Полуширина спектральной линии

Полуширина спектральной линии, нм...... — 200 150 200 200 100 200 100 200 [c.204]

Во ВНИИМ создана установка для измерения длин волн и полуширины спектральных линий — на рис. 29 изображена ее схема. Свет от лампы 4, излучающей эталонную длину волны, ламп 2 и 6, излучающих исследуемые длины волн, с помощью системы призм 5 направляется на щель коллиматора 22, а затем на эталон Фабри и Перо 20, помещенный в вакуумную камеру 21, и далее через призмы спектрографа 19 в регистрационное устройство 17 и 16. При измерениях длин волн и щирины линий в воздухе ДЛЯ регистрации интерференционной картины служит фотоэлектрическое регистрирующее устройство (12, 14, 15, 16, 18). При измерениях в вакууме фотоумножитель 16 заменяют фотокамерой и для регистрации используют фотографический способ. Система 13 служит для измерения температуры эталона, система 9 — для измерения температуры стенок капилляра эталонной лампы, насос 11 и вакуумметр 10 — для создания и измерения вакуума в камере эталона. /, 5 и 7 — это агрегаты питания лампы 8 — система охлаждения лампы. [c.54]

Тепловые шумы, возникающие в элементе Джозефсона, создают пульсации протекающего через него тока, а это приводит к размыванию монохроматического частотного сигнала, присущего строго постоянному значению Нц. Так как тепловой шум имеет нормальное распределение, то и уширение частотного сигнала создает типичный контур гауссовской кривой. Полуширина спектральной линии теплового шума на элементе Джозефсона, измеряемая радиоспектрометром, определяется выражением [c.23]

Хаотическое движение излучающих атомов раскаленных газов пламени, вследствие эффекта Допплера, вызывает возникновение контура линии по форме гауссовой кривой с тем большим уширением по спектру, чем больше кинетическая энергия поступательного движения атомов или чем выше температура пламени. Если уширение спектральной линии обусловлено только эффектом Допплера, то полуширина спектральной линии связана с температурой газа Т выражением [c.421]

Полученный в результате график Vo(l) приведен на рис. 54,6. Из него нетрудно видеть, что уо = 0,25 реализуется при = 1,3. Далее рассчитываем допплеровскую полуширину спектральной линии и температуру атомов [c.151]

На частотной зависимости е", как видно на рис. 3.9,в, наблюдается максимум при частоте о)б в окрестности резонансной дисперсии. Если затухание весьма мало, то ше — оо — соз. Полуширина спектральной линии определяется по разности частот на уровне в"/2. При небольшом затухании e iax [е(0)—е(оо)]/Г и полуширина определяется относительным затуханием А /а) = Г. Спектральные исследования, как правило, дают частотную зависимость коэффициента потерь е"(о)). Частота 6, при которой имеет место этот максимум, и полуширина кривой e"(to) позволяют определить основные параметры осцилляторной модели ыо и Г. Но приведенные соотношения справедливы только при Г<С1. [c.81]

С помощью описанных выше формул и методов находятся уровни энергии и волновые функции КВ-состояний молекул, которые дают возможность рассчитывать центры, интенсивности и полуширины спектральных линий. Центры линий находятся как разности энергий соответствующих начальных и конечных КВ-состояний, между которыми происходит переход с поглощением светового кванта. Остановимся кратко на схеме вычисления интенсивностей КВ-линий. [c.43]

Полуширина спектральной линии 87, 92, 171 [c.245]

Ширину спектральной линии принято характеризовать расстоянием между точками А и А, расположенными по разные стороны от центра линии, в которых интенсивность света равна половине интенсивности в центре линии. Это расстояние называется полушириной спектральной линии. Естественная полуширина спектральной линии, как это следует из формулы (89.5), равна [c.547]

Полуширина спектральной линии 547 Поля опыт 202 Поляризатор 398 Поляризация вакуума 29 Поляризация света круговая 399 [c.748]

Действительно, временные изменения оптических неоднородностей, вызванных флуктуациями энтропии или температуры (см. (160.2)), подчиняются уравнению температуропроводности, решение которого в данном случае дает экспоненциальную зависимость от времени. Следовательно, в этом случае функция, модулирующая амплитуду световой волны, экспоненциально зависит от времени, и в рассеянном свете возникнет спектральная линия с максимумом на частоте первоначального света — центральная компонента — с полушириной [c.595]

Частотную зависимость мощности излучения (а также поглощения) называют спектральной линией. Проведя прямую параллельно оси абсцисс на уровне половины максимальной мощности, получают так называемую полуширину Д спектральной линии (рис. 16.1,5). [c.215]

