Спектральные аналитические линии

Спектр линейчатый 182 Спектральные аналитические линии 183 Спектральные аппараты 181 [c.1199]

Выбор аналитических линий. Возможность определения состава вещества по его спектру основана на индивидуальности и аддитивности спектров химических элементов. Поэтому в принципе любая спектральная линия элемента, присутствующая в спектре излучения пробы, может служить доказательством наличия его в анализируемой пробе. [c.29]

При проведении анализа для многих элементов используются несколько групп аналитических линий, расположенных в разных областях спектра. Каждая группа спектральных линий оказывается пригодной для оценки содержания элемента лишь в определенном интервале концентрации. Различные соотношения интенсивности линий определяемого элемента и линий сравнения характеризуют концентрации элементов. Оценку интенсивности сравниваемых линий следует начинать через 30—40 с после включения дуги. Это время необходимо для установления равновесия между переходом вещества в плазму разряда и поступлением его из нижних слоев. При анализе с определением никеля, титана и вольфрама выдержка должна быть не менее 60 с. , [c.67]

Успех спектрального количественного анализа в значительной мере заш сит от выбора спектральных линий (аналитических линий). Одна из пих, как было отмечено выше, дол>1ша принадлежать анализируемому элементу, а другая, как правило, элементу основания сплава. Такая пара спектральных линий носит название аналитической нары линий. Линии дол кн1.1 быть расположены в спектре по возможности недалеко друг от друга, в области, доступной избранным методам фотометрии (визуальной, фотографической или фотоэлектрической). [c.598]

При.количественном анализе прежде всего подбирается путем предварительных исследований аналитическая пара спектральных линий. Концентрационная чувствительность аналитической линии должна быть достаточно высокой, а относительная интенсивность при данных условиях возбуждения и поступления анализируемых материалов в межэлектродный промежуток — достаточно стабильной. [c.605]

Измерение абсолютной интенсивности спектральных линий — сложная и трудоемкая задача. Для большинства практических задач достаточно определить относительную интенсивность спектральных линий или участков сплошного спектра. При этом интенсивность исследуемой спектральной линии (или участка спектра) сравнивается с интенсивностью известной спектральной линии (или участка спектра) некоторого эталонного источника. При количественном спектральном анализе обычно определяют отношение интенсивности аналитических линий к интенсивности линий основы, что позволяет определить концентрацию из уравнения (VII.119). [c.403]

Методика качественного спектрального анализа состоит в следующем анализируемое вещество либо вводят в спектрально-аналитический источник. света в качестве твердого электрода, либо, в случае порошкообразных веществ, насыпают в углубление, высверленное на конце специального спектрально-чистого угольного электрода. Спектр анализируемого вещества фотографируют на фотопластинке рядом со спектром железа, для которого имеются подробные атласы спектральных линий П]- Сравнивая положение линий анализируемого вещества с положением линий железа, определяют длины волн и с помощью таблиц спектральных линий [2] устанавливают их принадлежность определенным элементам. Значительно облегчают эту операцию атласы спектра железа с размеченными на них положениями аналитических линий других элементов [3] (см. рис. 1). [c.280]

Выбор длин волн. При выборе пары аналитических линий для зондирования концентрации молекул озона необходимо учитывать следующие моменты а) типы присутствующих в атмосфере аэрозолей и характеристики их рассеивающих свойств б) диапазон изменений концентрации молекул озона и требуемое пространственное разрешение в) концентрации и спектральные характеристики других газов, спектры которых перекрываются со спектром озона. [c.206]

Известно, что предел обнаружения в спектральном анализе зависит от выбора линии, способа регистрации аналитического сигнала, качества и типа спектрального аппарата и т.д. Проблема в выборе аналитических линий состоит в том, что предельное значение концентрации элемента, которую позволяет обнаруживать выбранная линия, может отличаться, по разным литературным данным, в несколько раз. Так, для рекомендованной в описании МФС-7 линии Ре 259,9 нм приводится значение предела обнаружения 10 г/т, в работе[1] для этой же линии приведено значение 3 г/т. Такая же ситуация наблюдается и для пинии меди 324,7 нм. [c.329]

Концентрация искомого элемента в спектральных методах определяется по почернению выбранной аналитической линии в определенных интервалах концентрации данного элемента для данной аналитической линии существует линейная зависимость, между почернением аналитической линии и логарифмом концентрации элемента. [c.302]

О воспроизводимости и точности метода можно судить по результатам, сведенным в табл. 1. При сопоставлении результатов, полученных спектральным и химическим методами, видна хорошая сходимость обоих методов. Средняя квадратичная ошибка составляет 4% относительных. Методика пригодна для различных сортов свежих и отработанных дизельных масел, так как в отработанных маслах отсутствуют элементы, могущие перекрыть аналитические линии, и барий находится в таком состоянии, которое пе влияет на его определение спектральным методом. [c.305]

Выбор типа спектрального прибора определяется конкретными условиями анализа — областью спектра, где расположены аналитические спектральные линии, числом линий в спектре пробы и способом регистрации спектра. [c.9]

Выбранные для анализа две спектральные линии, одна из которых принадлежит спектру определяемого элемента, а другая >12 — спектру элемента сравнения, называют аналитической парой. Обозначая через С и Сет концентрации определяемого элемента и внутреннего стандарта в образце и предполагая для них справедливым соотношение (1.26), а также учитывая возможное влияние самопоглощения на интенсивности сравниваемых линий, можно для относительной интенсивности написать выражение, аналогичное (1.27) [c.42]

Отношение Js /Js2 определяется в процессе лидарных измерений одновременно с отношениями вида Jk/Jks и служит входным в номограмму для калибровочного коэффициента Скэ- Относительная погрешность концентрационных измерений по рассмотренной выше методике при регистрации интенсивностей спектральных линий с точностью не хуже 5 % для набора различных веществ составила в среднем 50 7о- Погрешность может быть снижена до 25—30 % за счет набора статистики. Концентрационная чувствительность спектрохимического лидара существенно зависит от интенсивности аналитических пар спектральных линий определяемого и базового элементов и составляет для различных веществ в среднем 0,1 — 10 мкг-м- . [c.198]

Сообщаются результаты теоретического исследования излучательной способности равновесной цезиевой плазмы в диапазоне температур 2000—6000 К для давления 10 , 10 , 1 ата и толщин газового слоя =1 10 100 см. Рассматривается излучение в спектральных линиях атома цезия и предлагаются интегральные аналитические формулы для расчета энергии линейчатого излучения в главной, резкой, диффузной сериях и в серии 5 )—пР для оптически плотного и тонкого слоев газа. Таблиц 3. Библиографий 14. Иллюстраций 2. [c.405]

Чтобы свести ошибки полуколичественных определений к минимуму, с.ледует подобрать не одну аналитическую спектральную линию примеси, а выбрать несколько аналитических пар спектральных линий и проводить определения по относительной их интенсивности. Так как таких пар можно иногда выбрать большое количество, то моншо для них подобрать концентрации анализируемой нримеси, когда относительная интенсивность для пары будет равна единице, что легко отметить визуально с достаточной степенью точности по равенству их интенсивностей непосредственно в спектре или по равенству почернений на фотопластинке. [c.600]

Проводится спектральный количественный анализ на стилоскопе по методу переноса следующим образом. На подставной электрод при определенном времени переноса отбирается проба. Далее этот электрод и ему подобный включаются в качестве электродов в аналитический промежуток. Источник света включается с одновременным включением секундомера. В момент исчезновения спектральной линии перенесенного вещества или в момент, когда интенсивность ее снизится до линии сравнения, секундомер выключается. Продолжительность существования спектральной линии определенного компонента будет при прочих постоянных условиях пропорциональна количеству перенесенного вещества и, следовательно, начальной концентрации этого компонента в пробе. В основе всех количественных приемов анализа по методу переноса пробы лежит, конечно, как и при обычных количественных методах спектрального анализа, использование соответствующих эталонов для получения концентрационных градуировочных кривых. [c.627]

В этой главе излагаются основы аналитической теории образования спектральных линий. После изложения сведений о профилях поглощения выводятся законы перераспределения излучения по частоте при рассеянии, В остальной части главы изучается случай полного перераспределения по частоте. Рассмотрены те же плоские среды, что и при монохроматическом рассеянии бесконечная и полубесконечная среды, а также конечный слой. Некоторые сведения о рассеянии при более сложных законах перераспределения будут даны в следующей главе. [c.136]

Фотоэлектрический прибор для эмиссионного спектрального анализа должен решать ту же задачу, что и спектрограф в сочетании с микрофотометром, т. е. разлагать излучение в спектр п измерять интенсивность спектральных линий аналитической пары. Так как в пределах спектральной линии необходимо регистрировать очень [c.414]

Так, аппаратная функция спектрального прибора однозначно определяет реальную разрешающую силу прибора и те искажения, которые вносит его оптическая система в наблюдаемое на опыте распределение энергии в спектре. График А (х) может быть получен непосредственным фотометрированием очень узких спектральных линий, а также рассчитан аналитически или графически методом элементарных площадок Слюсарева [27]. [c.347]

Выбор спектрографа. Выбор типа спектрографа определяется спектральной областью, в которой располагаются аналитические линии, и степенью сложности спектра исследуемой пробы (см. введение). Спектрографы средней дисперсии ИСП-22, ИСП-28, ИСП-30 охватывают широкий диапазон длин волн от 200 до 700 нм, где располагаются последние линии большинства химических элементов. Поэтому они применяются для анализа многих металлов, сплавов и образцов минерального происхождения, спектры которых не отличаются особой сложностью. Образцы, содержащие переходные элементы и обладающие многолинейчатыми спектрами, анализируются с помощью спектрографов высокой дисперсии ДФС-13, ДФС-8, СТЭ-1 и др. Так как отношение интенсивности линии к интенсивности сплошного фона согласно (1.16) и (1.17) растет с увеличением дисперсии, применение таких спектрографов приводит к повышению относительной чувствительности анализов. [c.31]

Спектрограф ИСП-22 рассчитан для работы с фотопластинками размером 9x24 см. Однако в данной задаче можно пользоваться и пластинками меньшего размера 9X12 см, так как выбранные аналитические линии занимают небольшой спектральный интервал. Такую пластинку устанавливают в кассете на расстоянии 4—5 см от длинноволнового конца спектра. Спектры фотографируют на фотопластинках спектральные тип / или II (см. рис. 3). [c.46]

При фотоэлектрической регистрации в фокальной плоскости располагается одна или несколько выходных щелей, выделяющих заданные спектральные интервалы, и далее фотоэлемент или фотоумножитель Q. Если на выходе системы мы имеем одну выходную щель, то путем поворота диспергирующего элемента можно сканировать (перемещать) спектр относительно выходной щели, чтобы осуществить регистрацию спектра. Такой прибор называется монохроматором. Если в фокальной плоскости располагается несколько щелей, выделяющие из спектра аналитические линии, а вся система соединена с оптикоэлектронным регистрирующим устройством, то такие приборы называются квантометрами. Квантометры в настоящее время играют основную роль в экспрессном анализе металлов и сплавов. [c.422]

При сортировке металлолома спектральные приборы— стилоскоиы позволяют вести визуальное наблюдение спектра. При помощи стилоскопа между его постоянным электродом и анализируемым образцом зажигается дуга или вызывается искрение. Излучаемый при этом свет проходит через щель стилоскопа, попадает в трехгранную призму и образует спектр. Спектр наблюдается через окуляр стилоскопа, и оценка аналитических линий (фотометрирование) производится визуально. Аналитическая группа линий включает одну или несколько спектральных линий определяемого элемента и несколько линий сравнения. При анализе химического состава сталей линиями сравнения служат спектральные линии железа. [c.194]

При проведении качественного анализа следует опасаться, во-первых, перекрытий (наложений) аналитических линий и линий других элементов и, во-вторых, ошибок, связанных с загрязнением анализируемых прО б и электродо1В посторонни1Ми веществами, что при высокой чувствительности спектрального анализа особенно опасно. [c.280]

Абсолютная величина интенсивности спектральных линий зависит не только от концентрации элемента, но также от условий проведения анализа. Поэтому концентрация элемента в сплаве определяется не по абсолютной интенсивности аналитических линий, а по отношению этой интенсивности к интенсивности, какой-либо другой линии в том же спектре — линии сравнения , которая не зависит от концентрации искомого элемента и одинаково с аналитической линией реагирует на изменение условий анализа. Такими линиями сравнения могут служить линии основного элемента сплава, линии второго электрода, атмосферы или специально вводимого для этой цели в источник света элемен та сравнения . Аналиг тические линии вместе с линиями сравнения составляют аналитические пары . [c.184]

