Сдвиг резонансной частоты спектра

Один из важных параметров линии спектра ЯМР — сдвиг резонансной частоты спектра. Впервые в 1949 г. в работе Найта [15] было экспериментально обнаружено, что линия какого-либо элемента ЯМР в металлическом образце наблюдается при большей напряженности поля по сравнению с такими же ядрами в неметаллическом образце. [c.175]

Приборы с использованием несколь< ких частот. В этом методе внутреннее состояние объекта контроля определяется либо по сдвигу резонансной частоты поглощения, либо при сравнении двух или более частот, либо на основе анализа спектра частот. [c.221]

Аномалии, обусловленные малым сбоем периода полупрозрачной ножевой решетки, в поведении коэффициентов отражения и прохождения при дифракции -поляризованной волны в малой окрестности точки скольжения плюс и минус первых гармоник нечетного спектра (х = 1) представлены на рис. 73. Прежде всего отметим, что при моделировании сбоя периода отклонением 0 от значения 0 = 0,5 (е = еа) резонансный излом кривых происходит точно в точках скольжения гармоник нечетного спектра (рис. 73, а). Если сбой периода моделируется отклонением еа от значения = = ба, то центр аномалий сдвигается по частоте в сторону от этих точек (рис. 73, б). Тогда плавный ход кривых не нарушается р самой точке скольжения нечетного спектра, точке, где перераспределяется энергия между гармониками. В обоих случаях величина модулей амплитуд гармоник нечетного спектра, близких к скользящим, достигает максимума в точках аномалий. Рис. 73, а помогает понять динамику изменения характера аномалий при изменении величины сбоя периода решетки — с увеличением сбоя уменьшается величина максимумов модулей амплитуд гармоник нечетного спектра (0 = 0,501, 1а ц =54,2 0 = 0,502, a i( = 27,8 0 = 0,505, а 11 = 10,8), уменьшаются добротность соответствующих резонансов [c.130]

В практике радиотехники СВЧ часто используются резонаторы сложной формы, для которых определение собственных частот и распределения полей собственных колебаний не сводится к скалярной двумерной задаче. Но свойства собственных частот и собственных колебаний являются общими для резонаторов любой формы. Любой объемный резонатор имеет дискретный спектр собственных резонансных частот. Каждой частоте соответствует определенное распределение поля в резонаторе. Поля различных по частоте колебаний ортогональны между собой. Все компоненты вектора Е и все компоненты вектора Н синфазны между собой. Между Е ж Н есть сдвиг по фазе на п/2 (четверть периода). [c.329]

Влияние электромагнитного поля лазерного излучения на энергии атом ных уровней рассматривалось в гл. IV в рамках теории возмущений. При этом штарковские сдвиги уровней являются квадратичными по напряженности поля. Коэффициент пропорциональности, представляющий собой динамическую поляризуемость, зависит от частоты лазерного излучения. При частоте, малой по сравнению с частотами характерных атомных переходов, динамическая поляризуемость переходит в статическую поляризу емость. При увеличении частоты поля имеет место резонансное увеличение динамической поляризуемости, когда эта частота совпадает с частотой какого-либо перехода в дискретном спектре атома. При частоте поля, превышающей потенциал ионизации атома, штарковские сдвиги перестают зависеть от квантовых чисел исходного состояния и становятся равными средней колебательной энергии свободного электрона в поле электромагнитной волны. [c.253]

Метод одноосного сжатия состоит в измерении сдвига линий электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) под действием одноосного давления вызывающего статич. деформацию парамагнетика. Соответствующее ей изменение локального кристаллич. поля вследствие С.-ф. в. вызывает изменение разности энергий между парамагнитными уровнями (рис. 3). Т. к. регистрация спектра ЭПР обычна производится при постоянной частоте, к-рая находится в диапазоне нескольких тысяч МГц, то при одноосном сжатии наблюдается изменение напряжённости резонансного магнитного поля, т. е. сдвиг линии ЭПР. Ве- [c.334]

Сдвиг резонансной частоты спектра 175 Сннгония. типы 96 [c.350]

В гл. VI было показано, что в диамагнитных жидкостях электронноядерные взаимодействия совместно, с быстрым движением приводят к изотропным сдвигам резонансных частот ядерных спинов б (химические сдвиги), пропорциональным внешнему полю, и к билинейным, скалярным, не зависящим от поля спин-спиновым взаимодействиям вида /11-12. Благодаря этим эффектам одиночная ядерная резонансная линия может расщепиться в спектр из многих линий с различными расстояниями между ними, интенсивностями и ширинами. В настоящей главе мы хотим показать, каким образом эти иногда сложные спектры могут быть расшифрованы с помощью метода спинового гамильтониана, содержащего определенные выше постоянные б и /. [c.441]

ТтпГ- Кроме того, можно найти сдвиг фазы тп-й моды, определяемый через arg ym . Приравнивая сдвиг фазы за проход произведению л на целое число д, можно определить спектр резонансных частот для рассматриваемой поперечной моды. [c.145]

Фазовый СДВИГ для гауссова пучка и спектр резонансных частот. Как отмечалось в 2.2, для определения спектра частот резонатора надо воспользоваться тем, что сдвиг фазы излучения за проход резонатора должен быть кратен я при этом фазовый сдвиг долж.ен рассматриваться на оптической оси резонатора. Если формируемый в резонаторе световой пучок является гауссовым, то в этом случае можно определить спектр резонансных частот, воспользовавшись соотношением (2.7.34). Согласно (2.7.34) сдвиг фазы для тп-й моды гауссова пучка при его распространении от плоскости перетяжки (z = 0) до некоторой опорной плоскости z = zi равен (для х = у = 0) [c.189]

