Нарушенное полное отражение

Другой метод обнаружения возмущения в менее плотной среде основан на помещении второй преломляющей среды на близком расстоянии от границы, где происходит полное отражение. Сделав прослойку менее плотной среды (например, воздуха между стеклами) тоньше, чем длина волны, можно получить во второй среде обычную однородную световую волну, так как неоднородная волна в прослойке достигает второй границы еще не слишком ослабленной. Меняя толщину прослойки, можно варьировать интенсивность проходящего света. На таком принципе работает один из модуляторов света. Прохождение света через зазор между средами при падении под углом, большим предельного, называют нарушенным полным отражением. В такой ситуации необходимо учитывать граничные условия и на второй близкой поверхности. Вно- [c.155]

Схема опыта, демонстрирующего нарушенное полное отражение [c.156]

Рис. 3.6. Призменный элемент связи, использующий эффект нарушенного полного отражения для возбуждения удерживаемой волны в пленке на подложке.

Нарушенное полное отражение [c.227]

Насыщаемый поглотитель 546 Нарушенное полное отражение 164, 227 Нейтрализаторы 343 Ненаправляемые моды 594 Необыкновенная волна 41 Необыкновенный луч 32 Неограниченная слоистая среда 155, 156 Неполяризованная волна 35 Непрозрачности полоса 170 Нормальная конгруэнция 69 [c.654]

Оптич. свойства О. к. (отражение, преломление) определяются оптич. свойствами контактирующих тел, кол-вом воды в слое и могут значительно меняться в пределах контакта наир., коэф, отражения О. к. для пары кварцевых пластин меняется в пределах 10 — 10 . Показатель преломления О. к. может быть получен в аддитивном приближении с помощью Лоренца — Лоренца ф-лы, исходя из показателей преломления контактирующих тел, состава адсорбированных в О. к. воды, углеводородов и относит, соотношения высот микронеровностей поверхностей. На рис. представлена зависи.чость показателя преломления О. к. Пд,. от показателя преломления одной из контактирующих пластин. Измерение проводится методами нарушенного полного внутреннего отражения., а изменение [c.454]

Иногда для модуляции лазерного излучения используется нарушение полного внутреннего отражения. Схематически такой модулятор показан на рис. 19.3,г. Зависимость коэффициента пропускания контактного затвора (правое зеркало) от зазора между призмой и пластиной й) показана на рис. 19.3,5. Величина зазора управляется с помощью пьезоэлектрического элемента. Недостатком [c.179]

Неоднородный светофильтр Формообразование и сплавление двух стекол Формирование поглощающих слоев радиацией Нарушенное полное внутреннее отражение Однослойное металлическое покрытие Многослойные зеркала [c.156]

Нарушенное полное внутреннее отражение. Обычно в оптике рассматриваются два случая отражения при сильном поглощении отражение от диэлектрика, обладающего некоторым коэффициентом поглощения хг, и отражение от металлов. [c.78]

Явление нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО) наблюдается в случае, когда электромагнитная волна распространяется из среды более плотной в среду менее плотную (Л1>П2), если вторая среда обладает сильным поглощением К2 > 0,001 и угол падения а > пр. При этом электромагнитное излучение проникает во вторую среду на некоторую глубину. Часть энергии теряется вследствие поглощения света в слое, в который проникает волна. В результате этого коэффициент отражения в отличие от ПВО оказывается меньшим единицы. Можно показать, что при НПВО образуется затухающая волна, амплитуда которой в направлении 2 уменьшается по закону = оехр(—г/с р), где с р — глубина проникновения во вторую среду, при которой амплитуда волны ослабляется в е раз (см. с. 68). [c.78]

Таким образом, явление нарушенного полного внутреннего отражения основано на абсорбционном механизме ослабления падающей электромагнитной волны. [c.78]

Фиг. 19. Принципиальная схема прибора для определения площади касания методом нарушения полного внутреннего отражения.

Кроме того, для гладких поверхностей более возможно наличие на них участков, строго перпендикулярных к оси образца. В связи с этим для полированных поверхностей нами применяется ранее известный метод нарушения полного внутреннего отражения. Параллельный пучок света направляется под углом большим угла полного внутреннего отражения, в местах контакта он проходит насквозь, в зазорах отражается. [c.189]

Рис. 2.24. Принципиальная схема определения фактической площади контакта по методу нарушения полного внутреннего отражения

Рис. 7.72. Фильтр с нарушенным полным внутренним отражением.

