Фокусирующие дефекты

VI. Фазовая пластинка, фокусирующие дефекты [c.182]

Можно видеть, что введенная выше фазовая пластинка производит тот же фазовый сдвиг, что и фокусирующий дефект. [c.184]

Обычно этим методом выявляют дефекты площадью более 0,5 см . Чувствительность может быть повышена применением фокусирующих преобразователей. [c.305]

Поле фокусирующего преобразователя. Фокусирующие системы применяют для повышения разрешающей способности, чувствительности (особенно на фоне структурных помех), точности определения координат и размеров дефектов. Разработаны фокусирующие преобразователи различных типов (см. подразд. 3.5). Рассмотрим лишь сферический активный концентратор, так как другие фокусирующие системы могут быть сведены к нему, если рассматривать сходящийся волновой фронт вблизи фокусирующей поверхности как поверхность излучателя, [c.89]

Фокусирующие системы применяют для повышения разрешающей способности, чувствительности (особенно на фоне структурных помех), точности определения координат и размеров дефекта. Принципы фокусировки и основные расчетные соотношения приведены в подразд. 1.3. Существуют четыре основных типа фокусирующих систем [46] активные концентраторы, рефракторы, рефлекторы и дефлекторы. [c.171]

Эффективным методом повышения чувствительности служит фокусировка пучка УЗ-колебаний. В этом случае возможно выявление дефектов с Sg 0,2 мм . Использование фокусирующих преобразователей ввиду узкости пучка требует малого шага сканирования. На практике это приводит к возможности пропуска дефектов при ручном контроле и необходимости сложной сканирующей системы при автоматизированном и механизированном контроле. [c.355]

Па рис. 7.1 показана типичная схема теневого дефектоскопа с визуальным, изображением поля прошедшего излучения. Источник 1 УЗ-волн обычно достаточно большой, чтобы интерференционными явлениями в ближней зоне можно было пренебречь и считать с достаточной точностью поле излучения плоской однородной волной. С этой же целью его, наоборот, можно сделать малым, чтобы работать в дальней зоне, но в этом случае амплитуда поля суш,ественно снизится. УЗ-волны проходят через объект контроля 2. При наличии в объекте контроля дефекта однородность поля нарушается и позади дефекта образуется звуковая тень. Для повышения контрастности и четкости изображения прошедшие лучи обычно фокусируют ультразвуковой линзой 3. В фокальной плоскости линзы возникает акустический рельеф, т. е. определенное распределение интенсивности или амплитуды в плоскости поперечного сечения звукового пучка, соответствуюш,ее наблюдаемому дефекту. Чтобы сделать звуковой рельеф видимым, применяют различные устройства, называемые акустико-оптическими преоб-разователя.ми 4. [c.392]

Поскольку обработку сигналов осуществляют совместно, фронтальную разрешающую способность такой системы определяют по той же формуле, что и для фокусирующего преобразователя Z = 2р X/sin 0 2%. Если нет конструктивных препятствий к увеличению зоны 2L, то разрешающая способность акустической голографии не зависит от глубины залегания дефекта. В этом случае она равна максимально возможной фронтальной разрешающей способности для ультразвукового метода контроля. [c.397]

Известно, что изделия из кварца подвергаются термической обработке при помощи кислородно-водородной горелки. При этом продукты сгорания попадают в материал и производят его газонасыщение, образуя тем самым в зоне обработки дефекты в виде пузырьков, ухудшающих механические свойства изделия. Для устранения указанного недостатка на практике используется иной тип нагревателя кварца, принцип работы которого состоит в том, что излучение от мощного дугового источника тепла с помощью рефлектора фокусируется в точку, в которой производится термическая обработка кварца, предназначенного для прецизионных измерений. Однако данный вид обработки является несовершенным и малоэффективным. Лазерный луч, в силу его высокой монохроматичности и когерентности позволяет по- [c.152]

Лазерное распыление. Лазерный нагрев, так же, как и газоразрядный нагрев, используется для концентрации энергии на поверхности графита. Эта энергия используется для термического распыления графита. При лазерном распылении получают практически только многослойные нанотрубки (с числом слоев от 4 до 24 и длиной до 300 нм). При этом графитовый образец (мишень, на которую фокусируется лазерное излучение) помещают в печь для дополнительного нагрева. По мере уменьшения температуры печи качество нанотрубок ухудшается от бездефектных (при 1200 °С), с большим количеством дефектов (при 900 °С) и до полного отсутствия нанотрубок при 200 °С. Предполагается, что нанотрубки растут в газовой фазе. [c.36]

На качество сварных швов влияет фокусировка луча. Для сварки луч фокусируют в пятно диаметром 0,5...1,0 мм. При меньшем диаметре повышенная плотность мощности приводит к перегреву расплавленного металла, усиливает его испарение появляются дефекты шва. При диаметре более 1,0 мм снижается эффективность процесса сварки. Формирование шва зависит также от положения фокальной плоскости относительно поверхности свариваемых деталей. Максимальная глубина проплавления достигается, если фокус луча будет находиться над поверхностью детали. [c.240]

Реальная разрешающая способность спектрального прибора всегда меньше ее теоретического значения. Поэтому соответственно и реально разрешимый спектральный интервал АЯр окажется большим, чем теоретически разрешимый б Я. Реальное значение АЯр будет определяться не только явлением дифракции на действующем отверстии прибора, но будут иметь место и другие уширяющие факторы, а именно конечная ширина входной щели, дефекты фокусирующей оптики и фокусировки прибора, размытие изображения вследствие зернистого строения эмульсии и др. Это приведет к тому, что результирующий контур спектральной линии будет представлять собой свертку функций, каждая из которых описывает контур, определяемый одним из факторов уширения. Результирующая ширина наблюдаемого аппаратного контура линии приближенно может быть определена следующим выражением [c.483]

Поверхность детали освещается ультрафиолетовыми лучами от ртутно-кварцевой лампы /. При наличии дефекта свечение от него фокусируется линзой 2 на поверхность зеркала 3, которое вращается электродвигателем. В результате вращения зеркала и некоторого качания свет от дефекта 4 попадает через отверстие зеркала на катод фотоэлектронного умножителя 5. Рассеянные ультрафиолетовые лучи задерживаются фильтром б. От фотоумножителя электрический 272 [c.272]

Конечно, для получения звукового изображения не обязательно применять звуковые линзы, для этой цели можно использовать и другие виды звуковых фокусирующих систем, как, например, зеркала, действие которых не зависит от частоты. Но зеркала имеют другие дефекты, связанные с тем, что приборы, необходимые для воспроизведения звукового изображения, затеняют существенную часть лучей, падающих на зеркало, что тоже в конечном счете приводит к искажению изображения. [c.96]

При контроле сварных соединений из аустенитных сталей, особенно при малом содержании ферритной фазы и толщине более 10 мм, наблюдается высокий уровень структурных помех. Для отстройки применяют наклонные преобразователи, излучающие и принимающие продольные волны, с призмами с углами наклона меньше первого критического (18. .. 24° в плексигласе), раздельно-совмещенные наклонные преобразователи с углом схождения 15° и более, наклонные фокусирующие преобразователи, а также используют двухчастотный способ контроля. Эхо-сигнал считают отражением от дефекта только в том случае, если он возникает при контроле на двух частотах, отличающихся в 1,5 раза (например, 1,8 и 2,7 МГц). [c.257]

Отличительной особенностью систем автоматического обнаружения дефектов поверхности является использование протяженного (полосового) источника света, излучение от которого освещает поверхность, подлежащую исследованию. Свет, отраженный поверхностью, вновь отражается поверхностями вращающейся призмы и фокусируется на щели, затем фотоумножителем преобразуется в электрический сигнал. При вращении призмы положение мгновенного поля зрения сдвигается от одного края контролируемого листа к другому, так что его поверхность оказывается оптически развернутой в пределах поля зрения, равного 560 мм по направлению, перпендикулярному движению контролируемого материала. Размер мгновенного поля зрения выбирается близким к минимально обнаруживаемому поверхностному дефекту. Когда размеры мгновенного поля зрения уменьшаются, отношение сигнал/шум для дефекта того же размера увеличивается. Минимально обнаруживаемый дефект 0,1 мм в диаметре. Применение металлического вращающегося зеркала увеличивает скорость сканирования в четыре раза по сравнению со стеклянным. Можно контролировать поверхность материала, двигающегося со скоростью свыше 15 м/с. [c.506]

