Дифракция в три пучка

Методом электронографического исследования, основанным на дифракции пучка электронов, можно определить структуру очень тонких окисных пленок без удаления последних с поверхности металла. Этот метод нашел широкое применение при определении структуры пленок нагретого металла и позволяет проследить за изменением состава пленок в зависимости от температуры и времени нагрева металла. [c.639]

Рис. 7.5. а — расходимость (обусловленная дифракцией) пучка электромагнитного излучения с плоским волновым фронтом, круговым поперечным сечением и равномерным распределением интенсивности в поперечном сечении б —метод измерения расходимости плоской волны, показанной иа рис. а. [c.459]

Кварцевый пьезокристалл, возбужденный в одном из своих обертонов, приводит образец в строго продольные резонансные колебания, которые вызывают дифракцию пучка света. Картина дифракции, как это видио в микроскоп, образует в первом порядке линии, расположенные с обеих сторон от центрального изображения щели. В то же время в образце вызываются поперечные колебания, дающие дифракционную картину, которая накладывается иа первую. Она также представляет собой две линии, равноотстоящие от центрального изображения. Однако расстояние между этими линиями менее чем в два раза меньше расстояния между линиями, соответствующими дифракции на продольных колебаниях. [c.353]

Для генератора по схеме рис. 3.33 г две волны накачки е ио1 необходимо направить на кристалл с противоположных сторон. Сигнальный пучок el с пучком накачки е2 запишет решетку вследствие дифракции пучка, обращенного по отношению к о1, на этой решетке родится обращенный по отношению к е пучок. Таким образом, генерация возникнет, если коэффициент отражения обращающего зеркала превысит jR. [c.126]

При ф (и) (5.208), спектральный ДОЭ для пучков с длинами волн Aq и A+i формирует в 0-м и +1-М порядках дифракции пучки с фазовыми функциями [c.385]

Рис. 5.22. Геометрия в задаче о дифракции пучка лучей на краю отверстия. (Из

Дифракция пучка лучей, проходящего сквозь призму, ограничивает разрешающую способность спектрального прибора. [c.358]

В п. 9.5 мы предположили, что ограниченный дифракцией пучок, возникающий при падении плоской волны на отверстие [c.427]

Красивую демонстрацию можно получить, направив на решетку яркий узкий пучок света от лазера. При дифракции пучок расщепляется на много хорошо видимых в воздухе ярких пучков, веерообразно расходящихся от решетки. Падая на потолок и стены аудитории, эти пучки оставляют на них яркие светлые пятна (световые зайчики). [c.305]

Вследствие рассогласования фазовых скоростей и дифракции пучков конечного диаметра мощность гармоники в разделенных лучах ограничена величиной которая равна или меньше мош ности, получаемой при использовании плоскопараллельного слоя. [c.379]

Величина Ь называется дифракционной длиной пучка с длиной волны X и поперечным размером И. Она определяет масштаб расстояний, на которых развивается заметная дифракция пучка. [c.119]

Представим далее, что пучок падает на границу слоисто-неоднородной среды, от которой и исследуется отражение. Геометрические границы пучка на рис. 14,1 отмечены пунктиром, В действительности же, вследствие дифракции, пучок несколько расплывается. [c.71]

Выражение (4.24) описывает дифракцию пучка, имеющего максимальную амплитуду на оси и минимум ( темное кольцо ) при г = а. [c.266]

Здесь ф — угол дифракции пучка лучей 5 , 5 — соответственно экранированная и полная площадь отверстия зрачка объектива / 1, Гр — радиусы зрачка и его экранированной части соответ- [c.149]

Допустим, что амплитуда напряженности электрического поля в пучке постоянна по всему сечению. Показатель преломления в пространстве, занятом пучком, равен п = По + П2Е1. в результате дифракции пучок расширяется. Практически все направления лучей внутри пучка сосредоточатся в пределах конуса с углом при вершине 2вд ф, где 0диф= 1,22(Хо/ по)—дифракционный угол (см. 15.1) ко — длина волны в вакууме. Предельный угол 00 скольжения определяется соотношением [c.309]

Осн. сложность структурного исследования состоит в том, что обычный дифракц. эксперимент даёт возможность измерить интенсивности дифракц, пучков hki я позволяет фиксировать их фазы hki- Для мозаичного кристалла в кинематич. приближении hki Анализ эксперим. массива PaaiI с учё- [c.371]

