Интерферометры сканирующие

Специальное сканирующее приспособление позволяет перемещать уголковый отражатель Т2 с постоянной скоростью v на расстояние = 3 см. Весь механизм установлен на отдельном столе, который можно удалить от интерферометра на расстояние до 15 м. [c.234]

Устройство сканирующего приспособления позволило изменять скорость и в довольно широких пределах. Соответствующие разностные частоты изменялись в пределах 40 — 120 кГц, и их без труда можно было измерить различными способами (например, сравнением картины биений с синусоидой, получаемой от генератора стандартных сигналов). На рис. 5.51 представлена фотография экспериментальной кривой на экране осциллографа при разностной частоте f 50 кГц. В этом опыте была измерена соответствующая данной частоте скорость движения зеркала интерферометра и = 1,5 см/с. [c.396]

I — лазерный интерферометр 2 — скоростной сканирующий пирометр 3 — образец Г) и 7"2 — термопары [c.430]

После этого общего описания свойств интерферометра Фабри— Перо рассмотрим теперь его применение для анализа спектра. Изучим простейший случай, когда интерферометр заполнен воздухом ( г 1) и падающий свет направлен перпендикулярно зеркалам интерферометра (т. е. os 0 = 1). Предположим, что длину L можно менять в пределах нескольких длин волн, прикрепив, например, одну из двух пластин интерферометра к пьезоэлектрическому преобразователю (сканирующий интерферометр Фабри — Перо). Чтобы понять, что происходит в этом случае, рассмотрим вначале монохроматическую волну с частотой v и длиной волны "К. Из предыдущих рассуждений следует, что прошедший свет будет иметь максимумы при = пл, т. е. когда длина интерферометра равна (см. рис. 4.14, а) [c.176]

В п. 3 мы уже касались интерференционных измерений шероховатости тонких пленок в процессе их осаждения. Они проводились во многих лабораториях на различных материалах 125, 261. В работе [65] те же образцы изучались на сканирующем электронном микроскопе для независимого и.змерения шероховатости поверхности. Результаты, полученные обоими методами — интерферометрией и электронной микроскопией, хорошо коррелировали. Кроме того, результаты рентгеновских исследований одних и тех же материалов, проведенных в различных лабораториях, хорошо согласуются. Поскольку в большинстве случаев это были пленки, нанесенные на подложки, то при обработке результатов предполагалось, что результирующая шероховатость описывается [c.440]

Только самые большие спектрографы с вогнутой решеткой обеспечивают разрешение, позволяющее разделить длины волн осевых мод твердотельных лазеров. Поскольку в лазерной спектроскопии высокой разрешающей силы спектрографы с вогнутой решеткой почти совершенно вытеснены сканирующими интерферометрами Фабри—Перо, мы не будем останавливаться на преимуществах и недостатках многих систем с решетками. По данному вопросу имеется обширная литература [46 [c.341]

При исследовании амплитудных и частотных характеристик тазового лазера непрерывного действия можно воспользоваться методом измерений, который также пригоден и для наблюдения преобразования мод при прохождении через оптические системы. Он основан на применении сканирующего интерферометра для анализа излучения лазера, генерация в котором происходит одновременно на многих угловых модах [31. [c.392]

МОДЫ (т. е. число полуволн, укладывающихся на длине L) я т ЦП — индексы угловых (поперечных) мод в декартовых координатах. Можно показать [31], что если — расстояние между зеркалами сканирующего интерферометра, то выполняется соотношение [c.393]

Вообще говоря, L так что конфигурация сканирующего интерферометра — приблизительно плоскопараллельная. Величина 1,2 интерферометра выбирается с учетом значений g-1 2 для лазерного резонатора и нужного разделения по частотам тех угловых мод которые должен разрешить интерферометр. Найдено, что удобно брать отношение Vio-Пользуясь фотоумножителем, можно обычным методом представить на экране осциллографа характеристики пропускания для луча лазера. При этом необходимо изолировать интерферометр от лазера, чтобы предотвратить взаимодействие мод обычно это достигается с помощью призмы Глана — Томпсона и четвертьволновой пластинки. На участке пути лазерного луча между резонатором и интерферометром обычно ставят одну или несколько линз для согласования луча с интерферометром. Тем самым исключается возможность возбуждения нежелательных мод интерферометра. Когда обеспечено согласование мод, каждый порядок моды интерферометра согласован с порядком моды в лазере [32 [c.393]

