Электронвольт

Электромагнитная индукция 186 Электрометр 129 Электрон 165 Электронвольт 169 Электронно-лучевая трубка 174 Электростатика 131 Электростатическая индукция 141 Электростатическое взаимодействие 131 [c.365]

Пример. Электронвольты. В атомной и ядерной физике удобной единицей энергии является электронвольт (эВ). Один [c.169]

Какова энергия отдачи (в эргах и электронвольтах) для ядра с массой 10-22 г после испускания гамма-луча с энергией в 1 МэВ Ответ. 1,4-10- эрг 90 эВ. [c.408]

Часто в ядерной физике используется более удобная единица энергии, называемая электронвольтом (эв). Один электронвольт соответствует энергии, приобретаемой или теряемой частицей с единичным электрическим зарядом (например, электроном или протоном) при прохождении ею разности потенциалов в 1 в. Очевидно, что в системе СГС [c.28]

Здесь энергия отсчитывается от дна зоны проводимости, п 1 — квантовое число. Если в (7.109) подставить числовые значения т, е, 71, о и энергию выразить в электронвольтах, то получим [c.237]

Для энергии во всей ядерной физике используется только одна, причем внесистемная, единица — электронвольт (эВ) [c.10]

В сильноточных ускорителях прямого действия ускоряемые частицы движутся в постоянном электрическом поле, причем их конечная энергия в электронвольтах равна электрическому напряжению установки в вольтах, В ускорителях всех типов имеется ускорительная трубка. [c.304]

Энергия ионизирующих частиц, как и любая другая энергия, измеряется единицами джоуль и эрг. Весьма распространено измерение энергии ионизирующих частиц в электронвольтах (эВ) [c.322]

Для просвечивания больших толщин нужны лучи больших энергий, измеряющихся миллионами электронвольт Мэе), Частично эта задача решается просвечиванием гамма-лучами, испускаемыми специальными радиоактивными препаратами. [c.336]

Бетатрон [5] позволяет получить излучение с энергией в десятки миллионов электронвольт без применения генератора столь высокого напряжения. [c.338]

Метод плазменного напыления при пониженном давлении в инертной атмосфере. Этот метод в последние годы довольно широко применяется для получения пленок с полупроводниковыми свойствами [157]. В этом методе с помощью различных видов самостоятельного (или несамостоятельного) тлеющего разряда удается наносить равномерные по толщине молибденовые (и вольфрамовые) покрытия с высокой адгезией и малым содержанием примесей. В таких установках вводимый инертный газ переходит в состояние плазмы под воздействием высокочастотного пли высоковольтного разряда. Ионная бомбардировка мишени (анода) приводит к ее распылению и осаждению распыленного материала на подложке. Так как вырванные атомы имеют энергию порядка сотни электронвольт, они способны проникать в поверхностный слой подложки и микротрещины, обеспечивая тем самым хорошую адгезию. Несмотря на положительные качества, получать толстые термостабильные покрытия этим методом трудно и дорого. [c.106]

Работа. Энергия СИ Внесистемная джоуль электронвольт дж (н-м) эв J (N-m) 0,1002.10 дж [c.20]

В металлическом кристалле связь валентных электронов со своим ядром порывается, и в однородном веществе они образуют единую систему, связанную со всем телом состояние остальных электронов атома (внутренних), у которых энергия связи с ядром измеряется многими десятками электронвольт, практически не меняется. Изучению строения, внутренней связи и свойств жидких металлов посвящен ряд работ [8—17]. [c.6]

С нач. 50-х гг. ускорители превратились в осн. инструмент для исследования Э. ч. В 90-х гг. макс. энергии частиц, разогнанных на ускорителях, составили сотни млрд. электронвольт (ГэВ), и процесс наращивания энергий продолжается. Стремление к увеличению энергий ускоренных частиц обусловлено тем, что на этом пути открываются возможности изучения строения материи на тем меньших расстояниях, чем выше энергия сталкивающихся частиц, а также возможностью рождения всё боь лее тяжёлых частиц. Ускорители существенно увеличили темп получения новых данных и в короткий срок расширили и обогатили наше знание свойств микромира. [c.597]

Э. измеряется в тех же единицах, что и работа в системе СГС—в эргах (Э), в СИ — в джоулях (Дж) в атомной и ядерной физике и физике элементарных частиц обычно применяется внесистемная единица—электронвольт (эВ). [c.614]

