Нейтронографический структурный анализ

Нейтронографический структурный анализ [c.143]

Проведенные недавно исследования не решили однозначно вопроса о существовании окислов А с более высоким содержанием О. Отмечается И], что AgO имеет кубическую структуру, аналогичную структуре 2п8, а — 4,816 0,003 А однако в работах [4, 12—14] сообщается, что структура этого окисла моноклинная. Поданным работ [4, 12], АеО относится к структурному типу тенорита (СиО), но тщательные рентгеновский [13] и нейтронографический [14] анализы показывают, что структура относится к пространственной группе Р2 с. Данные работ [4, 12—14] хорошо согласуются друг с другом по данным [4], а= 5,842 А, Ь = 3,480 А, с = 5,487 А, Р = 107° 27 по данным [12—14], а = 5,852 А, Ь = = 3,478 А, с = 5,495 А, Р = 107° 30. [c.35]

Метод ЯМР позволяет решать также и вопросы структурного анализ з. Как известно, рентгенографическое определение позиций протонов в водородсодержащих системах, например гидридах, невозможно. В ряде случаев для этого применяется нейтронографический метод, показавший, что, например, в 1тТ 2 протоны располагаются в тетраэдрических порах кристаллической решетки. Для ИНа подобные данные отсутствуют, В [17] методом протонного магнитного резонанса (ПМР) показано, что и в этом гидриде протоны располагаются в тетраэдрических порах. Сопоставление формы линий ПМР и значений Зг для 2гНа и ИНг приводит к выводу, что в гидриде циркония связь прибли [c.274]

Электронографическое исследование кристаллической структуры W проведено в работе [4] значения периодов решетки оказались близкими к приведенным М. Хансеном и К- Андерко (с.м. т. I). Нейтронографическим анализом в работе [5] определены периоды решетки W , хорошо согласующиеся с данными работы [6] а = 2,9065 А, с = 2,8366 А, структурная группа Р6т2. В работе [7] также нейтронографическим анализом показано, что решетка W не соответствует типу NiAs. Методом электронографии [8] определено, что W2 имеет гексагональную решетку типа db [8]. В работе [1] высказано предположение, что решетка W5 3 изоструктурна с Wf.Sia. [c.266]

Структурные методы исследования (макро-, микро-, рентге-Н0-, электроно- и нейтронографический анализы). [c.8]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...