На качество сварных соединений влияют условия фокусировки лазерного изл) ения. Для сварки лазерное излучение фокусируется в пятно диаметром 0,5... 1,0 мм. При меньшем диаметре пятна повышенная плотность мощности приводит к значительному перегреву расплавленного металла шва, интенсификации процессов испарения металла и вследствие этого в шве появляются дефекты. При диаметре сфокусированного лазерного излучения >1,0 мм снижается эффективность процесса сварки. [c.426]

На рис. 3-41,а изображен несколько иной метод получения изображения дефектов, предложенный С. Я. Соколовым. В этой схеме ультразвуковые волны, пройдя акустическую среду 4, попадают в исследуемый металл 1 и отражаются от дефекта 2. Отраженные от дефекта ультразвуковые волны, снова пройдя через жидкостную среду 4, фокусируются акустической линзой на приемную, находящуюся -в вакуумной трубке пьезоэлектрическую пластинку 6, вызывая ее колебания, вследствие чего на ее поверхностях образуются пьезоэлектрические заряды. Внутренняя [c.120]

При радиографическом способе изображение просвеченной отливки фокусируется на фотопленке или на ксерографической пластине. Наиболее почерневшие места на фотопленке показывают в плоскости площадь и место размещения дефектов. При этом метод регистрации позволяет определить и глубину залегания дефектов (способ съемки отливки со смещением источника излучения). [c.211]

В дефектоскопии существует два основных варианта использования фокусирующих преобразователей. Первый вариант—применение фокусировки для повышения чувствительности и разрешающей способности контроля дефектов, залегающих на заданной глубине. Схема расположения преобразователей показана на рис. 4.10 а — для эхо-метода и б — для теневого метода. Второй вариант — применение фокусировки для повышения отношения сигнал — шум и выравнивания чувствительности по глубине при контроле материалов с высоким затуханием. Схема расположения преобразователей для этого варианта показана на рис. 4.11 а — для эхо-метода и б — для теневого метода. [c.99]

Фокусирующими называют преобразователи, обеспечивающие концентрацию энергии акустического поля в определенной области — фокальной зоне, которая имеет вид кружка (сферическая фокусировка) или полосы (цилиндрическая фокусировка). В дальнейшем рассмотрена сферическая фокусировка, но полученные закономерности в основном справедливы также для цилиндрической фокусировки. Фокусирующие преобразователи применяют для повышения чувствительности к дефектам, точности определения их положения и размеров. [c.86]

Фронтальная разрешающая способность ультразвуковых эхо-дефектоскопов обычно хуже, чем лучевая, и лимитирует возможности распознавания объекта (см. п. 2.4.3). Использование фокусировки позволяет уменьшить ее до 2Я, (1.6.4), т. е. сделать примерно равной лучевой. Однако фокусирующие преобразователи эффективны на небольшой глубине (в ближней зоне) и имеют большие размеры. Радикальное средство повышения фронтальной разрешающей способности — когерентная обработка информации, содержащейся в акустическом поле, возникшем в результате дифракции на дефектах. Рассмотренные в гл. 2 некогерентные методы контроля основаны на анализе амплитуды отраженного или прошедшего через дефектный участок акустического поля. Когерентные методы основаны на совместном анализе не только амплитуды, но и фазы поля в большом количестве близкорасположенных точек в пределах значительного участка поверхности ОК. Их называют также методом синтезированной апертуры. [c.269]

Фокусирующие системы применяют для повышения разрешающей способности, чувствительности (особенно на фоне структурных помех), точности определения координат и размеров дефектов. Существуют четыре основных типа фокусирующих систем. [c.90]

Специальные преобразователи. Фокусирующие преобразователи улучшают направленность излучения, что приводит к увеличению амплитуды эхо-сигналов (от мелких дефектов) и повышению отношения сигнал—помеха. Фокусировки достигают применением искривленной пьезопластины, рефлектора или собирающей линзы, Фокусировка чаще [c.218]

Рабочую АРД-диаграмму строят для конкретных параметров контроля материала изделия, частоты упругих колебаний, радиуса преобразователя, угла ввода луча. В качестве основного сигнала используют бесконечную плоскость или фокусирующую цилиндрическую поверхность. В ряде случаев в качестве основного сигнала целесообразно использовать эхо-сигнал от бокового цилиндрического отражателя. При этом допустимо большее отклонение рабочей частоты от номинального режима, чем при настройке по фокусирующей поверхности, а основной эхо-сигнал формируется за счет той центральной части ультразвукового пучка, которая формирует эхо-сигнал от абсолютного большинства реальных дефектов. При этом для определения эквивалентной площади дефектов целесообразно использовать обобщенную SKH-диаграмму, построенную для определенного контролируемого материала (рис. 48). Быраже- [c.233]

Один из эффективных способов 1ювышения помехоустойчивости при контроле аустенитных швов — использование фокусирующих ПЭП. В этом случае на дефект падает высокоинтенсивный пучок, который отражается от дефекта с амплитудой, превосходящей амплитуду сигнал от помехи. По сравнению с обычным ПЭП озвучивается значительно меньший объем шва и, следовательно, уменьшается число источников помех. Наиболее подробно влияние эффекта фокусировки на увеличение отношения полезный сигнал —помеха рассмотрено в работе 1931. Изучалось про- [c.346]

Установлено, что у наклонных фокусирующих ПЭП на продольные и SH-Bojum смещение фокуса относительно расчетного не превышает 1. .. 2 мм и не наблюдается его заметной расфокусировки, Это объясняется тем, что на границе основной металл — металл нгва продольные и 5Я-болны незначительно преломляются и отражаются, тогда как SV-волны практически отклоняются от прямолинейного направления распространения. Эти результаты убедительно подтверждаются данными [40], согласно которым продольные и 5Я-волны почти полностью входят в сварной шов при углах падения от О до 75°. 5У-волны при углах падения более. 37° полностью отражаются. Авторы работы [9.3] отмечают, что фокусирующие ПЭП эффективны только при контроле сварных швов, в которых дефекты залегают на вполне определенной глубине. [c.347]

Контроль труб. При контроле тонкостенных труб (Я = - 0,15. .. 3,00 мм) диаметром 3,5. .. 60,0 мм из различных металлов и сплавов применяют установки Микрон-3 и Микрон-4 . Принцип работы установок основан на использовании импульсного эхо-метода в иммерсионном варианте (толщина слоя около 30 мм) при вращении преобразователей со скоростью до 3000 мин- и поступательном перемещении контролируемых труб. Акустическая система состоит из акустического блока с восемью преобразователями по четыре для контроля на продольные и поперечные дефекты. Для повышения надежности контроля про-звучивание трубы осуществляют во взаимно противоположных направлениях, при этом преобразователи с одинаковым направлением излучения располагают сдвинутыми на 180°, что позволяет увеличить шаг сканирования в 2 раза. Рабочая частота контроля равна 5 МГц. Преобразователи для выявления продольных дефектов выполнены фокусирующими. Методика контроля обеспечивает возможность быстрой настройки аппаратуры и оперативной ее перестройки при переходе с одного диаметра на другой. Установка содержит блок регистрации и дефектоотметчик с точностью 20 мм. [c.381]