Нарушение полного внутреннего отражения Механическая модуляция [c.222]

Прямым экспериментальным доказательством проникновения волн во вторую среду является эффект нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО). Если две стеклянные призмы поместить близко друг от друга, как показано на рис. 11.6, то неоднородная преломленная волна попадает во вторую призму и часть светового пучка проходит не отражаясь. Изменяя толщину воздушного зазора, можно менять соотношение интенсивностей отраженной и прошедшей волн, то есть получить модулятор света. Слой воздуха между призмами [c.190]

Pm . 11.6. Нарушенное полное внутреннее отражение [c.190]

Ввод и вывод излучения в планарные волноводы осуществляется несколькими способами (рис. 19.15) прямой фокусировкой в торец (а) через призму с использованием явления нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО) (б)] с помощью поверхностной дифракционной решетки (в). [c.308]

Метод нарушенного полного внутреннего отражения (НПВО). [c.247]

Максимальный угол t/max, под которым свет может войти в световод без нарушения условий полного внутреннего отражения, определяется по формуле [c.85]

Лучшие результаты достигаются при сплошных (твердых) световодах, которые работают на полном внутреннем отражении. Как и в кристалле, нарушение условий полного внутреннего отражения и оптического контакта с фотоумножителем уменьшает передачу света от световода на фотоумножитель. [c.148]

Среди модуляторов на молекулярных кристаллах особняком стоят модуляторы на жидких кристаллах [103]. В этих модуляторах используется переориентация молекул ЖК при наложении электрического поля. При этом изменение показателя преломления доходит в отдельных случаях до 0,2-0,3. Для отклонения пучка света используется возникновение (или нарушение) условий полного внутреннего отражения. Эти модуляторы и дефлекторы отличаются очень низким рабочим напряжением (несколько десятков вольт при толщине пленки ЖК порядка десяти микрон.) Недостатком таких модуляторов и дефлекторов являются малые скорости срабатывания (с частотой не более нескольких сот герц). В последнее время в ЖК обнаружены более быстрые процессы переориентации, связанные с вращательными движениями молекул [249]. Эти эффекты пока не применяются для модуляторов. [c.179]

Учитывая, что исследуемый нами случай соответствует среде без потерь, го очевидно, что при условии Ri = Ri = 1 будет выполняться условие (3-145). Следовательно, при этом можно ожидать максимально возможной эффективности энергообмена. Действительно, в этом сл) ае, как показывает рис. 3.25а, возможна практически полная передача энергии из волны накачки в излучение генерации, выходящее через нелинейную феду. Если же коэффициент отражения зеркал отличен от единицы, то в силу нарушения необходимого условия (3.145) эффективный энергообмен будет возможен в ограниченной области изменения накачки. Подтверждением этого является зависимость, построенная на рис. 3.256 для / 2= 1, Ri = 5. Видно, что эта зависимость приводит к гистерезисному режиму генерации. [c.113]

Описанные характеристики неустойчивого резонатора с ограниченной апертурой оказываются неудобными на практике, так как вырождение мод затрудняет достижение одномодового режима. Характеристики реальных резонаторов, однако, гораздо ближе к геометрооптическому приближению, чем это следует из численного анализа исходных уравнений. Описанные характеристики вырожденных мод получаются при идеальном симметричном и резком контуре апертуры резонатора. Нарушение формы контура или сглаживание фронта коэф- фициента отражения на краю зеркала, неизбежное на практике, автоматически снимает вырождение собственных типов колебаний [49, 118]. Для полного снятия вырождения достаточно, чтобы коэффициент отражения [c.88]

Разумеется, если — оо, то а оо, т. е. = О и = ехр(/х/2), что согласуется с выражением (3.3.8). В общем случаене равно нулю, что связано с частичным просачиванием энергии через темную область — явление, аналогичное эффекту туннелирования в квантовой механике. Величина этого просачивания зависит от параметра а, который служит мерой величины провала между двумя листами каустики г = иг = г а- Такое просачивание приводит к эффекту, называемому нарушенным полным отражением, который применяется в интегральной оптике для возбуждения волн в тонкопленочных волно- [c.164]

В заключение укажем на необходимость различать поглощение (диссипацию) электромагнитной энергии и ее затухание (например, в результате рассеяния до приемника доходит лишь некоторая часть распространяющегося в данном направлении света). Следует учитывать, что истинное поглощение электромагнитной энергии всегда связано с переводом ее в теплоту при совершении работы Ej О. Однако j = dP/dt, а поляризуемость вещества Р = жЕ, где восприимчивость ж связана с диэлектрической постоянной известным соотношением е = 1 + 4пге. Следовательно, дифференцирование dP/dt приводит к дифференцированию е, что связано с умножением ее на ко. Если г — величина комплексная, то поляризационный ток j будет иметь действительную часть (i = —1) и работа сил поля неизбежно приведет к поглощению части световой энергии. Мы видим, что истинное поглощение связано с комплексностью диэлектрической постоянной, которая приводит к комплексному значению показателя преломления п. Но показатель преломления п = Ve может быть комплексным и при действительном, но отрицательном значении е < О. В этом случае работа сил Ej = О и имеет место лишь затухание энергии, а не ее поглощение. В рассмотренном явлении нарушенного полного внутреннего отражения (см. 2.4) мы имеем пример такого ответвления части энергии от исходного направления, где проводилось ее измерение. Аналогичный про- [c.106]

Особенности разл. параметров отражённого света лежат в основе целого ряда методов исследования оитич. постоянных прозрачных и поглощающих конденсиров. сред (включая и тонкие плёнки). К таким методам относятся рефрактометрия, фотометрия, эллипсометрия, нарушенное полное внутреннее отражение. Общее ана-литич, решение, позволяющее находить обе оптич. постоянные по изм енным Лз и Лр или 6 и 6р, довольно громоздко и требует по крайней мере двух независимых [c.511]

Поле эл.-магн. излучения в среде nj существенно отличается от поля проходящей поперечной волны, т. к. в среде j компонента амплитуды электрич. вектора в направлении распространения волны не равна нулю. Все три компоненты х, у, г амплитуды волны имеют конечные значения при всех углах <р > ф р и в области фир могут значительно превышать по величине нач. значение а>шлптуды падающей волны (см. Нарушенное полное внутреннее отражение). [c.27]

СПЕКТРОФОТОМЕТРИЯ совокупность методов фо-тометрированин потоков оптич. излучения от источников излучения или после его взаимодействия с образцами в зависимости от длины волны объединяет разделы спектрометрии, фотометрии и метрологии. С. источников излучения наз, спектрорадиоме т-р и е й она занимается измерениями энергетич. характеристик изл чения и излучателей (потока силы света, светимости, яркости, освещённости и т. и.). В узком смысле под С. понимают теорию и методологию измерений фотометрия, характеристик образца, безразмерных коэф., определяемых отношением потоков X = Ф/Фд (где Фо — поток, падающий на образец, Ф — поток, наблюдаемый после взаимодействия с образцом) в зависимости от направлений освещения и наблюдения величина X — коэф. пропускания, отражения или рассеяния. Специфич. случай С.— метод нарушенного полного внутреннего отражения. [c.626]

Из сказанного ясна необходимость накопления и систематизации надежных справочных данных по основным природным и промышленным средам в области поглощения. Между тем, систематизированные результаты для наиболее важной инфракрасной области 1—25 мкм в справочной литературе практически отсутствуют за исключением, пожалуй, данных по металлам. Это объясняется, на наш взгляд, экспериментальными трудностями исследования объектов в области основных колебательных полос поглощения молекул. Однако за последнее время и теория и аппаратурнометодическая база спектральны с методов исследования вещества получили значительное развитие, что существенно углубило и расширило возможности эксперимента. С другой стороны, появление прецизионных ИК-спектрофотометров, оснащенных ЭВМ, и возросший в целом метрологический уровень измерений позволили от традиционных исследований, основанных главным образом на анализе оптической плотности, перейти к измерениям констант, т. е. собственных параметров вещества. Все это привело к тому, что стало появляться все больше публикаций по оптическим постоянным и работ, в которых эти величины используются в той или иной форме. В периодической литературе возник, по-существу, банк констант для различных объектов. Методы спектроскопии нарушенного полного внутреннего отражения позволили повысить точность измерений оптических констант и значительно пополнить круг объектов, малодоступных для количественного анализа традиционными способами исследования. На базе этих методов удалось разработать приемы неразрушающего контроля поверхностных и объемных свойств изделий. [c.4]

Более точным прямым методом измерения площади касания является оптический метод Мехау, основанный на нарушении полного рнутреннего отражения в местах контакта стеклянной призмы с щеро- [c.59]

Однако пока при проектировании новых и эксплуатации действующих железнодорожных линий я предприятий вопросы НОТ, эстетики не всегда находят достаточно полное отражение. Поэтому работники вновь вступающих в строй линий и предприятий вынуждены решать многие вопросы организации труда собственными силами, что нередко вызывает нарушение л ч установленных сроков освоения мощностей, потери рабочего -XX времени, непроизводительные материальные и трудовые затра- гЛ ты, завышение численности работающих против проектной и т. д. Затраты на разработку вопросов НОТ в процессе освое-ния и эксплуатации предприятий значительно выше по сравне-нию с затратами, необходимыми при проектировании для вы- [c.17]

Для исследования ИК спектров поверхности монокристаллов применяется метод многократно нарушенного полного внутреннего отражения МНПВО) [Р15]. Суть его сводится к следуюшему. Луч ИК [c.139]

НАРУШЕННОЕ ПОЛНОЕ ВНУТРЕННЕЕ ОТРАЖЕНИЕ (НПВО), явление, основанное на проникновении световой волны из оптически более плотной среды (с показателем преломления i) в менее плотную среду (с показателем преломления п на глубину порядка длины волны при полном внутреннем отражении. Нарушение полного внутр. отражения заключается в том, что коэфф. отражения света В от границы раздела сред становится меньше единицы вследствие поглощения света в слое, в к-рый проникает волна в отражающую среду. Степень ослабления отражённой волны зависит от поляризации падающей волны и пропорц. показателю поглощения 2 второй среды, а спектр НПВО подобен спектру поглощения этой среды. Нарушение полного внутр. отражения, несущественное для геом. оптики, послужило основой для развития т. н. спектроскопии НПВО, имеющей ряд преимуществ перед традиц. методами исследования спект- [c.446]

НИЕ (НПВО) — явление, основанное на проникновении световой волны из оптически более плотной среды J (с показателем преломления п ) в менее плотную среду 2 (с показателем преломления п ) на глубину порядка длины световой волны X в условиях полного внутреннего отражения (ПВО), т. е. при падении света на границу раздела сред под углом 0, большим критического 0нр = ar sin JX ( гх = Нарушение ПВО заклю- [c.246]

Строгое обоснование использования одномерных вычислений неочевидно, но их точность по сравнению с полными двумерными вычислениями была всестороне проверена для кристаллов в некоторых ориентациях. Например, в случае MgO Мак-Магон [299] сравнил одномерные систематические вычисления для отражений ЙОО с двумерными вычислениями для ориентаций, выбранных так, чтобы свести к минимуму число и силу несистематических отражений. Для большинства благоприятных случаев, проиллюстрированных на фиг. 15.7, профили интенсивностей, вычисленные для дифракционных пятен в сходящемся пучке, в двумерном и систематическом случаях согласуются очень хорошо только тогда, когда значения использованных структурных амплитуд для систематического ряда отражений взяты примерно на 1 % выше точных значений. Для других несколько менее благоприятных ориентаций использование одномерных вычислений дает большие отклонения, соответствующие 1,5—2% ошибки в структурных амплитудах, и для произвольной ориентации, которой соответствует в основном систематический ряд отражений, ошибки могут быть значительно выше. Одна ко точность в 1 или 2% требуется только для таких экспериментов, в которых хотят получить очень точные значения структурных амплитуд, а для многих целей можно предположить, что одномерные вычисления достаточно хорошо определяют интенсивности, если не существует очевидных нарушений, возможных в случае несистематических взаимодействий. [c.251]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...