Установки с интерферометром Фабри — Перо

УСТАНОВКИ С ИНТЕРФЕРОМЕТРОМ ФАБРИ - ПЕРО [c.48]

М а л ы ш е в Г. М., Рыск и н А. И. О возможности применения волоконной оптИки в установке с интерферометром Фабри Перо и электронно, оптическим преобразователем, Оптика и спектроскопия , 1964, 17, вып. 5, стр. 799—800. [c.240]

Применяя тот или другой метод сканирования, можно создать фотоэлектрическую установку с интерферометром Фабри—Перо. Для исследования излучения стабильных источников света применяются одноканальные схемы, состоящие из интерферометра, механизма сканирования и регистрирующей части. Если источник недостаточно стабилен или вовсе не дает устойчивого во времени излучения, необходима двухканальная система регистрации. [c.177]

Условием максимума интерференции является зависимость А = тХ. Выражение (И1.44) характеризует распределение яркости (интенсивности) результирующего колебания без учета дифракции в отверстии плоскопараллельной пластины. Однако, как и в любой другой схеме спектрального прибора, в установке с интерферометром Фабри — Перо наблюдаются дифракционные явления. Поэтому [c.451]

Какова разрешающая сила Я этой установки для длин волн вблизи Яо Сравните ее с разрешающей силой спектрографа с решеткой. Укажите, почему необходимо использовать спектрограф в сочетании с интерферометром Фабри — Перо. [c.51]

В настоящее время интерферометр Фабри —Перо (ИФП) широко используется при решении как фундаментальных, так и прикладных задач в областях спектроскопии, квантовой электроники, астрофизики, газодинамики, космических и термоядерных исследований, метрологии и спектрального анализа. Он позволяет получать ценную информацию при изучении атомов и молекул, плазмы, газообразных, жидких и твердых тел. Приборы и установки с ИФП, в том числе лазерные, выпускаются отечественной промышленностью и фирмами ведущих зарубежных государств. Появление новых и развитие старых областей применения, создание лазеров поставило спектроскопистов перед необходимостью развития теории, методов и практики использования реального ИФП. [c.3]

Описанная система из-за использования большого числа отражений обладает высокой разрешающей силой в отличие от аналогичной установки с обычными интерферометрами Фабри-Перо. [c.75]

Многолучевой интерферометр тина Люммера — Герке, так же как и интерферометр Фабри — Перо, используется в сочетании с призменными спектрографами. При этом он устанавливается двумя способами, аналогичными установке интерферометра Фабри— Перо во внешнем и внутреннем параллельных пучках. [c.208]

В видимой области спектра пластина Люммера—Герке используется значительно реже, чем интерферометр Фабри—Перо. Это связано с тем, что для достижения достаточно большого разрешения, например порядка тысячных долей ангстрема, ее нужно сделать длиной порядка метров. Изготовить такую пластину из стекла с необходимой степенью точности практически невозможно. Кроме того, стекло существенно меняет показатель преломления и размеры в зависимости от температуры, поэтому при работе необходимо, чтобы пластинка находилась в условиях постоянной температуры, что значительно усложняет экспериментальную установку. [c.208]

Но здесь следует учитывать и другие факторы, ограничивающие увеличение Я к ним относятся несовершенство изготовления отражающих поверхностей зеркал и погрешность в установке параллельности этих поверхностей. Эти факторы становятся существенными, когда наблюдают бесконечно широкую полосу равной толщины или кольца равного наклона. Для интерферометра Фабри—Перо с плоскими зеркалами увеличение Я больше 0,94 не имеет смысла, и реально достижимые значения Л эфф не превышают 30—40. В многолучевых интерферометрах с конфокальной геометрией хода лучей рабочие размеры зеркал существенно уменьшаются, в результате чего можно получить значения Л эфф = 100-Ч-150. [c.226]

Юстировку интерферометра совместно со спектрографом в случае его внешней установки производят следуюш,им образом. После того как завершена юстировка собственно интерферометра Фабри—Перо и можно наблюдать неподвижную интерференционную картину при перемеш,ении глаза наблюдателя (как это описано в 17), необходимо правильно сочленить интерферометр и спектрограф. Вначале наблюдают картину интерференции на входной ш,ели спектрального прибора. Путем поворота корпуса интерферометра вокруг вертикальной и горизонтальной осей совмеш,ают центр картины с центром ш,ели, а перемеш,ая объектив 0 (см. рис. 22.1) вдоль оптической оси, достигают наиболее резкой картины. [c.172]

