Структурный анализ кристаллов, дифракция нейтронов

Спроектированной зарядовой плотности приближение 293 Структура, усредненная во времени 153 Структурный анализ кристаллов, дифракция нейтронов 143 [c.424]

Благодаря тому, что можно установить взаимно однозначное соответствие между дифракционными лучами, к-рые дает монокристалл, и узлами О. р., понятие О. р. чрезвычайно удобно при описании дифракции на кристаллах рентгеновских лучей, электронов и нейтронов (см. Рентгеновский структурный анализ, Электронография,Нейтронография). Индексы узла О. р. /), 9 и / связываются с индексами h, knl, нек-рой серии взаимно параллельных узловых сеток решетки кристалла, соотношениями р = пЛ, q = пк, г = п1, где п — порядок отражения дифракционного луча от данной серии сеток. В этом случае каждому узлу О. р. приписывается определенный вес, выражаемый через интенсивности дифракционных лучей. Спм.мет-рия такой взвешенной О. р. описывается одной из точечных групп симметрии с добавлением центра инверсии (если его нет в этой группе) и всех порожденных этим добавлением элементов симметрии (закон центро-симметричности дифракции на кристаллах). [c.470]

О. р.— важный матем. образ, находящий многочисл. применения в кристаллографии и физике твёрдого тела, Напр., понятие О. р. удобно использовать при описании дифракции частиц на кристаллич. решётке (см. Дифракция нейтронов. Нейтронография структурная, Рентгеновский структурный анализ. Электронография). Соответственно нейтроне- и рентгенограммы кристалла могут дать изображение О, р. [c.384]

Книга проф. Дж. Каули, внесшего существенный вклад в развитие физической оптики, охватывает материал, относящийся к оптике реитгеиовских лучей, электронов и нейтронов. Рассматриваются основы кинематической и динамической теории дифракции, диффузное и неупругое рассеяние, структурный анализ, явления упорядочения, а также конкретные дифракционные методы изучения структуры кристаллов. [c.4]

Б.—В. у. позволяет определить меж-плоскостные расстояния й в кристалле, поскольку к обычно известна, а угол д (наз. брэгговским углом) можно измерить экспериментально. Оно применяется в рентгеновском структурном анализе, рентгенографии материалов, рентгеновской топографии. Б.— В. у. остаётся справедливым при дифракции у-излучения, эл-нов и нейтронов (см. Дифракция микрочастиц), при дифракции в периодич. структурах эл.-магн. излучения радио- и оптического диапазонов, а также звука. А. в. Колпанеав- [c.59]

Важный метод изучения М.— масс-спектроскопия. Масс-спектрометрич. измерения основаны на расщеплении М. на электрически заряж. фрагменты (радикалы) и определенпи масс этих фрагментов. Геометрию М. в кристаллах определяют с помощью дифракции рентг. лучей (см. Рентгеновский структурный анализ) и нейтронов (см. Нейтронография). В газовой фазе и парах геометрию М. исследуют с помощью дифракции эл-нов (см. Электронография) и микроволновых спектров. Эти исследования да-,ют точность в определении координат атомов (ядер) порядка 0,001 нм отсюда точность в определении длин связей 0,001 нм и в определении [c.432]

Структурная нейтронография. В кристаллах упругое когерентное рассеяние нейтронов на ядрах наблюдается в виде узких дифракц. максимумов интенсивности (рефлексов, рис. 1), появляющихся для тех направлений, для к-рых выполнено Брэгга — Вульфа условие. Структурная Н. во многом похожа на рентгеновский структурный анализ. Отличия связаны с тем, что нейтроны рассеиваются ядрами, а рентгеновские лучи — атомными электронами. Н. применяется для решения задач, малодоступных для рентгеновского структурного анализа, в частности для определения координат атомов водорода, анализа соединений атомов с близкими ат. номерами [c.457]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...