Дифракция решетке

R, освещенную параллельным пучком монохроматического света, направленным перпендикулярно к плоскости решетки (рис. 28). В результате дифракции решетка посылает пучки света в разных направлениях. Центральный пучок выглядит так, как если бы решетки не было. Сверху и снизу от него расположены два пучка, симметричных относительно центрального, затем еще два и т. д. Причем каждая следующая пара более отклонена от центрального. Но каждый из них, как и падающий пучок, параллельный. С помощью линзы Л соберем дифрагированные пучки в фокальной плоскости П. Они дают разные изображения точечного источника S. Первое пятно 5q есть прямое изображение или максимум нулевого порядка, следующие два - это максимумы первого порядка, затем - максимумы второго и т. д. Первое изображение имеет наибольшую интенсивность, у остальных она уменьшается по мере удаления от центрального. По хорошо известным законам геометрической оптики следует, что угол, определяющий положение максимума, может быть найден из соотношения [c.38]

Эти параллельные теории противоречили одна другой до того момента, когда было открыто, что поток электронов, который можно рассматривать как поток реальных частиц, мог при некоторых условиях обнаруживать дифракцию на решетке, т. е. явление, свойственное волнам. [c.71]

Дифракция света от многих щелей. Дифракционная решетка. [c.144]

Как и в случае фраунгоферовой дифракции от одной щели, распределение интенсивности для дифракционной решетки в зависимости от угла дифракции можно также изобразить графически и аналитически. Все колебания, идущие от разных ш,елей в направлении гр =-- О, имеют одинаковые амплитуды и фазы колебания. Следовательно, все векторы амплитуд будут направлены вдоль одной линии и результирующая амплитуда будет [c.145]

Распределение интенсивности. Несложные вычисления, аналогичные вычислениям интенсивности для дифракции от одной щели, дают для дифракционной решетки с N щ,елями [c.145]

ДИФРАКЦИЯ НА ДВУХМЕРНОЙ РЕШЕТКЕ [c.155]

До сих пор мы рассматривали дифракцию от плоской одномерной решетки (штрихи нанесены перпендикулярно некоторой прямой линии). Представляет интерес рассмотреть также дифракцию от двухмерной решетки (штрихи нанесены во взаимно перпендикулярных направлениях в одной и той же плоскости). [c.155]

Дифракция от двухмерной решетки позволяет определить не только взаимное расположение частиц (постоянных решетки di и d ), составляющих решетку на плоской поверхности, но также вести суждения о размерах самих частиц и о взаимном расположении решеток с постоянными di и [c.156]

ДИФРАКЦИЯ НА ТРЕХМЕРНОЙ РЕШЕТКЕ. ДИФРАКЦИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ (ФОРМУЛА ВУЛЬФА-БРЭГГА) [c.162]

Направим теперь на голограмму (синусоидальную дифракционную решетку) один из пучков, принимавших участие в ее образовании, например пучок /. Если угол падения луча на дифракционную решетку обозначить через J, а угол дифракции — через р, то, как известно, они связаны соотношением [c.207]

Займемся теперь восстановлением волны, исходящей от предмета (в нашем случае от точки /И). С этой целью в точку М поместим голограмму — зонную пластинку (синусоидальную решетку) на том же расстоянии L от источника S, на котором находилась она при экспонировании, и осветим ее тем же источником. Будем наблюдать дифракцию от синусоидальной решетки. [c.212]

Пусть на решетку падает монохроматическая волна с плоским волновым фронтом. В результате дифракции из каждой щели свет распространяется не только в первоначальном направлении, но и по всем другим направлениям. [c.268]

X — длина волны падающего света) наблюдается интерференционный максимум света. Линза не вносит разности хода. Как следует из уравнения (78.4), условие интерференционного максимума для каждой длины световой волны выполняется при своем значении угла дифракции ф. В результате при прохождении через дифракционную решетку пучок белого света разлагается в спектр. [c.268]

Полученные результаты справедливы для решеток с равномерным пропусканием по щели. Если амплитудный коэффициент пропускания т непостоянен, то формула (6.49) может иметь другой вид. Так, например, интересный результат получается при дифракции света нй решетке с гармоническим пропусканием (рис. 6.38). [c.297]

G.38. К вопросу о дифракции света на гармонической решетке [c.298]

Наиб, ярко Д. р. л. выражена в кристаллах, являющихся для рентгеновских лучей естеств. трёхмерными дифракционными решетками. Дифракц. максимумы в них возникают в направлениях, в к-рых вторичные (рассеянные атомами) волны распространяются с одинаковыми фазами. Для кристаллов это условие фазировки требует удовлетворения одновременно TpiiM условиям дифракции на одномерных дифракц. решетках [c.671]

Существует большое число различных схем С. п. с плоской дифракц, решетаой как с линзовой, так и зеркальной фокусирующей оптикой. В С, п. с вогнутой дифракц, решеткой нет спец, фокусирующей оптики, а входная щель, решетка и спектральные линии располагаются на окружности (круг Роуланда), диаметр к-рой равен радиусу кри- [c.12]

G — вогнутая дифракц, решетка, ф — угол падения, Ф — угол дифракции, АО = р os ф — расстояние от входной щели S i до решетки, во — р os ф — расстояние от решетки до круга Роуланда, Р — плоскость спектра, совпадающая с кругом Роуланда, [c.12]

П011ЯД0К спектра. Выражения для угловой дисперсии, разрешающей силы и области дисперсии для вогнутой )>ешетки те же, что и для плоской решетки., Ии-иейная дисперсия (/ / X = рг/ф/Л. С. п. с вогнутой дифракц. решеткой обладают большим астигматизмом. [c.13]