Рассмотрим интерференционную установку, образованную двумя параллельными стеклянными пластинами с воздушным зазором е, противолежащие стороны которых Р и О имеют более высокий коэффициент отражения (интерферометр Фабри — Перо). Отражение луча света на каждой из этих поверхностей сопровождается появлением фазового сдвига, который принимается равным нулю для всего излучения. Будем считать, что в установке не происходит отражения света от других поверхностей, кроме Р и 0. Показатель преломления воздуха принимается равным единице. Линза с фокусным расстоянием [c.48]

Для измерения фаз применяется техника, основанная на анализе динамических интерферограмм. Схема экспериментальной установки, реализующей этот метод, изображена на рис. 6.34. Исследуемый импульс вводится в интерферометр Маха — Цандера, в одно из плеч которого помещен узкополосный спектральный фильтр (эталон Фабри — Перо). Ширина полосы пропускания фильтра выбрана меньше обратной длительности импульса, так что он играет роль узкополосного фильтра, формирующего опорный импульс. Интерференция опорного импульса с исследуемым, распространяющимся по другому плечу [c.283]

На рис. 32 дана схема установки с интерферометром Фабри — Перо и спектрографом ИСП-51 в качестве предварительного монохроматора. Осветительная и интерференционная части установки расположены в различных комнатах. Осветитель рассеивающего объема будет подробно описан ниже. Объектив с ирис-диафрагмой фокусирует выходную диафрагму сосуда D через призму Воластона W и деполяризующий клин на входную щель монохроматора S . На щели Si получаются два изображения диафрагмы одно под другим, касающиеся друг с другом или слегка разделенные, как и на установке для изучения крыла (рис. 30). Таким образом, верхняя и нижняя части щели монохроматора освещены рассеянным светом с различной поляризацией. Выходная щель S2 монохроматора находится в фокусе объектива L4, который направляет параллельный пучок света на интерферометр FP. Объектив L5 фокусирует в плоскости фотопластинки Р интерференционные полосы и выходную щель монохроматора В такой схеме рис. 32 изображение щели испещрено интерференционными полосами, половина которых вызвана -компонентой рассеянного света, а другая половина — х-компонентой. Сле- [c.182]

И Стойчевым [244] использована установка с дифракционной решеткой. Вогнутая дифракционная решетка имела фокусное расстояние 10,67 м (35 футов) и устанавливалась по схеме Игла [238, 244]. Линейная дисперсия составляла 0,22 К мм (3,5 см мм в области 2500 А), а разрешаюш ая сила около 300 ООО. Более проста и совершенна установка с интерферометром Фабри — Перо, в которой в качестве источника света используется лазер. [c.186]

Далее изучена температурная зависимость интенсивности участка крыла, непосредственно прилегающего к несмещенной линии релеевского триплета [53, 230]. Исследование выполнено на установке с интерферометром Фабри—Перо по схеме рис. 34. Влияние релеевского триплета было практически устранено жестким ограничением апертуры падающего света и применением поляризационного устройства. На спектрограмме / -и / -компоненты пространственно разделены. Изучен салол, бензофенон, триацетин и глицерин. На снимках спектров рассеяния этих веществ (рис.IV и VII) хорошо видна кинетика изменения интенсивности узкого участка крыла (/ -компонента) и линий тонкой структуры (/ -компонента). [c.362]

Оптическая схема установки. В настоящей работе в качестве монохроматора используют стеклянный трехпризменный спектрограф ИСП-51. Применена внешняя (по отношению к спектрографу) установка интерферометра. Оптическая схема установки изображена на рис. 31. Излучение полого катода 1 с помощью кон-денсорной линзы 2 с /=20 см направляют на интерферометр Фабри—Перо 3. Объектив 4 с [=30 см проектирует интерференционные кольца на щель спектрографа 5. В фокальной плоскости его камеры получают интерференционные изображения спектральных линий источника света. [c.83]

Приведенные ниже таблицы позволяют построить аппаратный контур (АК) реального интерферометра Фабри — Перо (ИФП), АК. установки с реальным ИФП и наблюдаемый с ней контур спектральной линии (НК). Собственный контур (СК) спектральной линии предполагается фойхтовским. С некоторых случаях с помощью таблиц П6 и П7 можно определить параг метры дисперсионной и гауссовских составляющих фойхтовского собственного контура спектральной линии. Используя данные, помещенные в семи таблицах, можно построить АК и НК для приведенных ниже случаев. [c.141]

Юстировка интерферометра Фабри — Перо сводится к, установке с необходимой точностью пластин Ру и Рг (см. рис. 3.7.15) параллельно друг другу так, чтобы воздушный промежуток между ними образовал плоскопараллельную пластинку. Параллельность поверхностей пластин, на которых нанесены зеркальные покрытия и 2, регулируется тремя юстировочными винтами, расположенными под углом 120° друг к другу. Движение винтов передается одной пластине и поджимает ее к промежу- [c.206]

