Линза тонкая

Изучим теперь прохождение гауссова пучка через линзу с фокусным расстоянием f (рис. 4.34,а). Если линза тонкая, то амплитудные распределения пучка непосредственно перед и после линзы совпадают, т. е. размеры пятна могут меняться лишь непрерывным образом. Таким образом, размеры пятна до и после линзы не изменяются, т. е. [c.209]

Если рассматриваемые линзы тонкие, т. е. их главные плоскости совпадают с самими линзами, то постоянное удаление входного зрачка от линзы будет соответствовать постоянному положению зрачка относительно переднего фокуса, что равносильно постоянству увеличения в зрачках как линейного, так и углового. [c.377]

Таким образом, мы приходим к системе двух линз 2 и /, отделенных друг от друга воздушным промежутком. При этом первая из этих двух линз тонкая и практически совпадает с входным зрачком всей системы. [c.259]

Фокусировка параксиальных лучей тонкой линзой. Предположим, что мы имеем стеклянную линзу в воздухе с двумя выпуклыми сферическими поверхностями, перпендикулярными общей оси симметрии г. Луч света падает слева, распространяясь параллельно оси симметрии линзы, на расстоянии у = к от оси. Если линза тонкая, то мы пренебрегаем (по определению) изменением ординаты у при прохождении луча через линзу. Пренебрегаем также толщиной линзы по сравнению с ее фокусным расстоянием. Мы ограничиваемся рассмотрением параксиальных лучей, т. е. таких лучей, для которых ординаты малы по сравнению с радиусом кривизны обеих поверхностей. В этих условиях для всех интересующих нас углов справедливо приближение малого угла. [c.454]

Допустим теперь, что линза тонкая. Пусть Р ч Р — оптически сопряженные точки на ее оси (рис. 109). Отрезки соединяющего их луча вне линзы прямолинейны. Проинтегрируем уравнение (25,16) по л в пределах от —оо до +оо. [c.185]

Если принять, что линза тонкая (йз = 0), то [c.216]

При различных положениях предмета остаются постоянными радиусы кривизны поверхностей линз тонкого компонента и их оптические силы, поэтому для произвольной t-й поверхности из формулы (79) имеем [c.355]

При использовании метода помутнения зеркала, применяемого в гигрометре ВГ-2 (КуАИ), охлаждаемый элемент (рис. 6.11,а) выполнялся в виде медного стержня 14, к торцевой поверхности которого была припаяна тонкая железная пластинка с хромированной зеркальной плоской поверхностью. Термопара 15 заделывалась под железную пластинку. Световой луч от лампочки 2 падает на зеркальную поверхность, отражается от нее и, пройдя через линзу 10, подается на фотоэлемент 9. В момент выпадения конденсата зеркальная поверхность излучит диффузию, что и зарегистрируется фотоэлементом и электронным индикаторным устройством, а по показанию соединенного с термопарой измерительного прибора фиксируется температура точки росы. В гигрометре ВГ-1 применен способ утечки тока. В этом варианте охлаждаемый элемент (рис. 6.11,6) изготавливается из металлической трубки 16, запаянной с одного торца и металлического стер- [c.298]

Построение изображений в тонких линзах. Основное свойство лина, используемое в оптических приборах, заключается в том, что все лучи, исходящие из одной точки А перед линзой, собираются в другой точке Ai за линзой (рис. 273) или кажутся исходящими из одной точки А 2 перед линзой (рис. 274). В первом случае изображение точки А называется действительным, во втором — мнимым. [c.271]

Мы получили, что оптическая сила системы из двух тонких линз равна сумме оптических сил этих линз. [c.294]

Интерференционная картина будет отчетливой при малом б (тонкая прослойка). Это не препятствует, однако, получению колец заметного радиуса, ибо Гт = У 2/ б, г R — радиус кривизны линзы — может быть взят значительным (обычно 100—200 см). [c.126]

Рис. 12.17. Различные типы тонких линз.

Тонкая линза как система двух центрированных поверхностей представляет простейшую оптическую систему, дающую довольно несовершенное изображение. В большинстве случаев мы прибегаем к построению более сложных систем, характеризующихся наличием большого числа преломляющих поверхностей и не ограниченных требованием близости этих поверхностей (тонкости линзы). Однако даже простые тонкие линзы имеют очень большое значение на практике, главным образом в качестве очковых стекол. В громадном большинстве случаев очки представляют собой просто тонкие линзы. [c.293]

Легко видеть, что разобранная выше тонкая линза может рассматриваться как частный случай толстой линзы, в которой точки Я1 и Я.2 совпадают и главные плоскости сливаются. Узловые точки, совмещенные с Я1 и Н , также совпадут, образуя оптический центр линзы. Построение изображения произойдет, как и раньше, при помощи каких-либо двух простейших лучей (ср. также рис. 12.19). [c.299]

Тонкая магнитная линза образована полем, вектор-по-тенциал которого [17] [c.44]

