Мозаичные кристаллы

С учетом всех выше рассмотренных факторов формулы интегральной интенсивности дифракционных максимумов для малых или мозаичных кристаллов имеют вид [c.47]

Мозаичный кристалл графита [плоскость (ОШ), 2 = 0,6708 нм] имеет Л щах = 1,52 10 н //А/ Нах № = ИЗ. fi. [c.347]

РАССЕЯНИЕ ИДЕАЛЬНЫМ И МОЗАИЧНЫМ КРИСТАЛЛАМИ [c.108]

Большинство кристаллов имеет внутренние напряжения, обусловленные дислокациями. В таких кристаллах энергия внутренних напряжений уменьшается при уходе дислокации из объема кристалла и образовании ими дислокационных стенок (процесс полигонизации), разделяющих соседние блоки с правильной структурой. В результате образуется мозаичный кристалл, обладающий блочной структурой. Разориентировка блоков обычно составляет доли градуса, а в крупноблочных мозаиках достигает нескольких градусов. Отдельные блоки [c.109]

Мозаичные кристаллы и поликристаллические материалы [c.353]

Модель мозаичного кристалла [c.354]

Самой первой моделью, введенной для объяснения кинематической природы рассеяния на макроскопических кристаллах, была модель мозаичного кристалла Дарвина [108]. Согласно этой модели, кристалл состоит из небольших совершенных кристаллических блоков, настолько малых, что дифракция на каждом из них в отдельности дается кинематическим приближением, а сами блоки произвольно распределены по ориентации в диапазоне углов, который гораздо больше угловой ширины отражения от отдельного кристалла. [c.354]

Для мозаичного кристалла мы можем считать, что за счет усреднения преобразований формы для отдельных кристаллов распределение рассеивающей способности вокруг всех точек обрат- [c.354]

Большую часть точечных дифракционных картин, получаемых от несовершенных, изогнутых или мозаичных кристаллов, следует рассматривать как сумму динамических дифракционных картин от отдельных почти совершенных кристаллов. В некоторых случаях, когда перекрываются непараллельные кристаллы, будут существовать эффекты двойной дифракции, при которой дифракционный пучок от первого кристалла действует как первичный пучок для второго кристалла положения возникающих при этом дифракционных пятен определяются суммами действующих векторов дифракции для отдельных кристаллов. Когда не существует простого соотношения между ориентациями двух кристаллов, направления дважды дифрагировавших пучков таковы, что никакие когерентные взаимодействия с однократно рассеянными пучками не возникают. Этот случай называют вторичным упругим рассеянием [69], чтобы показать его отличие от когерентного многократного (динамического) рассеяния. [c.358]

Абсолютная интенсивность дифрагированного излучения для идеально мозаичного кристалла и кристаллического порошка при отсутствии экстинкции подсчитывается из соотношения [c.328]

Абсолютная интенсивность брэгговского отражения от грани мозаичного кристалла подсчитывается из соотношения [c.328]

Абсолютная интенсивность рассеяния от мозаичного кристалла при съемке на прохождение, для угла наклона г з = 1Э, подсчитывается из соотношения [c.328]

Для идеально мозаичного кристалла интегральная интенсивность отражения имеет вид [c.837]

Идеальное отражение от кристалла ограничено первичной экстинкцией. Мозаичный кристалл дает интегральное отражение, равное Qv [c.845]

Таким образом, кристалл представляет собой своеобразный комплекс блоков мозаичной структуры. [c.17]

На этой стадии атомы Си еще не выделяются из а-твердого раствора и среднее значение параметра кристаллической решетки (0,255 нм) остается неизменным. Но поскольку на участках повышенной концентрации Си параметр решетки существенно меняется, это приводит к возникновению значительных напряжений в кристаллах, раздроблению блоков мозаичной структуры и увеличению твердости. [c.325]

Существует еще один источник поверхностного искажения кристаллического строения кристалла. Если рассмотреть зерно при большом увеличении, то окажется, что внутри него имеются участки с размерами 0,1-1 мкм (их называют субзернами), разориентированные друг относительно друга на угол 15-30 (малоугловые границы) Такая структура называется блочной или мозаичной (рис. 32), Свойства металлов будут зависеть как от размеров блоков и зерен, так и от их взаимной ориентации. [c.49]

Рассеивающие свойства кристалла зависят от его размера и строения. Рассеяние излучения ндеальиым мозаичным кристаллом см. Мозаичность кристаллов) и нолпкристаллом со ср. размером уерна см [c.672]

Осн. сложность структурного исследования состоит в том, что обычный дифракц. эксперимент даёт возможность измерить интенсивности дифракц, пучков hki я позволяет фиксировать их фазы hki- Для мозаичного кристалла в кинематич. приближении hki Анализ эксперим. массива PaaiI с учё- [c.371]

Представление о мозаичной структуре или субструктуре реальных кристаллов возникло, когда обнарун4ились расхождения между экспериментальными значениями интенсивности дифрагированных лучей и теоретическими расчетами по динамической теории. Согласно этим представлениям реальный кристалл состоит из областей правильного строения — блоков, повернутых по отношению друг к другу на небольшие углы. Развитие теории дислокаций и прямые наблюдения подтвердили реальность модели мозаичного кристалла. Было показано, что разориентировка блоков определяется плотностью дислокаций, образующих малоугловые границы. Подобная полигонизо-ванная субструктура наблюдалась с помощью дифракционной электронной микроскопии во многих металлических материалах после от-лiигa, которому предшествовала холодная деформация, после деформации при повышенных температурах и др. [c.139]

Трудности в применении описанной методики связаны с влиянием текстуры в случае массивных образцов текстура в идеально мозаичном деформированном образце, как правило, не совпадает с текстурой в отожженных образцах. Применение данной методики неоправ-дано, если субструктура не соответствует модели мозаичного кристалла. [c.140]

Механизмы дифракционного рассеяния коротковолнового излучения (длина волны К<2а, где а — период кристалла) существенно различны в идеальном и мозаичном кристаллах. В большом идеальном кристалле устанавливается единое волновое поле, образованное первичной и вторичными волнами, многократно отраженными атомными плоскостями, и описывае-емое динамической теорией рассеяния. Характерен профиль отраженной линии, называемый столиком Дарвина (рис. 5.1, а). Ширина столика, равная модулю структурной [c.109]

При отжиге дислокации стремятся выстроиться в стенки ipH . 7.27,6), разделяющие блоки, что связано с понижением общей упругой энергии. Этот процесс называется полигониза-цией и приводит к образованию мозаичности кристаллов (гл. 2, 2). [c.152]

Теория квазичеренковского излучения частицы в холестерических жидких кристаллах была развита Беляковым и Орловым. 72.30], в мозаичном кристалле—Афанасьевым и Агинян [77.3]. 3 последней работе также дана более простая формула для полной интенсивности излучения в отдельных пятнах лауэграммы . Образование когерентного рентгеновского излучения равномерно движущейся релятивистской заряженной частицей в кристалле [c.15]

Дарвин [108 ] указал, что приближение кинематического рассеяния на идеальном мозаичном кристалле может давать значительные ошибки по разным причинам. Он различал два типа экстинкционных эффектов, которые могут уменьшать интенсивность ниже кинематического значения. [c.356]

Наблюдать указанные дифракционные эффекты, используя рентгеновские лучи, довольно трудно, поскольку объемы образцов, подвергающиеся воздействию одной дислокации, слишком малы, чтобы вызвать измеримые интенсивности. В большинстве материа лов, содержащих большое число дислокаций, их ориентации могут оказаться более или менее случайными или же в результате сегрегации образуются дислокационные сетки. Эти последние формируют границы зерен с малоугловым рассеянием. В результате мы переходим к дифракции от мозаичного кристалла или от кристалла с внутренними деформациями. В каждом случае влияние этих эффектов на интенсивности можно оценить статистически (гл. 16). Недавно было обнаружено, что в некоторых материалах параллельное расположение дислокаций может обладать достаточной регулярностью, чтобы привести к образованию сверхструктуры. Сасс и его сотрудники предложили использовать измерение интенсивностей сверхструктурных отражений как основу "для структурного анализа, результатом которого было бы определение точного расположения атомов вокруг дислокаций. [c.405]

Микродвойники 364 Микродифракции 120. 146. 288, 289 Минимальное разрешимое расстояние 298 Многоатомные корреляции 381, 386, 387 Множитель, учитывающий наклон 22, 32 Мозаичные кристаллы 353. 354 Мольера приближение 89 Мотта формула 97 Муароаые картины 309 [c.423]

Эти исследования показывают, что идеальная решетка термодинамически менее устойчива, чем мозаичный кристалл , т. е. кристалл, обладающий незначительными периодическими изменениями (сжатиями) в решетке. Эта вторичная структура внутри первичной решетки обусловливает такие эффекты, как понижение прочности, пластическую деформацию и др. Чтобы дать представление о порядке величины ячеек вторичной структуры, достаточно указать, что расстояние между двумя сжатыми частями в решетке кристалла каменной соли может быть примерно в 20 раз больше расстояния между элементами неискаженной решетки, так что кубик мозаичного кристалла каменной соли может содержать 8 ООО— 10 ООО атомов. Это дает возможность проверить оценку, данную Смекалем для размера вторичных ячеек, ограниченных дефектами структуры. [c.79]

МОЗАИЧНЫЕ КРИСТАЛЛЫ - кристаллы несовершенной тJ)yктypы, состоящие из блоков, расположенных не строго параллельно друг другу. Подавляющее большинство реальных кристаллов — М. к., состоящие из блоков размером 10 см, построенных весьма совершенно, но несколько дезориентированных друг относительно друга (от неск. секунд до многих минут). Мозаичность являотся следствием различных дефектов (дислокаций, напряжений и т. д.), образующихся в кристаллах при выращивании. Но существуют и почти идеальные кристаллы с вось.ма совершенными структурами (алмаз, пек-рые образцы корунда, кварца, кальцита и др.). Мозаичностью объясняются мн, экспериментальные факты, наблюдаемые при рассеянии рентгеновских лучей относительно крупными кристаллами ( 0,1 мм). [c.279]

Рис. 194. Крикые интегральной интенсивности отражения нейтронов от идеально мозаичного кристалла.

Достаточно надежное представление об анизотропии т к) в благородных металлах было получено с применением лишь трехчетырех членов с. в фурье-разложении вида (5.7). При этом использовалось всего шесть значений х для тех орбит, на которых F как функция угла имеет экстремумы. Это обеспечивало минимальное влияние мозаичности кристалла на результаты. Было установлено, что учет значений л , измеренных при других ориентациях, изменяет значения г(Аг) не более чем на несколько процентов, если ввести соответствующую коррекцию, учитывающую возрастание х, связанное с мозаичностью (см. разд. 8.5). Однако использование большего числа членов в разложении приводит к более значительным изменениям так, использование не трех, а семи членов приводит к изменениям т к) примерно на 10% и даже достигает 50% в направлении < 100). Для К (это пока единственный щелочной металл, изученный в рассматриваемом аспекте) с малой примесью КЬ или Ыа хорошая аппроксимация экспериментальных данных достигается всего с тремя членами из разложения по кубическим гармоникам, аналогичным (5.2), и согласие с экспериментом не улучшается сколько-нибудь существенно при учете большего числа гармоник [269]. [c.452]

Дислокации могут возникать во время кристаллизации из-за ра.эных случайностей роста кристаллов. Эти случайности приводят к образованию мозаичной структуры — кристалл состоит из взаимно разориентированных субзерен (блоков). Одна из возможных причин образования субзерен — изгиб очень нежных ветвей денд-ритов из-за конвекционных токов, градиента температур и действия других факторов. Когда слегка разориентированные ветви дендри-тов срастаются, на границе между ними возникают дислокации. Поверхность срастания представляет собой стенку из краевых дислокаций. [c.104]

Рентгенографические методы анализа широко используются для изучения структуры, состава и свойств различных материалов. Широкому распространению рентгенофафического анализа способствовали его объективность, универсальность, быстрота многих его методов, точность и возможность решения разнообразных задач, часто недоступных другим методам исследований. Вследствие высокой проникающей способности рентгеновских лучей для осуществления анализа не требуется создание вакуума. С помощью рентгенографического анализа исследуют качественный и количественный состав материалов (рентгенофазовый анализ), тонкую структуру кристаллических веществ - форму, размер и тип элементарной ячейки, симметрию кристалла, координаты атомов в пространстве, степень совершенства кристаллов и наличие в них микронапряжений, наличие и величину остаточных макронапряжений в материале, размер мозаичных блоков, тип твердых растворов, текстуру веп ес1в, плотность, коэффициент термического расширения, толидину покрытий и т.д. [c.158]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...