Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама

Анализ нейтронографический

Отдельную группу образуют методы неэлектрических испытаний, используемые для определения структуры, макро- и микродефектов материалов. Сюда относятся ультразвуковые методы, рентгене- и гамма-люминесцентный анализ, инфракрасная спектроскопия, электронная микроскопия, ядерный магнитный резонанс, электронный парамагнитный резонанс, нейтронографический анализ, а также другие методы, применяемые для неэлектрических испытаний.  [c.7]


Диаграмма состояния Rb-Sn, изученная методами термического и нейтронографического анализов [1], приведена на рис. 498. При  [c.113]

Результаты нейтронографического анализа наилучшим образом согласуются с данными Михала.  [c.60]

Такая оценка была сделана для ряда ферритов на основании рентгеновского 124, 125] и нейтронографического анализа 126], а также сопоставлением экспериментальных значений магнитных моментов с рассчитанными по Неелю в предположении о строго антипараллельном направлении спинов у ионов, занимающих различные металлические подрешетки [1, 127]. В результате указанных  [c.108]

Проведенные недавно исследования не решили однозначно вопроса о существовании окислов А с более высоким содержанием О. Отмечается И], что AgO имеет кубическую структуру, аналогичную структуре 2п8, а — 4,816 0,003 А однако в работах [4, 12—14] сообщается, что структура этого окисла моноклинная. Поданным работ [4, 12], АеО относится к структурному типу тенорита (СиО), но тщательные рентгеновский [13] и нейтронографический [14] анализы показывают, что структура относится к пространственной группе Р2 с. Данные работ [4, 12—14] хорошо согласуются друг с другом по данным [4], а= 5,842 А, Ь = 3,480 А, с = 5,487 А, Р = 107° 27 по данным [12—14], а = 5,852 А, Ь = = 3,478 А, с = 5,495 А, Р = 107° 30.  [c.35]

Нейтронографический структурный анализ  [c.143]

Нейтронографический анализ атомной структуры ограничен рассеянием иа монокристаллах размером 1 мм и более. — Прим. ред.  [c.146]

По данным исследований, выполненных методами рентгеновского л нейтронографического анализов и определением магнитных свойств, иттрий и тулий обладают неограниченной растворимостью в твердом состоянии. Сплавы выплавляли в дуговой печи в инертной атмосфере [1, 2].  [c.782]

Сплавы выплавляли в дуговой печи и отжигали при 1500° в течение 3 часов. При построении диаграммы состояния не учитывали полиморфизма иттрия и карбида Y j, Богатый углеродом участок диаграммы состояния системы Y — С был исследован методами термического, рентгеновского и нейтронографического анализов и измерением микротвердости в работе [14]. Исследования последними двумя методами проводили также при высоких температурах. В изученной области составов было установлено существование только одного карбида Y 2, образующего эвтектику с углеродом при 2275 25°. В области богатых иттрием сплавов диаграмма состояния системы Y — С была вновь исследована в работе [18] методами дифференциального термического, микроструктурного и рентгеновского анализов. Кривую солидус определяли оптическим пирометром по появлению жидкой капли. Сплавы выплавляли в дуговой печи в атмосфере очищенного аргона из иттрия. чистотой 99,9% и графита высокой чистоты. Диаграмма состояния системы Y—С, построенная по результатам этих исследований, приведена на рис. 498 и 499. Как следует и диаграммы, углерод заметно растворим в обеих модификациях иттрия и повышает температуры его плавления и полиморфного превращения. Фазы ( -Y) и (a-Y)—твердые растворы на основе соответствующих модификаций иттрия образуются по перитектической реакции прн 1560° и перитектоидной реакции при 1520° соответственно. Максимальная растворимость углерода в a-Y отвечает 1520° и составляет 9 ат.%. С понижением температуры растворимость уменьшается до 2,5 ат.% при 900°. Промежуточные фазы системы у (твердый раствор на основе соединения Y2 ) и а-УСг плавятся конгруэнтно при 2000 и 2415° соответственно и при  [c.783]


