Спектрограмма

Действительно, данные о распределении энергии импульса по частотам, доставленные такой идеальной спектрограммой, позволили бы воспроизвести только коэффициенты отдельных элементов ряда (интеграла), на которые согласно теореме Фурье можно разложить импульс, ибо интенсивность отдельной спектральной линии определяется соответствующим коэффициентом разложения. Однако форма импульса зависит не только от значения этих коэффициентов, но также и от соотношения фаз отдельных его компонент. Поэтому импульсы самой разнообразной формы могут соответствовать одним и тем же значениям коэффициентов Фурье и, следовательно, давать одно и то же спектральное разложение. Таким образом, задача о разложении данного волнового импульса в спектр при помощи заданного аппарата решается однозначно. Воспроизведение же исходного импульса по его спектру, даже полученному с помощью прибора бесконечной разрешающей силы, остается неопределенной задачей. [c.220]

Ранее неоднократно подчеркивалось, что изменение амплитуды импульса со временем в какой-либо точке пространства с необ.хо-димостью означает конечность ширины его спектра если импульс направить в спектральный аппарат с подходящей разрешающей способностью, то на спектрограмме мы обнаружим излучение, сконцентрированное в некотором интервале частот Ао) около средней частоты (Оо, входящей в аргумент косинуса в выражении (234.1). Величина интервала частот (так называемая спектральная ширина импульса) связана с длительностью импульса Т соотношением (см. 21) [c.829]

Расшифровка спектрограммы — поиски линий в спектре и их отождествление — выполняется чаще всего с помощью спектро- [c.12]

Зависимость интенсивности в центре изображения щели и его ширины от ширины щели для когерентного и некогерентного освещения иллюстрируется кривыми 1—4 на рис. 6. Различиями в этой зависимости (кривые 3 и 4) объясняется небольшое ухудшение четкости изображения линий на спектрограммах при фокусировке источника света на щель прибора. [c.21]

Для совмещения фотопластинки с фокальной поверхностью производится фокусировка камерной части. Это делается в несколько этапов. Прежде всего производится предварительная фокусировка с помощью лупы и матового стекла. После этого фокусировка ведется фотографическим способом по методу последовательных приближений. Пользуясь тем, что ось вращения кассетной части камеры лежит в плоскости фотопластинки, вначале производится фокусировка камерного объектива для узкого участка спектрограммы вблизи оси вращения. Из серии последовательных фотоснимков, сделанных на одной пластинке при одинаковых временах экспозиции, но при различных положениях камерного объектива, выбирается такой снимок и такое положение объектива, при которых указанный узкий участок спектрограммы имеет наиболее резкие изображения линий . [c.27]

Степень резкости линий можно оценить, рассматривая спектрограмму в измерительный микроскоп МИР-12 и измеряя видимую ширину линий. [c.27]

Спектрограмму хорошего качества можно получить лишь при" правильном выборе экспозиции при фотографировании спектров. Ее оптимальная величина подбирается опытным путем по пробной фотопластинке, где фотографируют ряд спектров с выдержками,, отличающимися одна от другой в 2—3 раза (например, 1, 2, 5, 10, 20 с и т. д.). Оптимальной считается экспозиция, при которой характерные группы линий, выбранные для оценки фокусировки или для дальнейшей работы, имеют достаточные для измерений почернения, но не передержаны, что снизило бы практическую разрешающую силу спектрографа. [c.28]

Интенсивности линий на спектрограммах могут сильно зависеть от многих факторов концентрации атомов соответствующего элемента в образце, способов возбуждения и фотографирования спектров, интенсивности в спектре излучения выбранной для анализа линии и от ряда других экспериментальных условий. При неблагоприятных условиях анализа выбранная линия может получиться на спектрограмме очень слабой или вовсе отсутствовать она может также маскироваться близкими по длине волны линиями других элементов. [c.29]

При анализе на заданные элементы нужно выяснить, присутствуют ли в исследуемом образце вполне определенные химические элементы. Для решения этой задачи на спектрограмме разыскиваются линии заданных к определению элементов. При полном качественном анализе решается обратная задача — по линиям, зарегистрированным на спектрограмме, нужно узнать, какие химические элементы входят в состав исследуемого образца. [c.31]

Условия проведения анализа — аналитические линии, способы испарения пробы и возбуждения спектра, тип спектрографа и техника получения спектрограмм — в своей совокупности составляют методику анализа. Во многих случаях в зависимости от объема предварительных сведений о пробе методику анализа можно-выбрать заранее. [c.31]

