Пучок сфокусированный

РИС. 12.6. Гауссов пучок, сфокусированный внутри нелинейного оптического кристалла. [c.569]

В локаторе КА-98 применен принцип линейного сканирования местности, заключающийся в следующем (рис. 7.1). Излучение лазерного передатчика, расположенного на борту самолета, фокусируется на земной поверхности и с помощью сканирующего устройства периодически, отклоняется в плоскости, перпендикулярной направлению полета. Вследствие поступательного движения самолета лазерный луч просматривает последовательно все новые и новые участки местности. Синхронно с разверткой лазерного луча происходит отклонение оптической оси приемного канала локатора, так что в каждый момент времени отраженное излучение регистрируется фотоприемником на борту самолета. В результате изображение земной поверхности, которое в форме видеосигнала записывается на магнитную ленту. Разрешающая способность локатора определяется размером лазерного пучка, сфокусированного на земной поверхности. В дневное время нет необходимости подсвечивать местность лазерным лучом, так как интенсивность отраженного солнечного излучения достаточно велика. В этом случае разрешающая способность определяется мгновенным углом поля зрения приемного канала локатора чем он меньше, тем разрешающая способность лучше. [c.250]

Зная среднюю объемную концентрацию плазменных образований, можно оценить погонную концентрацию числа очагов пробоя в плоскости всего сечения лазерного пучка, сфокусированного через турбулентную атмосферу. Для этого конкретизируем выражение [c.172]

Согласно (5.132), изображение, формируемое в нулевом порядке, соответствует точке. Так как в заданных порядках j = —3,3, j ф О, а энергия распределена равномерно по длине отрезков фокусировки, то центральный пик интенсивности оказывается относительно большим. В то же время доля энергии освещающего пучка, сфокусированная в центральном пике, составляет всего 1%. [c.367]

Выведите выражение для размера пятна и радиуса кривизны гауссова пучка, сфокусированного тонкой линзой в среду с показателем преломления п. Найдите положение и диаметр перетяжки пучка. [c.570]

Газовая сварка. . Дуговая сварка. . Электронный пучок сфокусированный. . . . [c.366]

Рассмотрим сначала волновой пучок в свободном пространстве. Будем считать, что на апертуре х = 0) распределение амплитуды имеет гауссов вид с шириной пучка Wo, а распределение фазы — квадратичный вид с радиусом кривизны Ro- Такое фазовое распределение отвечает пучку, сфокусированному в плоскости x = Ro (рис. 18.2) [c.133]

Если пучок сфокусирован в точку наблюдения, то а = и [c.135]

Для пучка, сфокусированного в точку наблюдения = (18.31) принимает вид [c.136]

В работе Бака [60] приведены экспериментальные результаты, полученные для пучка, сфокусированного в точку наблюдения. [c.139]

Плазма, создаваемая в этих экспериментах лазерным пучком (или пучками), сфокусированным на мишень, является неоднородной ее параметры (плотность, температура) изменяются в пространстве. Имеются и множество другах ситуаций, когда плазма является неоднородной. [c.81]

Численные примеры. Какую ширину будет иметь звуковой пучок при уменьшении эха на 6 дБ на расстоянии Ю Из уравнения (4.17) при z=N и iV=Z)2/4A и подстановке k из табл. 4.2 для эхо-способа и Д——6 дБ, 0,51 получается 26 = 0,25Z). Следовательно, звуковой пучок, сфокусированный в конце ближнего поля, сужается до четверти диаметра излучателя. [c.93]

Используя сканирование электронного луча, можно сразу получить изображение, минуя промежуточные операции [106, 170, 334, 339]. Рисунок можно нанести на резист, используя сфокусированный пучок электронов — путем графления или векторного отклонения. При графлении прерывистый электронный пучок отклоняется на всю область сканирования. При векторном способе электронный пучок сфокусирован в виде линий. Высокие требования к исполнению отклоняющей системы оправданны, так как предоставляют возможность коррекции влияния нежелательных рассеяний или отражений электронов от резиста и от подложки [106, 170, 334]. Управление электронным пучком можно сочетать с перемещением подложки, прибегнув к помощи ЭВМ, и тем самым достичь оптимальных условий для получения изображения. [c.524]

На рис. 1.13 представлены микрофотографии следов точечных дислокаций (отдельные точки), линейных дислокаций (сплошные прямые линии, а также спирали или полуокружности). В этом случае зерна дислокаций могут располагаться в виде сфокусированных пучков выгнутых линий или в виде сетки пересекающихся дислокаций. [c.20]