На электронограммах, получаемых от молекул газов, а также паров оксидов, галогенидов и др. соединений, дифракц. пучки образуют диффузные кольцевые ореолы, диаметры и интенсивность к-рых определяются расположением атомов в молекуле и дифракц, характеристиками атомов (их атомными амплитудами упругого и neynpyrdro рассеяния). Методы газовой Э. позволяют определять структуры молекул с числом атомов до 10—20, а также характер их тепловых колебаний в пшроком интервале темп-р. Аналогичным методом проводят анализ атомной структуры ближнего порядка (см. Дальний и ближний порядок) в аморфных телах, стёклах, жидкостях. [c.585]

Дифракция не влияет на параметры импульса при ij5 = 0 (<7=0), поскольку он дифрагирует как целое (дифракционные длины его различных спектральных компонент одинаковы). При наличии поперечной групповой задержки в случае <77 0 уже в ближнем поле отраженного импульса (/(г) / (г) 1) возникает сдвиг несущей частоты, пропорциональный расстоянию г и поперечной координате X. в рассматриваемом случае дифракция приводит к изменению не только параметров пучка, но и импульса он расплывается, появляется линейный чирп. Поперечная групповая задержка изменяет вместе с тем и картину дифракции,пучка вдоль оси х (в плоскости падения импульса). [c.55]

Предмет П освещается белым светом через светофильтр СФ, чем обеспечивается монохроматичность освещения. Два дифракционных ( + 1 и —1 порядка) пучка, возникающие при прохождении рассеянной волны через дифракционную решетку ДР с синусоидальным профилем, направляются зеркалами Mi и Мо в плоскость голограммы Я. Прямой пучок (нулевой порядок) задерживается непрозрачным экраном Э Эти две волны являются взаимно пространствечно когерентными, так как они образовались от дифракции пучков света в одном и том же месте дифракционной решетки. [c.23]

Для дальнейшего анализа примем, что взаимодействие вырождено по частоте и что пучки накачки имеют одинаковую интенсивность. Рассмотрим сначала наиболее сложную ситуацию, когда отклик среды является чисто локальным, вследствие чего запрещен прямой энергообмен между пучками, записывающими решетки (см. 1.11д). При этом штрихи световой решетки /13 и динамической решетки 5б)з совпадают (п. 1.2.2). Рождающийся при дифракции на ббвз пучок 4 будет сдвинут по фазе относительно пучка 2 на тг/2. Поэтому световая решетка /24 и совпадающая с ней решетка 5б24 оказываются смещенными по отношению к решеткам/)з и 5б)з на четверть периода. Теперь пучки 1 тлЗ (2 я 4) могут обмениваться энергией на чужих решетках 6624 и 5б)з соответственно. В этом и состоит косвенное (параметрическое) взаимодействие (п. 1.1.3), связывающее все четыре пучка за счет энергообмена одновременно и взаимосвязано меняется контраст световых решеток /)з и /24, а значит и амплитуда динамических решеток бб)з и бб24- Легко убедиться, что все вторичные сигнальные пучки, возникающие при дифракции пучка накачки /) на бб2 4> находятся в фазе с исходным. То же верно и для обращенного пучка 4. Поэтому и вторичные решетки, возникающие в процессе смешения волн, складываются. [c.31]

После создания обращающего зеркала генерация лазера продолжалась и при прерьшании сигнального пучка. При этом обращающее зеркало продолжало существовать более продолжительное время, чем время релаксации записанных в нелинейной среде голографических решеток, ответственных за возникновение обращенного пучка (время релаксации указанных решеток составляло примерно 30 мкс). Когда пороговое условие генерации еще выполнено, а сигнальный пучок прерван, обращающее зеркало поддерживается за счет отражения от зеркала Зг пучка, рожденного при дифракции пучков накачьси на записанных ранее решетках. [c.212]

Как правило, апертурной диафрагмой спектрального прибора, ограничивающей сеченпя пучков, участвующих в образовании изобра кенпя щелп. служит диспергирующая система. Поэтому необходимо рассмотреть дифракцию пучков, прошедших через коллплгатор и падающих на эту систему. [c.29]