В атомной физике и квантовой электронике энергию элементарных частиц и энергию возбуждения принято выражать не в джоулях (Дж) — единицах системы СИ, а в электронвольтах эВ (1 эВ—энергия, приобретаемая электроном в электрическом поле с разницей потенциалов [c.12]

Энергия электронвольт eV эВ 1,602 19 ia"> J (приблизительно) [c.17]

Энергия, работа J Дж (джоуль) и ТДж С1 ГДж М1 МДж kJ кДж mJ мДж eV jB (электронвольт) GeV I 3B МеУ МэВ k V кэВ [c.34]

Максимальной чувствительностью кремниевый фотоэлемент обладает при энергии 145 электронвольт, когда поглощение становится значительным. Фотоэлектрические свойства пленки из крем- [c.358]

СКОЛЬКИХ десятых до 100 нм и более, где уже могут использоваться приборы вакуумного ультрафиолетового диапазона), для того чтобы давать информацию о структуре уровней с расстоянием между ними в несколько десятков и сотен электронвольт и характерным расщеплением около 0,1—1,0 зВ. [c.283]

В физике плазмы рентгеновская спектроскопия применяется для диагностики источников двух типов с большим размером плазменного объема 0,1—1,0 м (например, токамаков) и источников малого размера 0,1—1,0 мм (лазерной плазмы, плазменного фокуса, вакуумной искры). Температура этих источников одного порядка — от единиц до нескольких десятков миллионов градусов, и основная часть линейчатого и непрерывного излучения приходится на мягкий рентгеновский диапазон от нескольких сотен электронвольт до нескольких килоэлектронвольт. В термоядерных установках проводятся исследования Н, Не, Ы, Ве — подобных ионов легких (О, С, Н) и тяжелых (Т1, N1, Ре) элементов, по которым определяются электронная и ионная температуры, ионный состав и состояние равновесия, а также исследуются макроскопические процессы и кинетика плазмы. Исследуемые линии принадлежат ионам примесей, поступающих в плазменный объем из стенок или остаточного газа, поэтому их интенсивность по сравнению с континуумом относительно невелика. Для разделения линий ионов различных элементов и кратностей необходимо разрешение порядка (1 — 3). 10 в отдельных, относительно узких, участках спектра. По изменению интенсивностей линий ионов различных кратностей можно судить об изменениях температуры, плотности и ионного состава плазмы по объему. Для таких измерений спектральная аппаратура должна иметь пространственное разрешение порядка 1 см для токамаков и 1 мкм для лазерной плазмы. Горячая плазма существует непродолжительное время (характерное время изменения параметров плазмы токамаков порядка 1 мс, лазерной плазмы — 10 нс), поэтому приборы должны обладать достаточно большой апертурой и многоканальной системой детектирования. Поскольку большинство координатно-чувствительных детекторов высокого разрешения имеют плоскую чувствительную поверхность, фокальная поверхность спектрометра тоже должна быть плоской, и угол падения излучения к ней должен по возможности быть небольшим. [c.286]

При соприкосновении металла с кислородом последний может либо адсорбироваться на металлической поверхности, образуя пассивирующие слои, либо энергично реагировать с ней, образуя химические соединения. Для того чтобы решить вопрос о том, будет ли кислород реагировать с металлической поверхностью, надо знать, что легче электрону покинуть металлическую решетку и образовать адсорбированный ион кислорода, или атому металла оставить решетку и образовать металлический окисел. Тенденция к протеканию того или иного процесса зависит от отношения рабочей функции к теплоте сублимации [22]. Если это отношение (выраженное, например, в Электронвольтах) больше единицы, то металл-иону с термодинамической точки зрения легче покинуть металлическую решетку. Если оно меньше единицы, то электрону легче покинуть решетку, и в этом случае имеет место адсорбция кислорода и пассивирование поверхности. [c.8]

Другая группа теорий плавления исходит из предположения прогрессивного роста дефектов кристалла при увеличении температуры, приводящего в конце концов к разрушению решетки. Простейшими дефектами решетки являются вакансии (свободные узлы) и атомы, -смещенные в междоузлия. Вокруг вакансий возникают упругие деформации, спадающие по закону г , где г — расстояние до дефекта, причем смещения соседних атомов не превосходят нескольких процентов от в случае межузельного атома смещение соседей может достигать 20% от постоянной решетки, а соответствующая энергия упругой деформации равна нескольким электронвольтам. В металлах преобладающим типом дефектов являются вакансии, полная энергия образования которых в среднем близка к 1 э В. Согласно принципу Больцмана, атомная концентрация вакансий, т. е. доля свободных узлов по отношению к полному числу занятых и свободных узлов кристалла, дается выражением [c.222]

