Фокус объектива

Схема оптической системы микроскопа показана на рис. 14.12. Малый объект АВ помещается вблизи главного фокуса объектива 5 , дающего его увеличенное действительное изображение А В, которое рассматривают через окуляр 5., так, чтобы увеличенное мнимое изображение А"В" получалось на расстоянии наилучшего зрения от глаза или в бесконечности (наблюдение спокойным глазом). Оба способа наблюдения одинаково пригодны. [c.329]

Параллельный пучок, исходящий из центра щели, лежащей на оптической оси коллиматора, имеет плоскостью падения главное сечение призмы пучки, исходящие от других точек щели, падают под углом к главному сечению и преломляются тем сильнее, чем дальше от центра отстоит соответствующая точка щели. Поэтому прямолинейная щель изображается в виде дуги, обращенной выпуклостью к красному концу спектра. Это искривление спектральных линий тем значительнее, чем выше щель и короче фокус объектива коллиматора. [c.339]

Принцип образования изображения в системе может быть рассмотрен как процесс двойной дифракции. Первая дифракция происходит на объекте 2, освещаемом плоской монохроматической волной, образуемой когерентным источником света /. Объект 2 расположен в передней фокальной плоскости объектива 3, который образует в своей задней фокальной плоскости 4 пространственный спектр объекта (т. е. осуществляет преобразование Фурье объекта). В плоскости голограммы 4, которая одновременно является передней фокальной плоскостью второго объектива 5, находится мультиплицирующий элемент, представляющий собой голограмму набора точечных источников, число и расположение которых соответствует желаемому числу и расположению размноженных изображений. В результате в плоскости голограммы 4 имеем произведение двух спектров Фурье объекта и набора точечных источников. Второй объектив 5 в свою очередь осуществляет преобразование Фурье объекта, находящегося в его фокальной плоскости. Как следствие. этого в плоскости изображения 6 получаем совокупность изображений исходного объекта, причем линейное увеличение системы 7 и размер изображений определяются соотношением фокусов объективов системы 7==/,//,. Очевидно, что размеры отдельных модулей могут быть большими (более 5—10 мм), они ограничиваются лишь полем изображения второго объектива 5. Это является большим преимуществом системы. [c.63]

Построенный на этом принципе прибор—рефлектометр предложен для интегральной (не профильной) сравнительной оценки плоского шлифованного стекла [7]. Оптическая схема рефлектометра дана на рис. 34. В фокусе объектива расположен источник света 4. Пучок параллельных лучей направляется объективом 5 [c.120]

Микроскопы — оптические системы, у которых передний фокус положительного окуляра удален от заднего фокуса положительного объектива. Предмет помещается непосредственно перед передним фокусом объектива. Микроскоп дает обратное увеличенное изображение. [c.242]

Нормальные объективы рассчитаны на длину тубуса 160 мм (длиной тубуса называется расстояние между задним фокусом объектива и передним фокусом окуляра микроскопа.) Для работы в отраженном свете с объектами, не покрытыми покровными стеклами, служат специально корригированные объективы, рассчитанные на длину тубуса 190 мм или на бесконечность". [c.242]

Часть света, отражаясь от пластины 6, попадает в объектив 7 и фокусируется на контролируемой поверхности 8. После отражения от поверхности 8 свет вновь проходит объектив 7, разделительную пластину 6 и собирается в фокальной плоскости объектива 9, откуда изображение поверхности зеркалом J0 направляется в окулярный тубус 11. Вторая часть света проходит разделительную пластину 6, компенсатор 12 и падает на объектив 13 затем отражается от зеркала 14, находящегося в фокусе объектива 13, и идет снова через объектив 13 и компенсатор на разделительную пластину 6, отразившись от которой собирается в фокальной плоскости объектива 9. [c.720]

Нормальные объективы рассчитаны на длину тубуса 160 мм (длиной тубуса называется расстояние между задним фокусом объектива и передним фокусом [c.330]

Лучи света между бабками идут параллельными пучками, поскольку штрихи шкалы находятся в фокусе объективов. Благодаря этому изображение остается резким независимо от расстояния между бабками. Расстояние от оси измерения до плоскости шкалы равно фокальному расстоянию объективов, поэтому перекос бабок из-за погрешностей направляющих не вызывает ошибок при измерениях. При измерении заднюю бабку устанавливают над соответствующей стеклянной пластинкой дециметровой шкалы так, чтобы ее двойной штрих попал в поле зрения отсчетного микроскопа передней бабки. Затем, пользуясь микровинтом И, совмещают один из штрихов шкалы с изображением двойного штриха пластинки. На дециметровой шкале штрих выбирают с таким расчетом, чтобы изображение шкалы оптиметра не выходило за пределы поля зрения. Миллиметры и десятые доли миллиметра отсчитывают по шкале при помощи микроскопа 16, микроны — по трубке оптиметра 17. [c.111]

Нить лампы накаливания / проектируется коллектором 2 в плоскость апертурной диафрагмы 4. В фокальной плоскости проекционного объектива 6 помещена полевая диафрагма 5, которая изображается объективом в бесконечности. Параллельный пучок лучей попадает на разделительную пластинку 7, которая одну половину лучей отражает, а другую — пропускает. Отраженный от пластинки 7 пучок лучей собирается в фокусе объектива ]0 на поверяемой поверхности детали 8, установлен- [c.349]

Второй пучок лучей, пройдя через разделительную пластинку 7, падает на компенсатор 11, после чего собирается в фокусе объектива 12, на эталонном зеркале 13, отразившись от которого, снова проходит через объектив 12, компенсатор 11 и падает на разделительную пластинку 7. Часть лучей отражается от пластинки 7 и интерферирует с лучами первой ветви микроинтерферометра, образуя резкое изображение интерференционных полос в бесконечности. Это изображение объективом 14 переносится в фокальную плоскость окуляра 19. В поле зрения окуляра видны интерференционные полосы, искривление которых пропорционально высоте неровностей. [c.350]

Эффект экранировки обрабатываемой поверхности можно уменьшить расфокусировкой, т. е. смещением фокуса объектива ОКГ в глубь вещества. Тем самым можно снизить плотность потока излучения и уменьшить скорость движения зоны непрозрачности от поверхности вещества [12] таким образом, чтобы за время действия импульса излучения практически вся энергия локализовалась внутри обрабатываемой мишени. [c.290]

Роб-Гок. причём Роб = А// об. Гок = 250// ок. где А — расстояние от заднего фокуса объектива до переднего фокуса окуляра (т. н. оптич. длина тубуса), и / о — фокусные расстояния объектива и окуляра. Обычно объективы М. имеют увеличения от 6,3 до 100, а окуляры от 7 до 15 поэтому общее увеличение М. лежит в пределах от 44 до 1500, [c.142]

Большое распространение в последнее десятилетие получили методы анализа Фурье в науке и технике, в частности в оптике. Исследование всевозможного внда объектов, особенно обладающих периодической структурой, оказалось удобным вести с помощью оптических приборов, образующих спектры (т. е. преобразования Фурье) этих объектов. Использованию оптических систем для Фурье-анализа способствует их свойство при определенных, но легко осуществляемых условиях создавать преобразование Фурье амплитуд плоских предметов,, расположенных иа входном зрачке оптической системы [1.0, гл. X]. Если поместить фотографию (негатив) исследуемого объекта иа входной зрачок объектива и освещать его параллельным (когерентным) пучком лучей, то в фокусе объектива образуется спектр амплитудного распределения об кта. Все участки объекта, обладающие [c.318]

В отличие от большинства оптических систем, в частности от фотографических объективов, от многих телескопических систем, ряд характерных величин, относящихся к размерам микроскопа, стандартизированы. К этим характерным величинам относятся оптическая длина тубуса Д, т. е. расстояние от заднего фокуса объектива Р[ до переднего фокуса окуляра Р механическая длина тубуса, т. е. расстояние от опорной плоскости оправы объектива до края верхнего тубуса. [c.420]

Действие любого элемента илн множества одинаковых элементов может быть экспериментально определено (и такая проверка должна обязательно выполняться) с помощью установки (рнс. V1.29), которая состоит из помещаемого в фокусе объектива Ai ло возможности малого источника S, второго объектива и экрана Э, расположенного в его фокальной плоскости. Испытуемый рассеиватель Р ставят перпендикулярно о цей оси системы [c.473]

Приспособление, необходимое для использования этого метода, показано на фиг. 60. Оно состоит из пластины 7 с отверстием для крепления ее на объективе оптического микроскопа. Вторая пластина 3 соединена с первой шарниром 6 с одной стороны и шарнирным болтом 8 — с другой. При вращении гайки 1 пластины будут расходиться под воздействием пружины 2. Вокруг отверстия 4, имеющего диаметр примерно 3 мм и просверленного по оптической оси микроскопа, в пластине укреплены три тонкие иглы 5, обращенные острием вниз. Сетка для образцов крепится на этих иглах с помощью клея, которым смазывают концы иголок. В качестве клея можно применить раствор целлулоида или цапонлак. На целлулоидную ленту наносят каплю ацетона и после растворения в ней целлулоида этой каплей смазывают концы иглы. Сетка, помещенная на иглы 5, остается после испарения ацетона укрепленной на них. Вращением гайки 1 сетка помещается в фокус объектива. [c.121]

Пример 2. Построить АК установки с реальным ИФП, зеркала которого имеют параболический дефект с максимальным отклонением от плоскости Я/20 (т. е. tti = 0,05). Центральное пятно интерференционной картины выделяется круглой выходной диафрагмой с радиусом рд = 5-10-2 см, которая помещена в фокусе объектива с фокусным расстоянием F — 50 см. Толщина ИФП t = I см, длина световой волны Я = 500 нм, коэффициент отражения зеркал ИФП R = 0,9. [c.147]

Интерферометр — измеритель (упрощенная схема на рис. 220) позволяет измерять перемещения с точностью до десятых долей длины волны света (до сотых и тысячных долей микрона) в широком диапазоне. Монохроматический свет от источника 5, проходя через щель диафрагмы Л, находящуюся в фокусе объектива В, преобразуется последним в параллельный пучок. Этот пучок частично проходит через, полупрозрачную пластинку С (пучок а), наклоненную под углом 45 [c.335]

Обозначим расстояние от переднего фокуса объектива до его входного зрачка через некоторую величину [c.457]

Полагая, что передний фокус объектива совмещен со сферической поверхностью раздела (Zgp = г) формулу (23.10) соответственно упростим [c.458]

После проявления осветим негатив Н параллельным пучком и рассмотрим интерференционные полосы в фокусе объектива, следуя многократно описанной ранее методике. При выполнении соотношения (9.5) интерференционные полосы исчезнут. Таким образом, изменяя величину ДХ до исчезновения интерференционных полос, можно найти величину а. [c.135]

Бесконечно удаленная прямая линия, параллельная ребру призмы (например, изображение щели или спектральной линии S, расположенной в переднем фокусе объектива 0 коллиматора см. рис. И) и рассматриваемая через призму, кажется искривленной по дуге окружности с вогнутостью, обращенной в коротковолновую область спектра. Когда призма не находится в положении наименьшего отклонения лучей, кривизна и стрелка прогиба линий, рассматриваемых в задней фокальной плоскости объектива Oj, соответственно равны [74, 961 [c.37]

Простейшая телескопическая система состоит из двух основных компонентов — объектива и окуляра, причем задний фокус объектива [c.123]

Д — расстояние от заднего фокуса объектива до плоскости изображения [c.430]

Под разрешающей силой микроскопа понимается то минимальное расстояние (линейное или угловое) между близлежащими точками, при котором их еще можно наблюдать раздельно. Вследствие того что объект располагается на небольшом расстоянии от объектива (обычно чуть дальше фокуса объектива), в данном случае не будет наблюдаться точная картина фраунгоферовой дифракции. Однако, так как плоскость изображения ПП объектива находится на расстоянии, существенно превьннающем диаметр объектива, проходящие лучи можно считать почти параллельными. Далее, при рассмотрении дифракции этих лучей на апертурной диафрагме MN [c.199]

Нормальный глаз в спокойном состоянии воспринимает параллельные лучи (визирует бесконечно удаленную точку) поэтому передняя ( >окальная плоскость окуляра дол.жна быть совмещена с изображением объекта. В частности, если объект бесконечно далек, то задний фокус объектива приводится в совпадение с передним фокусом окуляра (телескопическая система) (рис. 14.15). Рисунок показывает, что увеличение телескопической системы можно выразить также как отношение диаметров сечения пучков, входящих в объектив и выходящих из окуляра, т. е. как отношение [c.332]

Более четкое изображение обеспечивается применением так называемого оптического ножа (методТеплера).Принципиальная схема этого метода показана на рис. 3.8. Параллельный пучок света от источника 1 проходит через исследуемый объем. В фокусе объектива 2 располагается ческий нож 3. Объективы 2 м 4 создают изображс экране 5. Если на пути луча в измерительном обт еме ВС1 тится оптическая неоднородность и, то луч отклонится в сторону, будет отсечен оптическим ножом 5 и не попадет на экран 5. Освещенность в соответствующем месте экрана уменьшится, возникнут характерные светлые и темные полосы, отражающее в конечном счете распределение плотности в исследуемом потоке. [c.122]

X 0,6 м. В результате достигается почти 800-кратиое увеличение снимаемого объекта и находившиеся в фокусе объектива трассирующие частицы при изображении на экране имеют диаметр порядка 1 мм. Удлиненных изображений частиц, свидетель-ствуюп1,их о возможном влиянии длительности искровой вспыигкп на точность измерений, не наблюдалось. [c.194]

Интерференционные полосы в приборе Кестерса при его обычном применении наблюдают в выходной щели, расположенной в фокусе объектива. Для совмещения изображения этих полос с изображением сетки окулярного микрометра, расположенного на некотором расстоянии от щели, необходимо изменить ход лучей, установив за щелью дополнительную линзу. Эту линзу, встроенную в оправу, прикрепляют к оправе щели. При этом действительное изображение полос до окуляра микрометра получается уменьшенным примерно в 10 раз. [c.304]

Оптическая схема зрительной трубы описываемой интерференционной угломерной установки приведена на рис. 228, где I — референтная плоскость, 2 — объектив зригельной трубы, 3 — дополнительная линза, 4 — мнимое изображение предмета, 5 — действительное изображение предмета, 6 — окуляр, 7 — предмет (интерференционная картина), F — передний главный фокус объектива, F l — задний главный фокус объектива, Fz — передний главный фокус дополнительной линзы, F — задний главный фокус дополнительной линзы, F — задний главный фокус окуляра. [c.304]

Радиационные пирометры используются для автоматического регулирования температуры в печах. Работают они на поглощении теплоты, излучаемой нагретыми телами. При наведении телескопа пирометра на раскаленное тело тепловые лучи при помощи линзы и диафрагмы концентрируются, направляются в фокус объектива, нагревая термоэлемент. От нагрева спаев термоэлемента возникший термоэлектроток отклонит стрелку милливольтметра и на шкале, градуированной в °С, будет показана температура тела. [c.35]

Принципиальная схема фазово-кон-трастного устройства представлена на фиг. 9. В передней фокальной плоскости конденсора К вместо апертурной диафрагмы устанавливается кольцеобразная диафрагма СС, которая конденсором и объективом изображается в задней фокальной плоскости объектива Об. Здесь помещена так называемая фазовая пластинка ЬЬ, представляющая собой фазовое кольцо, нанесенное на поверхности линзы вблизи заднего фокуса объектива. Это кольцо поглощает значительную часть света, прямо прошедшего через препарат, и сдвигает его фазу, т. е. вносит запаздывание (негативный контраст) или опережение (позитивный контраст) во времени, на четверть длины световой волны ( ДЯ-). Свет, рассеянный (диффрагированный) препаратом (пунктирные линии), проходит мимо фазового кольца и не претерпевает дополнительного сдвига фазы. Таким образом фазово-контрастное устройство ослабляет интенсивность и задерживает яркий нулевой диффракционный спектр, не внося каких-либо изменений в остальные спектры, бла- [c.17]

Круглая диафрагма, помещенная в фокусе объектива с фокусным расстоянием Рл, локализующего интерференционную картиру в плоскости выходной диафрагмы, будет пропускать часть интерференционной картины. Для описания пропускания установки, состоящей из идеального ИФП и круглой выходной диафрагмы, можно, аналогично тому, как это сделано в работе [15], ввести средний по диафрагме коэффициент пропускания. Для этого достаточно проинтегрировать функцию Эри (1.5) по у в пределах от / ДО у -f 2 4 и разделить результат на 2а4. [c.49]

Когда диффузный прозрачный объект освещается лазером, т. е. источником, создающим излучение, когерентное в пространстве и во времени, контраст спекл-структуры в изображении объекта максимален. Если же диффузный объект освещается источником, излучение которого обладает временной когерентностью, но в пространстве когерентно лишь частично, то контраст спекл-структуры уменьшается. В этом случае контраст спекл-структуры сильно зависит от шероховатости диффузной поверхности и появляется возможность определения шероховатости по контрасту спекл-структуры. Схема опыта приведена на рис. 138. Конденсор С проецирует изображение монохроматического источника S на малое отверстие Т, помещенное в фокусе объектива L. Сформированный пучок освещает диффузный прозрачный объект G, например матовое стекло. Два объектива 0 и Ог формируют изображение объекта О на чувствительной поверхности фотоприемника R. Перед фотоириемником R помещается экран с отверстием, диаметр которого меньше диаметра пятен спекл-структуры. Диафрагма Р, помещенная в фокальной плоскости объектива Оь позволяет изменять диаметр пятен спекл-структуры на поверхности фотоприемника (экране). Перемещая фотоприемник в плоскости изображения G, можно определить профиль интенсивности спекл-структуры. [c.137]

При наблюдении нормальным неаккомодированным глазом предмет совмещен с передним фокусом всего микроскопа. У сложного микроскопа задний фокус объектива и передний фокус окуляра находятся друг от [c.124]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...