Структурный анализ кристаллов

Разумеется, в настоящем изложении мы не можем останавливаться на методах современного структурного анализа кристаллов, целиком приложимых и к анализу кристаллов, построенных из цепных молекул, и отсылаем читателя к специальным монографиям [1,3 1,13 1,15]. В комплекс методов структурного анализа кристаллов входит определение элементарной ячейки, нахождение пространственной группы по погашениям или на основании статистического анализа наблюдаемых интенсивностей, построение в том или ином варианте функции межатомных расстояний, [c.250]

Структурный анализ кристаллов [c.136]

Вопрос, каким образом преодолеть отсутствие этой информации столь существенной для вывода р(г), составляет фазовую задачу структурного анализа кристаллов. В принципе эта задача может быть решена многими способами, поскольку, например, либо динамический эффект, либо поглощение могут привести к рассеянию, чувствительному к относительным фазам отражений, а эффекты эти полностью никогда не исчезают. На практике, однако, фазовая проблема остается серьезным препятствием для получения распределений электронной плотности, н на разработку различных методов преодоления этого препятствия было затрачено много изобретательности. [c.137]

Вид распределения интенсивности в участке пересечения двух К-линий зависит от относительных фаз отражений от двух рядов рассматриваемых плоскостей. Следовательно, как установили Фью [144] и другие, наблюдения всех имеющихся пересечений К-линий должно в принципе дать однозначное выделение фаз структурных амплитуд и, следовательно, решение фазовой проблемы в структурном анализе кристаллов. Однако по ряду причин, в основном относящихся к экспериментальным трудностям, из этой идеи не было извлечено никакой практической пользы [c.326]

Спроектированной зарядовой плотности приближение 293 Структура, усредненная во времени 153 Структурный анализ кристаллов, дифракция нейтронов 143 [c.424]

Благодаря методу Лауэ решаются две задачи огромной важности. Во-первых, открывается возможность определения длины волны рентгеновских лучей, если известна структура той кристаллической решетки, которая служит в качестве дифракционной. Таким образом создалась спектроскопия рентгеновских лучей, послужившая для установления важнейших особенностей строения атома (ср. 118). Во-вторых, наблюдая дифракцию рентгеновских лучей известной длины волны на кристаллической структуре неизвестного строения, мы получаем возможность найти эту структуру, т. е. взаимное расстояние и положение ионов, атомов и молекул, составляющих кристалл. Таким путем был создан структурный анализ кристаллических образований, легший в основу важнейших заключений молекулярной физики. [c.231]

К моменту начала расшифровки структуры кристаллов возможные типы структур были уже выведены на кончике пера . Это существенно облегчило проведение структурного анализа. [c.70]

Первые эксперименты по расшифровке кристаллических структур проводились с помощью Рентгеновских лучей. Они оказались исключительно удобными инструментами структурного анализа. Удобными, но не единственными. Электромагнитная волна, которой мы хотим зондировать кристалл, должна иметь длину 0,1 нм. Существуют ли в этом диапазоне другие виды излучения, кроме рентгеновского . [c.95]

Построение рядов в зависимости от набора наблюдаемых значений hkl, от симметрии дифракционной картины и т. п. может производиться в самых разнообразных вариантах — нахождения проекций, обобщенных проекций, сечений, использования разностных рядов, обостренных рядов и т. д. Для агрегатов цепных молекул часто используются цилиндрические координаты, приме- HeHHe которых открывает специфические возможности, не используемые в обычном структурном анализе кристаллов, например построение цилиндрической функции Паттерсона (IV, 28, 29), радиальных, циркулярных и других проекций электронной плотности ( 4 главы III) и т. п. [c.250]

Назовем эту функцию реального пространства Р(г) обобщенной функцией Паттерсона в отличие от функции Паттерсона, которая используется в структурном анализе кристаллов и относится, как правило, только к периодическим структурам. В тех случаях, когда не может возникнуть неясности, будем называть ее просто паттерсон. Эта функция подобна функции Хоземана и Багчи [2П ]. Ее можно также назвать самокоррелирующей функцией, как увидим далее. Она непосредственно получается из наблюдаемых интенсивностей. [c.104]

В общем трехмерном случае выражение для фактора Дебая — Валлера (12.4) остается справедливым, если (А ) рассматривать как среднеквадратичное смещение атома в направлении вектора дифракции. В общем случае эта величина неизотропна и будет изменяться в зависимости от сорта атомов и их окружения. В современном структурном анализе кристаллов все три параметра, определяющие эллипсоид колебаний , обычно уточняют для каждого неэквивалентного атома. [c.261]

Кристаллографы, занимаюш,иеся структурным анализом кристаллов, склонны смотреть на разупорядочение главным образом как на помеху на своем пути и лишь изредка как на объект изучения Для сложных структур разупорядочение связано часто не с занятием положений решетки, а с вращением молекул или их частей или с выбором конфигураций частей молекул или атомных каркасов. [c.368]

По закону Брэгга (2.4) для отражения необходима определенная связь между 0 и Я рентгеновские лучи с длиной волны X, падающие на трехмерный кристалл под произвольным углом, вообще говоря, отражаться не будут. Чтобы выполнить условие закона Брэгга, потребуется подбирать или длины волн, пли углы падения (производя сканирование). Обычно такое сканнрсванне производят экспериментально, выбрав область непрерывного изменения значений Я или 0 (чаще 0). (Стандартные методы структурного анализа кристаллов, основанные на дифракции, разработаны именно для этой цели. В современных исследованиях применяются трн метода (иногда несколько модернизированных ио отношению к описанным ниже). [c.65]

Зная С. ф. для всех дифракц. отражений А, к, I, можно построить распределение электронной плотности (электростатич. потенциала или спиновой плотности) кристалла, что служит теор. основой структурного анализа кристаллов. [c.729]

При Д. а. и м. взаимодействуют внеш. электронные оболочки частиц пучка и мшиени. Т. к. при объединении атомов в молекулы и кристаллы внеш. оболочки испытывают наиб, деформации, Д. а. и м. пользуются при изучении этих деформаций. В то же время при оп-ределеиии структурных амплитуд в др. типах структурного анализа (см. Рентгеновский структурный анализ, Нейтронография, Электронография) используют атомные факторы, рассчитываемые математически или получаемые экспериментально, к-рые при рассмотрении явлений Д. а. и м. применить нельзя, т. к. они в этом случае оказываются разными для разд. хим. соединений. Интерпретация дифракц. исследований часто проводится с помощью модели жёсткой гофриров. поверхности, характеризуемой амплитудой гофра А. [c.663]

Осн. методами исследования К. с. являются дифракционные — рентгеновский структурной анализ, нейтронография, злектронография. Дифракционные методы дают непрерывное, усредненное по времени и по всему объёму кристалла распределение рассеивающей мате- [c.503]

О. р.— важный матем. образ, находящий многочисл. применения в кристаллографии и физике твёрдого тела, Напр., понятие О. р. удобно использовать при описании дифракции частиц на кристаллич. решётке (см. Дифракция нейтронов. Нейтронография структурная, Рентгеновский структурный анализ. Электронография). Соответственно нейтроне- и рентгенограммы кристалла могут дать изображение О, р. [c.384]

Спонтанное О. и. может применяться в тех же областях исследований, что и синхротронное излучение в рентг. микроскопии, ревтг. структурном анализе, атомной и молекулярной спектроскопии, спектроско-ПИИ кристаллов, рентг, литографии, медицине и др. По 40/ [c.407]

СВЯЗИ между пептидными группами направлены поперёк цепей, а сами цепи вытянуты и образуют складчатую структуру. В белке встречаются также т. н. Р-изгибы, обеспечивающие поворот цепи примерно на 180° при образовании водородной связи. Возможны и др. типы спиралей. Все названные вторичные структуры характерны для глобулярных белков. Фибриллярный белок, из к-рого строятся длинные ориентиров, волокна, образует спирали иного вида. Вторичную (и третичную) структуру белка исследуют с помощью рентгеновского структурного анализа, позволяющего определить положение всех атомов в молекуле. Трудности здесь связаны с тем, что не каждый белок можно получить в виде кристаллов необходимого размера. Обычно структура белка в расяворе мало отличается от структуры в кристалле, это связано с тем, что кристаллы белка содержат много воды. Однако в целом вопрос о соответствии структуры белка в растворе и в кристалле остаётся открытым. Содержание а- и Р-структур сильно различается для разл. белков. [c.22]

РЕНТГЕНОВСКИЙ СТРУКТУРНЫЙ АНАЛИЗ (рентгеноструктурный анализ) — методы исследования атомного строения вещества по распределению в пространстве и интенсивностям рассеянного на анализируемом объекте рентг. излучения. Р. с. а. кристал-лич. материалов позволяет устанавливать координаты атомов с точностью до 0,1—0,01 нм, определять характеристики тепловых колебаний этих атомов, включая анизотропию и отклонения от гармония, закона, получать по эксперим. дифракц. данным распределения в пространстве плотности валентных электронов на хим. связях в кристаллах и молекулах. Этими методами исследуются металлы и сплавы, минералы, неор-ганич. и органич. соединения, белки, нуклеиновые кислоты, вирусы. Спец, методы Р. с. а. позволяют изучать полимеры, аморфные материалы, жидкости, газы. [c.369]

