Аппаратная функция спектральная

Аппаратная функция спектральных приборов определяется многочисленными факторами. Если основную роль играют диф- [c.164]

Аппаратная функция спектрального прибора [c.317]

Что называется аппаратной функцией спектрального прибора [c.327]

В реальных спектральных приборах разрешающая способность определяется шириной так называемого инструментального контура спектральной линии, или аппаратной функцией спектрального прибора. [c.425]

Обозначим аппаратную функцию спектрального прибора Л (А —Я ). Аргумент функции (Я — X ) —переменная спектральная координата, причем % — значение длины волны на выходе прибора, для которой измеряется энергия излучения. При X — Я =0, т. е. в измеряемой точке Х=Х, аппаратная функция принимает максимальное значение. Для всех других значений аргумента X — X ), т. е. для других X, в точке X аппаратная функция убывает, причем чем больше X отличается от X, тем меньше энергетический вклад соседних спектральных участков в измеряемый сигнал. [c.427]

АППАРАТНАЯ ФУНКЦИЯ СПЕКТРАЛЬНОГО ПРИБОРА [c.333]

Реальный предел разрешения определяется, помимо этого, всеми перечисленными выше причинами, влияющими на полуширину аппаратной функции спектрального прибора и соответственно расширяющими измеренный контур спектральной линии. [c.336]

Эффективная спектральная ширина щели. С разрешающей силой и аппаратной функцией спектрального прибора тесно связано понятие спектральной ширины щели, которая определяется как интервал длин волн, соответствующий ширине изображения входной щели 81 или ширине выходной щели 5г [c.346]

Так, аппаратная функция спектрального прибора однозначно определяет реальную разрешающую силу прибора и те искажения, которые вносит его оптическая система в наблюдаемое на опыте распределение энергии в спектре. График А (х) может быть получен непосредственным фотометрированием очень узких спектральных линий, а также рассчитан аналитически или графически методом элементарных площадок Слюсарева [27]. [c.347]

Следовательно, можно считать, что спектральный прибор, выделив синусоидальные составляющие из исследуемого излучения, как бы провел экспериментальное разложение заданной функции в ряд Фурье. Математическая операция получения спектра функции E t) и физический эксперимент, заключающийся в разложении электромагнитной волны на составляющие, привели к одинаковым результатам и, по-видимому, близки по количеству получаемой информации об исследуемом излучении. Такое же сравнение математического и физического спектров можно провести и в более сложном случае, когда изучаемая функция не является суммой гармонических колебаний, хотя отличная от нуля ширина аппаратной функции усложняет интерпретацию эксперимента и приводит к дополнительным трудностям, которые здесь не рассмотрены. [c.69]

В 6. 7 рассмотрена принципиальная возможность разрешения изображений двух звезд в том случае, когда критерий Рэлея заведомо не соблюдается, но измерение суммарного контура и определение аппаратной функции могут быть проведены с малыми ошибками. Все эти рассуждения полностью применимы и к разрешению спектральным прибором двух близких по длине волны спектральных линий. [c.319]

Аппаратурные искажения спектрометра учитываются с помощью аппаратной функции А (V), которая задает некоторое распределение интенсивности в спектре, если на вход спектрометра падает идеально монохроматическое излучение. Если же в спектрометр попадает излучение с некоторым распределением интенсивности по спектру ф(м), то наблюдаемая форма контура спектральной линии такого излучения будет определяться интегралом (сверткой) вида [c.122]

Предварительно оценивают получаемую щирину исследуемой линии и сравнивают ее с величиной спектральной щирины щели. Спектральную щирину щели находят теоретически, исходя из размеров геометрического изображения щели и дифракции на действующем отверстии прибора (см. задачу 1). Оценка спектральной щирины щели может быть также сделана по тонким линиям железа. В последнем случае будут учтены все факторы, в том числе качество изображения спектра в приборе и аппаратная функция фотослоя. [c.276]

Осн. характеристиками М., определяющими выбор параметров его оптич. системы, являются лучистый поток проходящий через выходную щель предел разрешения 6Я, т. е. найм, разность длин волн, ещё различимая в выходном излучении М., либо его разрешающая способность г, определяемая, как и для любого др. спектрального прибора, отношением Я/бЯ, а также относительное отверстие объектива коллиматора Ад, Разрешающая способность г, ширина выделяемого спектрального интервала бЯ и спектральное распределение энергии излучения, прошедшего через выходную щель, определяются аппаратной функцией М., к-рую можно представить как распределение потока лучистой энергии по ширине изобра.- [c.210]

