Интерферометр Фабри— Перо угловая

Qo — 1, 0 — 3,... В результате набор углов в дополняется до полного набора угловых радиусов колец, которые имелись бы в дальней зоне при освещении интерферометра Фабри — Перо с базой L светом с круговой частотой 0J. [c.100]

Из (7.3.2) следует, что угловая дисперсия интерферометра Фабри—Перо не зависит от расстояния между пластинами, а определяется только углом интерференции ф. Это обстоятельство позволяет, как будет ясно из дальнейшего рассмотрения, использовать сложные системы ИФП. [c.459]

Возможность последовательного расположения двух интерферометров следует из того, что их угловая дисперсия не зависит от параметра t, а определяется только углом интерференции ф. На рис. 7.3.3 дано распределение интенсивности для тонкого , толстого интерферометров и суммарное распределение при отношении толщин 1 4. Максимумы тонкого интерферометра совпадают с каждым четвертым максимумом толстого интерферометра. В результате совместной работы двух интерферометров Фабри—Перо получим узкие интерференционные максимумы, ширина которых будет определяться щириной максимумов толстого интерферометра. Расстояние между ними, выраженное в длинах волн, определится толщиной тонкого интерферометра. [c.466]

Возможность последовательного расположения двух интерферометров следует из (17.8). Из этой формулы видно, что угловая дисперсия не зависит от параметра а определяется только углом интерференции ф. На рис. 18.2 дано распределение интенсивности для тонкого (а), толстого (б) интерферометров и суммарное (в) распределение при отношении толщин 4. Максимумы тонкого интерферометра совпадают с каждым пятым максимумом толстого интерферометра. В результате совместной работы двух интерферометров Фабри—Перо получим узкие интерференционные максимумы, ширина которых будет соответствовать толщине толстого интерферометра. Расстояние между ними, выраженное в длинах волн по (17.9), определяется толщиной тонкого интерферометра. При соответствующей кратности р можно получить полную картину сверхтонкой структуры исследуемой спектральной линии в пределах данного порядка интерференции. Определим наибольшее допустимое отношение й /й, так как оно определяет максимальную величину разрешимого спектрального интервала. Для этого следует найти наиболь- [c.137]

Ввиду малости угла г) условие главного интерференционного максимума 2h os = тХ можно записать в виде h 2 — ijj") = = тк. Отсюда находим угловую дисперсию интерферометра Фабри — Перо [c.250]

При рабочих условиях (1 з я . 10" рад) угловая дисперсия интерферометра Фабри — Перо значительно превышает дисперсию других спектральных аппаратов. Это является основным преимуш,еством интерферометра Фабри — Перо. [c.250]

Многолучевой интерферометр типа Фабри-Перо является спектральным Прибором высокой разрешающей силы. Он дает возможность различать свет различных длин волн, т. е. получать разделенное изображение двух близко расположенных относительно друг друга спектральных линий. Интерференционную картину определяют дисперсия интерферометра и его разрешающая сила. Угловая дисперсия характеризует величину угла, на который разойдутся два луча, различающиеся по длинам волн на весьма малую спектральную величину. Линейная дисперсия показывает расстояние между изображениями линий в фокальной плоскости объектива. Разрешающая сила характеризует способность интерференционного спектроскопа различать две близко расположенные спектральные линии источника. [c.13]

Итак, изображенные на рис. 4.8а—г системы эквивалентны плоским резонаторам с легко рассчитьюаемой эффективной длиной (заметим, что если подобный резонатор использовать в качестве интерферометра Фабри—Перо, угловое расстояние между кольцами в нем будет определяться той же эффективной длиной). Для случая рис. 4.Sa 1 ф равна Z.2 + i 0/ 2> ДЛя [c.224]

Основой оптич. схем С. п. этой группы является диспергирующий элемент дифракционная решётка, зше-летт, эшелле, интерферометр Фабри — Перо, спектральная призма), обладающий угловой дисперсией Дф/ДЯ, что позволяет развернуть в фокальной плоскости изображения входной щели в излучении разных к (рис. 3). Для объективов Oj и обычно используются зеркала, не обладающие хроматич. аберрациями (в отличие от линзовых систем). Если в фокальной плоскости установлена одна выходная щель, схема С. п. представляет собой схему монохроматора, если неск. щелей,— полихроматора, если фоточувствит. слой или глаз,— спектрографа или спектроскопа. [c.612]