Излучение определяемого элемента выделяется узкополосным светофильтром или монохроматором (диспергирующий элемент — призма или дифракц. решетка). Т. н. фильтровые фотометры более дешевы, просты в эксплуатации, однако их аиалитич. возможности весьма ограничены из-за низкой чувствительности и влияния излучения близких по длинам волн линий или полос. [c.344]

Следовательно, при дифракции света на решетке из N правильно расположенных щелей иитенсивность растет не прямо пропорционально числу щелей, а прямо пропорционально квадрату этого числа. Это есть следствие перераспределения полной, прошедшей через все щели световой энергии вследствие интерференции дифрагировавших пучков. Такой результат не имел бы места, если бы щели на решетке располагались не на равных друг от друга расстояниях, а хаотически. В этом случае иитер( зереиционный член обратился бы в нуль и иитенсивность была бы прямо пропорциональна числу щелей, [c.146]

Сравнение (6.26) с (6.27а) показывает, что угол дифракции (6 — фт) при наклонном падении вычисляется так же, как при нормальном падении света, но с уменьшенным значением d = d os б) периода решетки. Следовательрю, при довольно большом наклоне (б як 90°) луча кажущ,аяся постоянная решетки (d os б) становится весьма малой и на решетке (d > i) при таком освеш,ении можно будет наблюдать четкую дифракционную картину. [c.149]

Сравнение (6.28) с (6,22) показывает, что есл при дифракции в обычной дифракционной решетке образуются, начиная с нулевого, максимумы различных поряд отв т 0 1 2 . ..), то в случае синусоидальной решетки образуются, кроме 1улевого, только Д фракционные максимумы первого порядка т = =tl), т. е. лучи во втором случае будут дифрагировать только под углами [c.152]

Не представляет принципиальной трудности рассмотреть случаи, когда штрихи в двух направлениях составляют угол, отличный от 90°, и луч падает наклонно к плоскости решетки. Учет этих факторов не изменит общего характера дифракцион1ЮЙ картины. Однако нарушетш строгой периодичности щелей (хаотическое распределение их) приводит к существенному изменению общей картины — наблюдаются симметричные размытые интерференционные кольца, обусловленные дифракцией света на отдельных частицах. Интенсивность наблюдаемых колец будет пропорциональна не квадрату числа щелей, приходящихся на единицу поверхности (как это было при дифракции на правильной структуре), а числу щелей. Эти две принципиально разные картины позволяют по результату наблюдения сделать вывод о характере расположения щелей (или частиц) на плоскости. [c.156]

Дифракция на трехмерной решетке. Положим, что двухмерные peujeTKH с периодами di и dj расположены перпендикулярно оси г с периодом, равным da- Направим монохроматический параллельный [c.162]

Из-за известного свойства синусоидалыюй решетки кроме нулевого гюрядка максимума возникнут волны только j-1-го и —1-го порядков (рис. 8.7). Ввиду того что нитрины зон (играющие роль постоянной решетки) в зонной пластинке с удалением от центра регулярно уменьшаются, углы дифракции +1-го и —1-го порядков регулярно будут увеличиваться. В соответствии с этим волна -f-l-ro порядка является расходящейся и образует мнимое изображение точки М на том же расстоянии, на котором она находилась (дока- [c.212]

Имея своим истоком идеи древних философов, теория атомного или дискретного строения вещества получила всеобщее признание только в начале 20-го столетия. Это было связано с успехами в области рентгеноскопии, когда для изучения микроструктуры вещества последнее помещалось в пучок рентгеновского излучения и на фотопластинке фиксировалось отображение пучка после прохождения его через слой исследуемого вещества. Диапазон длин волн рентгеновского излучения был сопоставим с межатомным расстоянием, и, при условии абсолютного равенства этих параметров, дифракция у - лучей на отдельных атомах приводила к появлению интерференционной картины. Это было интерпретировано следующим образом вещество состоит из дискретных элементов (атомов), которые образуют строго упорядоченную пространственную решетку с определенным значением периода реше1ки, характерного для данного вещества. Подобные исследования были проведены для различных веществ. Практически все твердые тела обнаруживают при рентгеновском облучении наличие интерференционной картины, тогда как в газах, жидкостях и стеклах интерференционную картину обнаружить не удавалось. В связи с этим возникло разделение вещества па упорядоченное, или кристаллическое, и неупорядоченное, или аморфное. [c.47]

Дифракционная р< шетка. Дифракция света используется в спектральных приборах. Одним из основных элементов во многих спектральных приборах ягзляется дифракционная решетка. Обычно применяются отрамгательные решетки, но мы рассмотрим принцип действия решетки, представ-ЛЯ101Ц0Й собой прозрачную пластинку- с нанесенной на нее системой параллельных непрозрачных полос, расположенных на [c.267]

Дифракция световых волн базируется на подробном, но полуколичественном исследовании иринцини Гюйгенса - Рренеля. В то же время часть задач (например, распределение интенсинности, даваемое дифракционной решеткой) сосчитана до конца, что облегчает их понимание. Рассматривается переход от [c.7]

Множитель (sinu/u) характеризует распределение интенсивности в результате дифракции плоской волны на каждой щели, а множитель (siniVti/sinft) учитывает интерференцию между пучками, исходящими от всех щелей. Множитель /о определяет интенсивность света, излучаемого в направлении ф - О, которая зависит от потока энергии, падающего на решетку света. [c.293]

Распределение интенсивности при дифракции света на решетках с различной формой пхтрихов [c.299]

Сдвиг определения интенсивности, создаваемого дифракционной решеткой с профилированным штрихом (и1трихпунктирная кривая), по сравнению с распределением при дифракции на амплитудной решетке (пунктирная кривая) [c.301]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...