Фокусировка спектрографа в данной задаче производится только изменением угла поворота кассетной части. При различных углах поворота делают несколько снимков спектра железа. По резкости линий в крайних участках спектрограммы выбирается лучший угол, при котором и ведутся все дальнейшие съемки. Если в задаче используются спектрографы типов ИСП-30, СТЭ-1, фокусировку кассетной части проводить не нужно. [c.35]

Время экспозиции определяется экспериментально по результатам съемок пробной фотопластинки. Для этого фотографируют серию спектров образца, для которого определяется экспозиция с различными выдержками, отличающимися в 2—2,5 раза например 1, 2, 5, 10, 20,. .. с. По ним выбирается лучшее время экспозиции. На спектрограмме анализируемой пробы должен появляться еле заметный фон непрерывного спектра. Для железа достаточно меньшей выдержки, при которой появляются лишь наиболее сильные линии. Спектры основного элемента пробы или угольных электродов фотографируются с выдержками, при которых их линии немного ярче, чем аналогичные линии в спектре пробы. [c.35]

Расшифруйте спектрограмму и определите присутствуют ли в предложенном для анализа образце латуни элементы А1, Мп, Ре, 8п, РЬ, 2п. [c.39]

Расшифруйте полученную спектрограмму и определите элементы (металлы), входящие в состав раствора солей, предложенного для анализа. Определите наличие загрязнений в угольных электродах. [c.39]

Для того чтобы измерить относительную интенсивность / = — х/Ь двух линий аналитической пары достаточно определить отношение любых пропорциональных их величин. С этой целью можно воспользоваться характеристической кривой фотопластинки, дающей однозначную связь между почернением фотографической эмульсии и интенсивностью падающего на нее света (см. введение). Измерив почернения и линий на спектрограмме, по характеристической кривой, построенной для той же пластинки, можно найти соответствующие значения lg/l и lg/2, разность между которыми дает искомое значение Ig/l//2 = Ig . Этот способ нахождения относительных интенсивностей получил название метода фотографической фотометрии. [c.44]

Оптическая схема спектральной установки показана на рис. И. Для получения спектрограммы используют кварцевый спектрограф ИСП-22, описание которого дано в задаче 2. Ширина щели берется равной 0,025 мм. Освещение щели при количественном анализе должно быть таким, чтобы совершенно исключалось виньетирование щели и источника света и чтобы освещение по высоте щели было строго равномерным. Наиболее полно этим условиям отвечает трехлинзовая ахроматическая система освещения (рис. 12). Порядок работы при установке линз и источника света на оптическом рельсе указан в описании задачи 2. [c.45]

Упражнение 2. Обработка спектрограммы. [c.49]

Разыщите аналитические линии и отметьте положение их на спектрограмме. [c.49]

Пользуясь микрофотометром, измерьте почернения отмеченных линий и нескольких линий на спектрограмме, полученной г помощью ступенчатого ослабителя. [c.49]

Делают несколько пробных снимков спектров алюминия и железа для определения выдержки и фокусировки спектра. По спектрам, снятым при разных положениях кассеты спектрографа, находят положение, соответствующее наилучшей резкости линий на спектрограмме (см. задачу 2). [c.64]

Первоначально снимите несколько спектрограмм при разных давлениях газа (гелия или аргона) в диапазоне от 50 до 400 Па. Силу тока поддерживайте постоянной ( 50—100 мА). Затем сфотографируйте спектры при разной силе тока и постоянном давлении. Давление установите вблизи оптимального для линии лития 670,78 нм (последнее оценивают путем визуального сравнения снятых спектрограмм). Силу тока изменяйте от 20 до 100 мА через 20 м А. [c.86]

Полученные спектрограммы обработайте на микрофотометре, (см. стр. 48). С помощью кривой почернения найдите интенсивности линии Ы1 670,78 нм и одной из близлежащих линий аргона или гелия. Постройте графики зависимостей интенсивности линий от давления и силы тока. [c.86]

Для проведения качественного анализа необходимо определить частоты V линий комбинационного рассеяния. Спектром сравнения, при помощи которого расшифровывается полученная спектрограмма, обычно служит спектр железа. В этом случае в непосредственной близости от спектра рассеяния встык с ним [c.129]

Сфотографировав СКР смеси и марки почернения, приступают к обработке спектрограммы. Фотометрирование на микрофотометрах МФ-2 (или МФ-4) проводят с шириной щели 0,2—0,3 мм. По правилам фотографической фотометрии (см. задачу 3) определяют наблюдаемые интенсивности в максимуме юм, асм и /зсм для трех линий, принадлежащих трем компонентам исследуемой смеси. Найденные таким образом величины характеризуют истинные интенсивности линий /юм, hem и /зсм, взятые по отношению к интенсивности спектра флуоресценции сернокислого хинина, поскольку он использовался для съемок марок почернений. Поэтому [c.142]

Применение спектрального метода. Для реализации этого метода необходима аппаратура, с помош,ью которой можно измерять амплитуды эхо-сигналов при изменении частоты УЗК в 2—3 раза. На рис. 56, а—г показаны спектрограммы для характерных дефектов. Амплитуда сигнала от плоскостного дефекта, ориентированного неперпендикулярно направлению ультразвуковых волн, изменяется немонотонно. Частота осцилляций тем больше, чем больше дефект и угол падения [c.247]

Например, на рис. 175, д приведена спектрограмма реализации угловой скорости вращения ведомого шкива зубчато-ременной передачи главного агрегата промышленной швейной машины. Аргументом здесь является приведенная к одному из элементов [c.560]

С noMoui,bj o Ma - i rjKiporpa-фа можно не только измерять массы атомов отдельных изотопов, но и определять по плотности почернения линии масс-спектрографа содержание отдельных изотопов в данном элементе. Очевидно, что интенсивность линии изотопа на спектрограмме прямо пропорцио- [c.319]

Для простоты и наглядности рассуждений будем считать, что разность между o)i и (02 (а также между со2 и м3) значительно превышает ширину аппаратной функции йм. Тогда измерение интенсивности света на одной частоте не приведет к искажению измерений на другой частоте и мы зарегистрируем три максимума. Пусть приемник света в исследуемом интервале частот малоселективен, а поглощение радиации в самом приборе неселективно. Тогда отношение квадратов амплитуд (или отношение площадей под тремя пиками на спектрограмме) будет равно отношению . Если преодолеть трудности с калибровкой прибора, всегда сопутствующие абсолютным измерениям , то сумма указанных площадей определит среднее значение исследуемой функции. [c.69]

Сложнее выглядит интерферограмма на рис. 5. 51,6 произвольного сигнала- Однако, так же как и более простые графики в верхней части рисунка, она однозначно связана со спектром сигнала. Чтобы найти этот спектр, гфедставленный в левой части рис. 5.51,в, надо провести Фурье-анализ интерферограммы. В некоторых случаях такая сложная методика оказывается более результативной, чем прямой анализ спектра каким-либо спект-paj7bHbiM прибором. Так, например, в далекой инфракрасной области спектра в Фурье-спектрограмме получается оптимальное соотношение сигнал/шум. [c.236]

Рис. 10.26. Две спектрограммы двойной звезды а Близнецов, снятые в различные моменты времени. Только одна из двух звезд этой системы излучает свет, достаточно интенсивный для наблюдения. Заметьте, что линии спектра звезды сдвинуты относительно линий контрольного спектра, полученного в лаборатория, в различных направлениях соответственно двум стадиям движения звезды. В первой стаднн звезда движется по направлению к Земле, и частота света возрастает во второй стадии звезда удаляется от Земли, и частота уменьшается. /, —контрольные спектры, полученные в лаборатории 2 — звезда приближается 3 — звезда удаляется.

Следует, однако, помнить, что хотя при наличии прибора бес-гокечко большой разрешающей силы вид спектрограммы однозначно определялся бы формой н.мпульса, обратное заключение [c.219]

В монохроматоре (или спектрометре) нужная длина волны определяется положением выходной щели относительно диспергирован,ного спектра. В спектрографе на месте выходной щели ставится фотографическая пластинка с широким интервалом чувствительности, на которой интенсивность света на каждой длине волны регистрируется в виде серии более или менее непрозрачных полос или линий. Полученная таким образом спектрограмма сканируется световым пятном,, и детектор регистрирует плотность полос на спектрограмме в зависимости от длины волны. Прибор, работающий по такому принципу, называется микрофотометром. [c.167]

Спектр исследуемого вещества регистрируется визуально, фотографически или средствами фотоэлектрической регистрации. Фотопластинка, на которой сфотографирован спектр или запись, полученная с помощью регистрирующего устройства, называется спектрограммой. [c.6]

При выбранном положении камерного объектива, но при различных углах наклона е фотопластинки, делается серия фотогра- фий того же спектра. Рассматривая в микроскоп крайние участки полученных изображений спектра и сравнивая их, находят такой угол наклона, при котором все линии на спектрограмме окажутся одинаково резкими. [c.27]

Определение А1, Ре, Мп, 8п, РЬ, 2п в латуни (анализ на заданные элементы). Спектрограмму получают следующим образом. На фотопластинке фотографируют спектр исследуемого образца— латуни и по обе стороны от него — спектры железа и меди. Экспозицию для спектра меди выбирают несколько большей, чем для спектра латуни (на л 20%). Фотографирование спектров ведут с применением гартмановской диафрагмы. Спектр железа в дальнейшем служит шкалой длин волн при расшифровке спектр меди используют при выборе последних линий, не имеющих наложений с линиями меди. [c.36]

При расшифровке спектрограмм используют спектропроектор, атлас спектров и таблицы спектральных линий. На экране спект-ропроектора получают увеличенные в 20 раз изображения отдельных участков спектрограммы. Атлас спектров представляет собой набор планшетов с фотографиями отдельных участков спектра железа, где отмечены положения последних и наиболее интенсивных линий большинства элементов. Фотографии получены с тем же увеличением, что и у спектропроектора. В таблицах спектральных линий приведены длины волн спектральных линий всех элементов и длины волн последних линий. [c.36]

Рассмотрим порядок проведения анализа на какой-либо один элемент из числа заданных. Прежде всего необходимо разобраться в спектре железа. Для этого, сравнивая полученную спектрограмму со стандартной, имеющейся в лаборатории, нужно отметить на фотопластинке характерные линии и группы в спектре железа, указанные на стандартной спектрограмме. Сравнение можно провести путем наложения спектрограмм, пользуясь при этом лупой. Из таблиц последних линий нужно выписать длины волн линий определяемого элемента и их интенсивности. Далее, ориентируясь по отмеченным группам в спектре железа, на экран спектропроектора проектируется тот участок спектрограммы, где предполагается присутствие последних линий. Изображение спектра железа нужно совместить с изображением его на соответствующем планшете атласа спектров. Зная длины волн разыскиваемых линий и пользуясь спектром железа как шкалой длин волн, находят места на спектрограмме, где должны располагаться эти линии. Рассмотрим следующие две возможности отождествления линий. [c.36]

Такой порядок фотографирования спектров позволит упростить процесс отождествления линий на спектрограмме. Начинать расшифровку нужно со снимка, соответствующего последним 5 с испарения пробы (из общего времени испарения 20 с), содержащего наименьщее число линий. На нем будут зарегистрированы лишь последние и наиболее интенсивные линии элементов исследуемой смеси. [c.37]

Рассматривая спектрограмму через спектропроектор, можно отождествить последние линии на спектрограмме с последними линиями, отмеченными в атласе спектров. Таким образом, по крайней мере один компонент из числа присутствующих в иссле- [c.37]

Расшифровка спектрограмм и определение длин волн линий алюминия. Расшифровку снятых спектрограмм удобнее всего производить на спектропроекторе ПС-18, пользуясь атласом спектральных линий. Определение длин волн линий алюминия производят либо непосредственно по шкале длин волн, имеющейся в атласе (после того как на экране спектропроектора достигнуто совмещение спектров атласа и спектрограммы), либо, более точно, путем промера спектрограммы на измерительном микроскопе МИР-12 или компараторе ИЗА-2. (Подробнее о методах расщиф-ровки спектров и измерения длин волн линий см. задачу 2.) [c.65]

При измерениях щирин линий на спектрограммах рекомендуется пользоваться упрощенным приемом, позволяющим не измерять и не строить весь контур линии. Для этого нужно измерить почернение в максимуме линии и почернение фона, по кривой почернений найти интенсивность в максимуме линии и интенсивность фона и определить почернение, соответствующее половинной интенсивности. Затем по фотометрируемому контуру линии непосредственно на микрофотометре определить расстояние между точками контура с половинной интенсивностью. Далее перевести это линейное расстояние в расстояние в длинах волн Ак. Таким образом можно достаточно быстро получить больщой статистический материал. Для уяснения всей формы линии следует измерить и построить один контур полностью. [c.276]

Анализ функции спектральной плотности (спектрограммы) показывает, что максимальный пик Ki связан с поперечными колебаниями ремня клиноременной передачи. Для уменьшения его вклада в флуктуацию исследуемого параметра (скорости вращения ведомого звена) необходимо увеличить жесткость ремня и установить натяжной ролик. Пик связан с бнением вала подшипников и его величина растет по мере износа передачи. [c.560]

В простейшем случае щелочных металлов, как мы уже указывали, линии, принадлежащие к одной серии, могут быть непосредственно, на глаз, обнаружены при рассматривании спектрограммы они образуют характерную группу линий, сбегающихся к фиолетовому концу спектра. В более сложных спектрах такие группы линий обычно не могут быть замечены. Однако если от спектров испускания перейти к спектрам поглощения, то в ультрафиолетовой части и в сложных спектрах нередко удается обнаружить сбегающуюся группу линий, образующих серию. Это обусловлено, во-первых, тем, что в спектре поглощения наблюдаются лишь те серии, для которых начальный уровень является нормальным з ровнем атома, благодаря чему весь спектр становится значительно проще, чем в испускании во-вторых, тем, что в поглощении удается обнаружить значительно больше последующих членов серии, чем в испускании. [c.74]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...