Важные качественные сведения о работе лазера можно получить, исследуя одновременно выходной сигнал сканирующего интерферометра и форму пятна излучения лазера. При этом можно легко обнаружить конкуренцию мод. Для удобства наблюдения интерферометр необходимо сканировать в пределах нескольких периодов резонатора m /2L (m= 1,2, 3,. . . ) со скоростью 10 или более раз в 1 сек. Наблюдая за изменением картины на экране осциллографа при настройке зеркал лазера на генерацию разных мод, можно заметить, что интерферометр [c.393]

Это означает, что с увеличением й радиус первого кольца и расстояние между кольцами уменьшаются, что ухудшает условия анализа интерференционной картины, особенно при использовании в технике фотометрирования интерференционной картины. Анализ значительно облегчается при использовании сканирующего интерферометра Фабри — Перо (рис. 128) выбором подходящего интервала изменений й . [c.176]

Схема сканирующего интерферометра Фабри — Перо [c.177]

В другом методе фотопластина движется непрерывно, а засветка производится импульсной ксеноновой лампой с длительностью вспышки около б мкс. При этом длительность выдержки коррелирована со скоростью перемещения-пластины и устанавливается автоматически.. Точность перемещения по шагу составляет 1.25 мкм. Применение методов оптического сканирующего луча и лазерных Интерферометров, обеспечивающих перемещения координатного стола, дает точность отсчета в 0.25 -мкм. [c.77]

Режим генерации кольцевого лазера контролируется сканирующим интерферометром 7 типа Фабри-Перо. Влияние интерферо- [c.232]

На рис. 145 показана схема проверки штриховых шкал обрабатывающих станков с помощью лазерного интерферометра. При перемещении сканирующей головки 3 относительно измеряемой шкалы 4 генерируется последовательность импульсов, соответствующих действительным значениям измеряемых штриховых делений и их номинальным значениям, полученным с помощью интерферометра 1. Погрешность делений шкалы определяется по фазовому смещению импульсов, а последущий автоматизированный процесс обработки данных позволяет оценить систематическую и случайную составляющую погрешности. [c.246]

ИНТЕРФЕРОМЕТР ФАБРЙ — ПЕРО — многолучевой интерференц. соектральиый прибор, с двумерной дисперсией, обладающий высокой разрешающей способностью. Используется как прибор с пространств, разложением излучения в спектр и фотогр. регистрацией и как сканирующий прибор с фотоэлектрич. регистрацией. И. Ф.— П. представляет собой плоскопараллельный слой из оптически однородного прозрачного материала, ограниченный отражающими плоскостя.чи. Наиб. широко применяемый воздушный И. Ф.— П. состоит из двух стеклянных или кварцевых пластинок, расположенных на нек-ром расстоянии d друг от друга [c.174]

Рнс. . Принципиальная оптическая схема двухлучевого сканирующего интерферометра Д , Д, — входная в выходная круглые диафрагмы С — светоделитель 3, — неподвижное аеркало 3, — подвижное зеркало, перемещаемое (сканируемое) а расстояние д (разность кода). [c.614]

Рис. 4.14. Пропускание по иитен-сивиости сканирующего интерферометра Фабри — Перо в случаях, когда падающая волна монохроматическая (а) и когда она состоит из двух воли с близкими частотами (б).

Рис. 4.14. Пропускание по иитен-сивиости сканирующего интерферометра Фабри — Перо в случаях, когда падающая <a href="/info/10057">волна монохроматическая</a> (а) и когда она состоит из двух воли с близкими частотами (б).