Следующей важной особенностью космических излучений является широкий энергетический спектр заряженцых частиц, простирающийся от долей мегаэлектронвольта до многих сотен и тысяч миллиардов электронвольт. [c.269]

Энергия связи электронов в атомах и молекулах обычно выражается в электронвольтах (эВ). 1 эВ равен работе, которую совершает электрическое поле при перемещении электрона (или другой частицы, обладающей элементарным варядом) между точками поля, напряжение между которыми равно 1 В [c.169]

Одна из основных трудностей в создании теории сверхпроводимости заключалась в том, что было неясно, какое взаимодействие в систбхме электронов проводимости приводит к согласованному поведению электронов. Мы знаем, что электроны проводимости в металле обладают энергиями в несколько электронвольт ( — Е-р), а сверхпроводящее состояние разрушается при эВ. Та- [c.267]

Энергии порядка 1 эВ характерны для атомной физики, а для ядерной слишком малы. Поэтому используются производные единицы килоэлектронвольт (1 кэВ = 10 эВ), мегаэлектронвольт (1 МэВ = 10 эВ), гигаэлектронвольт (1 ГэВ — 10 эВ) и тера-электронвольт (1 ТэВ = 10 эВ). [c.10]

В генераторе Ван-де-Граафа ускорение осуществляется электростатическим полем. Полый металлический шар заряжается до очень высокого потенциала. Изнутри шара выходит многосекционная вакуумная трубка, из которой и вылетает пучок частиц. Энергия частиц пучка в электронвольтах по определению этой единицы равна потенциалу шара для протонов и дейтронов, а для а-частиц — в два раза больше. [c.470]

Высокие энергетические выходы экзотермических ядерных реакций делают крайне заманчивым использование их для получения энергии в макроскопических масштабах. Действительно, если для единичного акта химической реакции характерны энергии в лучшем случае порядка нескольких электронвольт, то для ядерных реакций в среднем свойственны мегаэлектронвольтные энергии. Однако при ближайшем рассмотрении оказывается, что создание установки для получения ядерной энергии в макроскопических масштабах — очень непростое дело. [c.561]

Термодинамический смысл величины ,г, прост энергия Фермн представляет собой химический потенциал газа свободных валентных электронов, отнесенный к одной частице. Для того чтобы убедиться в этом, рассмотрим случай, когда 7 = 0. Химический потенциал ф , по определению равен сумме + (pv), — Ts,. Для газа свободных частиц pv = (2/3) и. При Т = О энтропия s, равна нулю, а согласно предыдущему, и, = (3/5) ф. Поэтому Ф,, = (3/5) Еф + (2/3) (3/5) Е1ь = Е , . Для металлов Еф равна нескольким электронвольтам. [c.455]

Эксперименты проводили на циклотроне Вашингтонского университета, материаловедческом исследовательском реакторе (MTR) и импульсном реакторе Годива-П [2, 35]. В циклотроне в результате бомбардировки бериллиевых мишеней дейтронами с энергией 22 Мэе получали нейтроны с энергией в несколько миллионов электронвольт, которые использовали для облучения транзисторов. Реактор Годива-П давал 1,4-10 нейтронов в импульсе. Интегральный поток нейтронов [нейтронIсм ) определяли для нейтронов с энергией выше 400 кэе. В этих работах для различных транзисторов были получены значения коэффициента р, соответствующие передаче слабых и сильных сигналов, в.зависимости от тока эмиттера /<= при различных интегральных потоках нейтронов. Кроме того, определены коллекторные характеристики в области малых токов эмиттера, а также зависимость от интегрального потока нейтронов при различных напряжениях смещения. В табл. 6.1 и 6.2 приведены значения для необлученных транзисторов, рассчитанные значения постоянной К для некоторых из этих транзисторов, а также значения р для случая слабых сигналов пос.ле облучения быстрыми нейтронами при указанных значе- [c.285]