При уширении спектральной линии за счет столкновений с атомами собственного газа полуширина линии вычисляется по формуле [c.62]

Эта формула дает возможность рассчитать влияние параболического дефекта зеркал (при /=1) или круглой выходной диафрагмы (при 1 = 4) для определения, например, температуры Та по измеренной с ИФП полуширине (уо) эксп спектральной линии. [c.76]

Как известно, в спектроскопии высокой разрешающей силы из контура спектральных линий извлекается информация об атомах, изотопах, плазме и т. д. В этом параграфе исследуется возможность прецизионного решения довольно общей задачи извлечения информации из контуров спектральных линий, когда требуется определить положение компонентов сложного контура спектральной линии, их относительные интенсивности и полуширины, а форма контура одиночного компонента известна. [c.119]

Одновременное определение относительных интенсивностей, положений и полуширин компонентов спектральной линии. Рассмотрим эту более сложную спектроскопическую задачу, когда известно число компонентов и форма собственного контура одиночной линии. Промоделировать эту задачу проще всего с помощью изотопов. Поскольку интенсивность спектральной линии при отсутствии самопоглощения прямо пропорциональна концентрации атомов данного сорта, то, меняя содержание изотопов в исследуемом образце, можно формировать собственный контур с любым соотношением интенсивностей компонентов. [c.129]

Рис. 44, а иллюстрирует влияние изменения полуширины компонентов спектральной линии при оптимальных значениях их положений и относительных интенсивностей. Из серии графиков 130 [c.130]

Итак, если пользоваться изложенными выше методами и теорией, то возможно определять относительные интенсивности, положения и полуширины компонентов сложного контура спектральной линии с неразрешенными компонентами. [c.133]

Первым критерием правильности полученных результатов определения полуширин, относительных интенсивностей и положений компонентов спектральной линии является совпадение формы рассчитанного и экспериментального контуров исследуемой линии для единственного набора значений определяемых параметров при варьировании последних в достаточно широком диапазоне. [c.133]

Здесь K0 = [c.450]

По форме контура спектральной линии находят отношение лорен-цовского и допплеровского уширений. Зная это отношение и измеряемую полуширину спектральной линии, определяют полуширину линии, обусловленную чисто допплеровским уширением, а по формуле (12.7) — температуру газа. Наиболее удобная аппаратура для осуществления этого метода основана на применении эталона Фабри — Перо. [c.421]

Наличие в системе фононов и туннелонов приводит к тому, что матрица плотности полной системы становится бесконечномерной. Лишь в специфическом частном случае, когда влияние фононов и туннелонов сводится лишь к уширению спектральной линии, нам удается свести бесконечномерную систему для элементов матрицы плотности к четырем уравнениям, называемым оптическими уравнениями Блоха. Все это бьшо показано в предыдущей главе. Там же мы вывели формулы (7.39) для k и к , которые описывают вероятности вынужденных переходов с поглощением и испусканием кванта света и содержат информацию о взаимодействии с фононами и туннелонами в интегралах перекрывания а Ь). Мы показали, что замена функций k и к лоренцианом с полушириной 2/Тг позволяет прийти к оптическим уравнениям Блоха. [c.111]

Очевидно, что Slhjl описьшают сдвиг спектральной линии и ее полуширину, обусловленные взаимодействием хромофора с ДУС из локальной группы. Поэтому они различны для разных хромофоров. Распределение по ширинам линий, найденное в экспериментах с одиночными молекулами террилена в полиэтилене [80], по-видимому, определяется различной величиной 7jL для разных хромофоров. [c.274]

Разнообразие локальной динамики индивидуальных молекул. Спектральная траектория, приведенная на рис. 7.4, является лишь одной из многих, которые наблюдались уже в первых спектроскопических экспериментах с индивидуальными молекулами пентацена в кристалле пара-терфенила. Практически каждый исследованный примесный центр имел свою индивидуальную спектральную траекторию [39, 87], что свидетельствовало о большом многообразии локальных условий, существующих даже в кристалле. Правда некоторые различия между спектральными траекториями могли быть обусловлены случайным характером квантовых прыжков и не отражать различий в вероятностях, описывающих явления. Поэтому более убедительно демонстрируют индивидуальность локальных условий эксперименты, в которых измеряется какая-либо величина, связанная с вероятностью, например, полуширина оптической линии. [c.294]

Таблица П1У.2. Интегральное отражение Кь коэффицист и1рг./. с я в максимуме Кт и полуширина да кристаллов и ММС для ряда спектральных линий мягкого рентгеновского диапазона
Таким образом, наличие у спектральной линии собственного фойхтовского контура приводит к очень существенному изменению распределения яркости в наблюдаемой интерференционной картине по сравнению с функцией Эри (как это видно из рис. 5, 6, 22—24, приведенных формул и примера). Для НК фойхтов-ской линии уменьшается контрастность интерференционной картины, увеличивается полуширина НК, и его форму невозможно уже описывать функциями типа функции Эри. [c.68]