В прецизионной С. твёрдых материалов и покрытий для правильной интерпретации результатов измерений в некогерентном излучении вводится представление о многомерной аппаратной функции измерений (АФИ) А(й, ф, х). Ширина АФИ по координатам К, ф, х соответствует спектральному (бЛ), угловому (бф) и пространственному (бх) интервалам, выделяемым в дан-пой схеме измерений. Каждое измеренное значение X и его погрешность АХ рассматриваются как результат операции свёртки многомерных ф-ций Х ), ф, х) А( ь, ф, х) в данных конкретных условиях, описываемых комбинацией параметров к, ф, х, бЛ, бф, бх (при известных поляризации и темп-ре) с соответствующими допусками по каждому из параметров. Функциональные зависимости X от параметров Я, ф, х измеряются так один из параметров сканируется, а [c.626]

Форма аппаратной функции реального спектрального прибора определяется рядом факторов, действующих одновременно конечной шириной щели, аберрациями, дифракцией, различного рода дефектами оптических деталей, фотослоем (при фотографической регистрации). Но спектральные приборы часто используются [c.45]

Величина 6/. называется спектральной шириной аппаратной функции. [c.49]

В зависимости от факторов, определяюш,их впд аппаратной функции, и от типа спектрального прибора величины а и (ИМХ, входяш,пе в (1.53), могут зависеть друг от друга, но могут быть и независимыми. [c.49]

С этой точки зрения интересны работы Строука по улучшению изображений электронных микроскопов с помощью голографических фильтров [163]. Применение оптических методов обработки информации для обработки спектрограмм, рентгенограмм, изображений с электроинЫ1х микроскопов и т. п., для устранении влияния аппаратных функций спектральных приборов, рентгеновских установок, электронных микроскопов на качество формируемых ими изображений может явитьси эффективным средством существенного увеличении разрешающей способности этих приборов (до нескольких раз) без каких-либо конструктивных усовершенствований самих приборов. [c.263]

Пз сказанного выше следует, что прп определении критерия разрешения необходимо задать число разрешаемых монохроматических линий и их интенсивность, аппаратную функцию спектрального прибора, приемник излучения (его чувствительность и шумовые характеристики) и метод регистрации спектра. Поэтому на практике, главным образом прп сопоставлении разрешающей способности различных спектральных приборов, обычно исполь-з шт критерий разрешения по существованию минимума, или провала, в центре результирующего распределения, образованного наложением только аппаратных функции от двух линий с близкими длинами волн одинаковой интенспвностп, без учета свойств приемника (пли считают приемник одинаковым для всех приборов и обладающим более высоким разрешенпем, чем спектральный прпбор). [c.45]

Поскольку любой вид дополнительных аппаратурных искажений. кроме дифракции,приводит к увеличению ширины результирующей аппаратной функции (а>ад), то очевидно, что при дифракционной аппаратной функции данный спектральный прибор с одномерной дисперсией имеет максилгальную разрешающую способность. Ее называют предельной пли теоретической, а иногда дифракционной разрешающей способностью. При реальной аппаратной функции спектрального прибора, отличной от дифракционной, разрешающая способность меньше теоретической, и обычно ее называет реальной пли практической. В частности, разрешающая способность, определяемая согласно критерию Релея. также является теоретической, ее иногда называют релеевской разрешающей способностью. Релеевская разрешающая способность коли- [c.48]

В заключение следует подчеркнуть, что аппаратная функция спектрального прпоора является напоолее полной Характеристикой ого информационной способностп, определяющей разрешающую способность и систематические искажения, вносимые в измеряемый спектр. Количественная связь между истпнным п наблюдаемым спектром и аппаратной функцией будет рассмотрена в 1.12. [c.50]

В случае фотоэлектрической регистрации спектра результаты измерений могут фиксироваться либо в цифровом виде, либо в виде записи, полученной с помощью самописца при сканировании спектра. Будем считать, что ширина аппаратной функции спектрального прибора намного меньше измеряемой ширины спектральной линии 6к Если середина выходной щели приходится на максимальную освещенность от спектральной линии -А1, то выходящий поток равен по (7.1.36) Фл, бХкз/гй/ л,, [c.490]

Мы усматриваем аналогию с разложением излучения в спектр, которое проводилось для выявления истинной структуры спектральной линии, замаскированной уширением, создаваемым спектральным прибором, которое также называлось аппаратной функцией. Эта а11 алогия весьма глубокая, так как обе эти операции основаны на преобразовании Фурье, имеющем непосредственное отношение к данной проблеме (см. 6.6). [c.338]

