Спектрограммы «марочные

Рис. 335. Серия марочных спектрограмм эталонного источника (а) и спектрограмма исследуемого излучения (б).

В наиболее строгих условиях спектрографических измерений следует на той же фотопластинке, где получен исследуемый спектр, произвести съемку серии марочных спектрограмм эталонного источника (спектров сравнения). Способы ослабления интенсивности эталонного источника были подробно рассмотрены в гл. 6. Здесь же следует еще раз подчеркнуть, что они должны быть строго неселективными, чтобы распределепие энергии в спектре не было искажено. [c.442]

В первом случае следует пметь на той же фотопластинке марочные спектрограммы от какого-либо источника. При этом лучших результатов достигают, когда марки почернений получаются в одном процессе съемки исследуемой спектрограммы. С этой целью около диафрагмы с можпо установить вращающийся ступенчатый сектор, который вместе с изображением диафрагмы проектируется на входную щель спектрографа. Это дает две системы спектрограмм, разделенных на ступеньки. Последние позволяют построить для каждой длины волны две параллельные друг [c.520]

Применение фотометрических сеток или ослабление но закону квадратов расстояния связано с длительными операциями по экспонированию спектров. Это требует особых мер стаби.тизацпи режима источника света. Применение ступенчатого вращающегося сектора или ступенчатой щели позволяет сократить это время кроме того, здесь все марочные спектрограммы получают однО" [c.445]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...