Для увеличения плотности энергии в луче после выхода электронов из первого анода электроны фокусируются магнитным полем в специальной магнитной линзе 4. Сфокусированные в плотный пучок летящие электроны ударяются с большой скоростью о малую, резко ограниченную площадку (пятно нагрева) на изделии 6, при этом кинетическая энергия электронов, вследствие торможения превращается в теплоту, нагревая металл до очень высоких температур. Для перемещения,луча по свариваемому изделию на пути электронов помещают магнитную отклоняющую систему 5, позволяющую устанавливать луч точно по линии стыка. [c.16]

Рентгеновские вычислительные томографы (ВТ) были впервые разработаны для медицинской диагностики в 1971 г., и сейчас их насчитывается более 40 типов четырех поколений. Принцип работы ВТ основан на просвечивании сфокусированным рентгеновским пучком исследуемого слоя при его различных ориентациях, измерении линейного коэффициента ослабления (ЛКО) примерно в 100000 направлениях по одному сечению и реконструкции изображения по массиву измеренных данных ЛКО. Принципиальное преимущество ВТ - возможность получения изображения сечения объекта по [c.227]

Особые свойства лазерного излучения — высокая спектральная чистота и пространственная когерентность — позволяют, сильно увеличивая давление света, найти ему разные применения. Это стало возможным благодаря фокусировке лазерного луча в пятно с радиусом, равным одной длине волны. Оказалось, что силы давления, вызываемые сфокусированным лазерным светом, достаточно велики для перемещения маленьких частиц в различных средах. Используя сфокусированный лазерный пучок, удается сообщить как крошечным микроскопическим частицам, так и отдельным атомам и молекулам ускорения, в миллионы раз превосходящие ускорение свободного падения. Подобное увеличение давления света в луче лазера может найти весьма широкие применения в разных областях науки и практики. Так, например, используя такое высокое давление, в принципе возможно производить разделение изотопов, разделение частиц в жидкости, ускорение до больших скоростей электрически нейтральных частиц, проведение анализа атомных пучков и т. д. [c.353]

Контролируемый объект / освещается сфокусированным лучом лазера 2. На пути отраженного от объекта пучка света устанавливается голограмма 3 с предварительно записанным изображением кодовой маски. Число разрядов, дискретность, размеры кодовой маски определяются 40 [c.90]

Нелинейные оптические явления наблюдаются тем отчетливее, чем больше напряженность электрического поля волны, которая в сфокусированном пучке лазера может достигать 10 —10 В/см и стать сравнимой с внутренними полями в среде (10 —10 В/см). Физические причины возникновения нелинейных оптических эффектов заключаются в следующем. [c.299]

Эффект Штарка в стационарном электрическом поле состоит в расщеплении и смещении спектральных линий под действием внешнего электрического поля. В большинстве практически важных случаев внешнее поле мало по сравнению с внутренним полем атома, и влияние его на атомную систему можно рассматривать как малое возмущение. Получение электрических полей, близких к напряженности внутреннего поля атома (< =6-10 В/см), возможно лишь в сфокусированном лазерном пучке. [c.264]

В электронном микроскопе изображение поверхности во вторичных частицах создается благодаря развертке сфокусированного пучка электронов (зонда) по поверхности исследуемого образца. Пучок требуемого диаметра перемещается по образцу, разворачиваясь в р а с т р, представляющий собой совокупность близко расположенных параллельных линий, вдоль которых пучок обегает за период развертки выбранный [c.151]

Таким образом, эти исследования показали, что, сканируя поверхность деформируемого металла сфокусированным пучком света, по изменению тока эмиссии можно достаточно просто оценить неоднородность пластической деформации на начальной стадии растяжения. [c.34]

Иногда испарение производится из прутка. При испарении из водоохлаждаемого тигля и из прутка пучок электронов должен быть сфокусирован электростатической либо магнитной системой в центр испаряемого материала. [c.426]

Проекционный метод заключается в том, что поверхность пленки совмещается с плоскостью изображения маски. При контурно-лучевом методе рисунок воспроизводится в результате относительного перемещения сфокусированного на поверхность пленки светового пучка. Контурно-проекционный метод представляет собой комбинацию первых двух проекционного для получения изображения отдельного элемента и контурно-лучевого для воспроизведения всего рисунка в целом. [c.158]

Аппаратура, используемая в этих исследованиях, работает по принципу сканирования (автоматически или вручную) с применением различных высокочувствительных приемников инфракрасного излучения. Зондирование осуществляется либо узким пучком ИК излучения [103, 234], либо перемещением исследуемого образца или приемника [36, 49, 102, 118]. В качестве светового зонда используется сфокусированный на поверхности образца луч лазера, обладающий рядом преимуществ по сравнению с применением некогерентного источника излучения [195]. [c.180]

Электронно-лучевые методы основаны на использовании остро сфокусированного пучка электронов. Резкое торможение электронного пучка при соударении с обрабатываемой поверхностью приводит к выделению в точке соприкосновения значительного количества тепла, нагревающего, плавящего или испаряющего любые материалы. [c.973]