Следует подчеркнуть, что аппаратная функция представляет пространственное распределение энергии монохроматического излучения в направлении днснерсии, длпна же волны во всех точках этого распределения одна и та же. Если же входная щель освещена излучением, имеющим сложный спектр с некоторой зависимостью от длины волны, например излучением спектральной линии конечной ширины, то каждая монохроматическая компонента этой линии отобразится в фокальной плоскости камерного объектива в виде аппаратной функции с конечной шириной а. Поэтому распределение энергии в спектральной линии отличается от истинного расиределення яркости по длинам воли в спектральной линии [c.43]

Конечная шпрпна анпаратноп функции реальных спектральных приборов также ограничивает возможность различения в спектре двух близких спектральных линий. Если длины волн л и л Ь к двух монохроматических линий от.личаются значительно, так что расстояние между центрами их изображений (т. е. между центрами соответствующих аппаратных функций) больше ширины аппаратной функции. сИ> а (рпс. 1.21, а), то такие линии наблюдаются раздельно, т. е. уверенно разрешаются. Если же бл мало, так что (]1 << а, то аппаратные функции для обеих линий в значительной своей части перекрываются (рис. 1.21, б) и в результирующем распределении мы пе всегда сможем установить наличие двух линий — лпшш пе будут разрешены. Такпм образом, при определении разрешающей способности, по существу, речь идет о разрешении двух близких аппарат- [c.43]

Отдхегил также, что в рассмотренном выше критерии разрешения по провалу предполагается, что обе монохроматические линии имеют одинаковую интеисивность. Если же опи отличаются по интенсивности, то при той же величине 6а провал в результирующем распределении может иметь меньшую величину пли вообще не будет наблюдаться, хотя и в последнем случае результирующее распределение несколько отличается от аппаратной функции. Легко понять, что если бы мы знали аппаратную функцию точно и могли бы измерять распределение энергии в спектре так же точно, то всякое отличие измеренного контура спектральной линии от аппаратной функции свидетельствовало бы о немонохроматичности излучения. Однако из-за существования случайных ошибок измерения мы сможем судить об указанном отличии лишь с точностью до этих ошибок. [c.45]

В некоторых спектральных приборах (напрпмер, монохроматорах) аппаратную функцию при наличии аберраций можно аппрокспмпровать кривой Гаусса (рпс. [c.47]

Каждой точке лпнпн дпсперспп можно приписать определенную длину волны пли частоту, и поэтому лпиепную ширину аппаратной функции а можно выразить в спектральных единицах, например в длинах волн, хотя всем точкам аппаратной функции соответствует одна и та же длина волны. [c.49]

Поскольку равенство с11 = а (см. рис. 1.23) определяет условие разрешения двух аппаратных функций, то, очевидно, спектральная ширина аппаратной функции (1.52) численно равна интервалу длин волн разрешаемых монохроматических линий к и Я — бл. Тогда согласно определению (1.46) можно записать выражение для разрешаюгцей способности в виде [c.49]

Так, например, если аппаратная функция чисто щелевая, то а = 2= % (/о А) Г и увеличение линейной дисперсии = /з dq/d k за счет увеличения ие приводит к росту так как и dl dX и 8.2 пропорциопальны В то же время увеличение dl/dX за счет увеличенпя угловой дпсперсии dц/dk ведет к росту, у/, так как 2 не зависит от с/ф/с/л. Если же аппаратная функция определяется в основном фотоэмульсией, то а не зависит от параметров спектрального прибора п увеличение dl/dX как за счет увеличения /2, так п за счет d(f/dX приводит в некоторых пределах к росту практической разрешающей способности. Ио, естественно, она во всех случаях не лгожет быть сделана больше теоретической разрешающей способности данного спектрального прибора. [c.49]

Распределение освещенности в спектральной линпи зависит от формы аппаратной функции. Рассмотрим сначала случай широкой входной щели (sj s ) п безаберрацпоиной фокусирующей оптики, т. е. случай чисто щелевой аппаратной функции (1.48) с шириной = S. Будем также считать, что яркость постоянна по ширине п высоте входной щелп. Поскольку в нашем случае (см. рпс. 1.29) на щель отображается источник при условии иолного заполнения коллиматора, то это соответствует некогерентному освещению щели. [c.55]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...