Поляризатор через отражение

Далее мы рассмотрим лишь простейшую форму аппаратуры, используемой в фотоупругих исследованиях ). Обычный свет можно рассматривать как колебания во всех направлениях, перпендикулярных лучу. Путем отражения от куска листового стекла, покрытого с одной стороны черной краской, или с помощью пропускания через поляризатор — призму Николя или поляроид-ную пластинку — мы получаем более или менее поляризованный [c.163]

Описание различных способов создания поляризованного света (отражение, преломление и т. д.) дается в книгах по оптике. Явление плоской поляризации можно пояснить с помощью простой аналогии со шнуром (фиг. 1.10). Предположим, что один его конец приводится рукой в поперечное движение, как это показано слева на рисунке. Если этот шнур пропустить через вырез в доске, то через него пройдут только колебания с направлением в плоскости выреза. Это и есть плоскополяризованные волны. Доска с вырезом служит плоским поляризатором. [c.25]

Оптическая схема микроскопа показана на фиг. 53. Источник света 1 проектируется в плоскость апертурной диафрагмы 2, полевая диафрагма 3 — в плоскость объекта 4. После поляризатора (поляризационной призмы) 6 лучи попадают на полупрозрачную отражательную пластинку 7, направляющую свет в объектив 5, который работает и как часть осветительной системы, и как объектив, дающий изображение объекта. Отражательная пластинка 7 может быть заменена призмой 8, которая несколько увеличивает освещенность объекта и создает эффект косого освещения, выявляющего рельеф поверхности образца. Отраженные от объекта лучи после объектива идут в анализатор 9 (поляризационный фильтр) и изображение объекта наблюдается через окуляр 10. [c.107]

Проекционный микроскоп МХП предназначен для исследования и измерения растительных и искусственных волокон, шлифующих порошков, металлических проволок. Микроскоп может быть использован и для других целей как небольшой микропроектор. Измерения объектов производятся на экране с помощью специальных шаблонов-чертежей или штриховой шкалы. Для определения зрелости хлопка прибор снабжен поляризатором, кристаллической пластинкой и анализатором. Микроскоп применяется в лабораториях текстильной промышленности, заводов точного приборостроения и других учреждениях. Наблюдения можно проводить через окуляр или на экране в проходящем и отраженном свете. % [c.151]

Применение этих методов основано на вращении плоскости поляризации излучения, прошедшего через анизотропную среду, в исследуемом участке среды. При этом интенсивность прошедшего или отраженного излучения (ультразвукового или электромагнитного) зависит от угла между направлением преобладающей ориентации и направлением поляризации волны в поляризаторе и анализаторе. Интенсивность прошедшего излучения через изотропную среду или в воздухе при скрещенных поляризаторе и анализаторе равно О или зависит от степени и вида поляризации используемого излучения и состояния среды. [c.112]

Для получения поляризованного света используют специальные устройства, которые преобразуют проходящее через него (или отраженное) излучение в поляризованное. Такие устройства называются поляризаторами. [c.254]

Поляроиды, применяемые в качестве поляризаторов, и нитробензол изменяют спектральный состав прошедшего через них излучения. Постоянное поляризующее напряжение, вызывая двойное лучепреломление в нитробензоле, также приводит к изменению спектрального состава излучения вследствие интерференции поляризованных лучей. В результате спектральный состав лучей, выходящих из ячейки Керра, различен. Из-за поглощения и отражения лучистой энергии в поляроидах и конденсаторе с нитробензолом, а также виньетирования пучка лучей пластинами конденсатора величина выходящего лучистого потока составляет ---20% от величины потока, падающего на ячейку Керра. [c.239]