I ри голографировании сложного объ- екта его освещают когерентным лазерным пучком. Рассеянное объектом волновое поле можно в соответствии с теоремой Фурье представить в виде совокупности плоских волн. Каждая из них при интерференции с опорной волной, получаемой из того же лазерного пучка, создает на фотопластинке свою систему интерференционных полос с характерными для нее ориентацией и периодом. После проявления на голограмме образуется совокупность дифракционных решеток с синусоидальным пропусканием. Каждая из этих решеток на этапе восстановления при дифракции пучка, идентичного с опорным, формирует соответствующую ей исходную элементарную плоскую волну. Это главный дифракционный максимум с т=1. Все восстановленные элементарные волны находятся в таких же амплитудных и фазовых соотношениях, как и при записи голограммы. Их совокулность воссоздает полное рассеянное объектом световое поле и вызывает те же зрительные образы, что и при непосредственном наблюдении объекта. Другими словами, в том месте, где находился объект при записи голограммы, возникает его мнимое изображение. Кроме того, каждая элементарная система дифракционных полос (решетка) формирует еще две волны, соответствующие главным максимумам с т=0 и т= — 1. Волны с т=0 распространяются в направлении опорной волны и не попадают в глаз наблюдателя при надлежащем его расположении. Волны с т= —1 формируют, как показано ниже, еще одно (действительное) изображение объекта. [c.380]

Для нетривального решения определитель матрицы должен быть равен нулю, давая в общем четыре решения для волновых векторов. Однако два из этих решений соответствуют электронам, рассеянным назад, и в случае дифракции пучка частиц высокой энергии в экспериментах на прохождение их обычно можно не рассматривать. [c.181]

Для условий дифракции, при которых динамическое рассеяние дает существенный вклад в интенсивности резких брэгговских отражений, оно будет влиять и на интенсивность диффузного рассеяния. Прежде всего следует принимать во внимание, что падающий пучок не является единственным сильным пучком в данном кристалле. Каждый дифрагированный пучок будет в свою очередь служить источником диффузного рассеяния. Далее, диффузно рассеянное излучение при прохождении через кристалл будет испытывать дифракцию. Пучки, рассеянные диффузно в двух направлениях, угол между которыми равен удвоенному брэгговскому углу, могут взаимодействовать динамически, что, помимо всего прочего, приведет к образованию линий Косселя и Кикучи (гл. 14). Наконец, диффузно рассеянное излучение может повторно рассеиваться диффузно один или несколько раз, так что для толстого кристалла наблюдаемая интенсивность диффузного рассеяния может оказаться суммой многих многократно рассеянных компонентов, которые все модифицированы динамическим взаимодействием брэгговских отражений. [c.274]

В эшелле рабочими гранями являются узкие грани штрихов и излучение направляется по нормали (или вблизи нормали) к рабочим граням (рис. 240). Дифракция пучка лучей происходит также вблизи нормали. Принято считать, что профиль штриха эшелле примерно прямоугольный и основные характеристики определяются через параметры штрихов g и Л. Угол i может быть близким к 60°. [c.369]

Так как разрешающая способность и дисперсия решетки пропорциональны порядку спектра, то выгодно использовать высокие порядки. Решетки, дающие качественный спектр в высоких порядках, получили пазвапие эшелле в отличие от решеток (эшелет-тов), предназначенных для работы в низких порядках спектра. В эшелле рабочими гранями являются узкие грани штрихов, и излучение направляется по нормали (или вблизи нормали) к рабочим граням (рис. VII. 12). Дифракция пучка лучей происходит также вблизи нормали. Для эшелле принято считать, что профиль штриха близок к прямоугольному, и основные характеристики определяются по параметрам штрихов Ь к h. [c.369]

Все чаще используется днфракцио1П1ая рентгеновская топография по методу Берга — Баг. рета [61], позволяющая исследовать процессы пластической деформациии . Метод основан па получении рентгенограммы при дифракции пучка рентгеновских лучей на металлическом образце. Монохроматический пучок на- [c.83]

Рис. 13.3. Смешение максимума огибаюшей Дм остронаправленного пучка гауссова типа в зависимости от величины и = (< - п) (2а ) нормированное на значение Дм при 0=0 (кривая 7) Дм "Рн учете поглошения (2) при одновременном учете дифракции пучка в свободном пространстве и поглошения ( ) смешение пучка согласно классической теории 4)

Дифракция пучка при раслространенни сказывается лишь на знаменателе в правой части (13.42). С ростом А смещение монотонно возрастает, поскольку уменьшается вклад в полную интенсивность пучка на границе раздела неоднородных волн, не испытывающих смещения при отражении. [c.294]

Рис. 6.18. Отображение потерь энергии пучка с помощью профилей относительной амплитуды ПАВ, распространяющейся между входным и выходным преобразователями о — идеальный случай б — дифракш я пучка в — дифракция пучка и затухание.

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...