Различают три вида ионизации в газах соударением, облучением (фотоионизация) и нагревом (термическая ионизация). Суть ионизации независимо от ее вида заключается в том, что за счет энергии, полученной нейтрдльным атомом газа тем или иным образом, этот атом теряет электрон и становится положительно заряженным ионом. Количество энергии, которое необходимо затратить для отрыва электрона от ядра атома, называют энергией ионизации-, ее измеряют в электронвольтах. Эта энергия численно равна потенциалу ионизации, который измеряется в вольтах и характеризует величину напряженности внешнего электрического поля, при которой электрон приобретает энергию, равную энергии ионизации. Потенциал ионизации зависит от строения атома и различен для различных химических элементов. Чем меньше потенциал ионизации, тем легче оторвать электрон от атома. [c.86]

Метрическая система мер была задумана как более упорядоченная совокупность единиц, основанная на метре и килограмме и десятичном соотношении между кратными и дольными единицами. Однако эта система содержала единицы только для некоторых величин (длины, массы, площади и объема). Лишь в дальнейшем, после работ Гаусса и Вебера, была создана охватывающая более широкую область физики система единиц санти.метр — грамм — секунда (СГС). Позднее было создано еще несколько систем единиц на базе метрических единиц (системы МТС, МКС, МКГСС, ряд систем СГС для области электромагнетизма), а также большое число не связанных между собой внесистемных единиц (например, единицы давления — миллиметр ртутного столба, миллиметр водяного столба, бар, пьеза, килограмм-сила на квадратный сантиметр и т. д. единицы энергии и работы — киловатт-час, калория, электронвольт, литр-атмосфера и много других). [c.35]

Остальные единицы табл. 6 могут применяться наравне с единицами СИ, но только в специальных областях атомная единица массы — в атомной физике астрономическая единща, световой год, парсек —в астрономии диоптрия - в оптике гектар - в сельском и лесном хозяйстве электронвольт - в физике вольт-ампер и вар — в электротехнике. [c.54]

В определении ЛПЭ (см. п. 2.2.17) dE означает энергию, теряемую заряженной частицей в тех столкновениях с электронами, при которых потеря энергии меньше граничной А. Рекомендуется А выражать в электронвольтах. Например, означает ЛПЭ при граничной энергии 100 эВ. = 5со1- [c.141]

В расчетах часто используется величина, являющаяся отношением W к электрическому заряду. Для этой величины рекомендуется едининд Дж/Кл. В этом случае числовое значение Wje совпадает с числовым значением W, выраженным в электронвольтах. [c.141]

Чтобы иметь более глубокое представление о механизмах, участвующих в возбуждении электронным ударом, опишем квантовомеханический расчет сечения а. Для оптически разрешенных или оптически запрещенных переходов без изменения мультиплетности наиболее простым (и во многих случаях дающим наибольшую точность) является расчет с использованием борновского приближения. Пучок моноэнергетических электронов, падающий на атом, описывается функцией плоской волны вида exp(iko-r). Здесь ко = 2п/К а Я, — дебройлевская длина волны электрона [K = (12,26/V) А, где V — энергия электрона в электронвольтах]. Между падающим электроном и электронами атома действует сила электростатического отталкивания. Это взаимодействие считается достаточно слабым, так что вероятность атома совершить переход при соударении очень мала, а возможностью сразу двух таких переходов можно пренебречь. В этом случае уравнение Шрёдингера для рассматриваемой задачи может быть линеаризовано. При этом в сечение перехода [c.141]

Разрешение метода МСВИ по глубине определяется глубиной проникновения первичных ионов в образец и глубиной выхода вторичных ионов, участвующих в формировании изображения, и составляет в среднем 1,0—10,0 нм. Разрешение зависит от энергии и природы первичных ионов (чаще всего — это ионы Аг" , Оз и др. с энергией от нескольких сот до нескольких тысяч электронвольт при токах от 10 до 10 А), от скорости ионного травления (следовательно, от плотности тока первичных ионов), от материала образца и т. д. и может меняться в довольно широких пределах. [c.123]

Физика. Справочные материалы (1991) -- [ c.169 ]

Введение в экспериментальную физику частиц Изд2 (2001) -- [ c.256 ]

Неразрушающие методы контроля сварных соединений (1976) -- [ c.77 ]

Внедрение Международной системы единиц (1986) -- [ c.14 , c.61 , c.70 , c.81 , c.165 ]

Механика электромагнитных сплошных сред (1991) -- [ c.75 ]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...