ГЛАВА 12 НЕЙТРОНОГРАФИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ  [c.835]

Общие основы нейтронографического анализа изложены в работах [214 — 217], теория дифракции нейтронов в кристаллах —в [218, 219], теория магнитного рассеяния нейтронов —в [220 — 223], теория неупругого рассеяния—в [224 — 229], некоторые экспериментальные результаты приведены в [230 — 234]. Данные, полученные в последние годы, сведены в обзорах 177, 235].  [c.843]

ОСНОВНЫМИ МЕТОДАМИ анализа текстур являются дифракционные рентгенографический, электронографический и нейтронографический. Основанные на одних дифракционных принципах эти методы различаются но глубине проникновения дифрагирующих излучений в изучаемый объект и тем самым по толщине слоя материала, о текстурированностп которого дает информацию данный метод.  [c.265]

В системе образуются две упорядоченные фазы oPt с простой тетрагональной решеткой и СоР1з с ГЦК решеткой [X, Ш, 1]. Границы упорядоченных фаз тщательно исследованы с помош >ю рентгеновского и нейтронографического методов [2]. Полученные данные хорошо согласуются с результатами, показанными на рис. 29. В работе [2] также выполнен теоретический анализ упорядочения в этой системе с учетом химических и магнитных взаимодействий атомов.  [c.68]

По результатам нейтронографического анализа установлено, что соединение Rb2Sn3 кристаллизуется в одну из двух пространственных групп PAfm или Р4сс, параметры кристаллической решетки указаны в табл. 390.  [c.114]

Деформация до точки б кривой напряжение — деформация обусловлена упругой деформацией исходной фазы. В образцах, соответствующих точке б, начинают появляться пластинчатые образования. По данным нейтронографического анализа и исследований микроструктуры установлено, что указанные образования — это /3 1-мартенсит типа 1ВЯ, возникающий под действием напряжений. Следовательно, увеличение деформации от точки б до точки г обусловлено вызванным напряжениями превращением /З1 —/З ]. Образец в точке г является монокристалли-ческим образцом, почти полностью состоящим из (3 1-мартенсита. Деформация от точки г до точки б обусловлена упругой деформацией /З )-мартенсита. Если в этот момент снять напряжения, то деформация образца прежде всего упруго возвращается к точке а, затем в результате обратного превращения происходит возврат деформации до точки вблизи б. В конце концов деформация становится равной нулю в результате возврата упругой деформации исходной фазы. Обратное превращение при снятии напряжений обусловлено тем, что при приложении напряжений при температуре выше точки образуется совершенно нестабильный мартенсит. Следует особо отметить тот факт, что плоскость габитуса /3)-мартенсита при прямом и обратном превращениях одна и та же. Этот факт является весьма характерным с точки зрения обратимости превращения.  [c.42]

Влияние внешних сил на мартенситное превращение не ограничивается только простым смещением температуры превращения. На рис. 1.29 показаны кривые напряжение — деформация при растяжении монокри-сталлических образцов из сплава, % (по массе) Си—14,0А1—4,2Ni при разных температурах испытания в направлении приблизительно <001) исходной фазы. Характерной особенностью является то, что в зависимости от температуры испытаний кривые состоят из двух или большего числа ступеней. Методами нейтронографического и рентге-ноструктурного анализов при воздействии напряжений установлено, что каждая стадия обусловлена мартенситным превращением, отмеченным на рисунке. Указанные на этом рисунке фазы у, P i. и ai — это мартенсит, имеющий кристаллическую структуру, показанную на рис. 1.30, (6—(3). Периоды решетки каждой из этих фаз приведены [17] ниже  [c.50]