Предположим теперь, что из среды / в среду II падают сдвиговые УЗК под углом, равным или превышаюш,им 33° (луч S ). Тогда в среде I возникнут два отраженных луча Si и L (сдвиговые и, соответственно, продольные УЗК), а в среде II — один преломленный луч 11 (продольные УЗК), направленный под углом Р, равным или превышающим 14°. Таким образом, используя трансформацию сдвиговых УЗК в продольные и обратно, можно, послав сдвиговые УЗК из среды / под некоторым углом, ввести их в среду III под тем же углом. Эти соображения были проверены экспериментально. Кварцевая пластинка У-среза посылала импульсы сдвиговых УЗК (/ = 2,5 Мгц) под углом падения а = 20°, сдвиговые УЗК из алюминиевой призмы вводились через слой трансформаторного масла в алюминиевый полудиск и регистрировались анализатором (аналогичная кварцевая пластинка У-среза), отмечающим луч, направленный примерно под тем же углом 20°. Вращение анализатора вокруг его оси полностью подтвердило прием сдвиговых УЗК- При ориентировке пластины анализатора параллельно поляризатору наблюдался максимум интенсивности (это означает, что вращения плоскости поляризации преломленного луча, по крайней мере, при условии совпадения плоскости поляризации падающего луча с плоскостью его падения, не наблюдается), при взаимно-перпендику-лярном расположении (аналогично скрещенным николям в оптике) минимум. Поляризация при этом наблюдается все же не линейная, а эллиптическая, но степень поляризации значительно выше, чем в преломленном луче, образованном путем трансформации из продольных УЗК. Измерение скорости УЗК с помощью глубиномера прибора В4-7И, на котором осуществлялся эксперимент, также не оставляет никаких сомнений в том, что принимались сдвиговые УЗК. Одновременно с регистрацией сдвиговых УЗК можно было обнаружить и продольные УЗК в виде луча, направленного приблизительно под углом преломления Р = 52°, что также совпадает с расчетными данными. Регистрация продольных УЗК, наблюдающихся при отсутствии полного внутреннего отражения их, производилась обычной искательной головкой с кварцевой пластиной Х-среза. Полученные результаты открывают интереснейшие перспективы. Во-первых, искательная головка для работы сдвиговыми волнами может быть выполнена не из органического стекла, как это общепринято, а из металла. При этом радикально решается вопрос об износостойкости этих головок. Во-вторых, и это не менее важно, появляется возможность использовать поляризацию УЗК для повышения чувствительности и осуществить контроль металлов с высоким уровнем [c.73]

Световой луч, пройдя через поляризатор Р (рис. 256), поляризуется линейно. Для простоты расчета предположим, что азимут поляризации равен 45 Шх — Ш ). Обобщение на случай произвольного азимута не встречает затруднений. Отраженный луч сначала проходит через компенсатор К, а затем через анализатор А. Изменяя установку компенсатора и вращая анализатор вокруг направления отраженного луча, можно погасить отраженный луч. В этом случае после прохождения через компенсатор свет становится поляризованным линейно. Азимут его поляризации называется азимутом восстановленной ли-Рис. 256. нейной поляризации отраженного света. Ком- [c.448]

Если источник излучает волну другой поляризации (Но-1г, ог), то волна, отраженная телом и прошедшая через поляризатор, описывается в точке Q аналогичными соотношениями [c.185]

П. н. осуществляют также отражением от ферромагн. зеркал. При определённых условиях полное отражение испытывают нейтроны со спинами, параллельными намагниченности ферромагнетика. Поляризатором нейтронов может служить и неоднородное магн. поле. Пучок нейтронов, проходя через такое поле, расщепляется на два пучка, т. к. на нейтроны с двумя разны- ми ориентациями спинов действуют противоположно направленные силы (см. Штерна — Герлаха опыт). [c.577]

В последние годы стали применять метод косвенного фотоуп-ругого анализа. Образец покрывается отражающей краской, затем наносится двоякопреломляющая пленка. Освещая образец через поляризатор, исследуют отраженный свет с помощью анализатора. По распределению напряжений в пленке судят о напряжениях на поверхности образца. [c.207]