В качестве иллюстрации использования формул для наблюдаемого с ИФП контура спектральной линии возьмем пример, рассмотренный в предыдущем параграфе лоренцовская полуширина = 0,0452 (в долях порядка интерференции), длина волны Я = 500 нм, толщина интерферометра t= 1,6 см. Температура излучающих атомов натрия равна 570 К, коэффициент отражения зеркал равен R == 0,93. Центр интерференционной картины выделен круглой диафрагмой радиусом рд = 0,2 см фокусное расстояние камерного объектива Рл = 106 см. [c.77]

Рис. 33. Диаграмма Е. Баллика для определения параметров фойхтовского контура по полуширине уд ( д. о) (выраженной в долях интерференционного порядка), наблюдаемого с идеальным ИФП контура спектральной линии и по значению НК в минимуме интерференционной картины Ид)- Значения )/2я и умножены
Собственный контур спектральной линии характеризуется полуширинами дисперсионной аь и гауссовской ап составляющих (ai, ао выражены в долях интерференционного порядка), а параметры D = 2пао/д/1п 2, L = 2пад. [c.108]

Затем рассчитанный по этой формуле контур сравнивается с экспериментальной записью контура исследуемой спектральной линии в независимых точках контура. Под независимыми имеются в виду достаточно удаленные друг от друга точки контура, разнесенные по спектру на величину, большую спектральной полуширины АКИУ, и разделенные промежутками времени, большими или равными утроенной постоянной времени фотоэлектрической системы регистрации. Расчет свертки по формуле [c.121]

Определение полуширины собственного контура спектральной линии. Рассмотрим сначала более простую задачу определения полуширин компонентов собственного контура сложной спектральной линии, когда число компонентов, их положение и относительные интенсивности известны. Пусть известна также форма собственного контура каждого компонента — допплеровская. Итак, в задаче неизвестным остается лишь один параметр СКСЛ — газовая температура Та- [c.122]

Полуширины компонентов спектральной линии определим методом сравнения. Для этого достаточно провести расчет наблюдаемого контура при известных значениях параметров- N, Pi и Xi и варьировании неизвестного параметра Та. При расчете полуширин изотопных спектральных линий здесь и далее учитывалось, что они зависят от масс изотопов. Все измерения были сделаны на стабилизированной установке, описанной в работе [2]. АКИУ определялся методом, изложенным в п. 4.3. Найденный АКИУ представлен кривой 5 на рис. 36. При расчете свертки (на ЭВМ типа М-222) АКИУ задавали таблицей. [c.124]

Одновременное определение полуширины и положения неразрешенных компонентов собственного контура спектральной линии. Рассмотрим более сложную задачу одновременного определения двух неизвестных параметров СКСЛ — полуширины компонентов и их относительного положения, когда известны число компонентов, их относительные интенсивности и форма собственного контура одиночной линии. [c.126]

Подчеркнем, что изложенная задача представляет случай, когда второй компонент скрыт под допплеровским контуром. Действительно, здесь слабый компонент оказался слишком близко расположенным к сильному . Так что, если рассчитать СКСЛ при определенных нами значениях полуширин и положений компонентов, то он будет внешне выглядеть как однокомпонентный. Однако, если положить, что СКСЛ однокомпонентный, то добиться согласия расчета с экспериментом по всему контуру спектральной линии не удается (см. рис. 41, б). Аналогичные результаты были получены для линии Nel 885,4 нм. [c.129]

Таким образом, существует возможность одновременного определения изотопических смещений и полуширин неразрешаемых компонентов сложной спектральной линии с высокой чувствительностью и правильностью. [c.129]

Рис. 43. Одиовремеиное определение полуширин, положений и относительных интенсивностей компонентов спектральной линии Mgl 880,7 нм а — экспериментальная запись контура (вертикальными линиями показаны положения компонентов Mg, Mg)

Смотреть страницы где упоминается термин Полуширина спектральной линии : [c.354] [c.62] [c.120] [c.36] [c.550] [c.607] [c.461] [c.676] [c.113] [c.2] [c.4] [c.49] [c.126] [c.126] [c.133]

Атмосферная оптика Т.3 (1987) -- [ c.87 , c.92 , c.171 ]

Общий курс физики Оптика Т 4 (0) -- [ c.547 ]

ПОИСК

Линия спектральная

Полуширина линии

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...