Экраны проекторов просветного типа должны иметь высокую разрешающую способность (до 50 mm"1) и обладать хорошими светорассеивающими свойствами для получения возможно более равномерного пространственного распределения яркости. В качестве материалов для экранов применяют матовые стекла, тонкие матированные лавсановые пленки или специальные экраны с многослойными прозрачными покрытиями из мелкодисперсных красителей, а также линзы Френеля с тонкой растровой структурой. Хорошими свойствами обладают экраны из тонкого слоя воска на стекле, однако они сложны в изготовлении. [c.56]

Сочетание методов тепловой микроскопии с методами рентгеноструктурного анализа и просвечивающей электронной микроскопии дает более широкие представления о механизме и кинетике протекания дисперсионного твердения аустенитных нержавеющих сталей. Возросший за последнее время интерес к электронной микроскопии связан главным образом с появлением нового метода исследования на просвет тонких (до 1000 А) пленок, полученных из массивных образцов. Это стало возможным при применении в современных электронных микроскопах электронного пучка, обладающего большой проникающей способностью и высокой интенсивностью, что обеспечивается системой двойных конденсорных линз. Метод тонких пленок позволяет полностью использовать разрешающую способность современного электронного микроскопа и имеет по сравнению с методом реплик ряд преимуществ, основные из которых заключаются в получении трехмерной картины микроструктуры и возможности легко наблюдать такие дефекты матрицы, как линии дислокаций, и изучать их взаимодействие с выделениями. Можно также изучать картину электронной дифракции с небольших участков поверхности (около 0,25 мкм). [c.223]

Электронным микроскопом по аналогии с оптическим микроскопом называют электронно-оптический прибор, служащий для получения сильно увеличенных изображений малых предметов. В отличие от оптического микроскопа в электронном микроскопе используются не световые лучи, а электронные, а вместо стеклянных линз — линзы электронные (электростатические или магнитные). Возможность построения короткофокусных линз позволяет конструировать электронные микроскопы с большим увеличением. Увеличения, которые можно получить с помощью электронного микроскопа, достигают 100 ООО раз и более, тогда как лучшие оптические микроскопы дают увеличение порядка 2000 раз. Объект, предназначенный для рассматривания в электронном микроскопе, должен быть настолько тонким, чтобы электроны в нем не поглощались. [c.355]

Пневматический метод измерения применен также для контроля сферы линз. Пневматический сферометр изображен на фиг. 230. Проверяемая линза 2 устанавливается на тонкий кольцевой опорный поясок втулки 1. Воздух от отсчетного прибора проходит через канал в корпусе приспособления 5 и вытекает через зазор между измерительным соплом 3 и поверхностью линзы. Величина этого зазора зависит от радиуса кривизны линзы, поэтому, помещая различные [c.248]

Предварительный габаритный расчет оптической системы. Расчет производится на основании теории идеальной оптической системы и в предположении, что линзы являются тонкими, в предварительном расчете призмы и зеркала заменяют воздушным слоем, длина которого равна длине хода в них осевого луча, деленной на показатель преломления их стекла. Затем, исходя из необходимого расположения оптических элементов системы, их фокусных расстояний и диаметра одной из диафрагм, рассчитывают последовательно диаметры отверстий всех элементов по уравнениям тангенсов [c.234]

Осуществить описанные фазовые пластинки можно нанесением на одну из поверхностей линз тонких слоев, толщина которых меняется по указанному закону, или создавая углубления особым способом полировки, предложенным В. А. Савииым. [c.563]

Линейный резонатор сводится к схеме рис. 5.1, если снутренние зеркала заменить тонкими линзами. Тонкая / инза, заменяющая реальный оптический элемент, оказывается астигматичной даже для сферического зеркала, если осевой луч не совпадает с нормалью к отражающей поверхности. Фокусные расстояния для глаВ ных сечений линзы связаны с радиусом кривизны Н заменяемого зеркала и углом падения осевого луча ф известными соотношениями [c.115]

Несколько разновидностей расклеек, располагающихся по контуру оптических деталей, вызывается промывкой склеенных деталей. Если деталь сильно деформирована склеиванием (например, когда флинтовая линза тонкая и радиус кривизны ее приближается к половине ее диаметра), то даже после кратковременной промывки в бальзаме и бальзамине возникают расклейки, имеющие вид венца и сообщающиеся с междуфасочным пространством. Флинтовая деталь при остывании после склеивания сокращается в большей степени, чем кроновая, и поэтому стремится оторваться по краям, что и происходит при набухании клея. Во избежание расклейки этого вида следует промывку производить до отвердения клея (для бальзамина и акрилового клея), деформацию же деталей, склеенных бальзамом, можно устранить соответствующей термообработкой. Аналогичная расклейка происходит в том случае, когда деталь при промывке чрезмерно смачивается растворителем и происходит вымывание клея по периметру. [c.43]

Предположим в первом приближении, что вторая линза тонкая и находится от первой линзы на расстоянии d = 0,1. Тогда Sp2 = —/2 = з гласно формуле (VHI.16) при Dn = 28 и dmin = i 5 толщина линзы по оси [c.335]