В последние годы в связи с широким использованием кольцевых резонаторов возникла острая необходимость в контроле параметров их элементов, таких, как параллельность граней и толщина четвертьволновых пластин, однородность фазовых невзаимных элементов, однородность коэффициента отражения зеркал и т. д. На рис. 126 приведена оптическая схема полуавтоматического эллипсометра для измерения поляризационных свойств (эллиптичности и поворота плоскости поляризации) фазовых невзаимных элементов, используемых в лазерных гироскопах. Свет от лазера ЛГ-126, отразившись от зеркал 10 и пройдя через поляризатор 2, линейно поляризуется. После прохождения через фазовый невзаимный элемент (ФНЭ) 3 происходит поворот плоскости поляризации и возникает эллиптичность излучения. При соответ- [c.205]

Более высокую степень поляризации (без потери i Интенсивности) можно получить, используя железо, обогащённое изотопом Fe. Недостаток метода — ограниченность энергетич. диапазона, т. к, в области ре- 10вавсных нейтронов метод неэффективен. В случае ультрахолодних нейтронов (УХН) в качестве поляризатора можно применять тонкую намагниченную ферро-К81Й плёнку. Один из компонентов пучка будет испытывать полное отражение, а второй пройдёт через плёнку (см. Нейтронная оптика). [c.71]

Исследование в поляризованном свете. Поскольку большинство металлов, а также металлических и неметаллических фаз являются оптически анизотропными, в металлографических исследованиях часто целесообразно использовать поляризованный свет. С этой целью перед коллекторной линзой помещают поляризатор (призму Николя или поляроид). Создающийся в поляризаторе плоскополяри-зованный свет после отражения от объекта проходит через анализатор, расположенный между объективом и окуляром или над окуляром. Если объект оптически изотропен, то при соответствующем взаимном положении поляризатора и анализатора ( положение скрещения ) можно добиться полного поглощения света. Однако если кристаллиты одной или разных фаз оптически анизотропны, то при скрещенных полярофильтрах полного поглощения не происходит и отдельные кристаллы оказываются светлыми, т. е. получается видимое контрастное изображение. Эта преимущественная освещенность отдельных кристаллов объясняется эффектами эллиптичеокой поляризации и вращением плоскости поляризации. [c.26]

В самом деле, линейно поляризованный считывающий свет, азимут поляризации которого параллелен или перпендикулярен директору на передней границе слоя ЖК, при прохожде11ии через закрученную структуру останется линейно поляризованным, но его азимут повернется на угол закрутки ЖК фо- Отразившись От зеркального Слоя, свет на обратном пути также будет отслеживать ориентацию молекул ЖК, и его азимут повернется па угол —ifo, т. е. в обратном направлении. В скрещенных поляроидах (в этом случае они располагаются по одну сторону от ячейки) в отсутствие напряжения такая ячейка будет выглядеть темной, если азимут анализатора или поляризатора совпадает с направлением директора на передней границе слоя ЖК- Минимум интенсивности отраженного свега будет также наблюдаться прн напряжениях на ячейке, соответствующих полной переориентации молекул ЖК в гомеотропное состояние. [c.91]

И объектив 4 падает па интерферометр 6. Лучи, прошедшие через интерферометр и систему объектив 8 - плоское зеркало 9, вновь Проходят через интерферометр. С помощью зеркала 10 и объектива 12 интерференционную картину наблюдают на экране 13. Отраженные от интерферометра лучи уничтожаются с помощью поляризаторов 5 и И, которые имек>т соответственно горизонтальную и вертикальную плоскость поляризации, и четверть волновой компенсирующей пластиной 7, ось которой сдвинута на л/4-С помощью такой системы лучи, отраженные от интерферометра, будут гаситься поляризатором //, а лучи, прошедшие через интерферометр, будут также дважды проходить через пластину 7, в результате этого плоскость поляризации прошедшего света поворачивается на и интерферометр полностью пропускает лучи. [c.50]

В результате этого отраженный от интерферометра световой пучок не проходит через поляризатор. Регистрация изменений интенсивности в интерференционной картине осуществляется фотоумножителем 11 и осциллографом 12. Для исключения из сигнала, регистрируемого фотоэлектронным умножителем, составляющей, обуслоалениой излучением плазмы, в оптической системе установлены фильтр 13, диафрагмы 7 и М а также линза 8. [c.175]

