Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Распределение интенсивности в интерференционной Фабри—Перо

В идеальном случае, когда потери на поглощение отсутствуют, t= —r и /макс= о- На рис. 27 приведено распределение интенсивности ///макс В функции Ф ДЛЯ различных значений г. С увеличением коэффициента отражения интерференционные кольца становятся более резкими. Выражение (2.47) представляет собой (с точностью до постоянного множителя) аппаратную функцию интерферометра Фабри—Перо.  [c.78]

Если разрешающая сила эталона Фабри и Перо достаточно велика, т. е. качество зеркал, параллельность и разность хода выбраны соответствующим образом, то распределение интенсивности и в интерференционном кольце почти повторяет распределение интенсивности в самой спектральной линии источника.  [c.38]


Распределение интенсивности в интерференционной картине, создаваемой интерферометром Фабри—Перо  [c.421]

Можно вычислить распределение интенсивности в интерференционной картине и резкость полос, которая выше, чем в эталоне Фабри — Перо.  [c.179]

Распределение интенсивности в системе интерференционных максимумов, образующихся в пластинке Люммера — Герке, можно вычислить таким же образом, как это делалось в случае интерферометра Фабри — Перо, но с тем важным отличием, что здесь число интерферирующих лучей не бесконечно, а обрывается на конце пластинки. При отражении интенсивность каждого последующего луча будет меньше предыдущего, что может быть учтено коэффициентом отражения г. Вычисления дают  [c.207]

Большое число когерентных световых пучков может возникнуть в результате дифракции при прохождении плоской волны через экран с одинаковыми регулярно расположенными отверстиями (метод деления волнового фронта). Распределение интенсивности в такой многолучевой интерференционной картине будет рассмотрено в 6.5 на примере дифракционной решетки. Здесь мы изучим интерференцию при многократных отражениях света от двух параллельных поверхностей (метод деления амплитуды). На этом принципе действует интерферометр Фабри—Перо, широко используемый в спектроскопии высокого разрешения и в метрологии. Он может быть выполнен в виде плоскопараллельной стеклянной или кварцевой пластины, на обе поверхности которой нанесены отражающие слои, либо в виде двух пластин, у которых покрытые отражающими слоями плоскости установлены строго параллельно друг другу и разделены воздушным промежутком.  [c.256]

Значительное расширение возможных применений интерферометра Фабри—Перо связано с использованием вместо металлических зеркал многослойных диэлектрических покрытий, которые обеспечивают высокий коэффициент отражения (и, следовательно, большую резкость полос) и в то же время не поглощают свет. Распределение интенсивности в интерференционной картине и в этом случае описывается формулой (5.77), но пропускание в максимумах может быть значительно больше, чем у интерферометра с металлическими зеркалами. Уменьшение интенсивности по сравнению с идеализированным случаем, выражаемым формулой (5.71), обусловлено здесь в основном рассеянием света на практически неизбежных неоднородностях покрытий.  [c.260]


Возможность последовательного расположения двух интерферометров следует из того, что их угловая дисперсия не зависит от параметра t, а определяется только углом интерференции ф. На рис. 7.3.3 дано распределение интенсивности для тонкого , толстого интерферометров и суммарное распределение при отношении толщин 1 4. Максимумы тонкого интерферометра совпадают с каждым четвертым максимумом толстого интерферометра. В результате совместной работы двух интерферометров Фабри—Перо получим узкие интерференционные максимумы, ширина которых будет определяться щириной максимумов толстого интерферометра. Расстояние между ними, выраженное в длинах волн, определится толщиной тонкого интерферометра.  [c.466]

Возможность последовательного расположения двух интерферометров следует из (17.8). Из этой формулы видно, что угловая дисперсия не зависит от параметра а определяется только углом интерференции ф. На рис. 18.2 дано распределение интенсивности для тонкого (а), толстого (б) интерферометров и суммарное (в) распределение при отношении толщин 4. Максимумы тонкого интерферометра совпадают с каждым пятым максимумом толстого интерферометра. В результате совместной работы двух интерферометров Фабри—Перо получим узкие интерференционные максимумы, ширина которых будет соответствовать толщине толстого интерферометра. Расстояние между ними, выраженное в длинах волн по (17.9), определяется толщиной тонкого интерферометра. При соответствующей кратности р можно получить полную картину сверхтонкой структуры исследуемой спектральной линии в пределах данного порядка интерференции. Определим наибольшее допустимое отношение й /й, так как оно определяет максимальную величину разрешимого спектрального интервала. Для этого следует найти наиболь-  [c.137]

Из приведенной формулы видно, что распределение интенсивности в случае пластины Люммера — Герке очень близко к распределению в случае интерферометра Фабри — Перо. Различие состоит только в том, что между главными интерференционными максимумами благодаря конечности числа интерферирующи ч пучков пластина образует ряд побочных максимумов. В формуле это обстоятельство учтено вторым слагаемым в числителе.  [c.207]

Пусть интерферометр Фабри—Перо сочленен со спектрографом. Если источник имеет непрерывное распределение энергии, то при достаточно узкой щели на выходе спектрографа наблюдается снектр, состоящий из ярких узких интерференционных полос. Такое распределение интенсивности получило название канализированного спектра. Его образование становится ясным, если принять во внимание, что сплошной спектр состоит из непрерывного континуума бесконечно узких монохроматических линий. Каждая из этих линий будет давать обычную интерференционную картину. Вдоль любой спектральной линии располагаются по обычнолху закону максимумы и минимумы.  [c.219]

Задание. 1. Изучить принцип действия интерферометра Фабри—Перо, характер распределения интенсивности в интерференционной картине, способы изменения разности хода при осуществлении сканирования интерференционной картины. 2. Собрать экспериментальную установку по схеме рис. П.7, а. Провести юстировку интерферометра Фабри—Перо и получить на экране хорошего качества интерференционную картину колец равного наклона. 3. Определить оптическую толщину интерферометра Фабри—Перо. Из рис. П.7, б следует, что существует следующая связь между радиусом Гр кольца с номером Лр и параметрами схемы = Ь 2то ро) — I " [2кр1ро), где  [c.512]


Смотреть страницы где упоминается термин Распределение интенсивности в интерференционной Фабри—Перо : [c.39]    [c.218]   
Прикладная физическая оптика (1961) -- [ c.195 ]



ПОИСК



Интенсивное! ь интерференционной

Интенсивность распределения

Интерферометр Фабри—Перо. Распределение интенсивности в интерференционной картине. Интерференционные кольца. Разрешающая способность. Факторы, ограничивающие разрешающую способность Дисперсионная область. Сканирующий интерферометр Фабри—Перо Интерференционные фильтры. Пластинка Люммера—Герке. Эшелон Майкельсона Интерференция в тонких пленках

Перила

Перова

Распределение интенсивности в интерференционной картине, создаваемой интерферометром Фабри — Перо

Рен (перо)

Фабри и Перо

Фабри- Перо интерференционная



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте