Контраст изображения темной точки

I. Контраст изображения темной точки [c.72]

Распределение освещенности получаем, возводя в квадрат амплитуду А у, г ), это дает кривую вида, показанного на фиг. 32, причем величина максимума 2Ji Z) Z равна единице и контраст изображения темной точки при когерентном освещении будет равен (если s мало) [c.98]

Прежде всего исследуем качество изображения темной точки, выделяющейся на светлом фоне. Мы будем пользоваться результатами гл. 4, 1, п. б , где для контраста изображения была получена формула [c.170]

Рис. 4. Схемы записи голограммы (а) и восстановления с нее изображения (б) при необходимости иметь небольшое предварительное увеличение. Если линза возвращается на прежнее место, то действительное изображение восстанавливается без аберраций. Кроме того, при восстановлении изображения в точку можно помещать заслонки для получения фазового контраста, темного и светлого поля, или для наблюдения поляризации.

И соотношение (4.4) дает для контраста изображения маленькой темной точки величину [c.91]

Это вычисление проще, но оно определяет контраст только в центре изображения темной линии, тогда как формула (5.12) позволяет полностью определить кривую распределения интенсивностей для тонкой темной линии и для светлой линии. [c.94]

Таким образом, контраст изображения тонкой темной линии при когерентном освещении выше, чем при некогерентном если сравнить его с выражением (5.16), то найдем, что контраст теперь в 2,36 раза выше, чем при некогерентном освещении. Заметим, что распределение энергии в изображении тонкой светлой линии дается формулой [c.99]

При визуальном испытании контраст светлых и темных полос — решающий фактор. На рис. 30 даны изображения двух точек, частично налагающихся одно на другое. Картина распределения освещенности [c.133]

Яркость и контраст изображения являются важными параметрами, определяющими удобство работы с дисплеем. Первый из них зависит от величины тока луча в ЭЛТ, эффективности люминофора и частоты регенерации. Второй определяется отношением яркости подсвеченной точки к яркости остальных (темных) точек экрана (рис. П9.1). Свечение темных точек определяется отраженным светом и свечением люминофора от попадания на него случайных элект- [c.548]

Измерение размеров кристаллитов (зерен) с использованием дифракции электронного пучка со специально приготовленной тонкой фольгой (или наночастицами) проводится с изменением контраста как в светлом поле (амплитудный контраст — см. рис. 2.1, е 2.2 2.16 2.20), так и в темном поле (фазовый контраст — см. рис. 2.7, а). Высокое разрещение позволяет также получить изображения атомных плоскостей (см. рис. 2.1, о 2.10 2.12 2.23 4.10) с характерной полосчатой структурой и выявлением дислокаций и других дефектов. [c.184]

Контраст на электронно-микроскопическом изображении тонкой фольги определяется упругим и неупругим рассеянием электронов. Неупругое рассеяние ограничивает толщину образца, который можно изучать на просвет оно ответственно за абсорбционный контраст, возникающий при прохождении электронами участков фольги, имеющих различную массовую толщину (например, темные крупные включения в тонкой фольге). Упругое рассеяние вызывает дифракцию и вносит основной вклад в контраст на изображении реальных кристаллов, содержащих различного типа дефекты, выделения второй фазы и т. д. [c.52]

Предположим, что мы записали голограмму наилучшего качества, обработали ее и с нее восстановили изображение. Рассмотрим теперь, каким образом можно исследовать действительное восстановление изображения с помощью стандартных методов микроскопии. Если линза, применявшаяся в процессе регистрации голограммы, при восстановлении изображения снова помещается на то же самое место, что и при записи, то весь свет, не дифрагировавший на объекте, собирается в фокус (рис. 4). Помещая в фокус линзы непрозрачную заслонку, можно получить освещение по методу темного поля. А помещая в фокус линзы фазосдвигающий элемент, можно получить освещение по методу фазового контраста. [c.630]

В случае передачи изображения важной характеристикой волоконного устройства является разрешающая способность по-освещенности. Основным критерием оценки качества изображения является ВИДНОСТЬ У = ( "макс — мин)/( макс -Ь мин), ГДе макс И мин — освещенность светлых и темных деталей предмета. Для оценки этой характеристики используется мира. Из-за перераспределения потоков от разных точек миры, а также проникновения дополнительных помех У фХ. Таким образом, коэффициент передачи контраста К == 1 /1/о также снижается (Уо — ВИДНОСТЬ изображения на входе V—видность на выходе). Коэффициент передачи контраста с увеличением частоты штрихов V миры уменьшается и при частоте Гкр становится равным нулю. Эта частота Vкp связана с разрешающей способностью волоконной детали Я. [c.76]

Метод дифракционного контраста основан на том, что электронные лучи, дифрагированные на дефектах, не попадают в отверстие апертурной диафрагмы, тогда как прямой пучок проходит через него. Это дает изображение в светлом поле. Если же в плоскость изображения попадают только дифрагированные лучи, а прямые лучи ее не достигают (это достигается смещением апертурной диафрагмы), то такое изображение называют темнопольным. В случае метода дифракционного контраста атомные плоскости в отличие от первого метода не разрешаются и наблюдаются результаты смещения атомов, и поэтому дислокации обычно изображаются темными линиями, а дефекты укладки и границы зерен дают интерференционные полосы . Контуры включения избыточных фаз при изучении тонких пленок выявляются достаточно четко из-за изменения условий дифракции, а также из-за интерференционного эффекта и скопления дефектов на границах. [c.77]

Для получения негативного фазового контраста кольцо на пластинке образовано не вытравливанием, а путем нанесения на поверхность стекла тонкой кольцеобразной пленки прозрачного вещества. Получается выпуклое фазовое кольцо, которое вносит запаздывание в прямо прошедший свет. В этом случае объекты с показателем преломления большим, чем у среды, выглядят светлее окружающего фона. Их изображения окружены темными ореолами. [c.30]

Основная причина плохой передачи контраста в малых почернениях заключается в том, что для дешифрирования фотопластинки применяется проходящий свет, т. е. в процессе копирования используется ослабление света, проходящего через фотослой. Концентрация проявленных зерен в пороговой области и в области недодержек характеристической кривой явно недостаточна для воспроизведения модуляций интенсивности при печати. Если же вместо пропускания использовать почернение негатива в качестве рассеивающей среды, этот недостаток полностью исчезает. Каждый, кто занимался практической фотографией, часто замечал, что если рассматривать слабо экспонированный негатив перед темным экраном прн освещении его с обратной стороны, то видно хорошее позитивное изображение. В этом случае для воспроизведения информационного содержания негатива используется свет, рассеянный в слое. [c.61]

Абсорбционные объекты дают контрастные изображения с хорошо выраженными границами между темными и светлыми частями. На них можно обнаружить все детали, которые способен разрешить микроскоп при заданной разрешающей способности. Напротив, изображения рефракционных объектов почти лишены контраста. В таких изображениях трудно, а часто и практически невозможно разрешить детали изучаемого объекта, хотя бы разрешающей способности микроскопа и было достаточно для этой цели. Причина такого различия между абсорбционными и рефракционными структурами состоит в том, что объектив микроскопа воспроизводит в плоскости изображения, а следовательно и на сетчатке глаза, то же распределение интенсивности светового поля, которое существует в плоскости объекта, а светочувствительные нервные окончания сетчатки реагируют именно на интенсивность световой волны, а не на ее фазу. [c.378]

При рассмотренном повороте по часовой стрелке вектор а получается длиннее вектора Ь. Это значит, что светлым местам в изображении амплитудной решетки будут соответствовать светлые же места в изображении фазовой решетки, а темным — темные (позитивный фазовый контраст). Если же векторы с и —с повернуть на 90° в противоположном направлении (рис. 222, положение г), то соотношение между длинами векторов о и Ь, а с ним и соответствие между светлыми и темными частями заменятся на противоположные (негативный фазовый контраст). [c.380]

Контраст изображения, т. е. соотно-а ение между яркостью экрана в темных и светлых участках, определяется интенсивностью электронного пучка, прошедшего соответствующие места отпечатка, и в конечном счете, степенью рассеяния электронов. Вследствие того, что органические вещества, в частности коллодий, обладают низкой рассеивающей способностью по отношению к электронам, контраст будет удовлетворительным лишь для участков отпечатка, а следовательно, и образца с достаточно глубоким рельефом. Поэтому необходимо, чтобы толщина безрельефных участков отпечатка была по возможности меньшей,— тогда в большей степени будет выражена разность толщин в тех участках отпечатка, которые соответствуют различным структурным составляющим, а следовательно, тем выше будет контраст. Однако совершенно очевидно, что толщина бесструктурных участков пленки-отпечатка не может быть меньше глубины общего рельефа образца. Так как обычно средняя глубина травленой поверхности металлографического шлифа составляет величину порядка 500 А, то того же порядка должна быть и толщина отпечатка. Хроматическая аберрация при этих толщинах и ограничивает в основном контраст и разрешающую способность отпечатка. Минимальный контраст достигается при различии в рассеянии соседних участков отпечатка не менее чем на 10%. Поэтому отдельные элементы поверхности с высотой, значительно меньшей указанной величины, будут представляться бесструктурными хотя мелкие детали имеются на отпечатке, рассмотреть их вследствие малого контраста невозможно. [c.47]

Отсюда естественно возникает мысль, что новое фильтрование простран-ственных частот, осуществленное в фотографическом изображении, может его улучшить. Действительно, законы фильтрования — оптический v )] и эмульсии [deiyJ, v )] — оба являются законами пропускания низких частот , и различные частоты постепенно ослабляются вплоть до той, при которой пропускание равно нулю (например, при предельной оптической частоте). Но мы видели, что контраст подробностей в изображениях в сильной степени зависит от хода закона фильтрования — даже стигматический прибор с круглым зрачком дает для изображения маленькой темной линии контраст 8/(1,2Л/а ) в случае некогерентного освещения и приблизительно вдвое больше при когерентном освещении. Однако полная ширина полосы пропускания частот при некогерентном освещении равна 4а Д и только 2а % при когерентном освещении пучком, параллельным оси. Следовательно, изменяя множитель контраста в пределах полосы пропускания, можно заметно влиять на контраст участков изображения. Предыдущие соображения наводят на мысль, что преобразованием этого закона, исходя из случая некогерентного освещения, можно, в частности, вчетверо увеличить контраст изображения маленькой темной линии. [c.253]

При визуальном испытании контраст светлых и темных полос является решающим фактором. На фиг. 65 дано изображение двух точек, частично надагаюгцихся одно на другое. Картина распределения освещенности представлена [c.133]

В приведенных выше примерах левая стойка каркаса закрывает от водителя функционально важную часть дорожного полотна, тем самым вынуждая водителя в некоторых случаях менять позу и выпускать из поля зрения участок дороги, расположенный прямо по направлению движения автомобиля. Зрительное утомление от наличия левой стойки в поле зрения водителя усиливается еще и тем, что темная стойка создает значительный светлотный контраст с небом и поверхностью дороги, в то время как наиболее сильные светлотные контрасты желательно иметь в секторе проезжей части дороги. Во всех трех случаях водителю затруднен задний обзор проезжей части дороги через зеркало, так как заднее стекло загораживается пассажирами, замерзает зимой и отпотевает, а само зеркало располагается на фоне яркого неба, что затрудняет считывание на нем изображения. [c.139]

Поясним зффекты осцилляции видности и сбоя ее фазы, рассматривая различные степени перекрытия элементарных областей когерентности, световое поле в которых представляет собой фурье-образ функции пропускания зрачка. На рис. 104 схематически представлено нормированное распределение амплитуды в такой области когерентности дая четырех характерных участков плоскости изображения в случае круглого зрачка. В точке Ро (рис. 104, в) элементарные области когерентности (спеклы) исходного и смещенного световых полей полностью совпадают, и зта точка соответствует максимуму интерференции (центру светлой интерференционной полосы). С удалением от зтой точки, т.е. с ростом г, уменьшается степень перекрытия элементарных областей когерентности, и интенсивность световой полосы уменьшается. Рис. 104,5 соответствует ситуации, когда главный максимум одного спекла совпадает с первым нулем другого (г = = 3,83), - при зтом контраст п ет до нуля. Далее (рис. 104, в) главный максимум одного спекла совпадает с пертым максимумом щ>угого, имеющим отрицательное значение, и амплитуды оказываются в противофазе, т.е. светлая интерференционная полоса переходит в темную (сдвиг на п). В силу различия значений амплитуд в главноми первом максимумах функции 2/ (т)/т видность в зтом участке знаштельно ниже, чем в окрестностях точки ( 0,13). При дальнейшем удалении от центра вращения видность снова падает до нуля, а затем наступает совпадение главного максимума уже со вторым, имеющим положительное значение (рис. 104,г). [c.198]

Многие препараты почти совершенно бесцветны и прозрачны. Контраст их изображения практически равен нулю, и они не видны. Однако элементы таких объектов, отличающиеся по показателю преломления от окружающей среды, действуют подобно микроскопическим линзам и призмам и отклоняют или рассеивают пучок проходящего сквозь них света. Если лучи отклоняются на столь большой угол, что не попадают в микроскоп, то объекты будут видны более темными. В противном случае для превращения неконтрастных изображений в контрастные прибегают к фазово-кон трастным и интерференционным методам наблюдения. [c.11]

Для объектов съемки со светлыми штрихами или фигурами на темном фоне увеличение контраста связано с ухудшением качества изображения (Frieser H., [40, 41]). Поэтому проявление следует производить до коэффициента контрастности порядка 1,0—1,5. То же остает-и в случае смешанных объектов, например чертежей и карт, где наряду с темными деталями на светлом фоне встречаются светлые на темном [Меркулов, 1959]. В первом и последнем случае слой должен иметь хорошую противоореольную защиту. Для съемки может быть использована фотографическая пленка типа Микрат-200 или Микрат-300 , а при предельно больших уменьшениях оригинала Микрат-ВР [Гороховский, Баранова, 1970]. [c.200]

Все сказанное справедливо для идеальных оптич. систем. Наличие аберраций и несовершенство изготовления ухудшают картину изображения точки, увеличивают размеры дифракционного пятна и уменьшают значение Р. с. Поэтому Р. с. служит критерием качества изображения. Разработан ряд тест-объектов, рассматривание к-рых через испытуемую оптич. систему (или фотографирование) даст возможность получить оценку ее качества. Р. с. зависит от положения тест-объекта относительно оси и обычно ухудпгается при удалении объекта от оси, что объясняется появлением таких аберраций наклонных пучков, как кома, астигматизм, кривизна поля и хроматич. разность увеличения. Р. с. также зависит от контраста объекта относительно фона. При максимальном конт-)асте (яркий объект на совершенно темном фоне) [c.328]

Кинематическая теория контраста на дефектах дает объяснение большинству особенностей получаемых изображений например, изменение контраста в зависимости от угла наклона дислокации к поверхности образца обратный контраст при переходе от светлопольного к темнопольному освещению тот факт, что дислокации видны на светлопольных изображениях в виде темных линий положение и ширина изображений дислокаций наличие пунктирных изображений дислокаций и наконец, то, что некоторые дислокации остаются невидимыми. Основной идеей в этой теории является то, что контраст по существу является фазовым, при этом фазовые изменения вызываются перемещениями атомов около дислокаций. [c.54]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...