Первая схема обработки, представленная на рис. 8.13, л, соответствует воздействию импульсно-периодического лазерного пучка, сфокусированного в пятне диаметром d. В этом случае пятна нагрева перекрываются за счет последующих импульсов излучения, подаваемых с шагом х. Обработку по второй схеме (рис. 8.13, б) проводят непрерывным остросфокусированным лучом лазера. Упрочнение осуществ- [c.258]

Г. Соммаргреном в работе [70] описан новый оригинальный прибор — оптический гетеродинный профилометр. По принципу действия он является разновидностью интерферометра. Поверхность образца в оптическом гетеродинном профилометре освещается двумя сфокусированными пучками света, слегка различающимися по частоте и поляризованными во взаимно перпендикулярных плоскостях. Отразившись, эти пучки интерферируют так, что результирующая фаза модулируется в соответствии с разницей высот между освещенными точками поверхности. Если один из пучков сфокусирован на фиксированной точке, а другой движется по поверхности, то можно измерить высоты точек по линии сканирования второго пучка, т. е получить профиль поверхности. Деление светового потока на два пучка осуществляется призмой Волластона. В плоскости образца разделение пучков составляет 100 мкм. Исследуемый образец помещается на вращающийся столик и один из пучков совмещается с осью вращения столика, а второй сканируется по образцу при вращении. Небольшой сдвиг в частоте пучков происходит за счет расщепления основной моды Не—Не-лазера (расщепления Зеемана), трубка которого помещена в аксимальном магнитном поле. Описанный прибор позволяет получить чувствительность к высоте шероховатости до 0,1 нм, совмещая в себе преимущества интерферометра с пре- [c.233]

Рассмотрим гауссов лазерный пучок, отвечающий поперечной моде низшего порядка и распространяющийся в электрооптическом кристалле цилиндрической формы длиной L и диаметром d. Можно, показать (см. задачу 8.4), что для данного кристалла с фиксированной длиной L диаметр цилиндра будет минимальным, когда гауссов пучок сфокусирован таким образом, что параметр конфокаль-ности Zq равен половине длины L, а перетяжка пучка располагается в центре кристалла, как показано на рис. 8.12. При этих условиях диаметр пучка в перетяжке равен а на входном и выходном основаниях цилиндра он равен причем [c.320]

Для расчета усиления ультразвука в фокусе собирательной линзы необходимо учитывать, кроме волновых сопротивлений, такие факторы, как зависимость коэффициента прохождения волны через линзу от угла падения, от поглощения ультразвука в материале линзы, влияние нелинейных эффектов иа фокусирование ультразвука. С детальным расчетом ультразвуковых фокусирующих устройств можно познакомиться по недавно изданной книге И. И. Каг.езского [60]. ]-1а рис. 42 приведена теневая фотография ультразвукового пучка, сфокусированного акустической линзой. (1 (мне-вой метод ви 5уализации ультразвуковых полей сводится к просветлению участков среды с измененным о1 тнческим показателем преломления [12]. Поско.1ьку последний меняется в фазе с плотностью, т. е. с давлением, то теневая фотография, экспонируемая в течение времени, значительно превышающего период ультразвуковых колебаний, регистрирует общее просветление области среды, занятой ультразвуковым пучком, позволяя изучить его структуру и геометрию). [c.156]

Рис. 3.2. Сечение области фО кусировки лазерного излуче ния. — направление оси пучка сфокусированного излучения, Р — напряженность поля излучения, Fi > FJ. го, zo — см. в тексте.

Разрешающая способность дисплея соответствует его способности воспроизводить самые мелкие детали, которые можно различить на экране. Она может выражаться в терминах размера пятна от электронного пучка, сфокусированного в точку, либо измеряться числом различимых параллельных линий на единицу длины (мм). Еще более информативной мерой разрешающей способности является число различных линий, отнесенное диаметру экрана. Дисплейный пульт для автоматического проектирования может, например, иметь порядка 1000 линий по ширине изображения, когда при малой яркости эти линии воспроизводятся тонкими. Вообще следует помнить, что увеличение яркости ухудшает разрешающую способность в связи с тенденцией пятна электронного пучка дефокусиро ваться или расплываться при больших токах. Поэтому при максимуме яркости следует ожидать ухудшения разрешающей способности. [c.42]

Глубина надреза, выполненного пучком сфокусированного лазерного излучения, составляет 40. .. 125 мкм, а ширина - 20. .. 40 мкм при толищне пластины 150. .. 300 мкм. Большая плотность мощности (10. .. 100 Вт/см ) вызывает плавление и испарение полупроводника. Однако очень малая длительность лазерного импульса и быстрое перемещение разрезаемой пластины относительно сфокусированного лазерного пучка является причиной того, что теплота, выделяющаяся в прилегающей к надрезу области материала, не вызывает в нем существенных изменений. Зона термического влияния составляет не более 50 мкм. [c.317]