Перечисленные свойства многослойных зеркал, доступность и универсальность технологии их производства, а также удачные результаты испытаний образцов, полученные за последние годы во многих лабораториях, привлекли внимание к применению многослойных зеркал во многих научных и технических задачах. Это прежде всего рентгеновская диагностика плазмы и коротковолновые лазеры приборы для рентгеноспектрального, рентгеноэлектронного и рентгенофлюоресцентного микроанализа сканирующие и передающие изображение рентгеновские микроскопы нормального падения двойные монохроматоры делительные пластинки фильтры и интерферометры для рентгеновского излучения рентгеновские телескопы рентгеновская литография в микроэлектронике, а также медицинские приложения маммография [c.78]

Г. Соммаргреном в работе [70] описан новый оригинальный прибор — оптический гетеродинный профилометр. По принципу действия он является разновидностью интерферометра. Поверхность образца в оптическом гетеродинном профилометре освещается двумя сфокусированными пучками света, слегка различающимися по частоте и поляризованными во взаимно перпендикулярных плоскостях. Отразившись, эти пучки интерферируют так, что результирующая фаза модулируется в соответствии с разницей высот между освещенными точками поверхности. Если один из пучков сфокусирован на фиксированной точке, а другой движется по поверхности, то можно измерить высоты точек по линии сканирования второго пучка, т. е получить профиль поверхности. Деление светового потока на два пучка осуществляется призмой Волластона. В плоскости образца разделение пучков составляет 100 мкм. Исследуемый образец помещается на вращающийся столик и один из пучков совмещается с осью вращения столика, а второй сканируется по образцу при вращении. Небольшой сдвиг в частоте пучков происходит за счет расщепления основной моды Не—Не-лазера (расщепления Зеемана), трубка которого помещена в аксимальном магнитном поле. Описанный прибор позволяет получить чувствительность к высоте шероховатости до 0,1 нм, совмещая в себе преимущества интерферометра с пре- [c.233]

Для получения информации о рельефе поверхности используются различного вида щуповые приборы (профилометры, профилографы), оптические интерферометры, туннельные и сканирующие атомно-силовые микроскопы и т. д. Они позволяют с той или иной степенью точности воссоздать микрорельеф поверхности на заданном ее элементе, а также определить некоторые её характеристики (осреднённый высотный и шаговый параметры, средний наклон и радиус кривизны в вершине неровности, среднее количество неровностей на единицу площади и т.д.). Развитие измерительной техники приводит к изменению представлений о топографии, что стимулирует возникновение новых математических моделей, используемых для описания топографии поверхности. С другой стороны, при создании приборов для исследования топографии в конструкцию и программное обеспечение закладывается возможность измерения и расчёта характеристик, наиболее широко используемых при моделировании. Обзор экспериментальных методов исследования топографии поверхностей содержится в [59, 235]. [c.11]

Схема голографической передающей системьг, использующей метод гетеродинного сканирования, представлена на рис. 8.4.5. Оптическая часть системы собрана по схеме интерферометра Маха — Цендера для обеспечения соосности сканирующего опорного и сигнального пучков, что является необходимым условием, вытекающим из теоретического анализа. В плече опорного пучка находятся зеркало, колеблющееся с частотой 3 МГц, для обеспечения допле-ровского сдвига частоты системы- вертикального и горизонтального отклонения, осуществляющие сканирование поверхности фотодетекторов линза, фокусирующая опорный пучок. В плече сигнальной волны находится система компенсации кривизны поля и астигматизма и объект — транспарант. [c.281]

Если эталон Фабри—Перо применяют в качестве спектрографа, то интерференционные кольца регистрируют на фотопластинке. Если используется сканирующий интерферометр Фабри—Перо, то информацию о спектре дает электрический сигнал фотоумножителя. Фотоумножитель помещают позади круглой диафрагмы, расположенной в центре фокальной плоскости, на которой воспроизводится кольцевая интерфе-эенционная картина [68]. [c.350]

Существуют и другие схемы для получения спектров отражения и пропускания. Например, схема Фурье-спектрометра не содержит монохроматора, поэтому весь свет от источника падает на образец, а затем попадэг ет в сканирующий интерферометр, одно из зеркал которого перемещается вдоль нормали к своей поверхности. Как правило, применяется интерферометр Майкельсона. Фотоприемник регистрирует сложную интерферограмму 1 Ь), которая является суперпозицией интер-ферограмм /(Л, ) для каждой из длин волн, содержащихся в пучке. Спектры отражения Я 1 ) или пропускания Т ( ) восстанавливаются с помощью обратного преобразования Фурье (здесь 1У = 1/А). Приборы с Фурье-преобразованием применяются в диапазонах спектра от видимого до субмиллиметрового (Л 300 мкм). [c.25]