Это — тот самый случай, когда бессильны самые надежные помощники. Внимательный читатель вспомнит, что рентгеновские лучи не видят атомов с малым числом электронов, таких как углерод. Только нейтроны способны здесь выявить истину. В 1958 и 1972 годах две группы советских исследователей провели нейтронографический анализ. И лишь тогда давно подозреваемый ответ — углерод в аустените находится в октапорах — стал истиной в последней инстанции.  [c.146]

Несмотря на то что результаты последних рентгеновских исследований показали, что в ряде жидких металлов имеется два типа микрогруппировок ближнего порядка, а в медных сплавах даже три, гипотезу Уббелоде о наличии в расплаве двух видов кластеров, способных и неспособных к кристаллизации, нельзя считать доказанной. Утверждение автора, что расплав имеет квазигазообразную структуру, в которой плавают не-кристаллизуемые кластеры, экспериментально не обосновано. Анализом результатов нейтронографических исследований некоторых металлов [46, 52] установлено, что ближний порядок жидкости в какой-то степени сохраняется вплоть до температуры кипения. В натрии о наружена одна структура типа о. ц. к. решетки, сохраняющаяся до высокой температуры расплава (500° С).  [c.43]


Широкий круг физических методов иссле дования поверхностных слоев металлов и сплавов основан на дифракции рентгеновских лучей, электронов, нейтронов. Особенности картин, получаемых при дифракции, определяются длинами волн излучений и законами рассеяния лучей атомами вещества. В рентгеноструктурном анализе используют лучи с длинами волн в интервале 0,05—0,25 нм (Хр = 1,234/и, где и — напряжение, кВ). При обычно применяемых в электронографии напряжениях 20—100 кВ длины электронных волн лежат в пределах 0,008—0,003 нм, т. е. на порядок меньше длины наиболее жестких монохроматнч еских лучей, используемых при рентгеноструктурном анализе. В нейтронографических исследованиях чаще всего используют так называемые тепловые нейтроны, энергия которых соответствует тепловому равновесию с замедляющими м атомами, т. е. закону распределения Максвелла (Хц = 2,521/Т).  [c.64]

Электронографическое исследование кристаллической структуры W проведено в работе [4] значения периодов решетки оказались близкими к приведенным М. Хансеном и К- Андерко (с.м. т. I). Нейтронографическим анализом в работе [5] определены периоды решетки W , хорошо согласующиеся с данными работы [6] а = 2,9065 А, с = 2,8366 А, структурная группа Р6т2. В работе [7] также нейтронографическим анализом показано, что решетка W не соответствует типу NiAs. Методом электронографии [8] определено, что W2 имеет гексагональную решетку типа db [8]. В работе [1] высказано предположение, что решетка W5 3 изоструктурна с Wf.Sia.  [c.266]

Структурные методы исследования (макро-, микро-, рентге-Н0-, электроно- и нейтронографический анализы).  [c.8]

Гл. 2 (автор Дж. Эндерби) отведена проблеме изучения структуры простых жидкостей методом дифракции нейтронов. Нейтронографические исследования существенно дополняют результаты, полученные при помощи рентгенографии, но, к сожалению, они пока очень ограничены. В данной главе рассмотрены теория рассеяния нейтронов, условия осуществления эксперимента, структура некоторых металлов, проведен сравнительный анализ данных рентгено- и нейтронографии.  [c.6]

Метод ЯМР позволяет решать также и вопросы структурного анализ з. Как известно, рентгенографическое определение позиций протонов в водородсодержащих системах, например гидридах, невозможно. В ряде случаев для этого применяется нейтронографический метод, показавший, что, например, в 1тТ 2 протоны располагаются в тетраэдрических порах кристаллической решетки. Для ИНа подобные данные отсутствуют, В [17] методом протонного магнитного резонанса (ПМР) показано, что и в этом гидриде протоны располагаются в тетраэдрических порах. Сопоставление формы линий ПМР и значений Зг для 2гНа и ИНг приводит к выводу, что в гидриде циркония связь прибли  [c.274]