Явление интерференции позволяет свести к минимуму коэффициент отражения поверхностей различных элементов (линз, призм и т. и.) оптическо11 системы — осуществить так называемое просветление оптики. С этой целью на поверхность элемента, например линзы, методом напыления в вакууме наносят тонкие пленки с коэ( к )ицие1ггом преломления, меньшим, чем у материала линзы. Падающий на поьерхносгь пленки пучок света / (рис. 5.14) частично отражается от внешней границы просветляющего слоя [c.106]

Как следует из вышеизложенного, в первом случае система себя ведет так, будто в месте расположения второй главной плоскости имеется тонкая линза. Второй случай апалогичси случаю, когда в месте первой 1 ляпио11 плоскости расположена тонкая лип 5а. [c.184]

Обычное устройство простой ахроматической линзы показано на рпс. 13.17. К двояковыпуклой линзе из крона присоединяется (приклеивается) соответствующим образом рассчитанная рассеивающая линза из флинта (см. упражнение 114). Добавочная линза удлиняет фокусные расстояния первой линзы. При этом больще увеличивается фокусное расстояние лучей, сильнее преломляемых (короткой длины волны), так что фокус Оф отодвигается больще, чем фокус Окр. Выбирая соответствующим образом параметры, мы заставляем совпадать фокусы двух (или даже трех) длин волн. Однако при современных сортах стекол не удается добиться совпадения фокусов для всех видимых лучей, в результате чего возникает остаточный хроматизм, называемый вторичным спектром. Для тонких линз совпадение положения фокуса для разных длин волн означает также уравнивание фокусных расстояний, т. е. полную ахроматизацию. Для толстых же линз (систем) совпадение [c.317]

Для дальнейшего развития электромагнитной теории важно было получить экспериментальное доказательство наличия светового давления. Такой опыт был впервые осуществлен Лебедевым. Идея опыта заключалась в следующем. Легкий подвес на тонкой кварцевой нити, по краям которого прикреплялись тонкие и легкие крылыщ-ки (рис. 28.3), помещался в стеклянный сосуд, в котором был тщательно откачан воздух образовались, таким образом, чувствительные крутильные весы. Одно из крылышек делалось с обеих сторон зеркальным, а другое с обеих сторон было, покрыто платиновой чернью. Свет при помощи системы линз и зеркал направлялся на одна из крылышек, оказывал на него давление и вследствие полученного механического момента весь подвес поворачивался на некоторый угол. Угол поворота крутильных весов измерялся по отклонению зайчика, отбрасываемого маленьким укрепленным на подвесе зеркальцем. Энергия светового потока регистрировалась при помощи термоэлемента. Зная угол поворота и световую энергию, можно было проверить формулу (28.2). [c.185]

Рассмотренные два случая преломления траекторий частиц являются лишь дтростейшими примерами эффектов, которые могут наблюдаться при движении частиц в электрическом поле. При различной конфигурации электрических полей можно достичь, например, того, что пучок расходящихся траекторий частиц в этом поле превратится в сходящийся, т. е. произойдет фокусировка пучка частиц. Такие методы широко применяются сейчас для получения тонких пучков заряженных частиц, а также для различных других преобразований пучков частиц, главным образом электронов (так называемая электронная оптика). Электроды, которые служат для создания электрических полей нужной конфигурации, называются электрическими (или электростатическими) линзами. [c.209]

При испарении тонкого слоя исследуемого вещества с торца угольного электрода время свечения ее паров очень мало. Поэтому установку расстояния между электродами нужно проводить до включения дуги с помощью устройства для теневой проекции, имеющегоея на дуговом штативе и еостоящего из лампочки накаливания, поворотной призмы и линзы, не показанных на рис. И. [c.34]

Дальнейшее увеличение точности измерений связано с применением авто-коллимационной схемы, показанной на рис. 17. Источник / с помощью конденсора 2 и фильтра 3 освещает ejKy 4 (обычно тонкое прозрачное перекрестие на темном фоне), которая проектируется полупрозрачным зеркалом 5, линзой 6 и микрообъективом 7 на объект 8. Изображение поверхности детали, на которую спроектировано перекрестие, наблюдается системой, состоящей из сетки со шкалой 9 и окуляра /0. Шкала 9 служит для измерения размеров дефекта в горизонтальной плоскости. [c.75]

Если программоносителем является специально изготовленный чертеж, то дешифратором будет являться фотоголовка (рис. XIII. 14). Головка представляет собой баллон, внутри которого расположены истокник света 1, линзы 2 я 6, зеркало 5 и фотоэлемент 3. Свет от источника 1 проходит через линзы 2 и 6 я концентрируется в тонкий пучок, падающий на поверхность чертежа 4 в виде пятна диаметром до 0,02 мм. Отраженный от чертежа свет поступает к зеркалу 5, еще раз отражается от него и поступает на фотоэлемент, в котором возникают фототоки. Затем фототоки усиливаются и поступают в виде электрических импульсов в систему управления работой ИО. [c.259]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...