Освещая пленку пол из > ан ым светом и пропуская отраженный луд через ш изатор, скрещенный с поляризатором, мы можем получить карт пространственного распределения направлений наклона молекул, т. е. параметра порядка. [c.114]

Можно получить поляризованный свет при отражении от пленки золота. Как видно пз рис. 3.48, происходит тройное отражение, при этом не наблюдается отклонения поляризованного луча. Степень поляризации при трехкратном отражении составляет 95%, пропусканпе поляризатора—15% [196]. Отраженный и прошедший луч оказываются поляризованными при прохождении через многослойные покрытия, например, Аи А1 Аи [197] или диэлектрик — металл — диэлектрик [198]. [c.181]

СКИХ измерений, сиектроиоляриметрические измерения осуществляются путем соединений соответствующего поляриметра со спектральным прибором. Это соединение может осуществляться путем пространственного совмещения зрачков и.ли люков входа и выхода обеих систем, чаще всего путем последовательного соединения, когда, например, люк выхода одного прибора (поляриметра) соединяется с люком входа другого прибора (спектрографа). Однако поляризационная система может быть установлена внутри спектрального прибора. При этом следует иметь в виду, что спектральный прибор сам является поляризатором. Поляризация проходящих через спектральный прибор пучков возникает как результат отражения иа поверхностях его оптической системы, а также и па щелях, в особенности, когда ширина щелей мала. Устранение или учет этих эффектов должен проводиться, сообразуясь с конкретными условиями из.мерепий. [c.519]

Двойное лучепреломление в изотропной среде может возникнуть не только в постоянном внешнем электрическом поле, но и в переменном с частотами вплоть до оптических. Благодаря развитию лазерной техники появилась возможность получать оптическое излучение, в котором напряженность электрического поля достигает очень больших значений. Схема опыта по наблюдению эффекта Керра, вызванного электрическим полем лазерного излучения, показана на рис. 4.16. Луч зондирующего света (Х= 500 нм) проходит через ячейку К с исследуемой жидкостью и после отражения от полупрозрачной пластинки 5 направляется на фотоумножитель (ФЭУ). Пр скрещенных поляризаторах Р, и Р2 свет не может попасть в ФЭУ. Когда через ячейку проходит мощный импульс инфракрасного поляризованного излучения лазера , жидкость становится анизотропной, зондирующий свет выходит из ячейки эллиптически поляризованным и попадает в ФЭУ. Измеряя разность фаз ф между необыкновенным и обыкновенным лучами и зная среднеквадратичную напряженность поля лазерного излучения (< >У , можно найти значение постоянной Керра в поле оптической частоты и сравнить его со значением в постоянном электрическом поле. В недипольных жидкостях эти значения практически совпадают. Однако в жидкостях с дипольными молекулами постоянная Керра уменьшается при переходе к оптическим частотам (у нитробензола приблизительно в 100 раз), так как дипольная молекула не успевает переориентироваться в такт с изменениями напряженности внешнего поля. [c.197]

Второй метод — двойного отражения — состоит в измерении отношения интенсивностей Л когда поляризатор и анализатор намагничены параллельно и когда они намапшче1гы антипараллельно. В последнем случае должна существовать очень небольшая (— 1 жж) область пространства, где ]шправление спинов меняется на противоположное относительно направления магнитного поля (неадиабатич. переворот спина). Это достигается либо созданием магнитного поля спец. конфигурации, либо пропусканием сильного тока через тонкую алюминиевую фольгу, расположенную в пучке нейтронов, либо с помощью резонансной катушки. Степень поляризации находится [c.147]