Для исследования спектра мод лазеров в диапазоне длин волн от 2000 А до 0,4 мм могут применяться спектрографы и интерферометры Фабри — Перо. Обычно только методы оптического гомодинного или гетеродинного приема способны обеспечить разрешение, требуемое для наблюдения угловых мод в резонаторах с плоскопараллельной конфигурацией и зееманов-ских компонент в газовых лазерах. Большинство приемников в инфракрасной области (особенно в далекой инфракрасной) обладает очень плохой высокочастотной характеристикой. Поэтому длинноволновая граница применимости данных методов равна примерно 40 ж/с, т. е. границе для приемников из Ge Au, Zn. Постоянная времени таких приемников меньше 10" сек, и, следовательно, в инфракрасной области методом гетеродинирова-ния можно разрешить частоты до 100 Мгц. Но детальные измерения в инфракрасном диапазоне пока что проведены только для нескольких систем, а о работах, выполненных с длинами волн, большими 2,6 жк, почти не сообщалось. [c.89]

Сравним светосилу интерферометра Фабри — Перо п дифракц. монохроматора при равных разрешающих силах Яд = Яр, равных площадях А = А и = Ер (последнее выполняется при диэлектрич, многослойных зеркалах, когда Г пах 0,7). Отношение потоков G = Фц/Фр = 3,4/ i, т. е. определяется угловыми размерами высоты щели j = hi/fj дифракв,. монохроматора. Обычно i = 0,1—0,01 и, следовг-тельно, интерферометр Фабри — Перо дает значительный (от 35 до 350 раз) выигрыш в светосиле, а при равных отношениях сигнал/шум дает такой же выигрыш в разрешающей силе Я /Яр = i/G. Реально Ар может быть больше А и величина G — i, iA J Ap несколько уменьшится, но все же G > 1. [c.12]

Такое расширение, связанное с увеличением размера источника, зависит от резкости IF полос, образованных единичным элементом источника если l/f", то увсличеиие е влияет главным образом на увеличение интенсивности максимумов если же 1/iF, то влияние 8 сказывается главным образом на ширине полос. Данный. эффект формально очень напоминает расширеиие полос в интерферометре Фабри — Перо, связанное с наличием у пластин сферической кривизны (см. стр. 305), и это может помочь нам в его изучении. Соответствующая обработка результатов исследований Дюфура и Пикка [54] показывает, что если п кг /Х , превышает 1/S , то наблюдается лишь небольшое увеличение интенсивности максимумов, и можно утверждать, что при достижении половины этой величины полосы будут примерно па 10% шире, чем при точечном источнике. Учитывая преломление лучей на первой поверхности пленки, можно определить допустимый угловой радиус 8 источника соотношением --- [c.326]

Многолучевыми полосами Физо пользуются в оптических цехах для испытания высококачественных оптических поверхностей, например у пластин, применяемых в интерферометре Фабри — Перо они широко использовались также То.яанским и его сотрудниками лри изучении топографии почти плоских кристаллических и металлических поверхностей [87]. Испытуемая и оптически плоская эталонная поверхности, покрытые отражающими слоями серебра, плотно прижимаются друг к другу. Создаваемые воздушной прослойкой интерференционные полосы рассматриваются в микроскоп с большой угловой апертурой, позволяющей использовать все полезные пучки. Если X = Х /п — длина ВОЛЛЫ в воздухе, то полосы соответствуют контурам исследуемой поверхности, определяемым плоскостями, параллельными эталонной поверхности и разделенными интервалами Х/2. При достаточно большом клине между пластинами в иоле зрения появляется большое число полос (см., например, рис. 7.76), и можно измерить неровности исследуемой поверх1Юсти, определяя отклонение полос от прямых линий там, где неровности поверхности достигают Ак, полосы смещаются в сторону на Ат порядков так как [c.327]

Угловая дисперсия классических интерферометров Майкель-сона и Фабри — Перо = tg фД определяется зависи- [c.435]

Сопоставление угловых дисперсш для дифракционных решеток, призмы из кварца и системы стеклянных призм 431 Составляющие тензора поляризуемости 760 Сочленение интерферометра со спектральным аппаратом 470—472 — — Фабри — Перо со спектрографом 201, 202 [c.816]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...