Интерференционные и поляризационные измерения

ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЕ И ПОЛЯРИЗАЦИОННЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ [c.173]

До сих пор мы рассматривали поляризационные элементы, создающие одну определенную форму поляризации. В практике поляризационных измерений часто применяются или исследуются анизотропные элементы, дающие одновременно различные формы поляризации. Например, для клиновидного анизотропного образца форма поляризации зависит от пространственных координат, для образца в виде плоскопараллельной пластинки, работающей в сходящихся пучках, от угла наблюдения, а в параллельных пучках — от длины волны. Если создать условия, при которых наблюдается интерференция поляризованных лучей, то так же, как и при рассмотрении интерференции неполяризованных лучей, можно различать полосы равной толщины (изохромы), равного наклона (коноскопические фигуры) и равного хроматического порядка. Кроме того, при определенных условиях в интерференционной картине поляризованных лучей можно наблюдать специфические изолинии с одинаковой ориентацией главных направлений анизотропного элемента (изоклины). [c.271]

На основе дисперсии, дифракционных и интерференционных явлений построены спектральные приборы, работаюш,ие в очень широкой области спектра. Поляризационные приборы используются для изучения характеристик кристаллов, исследования статических и динамических напряжений, точных угловых и линейных измерений для определения концентраций растворов и др. [c.3]

Так как изохроматы образуют замкнутые кривые, охватывающие оптическую ось (или оси), то наблюдение интерференционных картин позволяет установить число осей кристалла и определить их положение. Интерференционные картины можно наблюдать в микроскоп, снабженный двумя призмами Николя (поляризационный микроскоп). С помощью такого микроскопа можно измерять угол между оптическими осями двухосного кристалла (необходимо учитывать, что при выходе из кристалла свет преломляется). Указанный способ пригоден для определения положения оптических осей и измерения их наклона даже для очень небольщих кристалликов, попадающихся в тонких слоях минералов. [c.63]

Оптические методы. Эти методы рекомендуется применять для измерения тонкослойных пленок (до 40 мкм), обладающих хорошими оптическими свойствами и нанесенных на тщательно подготовленную поверхность изделия. При этом определение толщины пленок во многом зависит от точности установления показателя преломления света прозрачными средами. К этим методам относятся поляризационный, определение толщины по цвету окраски и интерференционный. [c.116]

Оптические устройства и приборы, основанные на совместном использовании явлений интерференции и поляризации, широко применяются в технике физического эксперимента для монохроматизации излучения и для различных исследований и измерений. Использование поляризационных свойств света позволяет значительно повысить точность интерференционных измерений, а также создать перестраиваемые по длинам волн фильтры, выделяющие весьма узкие спектральные диапазоны и обладающие большой светосилой. Приборы и установки, построенные на базе поляризационных явлений, широко используются для диагностики кристаллов и для количественного исследования напряжений в деталях и конструкциях. [c.234]

Рассмотрим вопрос о моделях и требованиях к ним в случае поляризационных и интерференционных измерений. Для поляризационно-оптического метода чаще всего используются модели, по конфигурации повторяющие натуру и выполненные из эпоксидной смолы этот материал полностью удовлетворяет требованиям, которые необходимы для проведения эксперимента. Он прозрачен, изотропен, обладает высокой способностью к двойному лучепреломлению и дает линейную зависимость между напряжением и соответ- [c.256]

Перечисленные вопросы придают книге в определенной мере прикладной характер. Книга, как и в первом издании, делится на девять глав, из которых пять принадлежат главной теме учебного курса — теории интерференционных явлений, проблемам построения интерференционных систем, конкретным оптическим схемам интерферометров, приемам юстировки и методам измерений. После-дуюш,ие две главы относятся к изучению поляризационных и интерференционных явлений в антизотропных средах, к способам анализа состояния поляризации и построению интерференционно-поляризационных установок. [c.4]

Электрооптические кристаллы находят широкое практическое применение. Из них изготовляются оптические затворы и модуляторы для передачи информации с использованием лазерного пучка, генерации гигантских импульсов излучения. Модуляторы света применяются в световой связи, в светодальномерах, в устройствах звукозаписи звукового кино, в цветном телевидении, в автоматических поляриметрах, в устройствах скоростной фото- и киносъемки и пр. Электрооптические преобразователи используются в управляемых узкополосных интерференционно-поляризационных светофильтрах, в устройствах для измерения высоких напряжений, в оптических элементах счетно-решаюших систем. Создавая неоднородное электрическое ноле в электрооптическом кристалле, можно эффективно изменять направление распространяюш,егося в нем светового пучка. Остановимся кратко на некоторых из перечисленных применений. [c.206]

Поляризационно-оптический метод используют также для определения остаточных напряжений в оптических деталях, Б изделиях из бесцветного или слабо окрашенного стекла (оптического, химико-лабораторного и электровакуумного). Качественная оценка разности хода лучей из-за двулучепреломления в этих средах производится по интерференционной окраске наблюдаемой картины. Количественная оценка производится измерением разности хода с помощью метода Сенармона, изложенного на сс. 296—298. [c.314]

Определение положения оптических осей и главных показателей преломления кристаллической среды. Так как изохроматы образуют замкнутые кривые, охватывающие оптическую ось (или оси), 10 1 аблюдение интерференционных картин сразу же позволяет установить число осей кристалла и определить их положение. Интерференционные картины можпо наблюдать в микроскоп, снабженный двумя призмами Николя (так называемый поляризационный микроскоп), либо удаляя окуляр и фокусируя глаз на заднюю фокальную плоскость объектива (что воспроизводит условия рис. 14.21), либо помещая дополнительную линзу так, чтобы заднюю фокальную плоскость объектива можно было наблюдать через окуляр. При втором методе получается уве.чи-ченное изображение интерференционной картины и можно проводить измерения, используя калиброванную 1икалу окуляра. Таким образом, можно измерять угол между оптическими осями двухосного кристалла (естествеппо, необходимо учитывать, что при выходе из кристалла свет преломляется). Указанные способы пригодны для определения положения оптических осей и измерения их наклона даже при наличии очень небольших кусочков кристалла, попадающихся в тонких слоях минералов. [c.647]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...