Третий эффект, ограничивающий оптический контраст, происходит вследствие внутреннего отражения на границе между магнитооптической пленкой и подложкой. Если поверхность подложки не покрыта просветляющим покрытием, часть модулированного света отражается обратно. На внутренней границе раздела происходит второе отражение, так что компонента света снова направляется на выход из устройства. Наконец, эта часть проходит через пленку в третий раз, приводя к тому, что полное фарадеевское вращение составляет величину в 3 раза большую, чем для основной доли модулированного света, т. е. 30/ С вместо 0 . Вследствие того что эта компонента имеет иную плоскоАь поляризации, она не блокируется анализатором и, таким образом, снижает контраст. Более точно выражаясь, возникают многократные отражения этого типа. Однако вследствие поглощения в материале последующими отражениями можно пренебречь. Для угла установки поляризатора, соответствующего условию Фo = Fd (С=<х> в отсутствие дихроизма и отражения), окончательное значение контраста приближенно описывается формулой [c.34]

Идеальный поляризатор. Закон Малюса. Идеальным поляризатором был бы поляроид НЫ-50 (такого поляроида не существует, но его удобно рассматривать в качестве примера). Мы пренебрегаем потерей интенсивности при отражении и считаем, что ненужная компонента полностью поглощается, а нужная компонента (с вектором Е, параллельным оси пропускания, т. е. перпендикулярным углеводородным цепочкам) полностью проходит. Если линейно-поляризованный свет с амплитудой электрического поля Е, распространяющийся в направлении оси г, нормально падает на поляроид, и если е — направление оси пропускания идеального поляроида, то через поляроид проходит только компонента (Е-е) е. Прошедший поток энергии /прош меньше падающего потока /пад в (Е-е)7(Е ) раз [c.369]

Круговой поляроид, создающий свет с правой спиральностью, будет пропускать 100% (пренебрегаегл малыми потерями на отражение) света с такой спиральностью, падающего со стороны пластинки в 1/ Я. Он будет полностью поглощать свет с левой спиральностью, падающий со стороны пластинки в V Я. (Эти свойства кругового поляризатора можно понять по аналогии с фильерой для нарезания резьбы и винтом. Будем считать, что фильера преобразует цилиндрический, т. е. неполяризованный , стержень в винт с правой нарезкой. Очевидно, что правый винт может проходить через фильеру как в прямом, так и в обратном направлениях, в то время как левый винт будет срезаться.) Этот факт имеет интересные следствия. (См. домашний опыт 8.18.) [c.380]

Если учесть лишь результаты I, а также то, что тело В получает половину потока Ф, который тело А передает поляризатору Р (другая половина исключается при полном отражении), тогда как А не получает половину потока Ф, испущенного телом В и проходящего через Р (другая половина полностью отражается), то вопреки второму закону тер.модинамикн тепловое равновесие нарушается. Это парадокс Вейна. Для полноты картины следует учесть наличие зеркал, тогда тело А чувствует поток Ф/2, который оно излучает и который отражается от М. Подобно этому, тело В чувствует поток Ф/2, который оно передает зеркалу М[, после полного отражения в Р. Другая половина потока, которая содержит световое колебание Ев, про- [c.153]

На практике получение линейно поляризованного света за счет отражения под углом Брюстера используегся редко из-за низкого коэффициента отражения. Однако возможно построение поляризатора, работающего на пропускание, с использованием стопы Столетова (рис. 11.3, б). Стопа Столетова состоит из нескольких плоскопараллельных стеклянных пластинок. При прохождении через нее света под углом Брюстера перпендикулярная компонента практически полностью рассеивается на границах раздела, а прошедший луч оказывается поляризован в плоскости падения. Такие поляризаторы используются в мощных лазерных системах, в которых поляризаторы дру1их типов могут быть разрушены лазерным излучением. [c.187]

Двулучепреломляющие свойства кристаллов используют для получения поляризованного света из неполяризованного. Самый старый кристаллический поляризатор — призма Николя или просто николь (рис. 12.10) — был изобретен в 1828 г. Он состоит из двух кристаллов исландского шпата (СаСО. — отрицательный кристалл с = 1,65 п = 1,48), склеенных слоем канадского бальзама п = 1,55). Углы склейки подобраны таким образом, что обыкновенный луч претерпевает полное внутреннее отражение и поглощается нижней зачерненной гранью, а необыкновенный, поляризованный в главной плоскости, совпадающей с плоскостью падения, проходит через николь. [c.203]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...