В неоднородных по сечению лазерных пучках возникают не только продольные, но и поперечные силы. С их помощью, используя шесть лазерных пучков, сфокусированных с разных сторон в одну точку, была простроена оптическая ловушка (рис. 18.25). В такой ловушке ультрахолодные атомы могли удерживаться в объеме -10" мм в течение -10 с. Эксперименты с захваченными атомами и ионами позволили исследовать формирование химических связей, проверить выполнение законов сохранения в единичных актах рождения и уничтожения фотонов, получить физические объекты с совершенно необыкновенными свойствами, например с пока.зателем преломления [c.298]

Разрешающая способность дисплея определяется способностью воспроизводить самые мелкие детали, которые можно различить на экране. Она выражается в раз.мерах иятна от электронного пучка, сфокусированного в точку. [c.21]

Электронно-лучевая обработка основана на превращении кинетической энергии направленного пучка электронов в тепловую. Высокая плотность энергии сфокусированного электронного луча позволяет обрабатывать заготовки за счет нагрева, расплавления и испарения материала с узколокального участка. [c.412]

Любой точечный источник света создает пространственно когерентные колебания. И сферические, и плоские волны обладают пространственной когерентностью. Сферические волны пространственно когерентны именно потому, что они как раз и представляют собой колебания, которые создаются точечным источником света. Пространственная когерентность плоских волн обьясняется тем, что любой строго параллельный пучок плоских волн можно рассматривать как исходящий из бесконечно удаленного точечного источника. С помощью линзы пучок нетрудно сф Окусиро-вать в точку, а будучи сфокусированными таким способом в точку, волны затем распространяются в виде конусообразного пучка света волновые фронты в. этом пучке искривляются подобно поверхности сферы, т. е. образуется уже известная расходящаяся сферическая волна (или пучок). В описанном явлении скрыта одна из причин непригодности обычной. электрической лампы накаливания для получения интерференционных картин по размерам ее явно нельзя отнести к точечным источникам света. [c.12]

Генерацию второй гармоники впервые наблюдал Франкен в 1961 г. Схема эксперимента приведена на рис. 36.3. Сфокусированное излучение рубинового лазера 1 направляется на тонкую кристаллическую пластинку 2. Из пластинки, помимо исходного красного излучения лазера (Х = 0,6943 мкм), выходит также ультрафиолетовое излучение (Х = 0,3472 мкм). Это излучение отделяется от исходного светофильтрами 3 или спектральными приборами и регистрируется подходящим приемником излучения (фотопленка или фотоумножитель). Этот опыт особенно хорошо наблюдать, если вместо рубинового лазера использовать инфракрасный, например неодимовый, лазер (Х=1,06 мкм). Тогда из пластинки 2 выходит пучок зеленого света (А, = 0,53 мкм). [c.304]

Существенным недостатком лазерных визиров является относительно большое угловое расхождение сфокусированного лазерного луча - до 30" у ЛВ5М. Из-за этого диаметр светового пятна при удалении на 160-180 м достигает 24-27 мм, что отрицательно сказывается на точности отсчетов по марке-экрану. Для повышения точности измерения смещений от центра лазерного пучка И. Ф. Болгов и Л.В.Шаршавицкий (Устройство для определения горизонтальных смещений точек сооружений // Геод. методы контроля качества в стр-ве. Куйбышев, 1984. С. 110-114) [c.29]

Конструкция пирокона подобна конструкции стандартного видикона. Основные отличия — использование окна, прозрачного для ИК-излучения, и пироэлектрического материала мишени. Тепловое излучение объекта фокусируется объективом на мишень. В результате поглощения излучения на поверхности мишени формируется потенциальный рельеф мишени, соответствующий распределению температур. Сигнал, возникающий при считывании сфокусированным электронным пучком распределения потенциала (заряда), пропорционален распределению интенсивности падающего на мишень излучения. Эти заряды и создают за счет емкостной связи выходной сигнал па пластине, представляющей собой слой металла, нанесенный на противоположную по отношению к лучу сторону ми нени. [c.141]

На характер формирования упрочненного слоя большое влияние оказывает равномерность распределения энергии в лазерном луче, поэтому обработка дефокусированным лучом не всегда целесообразна, так как неравномерность распределения энергии в расфокусированном пучке намного выше, чем в сфокусированном. В случае размещения обраба-тываемой поверхности в фокальной плоскости при одновременном высокочастотном сканировании лазерного луча можно легко контролировать ширину и длину фокального пятна, а следовательно, и распределение мощности. Одним из примеров сканирования лазерного луча можно назвать механическую вибрацию зеркала с частотой 1—2 кГц (рис. 35, а). [c.113]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...