Задание. 1. Изучить принцип действия интерферометра Фабри—Перо, характер распределения интенсивности в интерференционной картине, способы изменения разности хода при осуществлении сканирования интерференционной картины. 2. Собрать экспериментальную установку по схеме рис. П.7, а. Провести юстировку интерферометра Фабри—Перо и получить на экране хорошего качества интерференционную картину колец равного наклона. 3. Определить оптическую толщину интерферометра Фабри—Перо. Из рис. П.7, б следует, что существует следующая связь между радиусом Гр кольца с номером Лр и параметрами схемы = Ь 2то ро) — I " [2кр1ро), где [c.512]

Рис. 3. Лазерный измеритель определяет деформации, регистрируя движение грунта, в этом измерителе деформаций, в основе которого лежит интерферометр Фабри — Перо, лазер (слева) посылает луч через делитель, установленный под острым углом к лучу (в центре слева). Делитель пропускает луч на полупрозрачное зеркало (в центре). Часть света отражается этим зеркалом и попадает в детектор. Оставшаяся часть луча попадает в оптическую полость через зеркало (справа) и отражается обратно третьим веркалом (справа ниже). Когда луч возвращается в оптическую полость, его волны интерферируют с волнами, входящими в трубу, создавая интерференционную картину. Когда деформация Земли изменяет расстояние между двумя зеркалами, полосы в интерференционной картине сдвигаются. Делитель пуча отклоняет интерференционную картину на детектор таким образом, что движение полос может регистрироваться. Сверху показана принципиальная схема этой установки.

Автор попытался сделать свою экспериментальную установку свободной от целого ряда недостатков, характерных для установок своих предшественников. В частности, удалось получить интерференционные снимки тонкой структуры на интерферометре Фабри— Перо с большой разрешающей силой и одновременно в х- и г-по-ляризациях. Преимущества этого способа уже кратко обсуждались в 12. [c.312]

Дальнейшие измерения соотношения интенсивностей в компонентах тонкой структуры линии Релея сделаны Рэнком и др. [243]. Работа выполнена на интерферометре Фабри — Перо. Для увеличения светосилы и повышения разрешающей силы установки Рэнк и его сотрудники при исследовании тонкой структуры применили [эталон толщиной 10,5 жж. При этом длинноволновая компонента тонкой структуры одного порядка интерференции совпадала с коротковолновой компонентой другого порядка. Наложение удваивает интенсивность и разрешающую силу. Однако точного совпадения порядов можно добиться только для одной жидкости при заданном расстоянии между пластинками интерферометра. Для других жидкостей, как на это указывают сами авторы, будет лишь частичное наложение. Работа автора [145] производилась на [c.320]

Авторы работы [108] создали более чувствительный лидар с дифференциальным поглощением (ИК-ДПР), работающий в ближнем инфракрасном спектральном диапазоне на длине волны 724,37 нм линии поглощения НгО. В этой лазерной установке применили лазер на рубине, работающий в режиме модуляции добротности, с энергией в импульсе 1,5 Дж для одновременного получения лазерного импульса с длиной волны 694,3 нм и лазерного импульса с длиной волны 724,37 нм. Такой режим работы достигли путем разделения луча на дйа с энергией в импульсе 0,25 и 1,25 Дж. Луч с энергией в импульсе 1,25 Дж использовали для накачки системы из двух ячеек с красителем, одна из которых служит генератором, другая — усилителем. Чтобы обеспечить возможность перестройки в интервале длин волн от 715 до 740 мм, применяли раствор DTD в диметил-сульфоксиде с концентрацией 1,2-10 М. Для получения узкополосной генерации использовали сочетание дифракционной решетки и интерферометра Фабри — Перо. В результате на выходе получали пучок с энергией в импульсе 0,165 Дж, длительностью импульса 30 не, шириной полосы генерации 0,008 нм и расходимостью менее 3,5 мрад. [c.371]

Система регистрации длины волны и спектра излучения состоит из двух эталонов Фабри—Перо с фоторегистраторами. Грубое определение X осуществляется с помощью эталона с базой 10 мм. Измерение мгновенных значений X и ширины спектра излучения Лv производится эталоном с базой 100 мм и скоростной фоторегистрирующей установкой (СФР). Для иск 1ючения влияния колебаний давления и температуры в лабораторном помещении оба интерферометра помещаются в герметизированные камеры с откачиваемым внутренним объемохм. Абсолютная привязка длины волны осуществляется по излучению стабилизированного гелий-неонового лазера с поглощающей ячейкой в резонаторе. Погрешность измерения длины волны излучения составляет 3 X X 10 нм. [c.117]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...