Для каждой пространственной группы имеются свои совокупности ПСТ. Правильная система точек общего положения для каждой группы одна. Но нек-рые из ПСТ частного положения могут оказаться одинаковыми для различных групп. В Интернациональных таблицах указаны кратность ПСТ, их симметрия и координаты и все щ>. характеристики каждой пространственной группы. Важность понятия ПСТ состоит в том, что в любой кристаллич. структуре, принадлежащей данной пространственной группе, атомы или центры молекул располагаются по ПСТ (одной или нескольким). При структурном анализе распределение атомов по одной или неск, ПСТ данной пространственной группы производится с учётом хим. ф-лы кристалла и данных дифракц. эксперимента, позволяет находить координаты точек частных или общих положений, в к-рых расположены атомы. Поскольку каждая ПСТ состоит из одной или кратного Числа решёток Браве, то и расположение атомов можно представлять себе как совокупность вдвину- [c.513]

При взаимодействии рентг. излучения с кристаллами возникает его дифракция на атомах кристаллич. структуры, к-рая лежит в основе рентгеновского структурного анализа. Рентгеновские спектры испускания и поглощения характеризуют структуру внутр. уровней энергии электронов атомов, входящих в кристалл, и практически не зависят от его свойств как коллективного образования атомов. [c.628]

Характер Х,с. влияет на мн. свойства вещества, исследование к-рых позволяет получить информацию о X. с. К экс-пернм. методам изучения X. с. относятся разл. виды спектроскопии (см., напр.. Инфракрасная спектроскопия, Молекулярные спектры, Спектры кристаллов и др.), дифракционные методы (см. Рентгеновский структурный анализ. Электронография, Нейтронография), магнетохи-мия, химическая кинетика, резонансные методы (ЭПР, ЯМР) и др. [c.408]

Величина диполь-дипольного взаимодействия парамагн. ядер изменяется в зависимости от ориентации магн. поля На относительно кристаллографич. осей. Изучение этой анизотропии даёт возможность определить взаимную ориентацию спинов ядер, расстояния между ядрами, характер и симметрию ближайшего окружения парамагн. центра, а также исследовать структурные дефекты кристаллов. При взаимодействии большого числа парамагн. ядер анализ сложных спектров ЯМР осуществляют с помощью т. н. второго момента спектральной линии, к-рый при взаимодействии одинаковых ядер описывается ф-лой Ван Флека [1, 2]. Второй момент определяется среднеквадратичной величиной локальных магн. полей, созданных на ядре всеми др. ядерными диполями. Каждая структурная модель характеризуется определ. значениями величины второго л омента, что успешно применяется при анализе структуры стеклообразных полупроводников. Существуют программы Для расчёта на ЭВМ вторых моментов линий ЯМР по структурным моделям для монокристаллов произвольной сингонии [9 ]. [c.678]

Кристаллические решетки различных металлов и металлоидов. Основы кристаллографии, теория кристаллических решеток и гипотеза о закономерном размещении атомов в кристаллах были разработаны в XIX в. выдаю-ш,имся русским ученым Е. С. Федоровым и продолжены его учениками и последователями. Применение рентгенографического структурного анализа в дальнейшем подтвердило правильность выводов Е. С. Федорова. [c.12]

Анализ свойств ансамбля частиц, составляющих кристалл, методами статистической механики во многих случаях совпадает с выводами простой квазихимической модели, в которой структурные элементы кристалла рассматривают как химические индивиды. Это позволяет использовать закон действующих масс для описания равновесий между нормальными составляющими и дефектами решетки. Допустим, что между структурными элементами кристалла А, В, С и D имеет место следующая квазихимическая реакция [c.106]

Рентгено-структурный анализ основан на способности атомных плоскостей кристаллов отражать рентгеновы лучи. [c.46]

В некоторых случаях, когда объект содержит атомы металлов, близкие по Z к веществу антикатода трубки, используемого для получения рентгеновых лучей (например, антикатод сделан из железа Z = 26, а вещество содержит хром, Z — 2 ), возникает так называемое аномальное рассеяние, при котором к действительной величине /(х) добавляется незначительная мнимая составляющая. Аномальное рассеяние используется в структурном анализе для определения строения кристаллов без центра симметрии [8, 9] (см. также [15]). Оно почти никогда не наблюдается при изучении волокнистых материалов, редко содержащих металлы. Однако в принципе возможно его применение и в этой области, особенно для изучения биополимеров, например путем введения в них специальных добавок. Еще одним фактором, имеющим значение при точных измерениях интенсивности рассеяния, является поглощение рентгеновых лучей в образце, которое учитывается соответствующими формулами [3]. [c.20]

Книга проф. Дж. Каули, внесшего существенный вклад в развитие физической оптики, охватывает материал, относящийся к оптике реитгеиовских лучей, электронов и нейтронов. Рассматриваются основы кинематической и динамической теории дифракции, диффузное и неупругое рассеяние, структурный анализ, явления упорядочения, а также конкретные дифракционные методы изучения структуры кристаллов. [c.4]

Смотреть страницы где упоминается термин Структурный анализ кристаллов : [c.34] [c.131] [c.161] [c.234] [c.244] [c.355] [c.157] [c.672] [c.674] [c.511] [c.578] [c.578] [c.287] [c.376] [c.377] [c.44] [c.319] [c.45] [c.177] [c.70] [c.436]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...