Подробное исследование основных свойств расплавленного теллура было проведено Кабане и Фриделем [34]. Их заключения в значительной степени основаны на нейтронографических исследованиях Турана и Брейля [244, 245], обсуждавшихся в гл. 3, 5, которые показывают, что при умеренных температурах атомы Те связаны в основном тремя ковалентными связями с соседними атомами. В рамках модели молекулярных орбита-лей, обсуждавшейся в гл. 5, 3, третья ковалентная связь приводит к тому, что электрон занимает антисвязывающие ст -со-стояния, которые образуют зону проводимости Те. Поэтому Кабане и Фридель предложили считать, что лежит в зоне проводимости, что находится в соответствии с отрицательными значениями коэффициента Холла. Они также провели подробный анализ данных по сдвигу Найта и пришли к заключению, что его значение согласуется со значением Л (Е/), принятым в их модели. Предполагается, что среднее координационное число 2 уменьшается до значений меньше 3 при Г<500°С [34, 245], но эта тенденция, по-видимому, меньше, чем предполагалось вначале, поскольку Туран [243] недавно-обнаружил, что г = 2,85 при 403 °С. Переход с повышением температуры от образования связей с двумя соседними атомами к образованию трех валентных связей Кабане и Фридель приписали возрастанию энтропии.  [c.174]

Если мы пытаемся провести такой детальный анализ критических точек спектра, то нам необходимо знать с достаточной точностью положение ожидаемых разрывов производной. Если имеются хорошие данные нейтронографических измерений и точные расчеты дисперсии фононов, то можно найти частоты, соответствующие основным критическим точкам. Используя затем правила отбора и анализируя критические точки, можно найти точное энергетическое положение разрыва производной, а затем из частотной зависимости спектра поглощения или комбинационного рассеяния в окрестности этого разрыва найти истинный индекс критической точки, ответственной за эту особенность. В табл. 36 приведены необходимые для такого анализа данные, включающие тип двухфононного процесса, активность в спектрах инфракрасного поглощения или комбинационного рассеяния и природу ожидаемой особенности. В этой таблице мы используем двойные обозначения по типу симметрии, а также, согласно Джонсону и Лаудону, по типу ветви (см. табл. 31). Приводятся только те точки, которые могут давать разрывы производной в соответствии с обсуждавшимся выше критерием, т. е. точки Р/ (ц) с fx < 2 для / = О, 3 и fx < 1 для / = 1,2.  [c.178]


Смотреть страницы где упоминается термин Анализ нейтронографический : [c.364]    [c.321]    [c.440]    [c.10]    [c.8]    [c.38]    [c.130]    [c.51]    [c.836]    [c.838]    [c.840]    [c.842]    [c.846]    [c.848]   
Сплавы с эффектом памяти формы (1990) -- [ c.50 ]



ПОИСК



Анализ нейтронографический зависимость

Анализ нейтронографический качественный

Анализ нейтронографический метод гомологических пар

Анализ нейтронографический некоторые формулы

Анализ нейтронографический пересчет вес

Анализ нейтронографический поправка к межплоскостиым расстояниям

Анализ нейтронографический рассеяние нейтронов на изотопа

Анализ нейтронографический свойства нейтронов

Анализ нейтронографический симметрия точечных электронограмм

Анализ нейтронографический формфакторы рассеяния

Анализ нейтронографический функция атомного рассеяния электронов

Анализ нейтронографический эффективные сечения рассеяния

Анализ нейтронографический, амплитуды

Анализ нейтронографический, амплитуды гексагональной системы

Анализ нейтронографический, амплитуды кубической системы

Анализ нейтронографический, амплитуды наложения

Анализ нейтронографический, амплитуды поглощение нейтронов

Анализ нейтронографический, амплитуды рассеяния нейтронов

Анализ нейтронографический, амплитуды тетрагональной системы

Нейтронографический структурный анализ



© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте