагнитного резонанса А Н 3, 4) для сферы из монокристалла феррита Мп,, )зРе, 9504(Х = 3,2 см) от температуры [69]. Наличие максимумов при Т = 20° К на кривых Д Н (Г), по-видимому, обусловлено ионами Мп или ионами Мп еще более высокой валентности Рис. 29.9. Зависимости резонансного поля Нрез (кривые /, 2) и ширины кривой <a href="/info/135244">ферромагнитного резонанса</a> А Н 3, 4) для сферы из монокристалла феррита Мп,, )зРе, 9504(Х = 3,2 см) от температуры [69]. Наличие максимумов при Т = 20° К на кривых Д Н (Г), по-видимому, обусловлено ионами Мп или ионами Мп еще более высокой валентности
Каждый резонанс соответствует возбужденному состоянию составного ядра с массовым числом А -(- 1 с энергией возбуждения, ранной энергии связи нейтрона с ядром плюс [>1/(Л-(-1)]Яо, где Вд — кинетич. энергия нейтрона, при к-рой наблюдается резонанс. Ход кривой сечения для отдельного резонанса описывается Вреитя—Вигнера фор.мулой. Ширина резонансного пика (на полопине высоты) Г равна сумме  [c.164]

Полученный результат имеет важное значение. Оказывается, что для определения активной проводимости достаточно уменьшить (или увеличить) емкость колебательного контура относичельно ее значения при резонансе на величину АС,, соответствующую снижению напряжения при резонансе 11 до и 1]/2 =0,7070, Отрезок 2АС,, соответствующий 0,707 С, где О — напряжение при резонансе, получил название ширины резонансной кривой.  [c.80]

ПОЛЯ поддерживать постоянной, а изменять величину подмагничива-ющего поля Н , поскольку будет изменяться /ц. При резонансе резко возрастает поглощение энергии и при том лишь при определенном — обратном направлении распространения электромагнитной волны в волноводе для волны прямого направления поглощение оказывается значительно меньшим. Резонансное поглощение связано с дополнительными колебаниями узлов кристаллической решетки феррита. На принципе избирательного поглощения при ферромагнитном резонансе основаны СВЧ-у стройства второй группы, так называемые вентильные или невзаимные. Вентильными свойствами могут обладать и устройства первой группы, например, невзаимный фазовращатель. Вентильные свойства феррита характеризуются в первую очередь шириной АН резонансной кривой или линии. Чем уже резонансная линия, тем более эффективно использование феррита.  [c.252]

При указанных на рис. 31, в параметрах расстояние между точкой возникновения первой волноводной волны в щелях и точкой Хрез довольно велико и ширина всплеска кривых больше, чем в предыдущем случае. Первая точка полного прохождения здесь обусловлена не резонансом в точке х = = (2 os трГ , а выполнением условия (2.19), поэтому кривая носит двугорбый характер. Изрезанность кривых на рис. 31, б вблизи точек возникновения новых распространяющихся волноводных волн в щелях можно объяснить интерференционными явлениями, связанными с существованием в щелях нескольких распространяющихся волн. Коэффициент отражения от раскрывов щелей только что появившейся распространяющейся волны велик, и поэтому она играет наиболее существенную роль в интерференционных явлениях.  [c.78]


Этот особый случай поверхностного резонанса, когда амплитуды скользящих волн и полей в щелях во много раз превышают поле падающей волны, назван в [29] двойным резонансом, так как он наступает (при Ф = 0) при периоде решетки, равном целому числу длин волн 1, и глубине канавок Н, несколько большей пХ12. Из рис. 113 видно, что резонансное поле существенно зависит от б. Например, ширина резонансной кривой на уровне 0,7 пропорциональна 0 (Або,, 0 ). Численные расчеты для решеток с широкими щелями показывают, что резонансные явления в режиме скольжения сохраняются и в этом случае, ослабевая по мере роста ширины щели. В момент двойного резонанса амплитуды А при наклонном падении также сильно изменяются (амплитуды скользящих лучей при этом пропорциональны 0" ),  [c.163]

Рис. 29.34. Зависимости эффективного значения -фактора и ширины резонансной кривой для случая ферромагнитного резонанса в гадолиниевом гранате вблизи Т омп от температуры [145]. Данные получены на поли кристаллическом сферическом образце при частоте 9479 Мгц Рис. 29.34. Зависимости эффективного значения -фактора и <a href="/info/201409">ширины резонансной кривой</a> для случая <a href="/info/135244">ферромагнитного резонанса</a> в гадолиниевом гранате вблизи Т омп от температуры [145]. Данные получены на <a href="/info/370338">поли кристаллическом</a> сферическом образце при частоте 9479 Мгц
Для характеристики остроты резонансной кривой существует понятие ширина полосы пропускания, под которой подразумевают область частот, где колебательная энергия больша половины энергии при резонансе. Тогда скорость, соответствующая границам полосы,  [c.24]

Можно получить и другую, несколько необычную, резонансную кривую, положив постоянной частоту. Если при k = onst изменять диэлектрическую проницаемость е, то при некотором значении 8 = е наблюдается резонанс. Продолжая изменять е, можно определить ширину резонансной кривой и, следовательно, величину, которую тоже можно назвать добротностью. Мы не будем выписывать соответствующих формул. Скажем только, что добротность Qe (при фиксированной частоте к) и Q (при фиксированной е) различны, причем первая в два раза меньше второй Qk = 2Qg.  [c.99]

В последнее время получил развитие физический подход к изучению магнитных потерь в поликристаллических ферритах [3—8]. В названных работах показано, что кривая резонансного поглощения ц"=ц"(//) для поликристаллических ферритов имеет форму, отличную от лоренцевой. В частности, величина уь" спадает по мере удаления поля от резонансного значения гораздо быстрее, чем следует из феноменологической теории [9]. Этот факт, подтвержденный экспериментально [3, 4, 6, 7], объясняется тем, что потери, обусловленные поликристалличностью (приводящей к неоднородности поля анизотропии и намагниченности в феррите), сказываются лишь в ограниченной области магнитных полей. Границы этой области, как показано в [8], определяются частотой переменного магнитного поля и свойствами феррита. Для плотных поликристаллических ферритов (плотность - 99% от теоретической) область сильного поглощения, лежащая в окрестности резонансного поля, равна примерно удвоенной величине ширины полосы ферромагнитного резонанса (ДЯ). Вне этой полосы л" резко падает и по порядку величины становится сравнимой с л" для монокристалла.  [c.206]


Смотреть страницы где упоминается термин Резонанс ширина кривой : [c.193]    [c.204]    [c.41]    [c.471]    [c.414]    [c.291]    [c.107]    [c.165]    [c.333]    [c.101]    [c.227]    [c.327]    [c.310]    [c.178]    [c.143]    [c.122]    [c.199]    [c.66]   
Физические основы механики (1971) -- [ c.614 ]



ПОИСК



4 —¦ 794 — Ширины

Кривые резонанса

Резонанс

Шейки Ширина» кривой резонанса

Шины 639, XV 331, XVIII Ширина» кривой резонанса

Ширина

Ширина резонанса



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте