Картина интерференции в интерферометре Фабри — Перо

Кардиоид-конденсор 64, 65 Картина интерференции в интерферометре Фабри — Перо 193 [c.812]

Использование многолучевых трехзеркальных интерферометров целесообразно в тех случаях, когда важно усреднение по площади объекта свести к минимуму, по сравнению с двухлучевой интерференцией. Кроме того, эти интерферометры дают узкие интерференционные максимумы, а контраст картины приближается к тому, который имеет место в интерферометре Фабри—Перо. Вместе с тем такие системы работают в низких порядках интерференции. Возможность получения многолучевой интерференции в низких порядках представляет интерес, так как в этом случае не требуется высокой монохроматичности излучения при исследовании протяженных объектов. [c.143]

Интерферометр, в котором используются распорные кольца, называется эталоном Фабри — Перо. Располагая набором эталонов с кольцами разной толщины, можно производить измерения при различных расстояниях между зеркальными поверхностями. В прежних моделях интерферометра Фабри — Перо можно было с помощью специальных микрометрических винтов менять расстояние между зеркалами. Но таким путем не удается достигнуть той высокой точности, которую можно получить с помощью эталона. Наружные поверхности пластинок обычно образуют небольшие углы с внутренними, чтобы отраженный от них светлый блик не мешал наблюдению основной интерференционной картины. Таким образом, интерферометр Фабри — Перо можно рассматривать как плоскопараллельную воздушную пластинку, на которой происходят многократные отражения световых лучей и последующая интерференция их. [c.249]

Большое число когерентных световых пучков может возникнуть в результате дифракции при прохождении плоской волны через экран с одинаковыми регулярно расположенными отверстиями (метод деления волнового фронта). Распределение интенсивности в такой многолучевой интерференционной картине будет рассмотрено в 6.5 на примере дифракционной решетки. Здесь мы изучим интерференцию при многократных отражениях света от двух параллельных поверхностей (метод деления амплитуды). На этом принципе действует интерферометр Фабри—Перо, широко используемый в спектроскопии высокого разрешения и в метрологии. Он может быть выполнен в виде плоскопараллельной стеклянной или кварцевой пластины, на обе поверхности которой нанесены отражающие слои, либо в виде двух пластин, у которых покрытые отражающими слоями плоскости установлены строго параллельно друг другу и разделены воздушным промежутком. [c.256]

Сложный интерферометр Фабри—Перо применяется для исследования сверхтонкой структуры спектральных линий, которые состоят из большого числа отдельных компонент. Такая система дает возможность получить одновременно очень малое значение б Я (для тесно расположенных компонент) и значительную величину ДХ (для далеко расположенных компонент). Примером такой структуры мол ет служить, например, зеленая линия ртути, которая имеет семь изотопов — пять четных и два нечетных. Нечетные изотопы дают линии, расположенные на расстоянии около 0,0002 нм четные изотопы имеют, наоборот, линии, отстоящие друг от друга на 0,03—0,04 нм. При соответствующей кратности толщин Р можно получить полную картину сверхтонкой структуры исследуемой спектральной линии в пределах данного порядка интерференции. [c.466]

Возможность последовательного расположения двух интерферометров следует из (17.8). Из этой формулы видно, что угловая дисперсия не зависит от параметра а определяется только углом интерференции ф. На рис. 18.2 дано распределение интенсивности для тонкого (а), толстого (б) интерферометров и суммарное (в) распределение при отношении толщин 4. Максимумы тонкого интерферометра совпадают с каждым пятым максимумом толстого интерферометра. В результате совместной работы двух интерферометров Фабри—Перо получим узкие интерференционные максимумы, ширина которых будет соответствовать толщине толстого интерферометра. Расстояние между ними, выраженное в длинах волн по (17.9), определяется толщиной тонкого интерферометра. При соответствующей кратности р можно получить полную картину сверхтонкой структуры исследуемой спектральной линии в пределах данного порядка интерференции. Определим наибольшее допустимое отношение й /й, так как оно определяет максимальную величину разрешимого спектрального интервала. Для этого следует найти наиболь- [c.137]

Юстировку интерферометра совместно со спектрографом в случае его внешней установки производят следуюш,им образом. После того как завершена юстировка собственно интерферометра Фабри—Перо и можно наблюдать неподвижную интерференционную картину при перемеш,ении глаза наблюдателя (как это описано в 17), необходимо правильно сочленить интерферометр и спектрограф. Вначале наблюдают картину интерференции на входной ш,ели спектрального прибора. Путем поворота корпуса интерферометра вокруг вертикальной и горизонтальной осей совмеш,ают центр картины с центром ш,ели, а перемеш,ая объектив 0 (см. рис. 22.1) вдоль оптической оси, достигают наиболее резкой картины. [c.172]

Интерферометр Фабри — Перо является самым распространенным спектроскопом высокой разрешающей силы. Интерференционная картина образуется в результате многолучевой интерференции при прохождении пучка лучей через плоскопараллельную пластину с двумя зеркальными поверхностями (рис. 284) [c.450]

Рис. 2. Зависимость интенсивности в интерференц. картине интерферометра Фабри — Перо от разности хода б.

В интерферометре Фабри—Перо дифракционные явления па входном отверстии прибора менее существенны, чем в предыду пщх случаях. Связано это с тем, что размеры входного отверстия здесь очень велики. Ширина главного дифракционного максимума в интерферометре Фабри—Перо составляет всего сотые доли расстояния между двумя соседними максимумами интерференции. Поэтому в интерфероАгетре Фабри—Перо наблюдаются те участки интерференционной картины, которые задаются направлением падения света. Для получения полной спстемы полос не-обходпдго, чтобы на интерферометр падало сразу множество плоских волн всех возможных направлений. [c.217]

При огвещении интерферометра импульсом длительностью устанавливается интерференционная картина, практически аналогичная таковой для непрерывного излучения. В противоположном случае Та<.Ха<.МТа) резкость интерференционной картины уменьшается соответствующие расчеты для интерферометра Фабри — Перо содержатся в [48—50, 69]. При этом из спектральных измерений может быть получена, в принципе, информация о длительности импульса. Когда Toимпульсу амплитудой — интерференция импульсов отсутствует. [c.56]

Наиболее распространенным многолучевым двухпластинчатым интерферометром является интерферометр (эталон) Фабри—Перр (ИФП). Изобретенный учеными Фабри и Перо в конце XIX столетия этот прибор не потерял своего значения и в настоящее время. Интерферометр Фабри—Перо представляет собой две стеклянные или кварцевые пластинки Pi и р2, разделенные воздушным промежутком d (рис. 17.1). Внутренние поверхности пластин имеют покрытия Si и Sa, обладающие высоким коэффициентом отражения. Многократные отражения луча, падающего на прибор, приводят к интерференции многих пучков, которые в проходящем и отраженном свете создадут интерференционную картину. В соответствии с рассмотрением, проведенным в 7, в проходящем свете в фокальной плоскости объектива будут наблюдаться узкие интерференционные максимумы и широкие минимумы. Картина в отраженном свете будет обратной. [c.122]

В приборе, подобном интерферометру Майкельсона или эталону Фабри—Перо, мы имеем дело с интерференцией лучей, обладающих огромной разностью хода (около миллиона длин волн). Поэтому для наблюдения интерференции требуется очень большая монохроматичность света. Физическая причина, в силу которой немонохроматический свет не может давать интерференционных картин при большой разности хода, лежит в следующем. Как мы видели в 4, степень монохроматичности определяется длительностью правильного синусоидального колебания, имеющего место при излучении света. Другими словами, чем больше правильных синусоидальных колебаний с неизменной амплитудой и фазой свершится в атоме раньше, чем прекратится его излучение, тем более моно-хроматичен испускаемый им свет. Всякий обрыв правильного сину- [c.142]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...