ЛОМ С ТОЧКИ Зрения влияния фокусирующих столкновений на степень радиационного повреждения материалов следует отметить, что их роль является двоякой. Во-первых, на фокусировку столкновений расходуется часть энергии каскада и, следовательно, эта энергия не используется для образования смещений, в связи с чем число пар Френкеля будет меньше по сравнению с оценками для модели аморфной среды. Во-вторых, поскольку в результате образования динамического кроудиона вакансии и смещенный атом, составляющие пару Френкеля, оказываются на значительном удалении друг от друга, вероятность последующего уменьшения числа дефектов за счет взаимной аннигиляции должна быть меньше. Таким образом, предполагается, что фокусировка увеличивает степень радиационного повреждения в условиях, облегчающих взаимную рекомбинацию дефектов (высокие температуры облучения, отсутствие стоков), и, напротив, способствует снижению уровня повреждения, если точечные дефекты заморожены в решетке (низкая температура, наличие примесных атомов, большая плотность стоков и т. д.). [c.201]

Аналогичные явления возникают и в спектральном приборе. Если бы при строго монохроматическом излучении и бесконечно узкой входной щелп изображение — спектральная линия — имело бесконечно малую ширину, то такой спектральный прпбор можно было бы назвать идеальным. Однако в реальном спектральном приборе из-за дифракции, остаточных аберраций фокусирующей системы и возможных дефектов оптических деталей снектра.льпая линия (даже прп бесконечно узкой входной щелп и строго монохроматическом излучении) имеет конечную ширину с определен- [c.41]

Для расслоений Л в=0,7...0,85. Многообразие дефектов сварных швов по характеру, ориентации и местоположению приводит к тому, что Кв для объемных дефектов находится в диапазоне 0,5... 1,2. Для плоских дефектов область значений Кв значи- тельпо ниже. Значение /Св> 1 для некоторых дефектов объясняется фокусирующей конфигурацией их отражающей поверхности. [c.61]

Фокусирующие искатели улучшают направленность излученпя, что приводит к увеличению амплитуды эхо-сигналов (для мелких дефектов) и повышению отношения сигнал — помеха. Фокусировка достигается применением искривленной пьезопластины, рефлектора илп собирающей линзы. Фокусировка чаще всего бывает сферической (звуковые лучи собираются в точку) или цилпнд- [c.191]

Частично это реализовано в ПЭП типа ИЦ-13 с фокусирующей линзой-протектором, имеющей вырез по форме контролируемого изделия. Изменение угла ввода позволяет изменять положение фокального пятна относительно поверхности изделия и таким образом регулировать разрещающую способность по глубине (см. рис. 4.6, ж). Используя пьезоэлементы большого размера до 75 мм и применяя фокусирующую линзу, можно достигнуть на глубине 300 мм диаметра фокального пятна менее 8 мм. Такие ПЭП, излучающие продольные волны и поперечные с углами ввода 45 и 60°, с рабочей частотой 2 МГц созданы фирмой Крауткремер. (ФРГ). В силу большой фронтальной разрешающей способности они позволяют различать отдельные мелкие дефекты в скоплениях, уточнять конфигурацию и ориентацию дефектов. Однако, по нашему мнению, для сохранения высокой производительности контроля ПЭП должны иметь пьезоэлементы цилиндрической формы, создающие линейчатый фокус в плоскости, ортогональной плоскости падения. Такие ПЭП созданы во ВНИИАЭС. Для практики весьма необходимо создание наклонных РС-ПЭП с приближенно равномерной чувствительностью по глубине. [c.120]

Малость длины волны обусловливает лучевой характер распространения УЗ-вых волн. Даже при относительно небольшой величине характерного размера D параметр Р для среднего и высокочастотного диапазонов УЗ невелик, из чего следует, что вблизи излучателя УЗ-вые волны распространяются в виде пучков, поперечный размер к-рых сохраняется близким к размеру излучателя. Попадая на крупные препятствия или неоднородности в среде, такой пучок (УЗ-вой луч) испытывает регулярное отражение и преломление. При попадании УЗ-вого луча на малые препятствия или дефекты возникает рассеянная волна, что позволяет обнаруживать в среде весьма малые неоднородности, порядка десятых н сотых долей мм. Отражение и рассеяние УЗ на неоднородностях среды позволяют формировать в оптически непрозрачных средах звуковые изображения предметов, используя звуковые фокусирующие системы (см. Фокусировка звука) тюдобно тому, как это делается с помощью световых лучей. Сам процесс фо- [c.10]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...