Существенное расширение полосы пропускания и уменьшение мертвой зоны ПО сравнению с обычными преобразователями могут быть достигнуты за счет взаимодействия колебаний пластины по различным направлениям. Как уже отмечалось, помимо колебаний пьезопластины по толщине происходят ее колебания в перпендикулярной плоскости. При этих колебаниях в результате сочетаний деформаций сдвига и растяжения-сжатия возбуждаются три моды, а так е их гармоники. Подобрав размеры пластины так, чтобы резонансные частоты всех трех мод совпадали и, возбуждая ее электрическим импульсом, в спектре которого отсутствуют частоты, соответствующие резонансным частотам мод, удается получить сигналы с минимальным искажением формы импульса при высоком значении коэффициента преобразования [64]. Здесь широкополосности дости гают за счет взаимодействия трех мод колебаний как взаимосвязанных колебательных систем (подобно тому, как в ранее рассмотрен ном случае взаимодействия электрической и механической колебательной систем), а также в результате выбора спектра возбуждаемого импульса. Преобразователи с контурным возбуждением пьезо-элементов применяют для излучения ультразвука низкой частоты (20—100 кГц). Такие частоты используют в приборах для контроля звукопоглощающих анизотропных материалов, например стеклопластиков. [c.57]

В реальных резонаторах с конечной апертурой величины Фгп, Фр1 отличны от нуля и резонансный частотный ряд оказывается сдвинутым относительно базового. Сдвиг частотного ряда произвольной поперечной моды тп, р1) может быть вычислен как Атшгг= Д дФтп/л . При этом частотное вырождение снимается и спектр биений усложняется. Наряду с частотами, кратными Дуд, в спектре появляются в общем случае частоты вида [c.72]

Такой процесс вторичного свечения можно рассматривать как рассеяние света, так как спектр вторичного излучения привязан к первичной частоте со, и сдвигается со сдвигом со,. С другой стороны, этот процесс имеет черты фотолюминесценции, так как его можно описывать в терминах двухступенчатого процесса поглощение (absorption) + излучение (emission), с реальным промежуточным состоянием. Таким образом, его можно интерпретировать одновременно и как резонансное рассеяние, и как резонансную фотолюминесценцию. По этой причине иногда в этом и аналогичных случаях используют термин резонансное вторичное свечение . Заметим, что при оптическом возбуждении немонохроматическим светом со спектральной интенсивностью /о(со I ), плавно зависящей от частоты со, в окрестности резонанса oq, для спектра излучения получаем [c.163]

Резонансные эксперименты дали большое количество информации о строении молекул, атомов и ат. ядер. Были измерены спмкы, магн. дипольные и электрич. квадрупольные моменты ядер. В частности, был обнаружен электрический квадрупольный момент дейтрона, исследована тонкая структура ат. спектров, в результате чего был открыт лэмбовский сдвиг. Измерение постоянной тонкой структуры дало пока единств, доказательство существования у ядер электрич. октупольных моментов. Выли измерены вращат. магн. моменты и электрич. дипольные моменты молекул, энергия вз-ствия ядерных магн. моментов с вращат. магн. моментами молекул, зависимость электрич. й магн. свойств от ориентации молекул квадрупольные моменты молекул, энергия межъядерных магн. вз-ствий в молекулах и др. Частота колебаний, соответствующая линиям сверхтонкой структуры магнитного резонанса в М. и а. п.,— основа для определения секунды в пассивных квантовых стандартах частоты. [c.435]

Р. отличается от оптич. спектроскопии и инфракрасной спектроскопии специфич. особенностями а) благодаря малым частотам со и, следовательно, малым энергиям квантов в Р. исследуются квант, переходы между близко расположенными уровнями энергии. Это делает возможным изучение таких вз-ствий в в-ве, к-рые вызывают очень малые расщепления энергетич. уровня, незаметные для оптич. спектроскопии. В Р. исследуются вращат. и инверсионные уровни зеемановское расщепление уровней эл-нов и ат. ядер во внеш. и внутр. магн. полях [см. Микроволновая спектроскопия. Электронный парамагнитный резонанс (ЭПР) Ядерный магнитный резонанс (ЯМР)] уровни, образованные вз-ствием квадрупольных моментов ядер с внутр. электрич. полями [см. Ядерный квадрупольный резонанс (ЯКР)] и вз-ствием эл-нов проводимости с внеш. магн. полем [см. Циклотронный резонанс (ЦР)]. В магнитоупорядоченных средах наблюдается резонансное поглощение радиоволн, связанное с коллективным движением магн. моментов эл-нов (см. Ферромагнитный резонанс, Антиферромагнитный резонанс), б) Естеств. ширина спектральной линии в радио-диапазоне очень мала (Aw (o ). Наблюдаемая ширина Ло) обусловлена разл. тонкими вз-ствиями в в-ве. Анализ ширины и формы линий позволяет количественно их оценивать, причём ширина и форма линии в Р. может быть измерена с очень большой точностью, в) Измерение длины волны Я, характерное для оптич. спектроскопии, в Р. заменяется измерением частоты со, что осуществляется обычно радиотехнич. методами с большой точностью. Это позволяет измерять тонкие детали спектров, связанные с малыми сдвигами уровней [c.610]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...