Литературные источники или нормативно-технические документы, содержащие достаточную (как в случае химического анализа) информацию о точности спектро-аналитических измерений за рубежом, отсутствуют. Первое детальное исследование сходимости результатов фотоэлектрического спектрального анализа сталей на воздушных кван-тометрах ДФС-10М и ДФС-36 было выполнено в СССР Н.В.Буяновым (в процессе разработки ГОСТ 18895—73). Полученные результаты показали, что в основном концентрационные зависимости случайной погрешности химического и спектрального анализа достаточно близки между собой и что линия регрессии — с может быть аппроксими- [c.55]

Вопрос о форме спектральной линии мы рассмотрим только в случае газов, так как аналитические и феноменологические результаты позволяют лишь заложить основы методов измерений, а чтобы учесть все переменные, которые в настоящее время являются все еще предметом активных исследований [И —13], требуется нечто большее, нежели качественное рассмотрение. Что касается спектральных лрший в газах, то здесь можно говорить о пяти типах уширения [c.236]

В практике и теории спектроскопии наиболее часто используется выраженпе для контура спектральных линий в завпсимостп от частоты V. Зто обусловлено тем. что частота излучения является физически более определенной и независимой величиной, непосредственно связанной с энергией фотона Iiv и другими ха1)актерпсти-ками атома, тогда как длппа волны зависит, наирпмер, от свойств среды, в которой распространяется излучение. Кроме того, контур спектральных линий как функцию частоты в ряде случаев удается достаточно точно аппроксимировать рядом относительно простых аналитических функций. [c.87]

В случае легированных сталей, содернощих в качестве легирующих элементов У, V, Мо, Сг, Мп, N1, 81 и др., которые выступают в качестве примеси к основному элементу — железу, можно подобрать в видимой области снектра большое число аналитических пар спектральных линий, одна из которых является линией легирующего элемента, а другая — линией основного элемента — железа. Обусловлено это тем, что снектр железа очень [c.601]

Сравнение интенсивности спектральных линий анализируемых элементов выполняется здесь, в отличие от ранее описанного спектрального аппарата, как д. обычно, с одной из линий 3 основания анализируемой X пробы. Таким образом, 5 шесть каналов позволяют выбрать только три анали тические пары линий следовательно, вести од новременно анализ на три элемента. Использование аналитических нар в общем случае делает анализ более уверенным, в особенности, если применять обычные источники света с искровым активизатором электрических дуг. Возможно, что применение электронного стабилизатора типа ГЭУ-1 и неразложенного пучка сравнения но схеме рис. 463 позволит вести и с по- мощью ФЭСА анализ на шесть элементов. [c.621]

В учебном пособии излагаются теории переноса монохроматического излучения и изх чения в спектральной линии. Подробно рассматривается аналитическая теория, включая точные, асимптотические и приближенные методы решения модельных задач. Дгсется представление о некоторых распространенных численных методах. [c.2]

В книге излагается теория переноса монохроматического излучения, изотропного и анизотропного (глава 2), и излз ения в спектральной линии с полным или частичным перераспределением по частоте (глава 4). Геометрия рассеивающих сред предполагается плоской. Рассматриваются бесконечная и полубесконечная среды, а также плоский конечный слой. Подробно излагается аналитическая теория, в том числе точные, асимптотические и приближенные методы решения модельных задач. В отдельную главу 3 выделен резольвентный метод, позволяющий найти точные выражения для основных функций, характеризующих поля излучения, и асимптотики этих функций. Дается представление о некоторых распространенных численных методах, В последней главе 5 рассматриваются задачи об определении интегральных характеристик полей излучения, таких как среднее число рассеяний, о рассеянии в молекулярных полосах, с частичным перераспределением по частоте, а также с учетом поляризации и движения рассеивающей среды. [c.9]

Если спектральные лщнии разделены, для определения Еа или интегрального 8 развиты простые аналитические методы [42]. Такими линиями обладают, в частности, молекулы НС1 и HF. Расчеты достаточно хорошо совпадают с экспериментом вплоть до давлений в несколько атмосфер и оптических плотностей порядка нескольких см-атм. [c.232]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...