Сканирующий интерферометр Фабрн—Перо. Измерение распределения интенсивноста в интерференционной картине чрезвычайно трудоемко. Надо фотографировать картину и затем профотометрировать пленку, чтобы по распределению почернения определить распределение интенсивности. Во время фотографической выдержки температура несколько флуктуирует, что влечет за собоц движение колец. Интерференционная карта-на размывается и разрешение ухудшается. Интерференционная картина чувствительна к изменению температуры порядка 0,1 К. Поэтому необходимо в течение всего эксперимента обеспечить достаточную стабильность температуры. [c.177]

Спектральные аппарать должны обеспечивать возможность работы со слабыми интенсивностями исследуемого излучения. В этом отношении интерферометр Фабри—Перо существенно превосходит дифракционную решетку, особенно если пользоваться фотоэлектрической регистрацией в схеме сканирующего интерферометра Фабри—Перо. Разрешающая способность в Фурье-спектроскопии определяется максимальной разностью хода, которая может быть обеспечена механизмом подвижного зеркал , и достигает больших значений. [c.231]

Открытые оптические резонаторы играют важную роль в современной квантовой электронике. Хотя и ранее оптические интерферометры находили широкое применение в спектроскопии, бурное развитие теории и техники оптических резонаторов в последние годы обусловлено тем, что они оказались почти идеальным устройством для создания положительной обратной связи в лазерах. Совокупность оптического резонатора и помещаемой в его полость активной среды может рассматриваться как автоколебательная система, затухание в которой компенсируется усилением в активной среде. При этом параметры резонатора существенным образом влияют на генерируемое излучение, в значительной степени определяя его пространственно-частотные, поляризационные и энергетические характеристики. В то же время самостоятельное значение сохраняют пассивные резонаторы (не содержащие в своей полости активной среды). Такие устройства используются в технике для пространственно-частотной селекции лазерного излучения и в качестве оптичес ких дискриминаторов. Особое распространение получили пассивные перестраиваемые резонаторные системы — так называемые сканирующие интерферометры, используемые для анализа частотных характеристик лазерного излучения. [c.3]

Описанные выше электромеханические системы называют устройствами барабанного типа, т.к. пленка в них крепится на барабане за счет вакуумного прижима, а иозищюнирование вдоль одной из координат происходит за счет вращения микровинта с заданным шагом витков. Для получения фотошаблонов, непосредственно на стеклянной основе, были разработаны сканирующие в Х-У координатной сетке лазерные генераторы изображений, перемещением плоского стола которых управляют шаговые двигатели, а заданные координаты и точность перемещения контролируются с помощью лазерных интерферометров или стеклянной координатной сетки (табл. 4.1). С помощью лазерного линейного генератора изображешш были синтезированы многопорящковые дифракционные решетки с пространственной частотой 500 лин. [18]. Размер ноля пикселов составлял N х 10 . [c.245]

Рис. 4.11. Блок-схема спектрометра АСКР высокого разрешения на основе непрерьшных лазеров 1 - узкополосный стабилизированный лазер на красителе непрерьшного действия система контроля перестройки частоты этого лазера включает в себя сканирующий интерферометр Фабри-Перо 3, фотоумножитель 2 и осциллограф 4 - система стабилизации и электронной перестройки частоты лазера на красителе 5 - фотоприемник для измерения мощности лазера

Рис. 4.11. <a href="/info/65409">Блок-схема</a> спектрометра АСКР высокого разрешения на основе непрерьшных лазеров 1 - узкополосный стабилизированный лазер на красителе непрерьшного <a href="/info/381962">действия система</a> контроля <a href="/info/246993">перестройки частоты</a> этого лазера включает в себя <a href="/info/192382">сканирующий интерферометр Фабри-Перо</a> 3, фотоумножитель 2 и осциллограф 4 - <a href="/info/397989">система стабилизации</a> и электронной <a href="/info/144442">перестройки частоты лазера</a> на красителе 5 - фотоприемник для <a href="/info/249976">измерения мощности</a> лазера

Мезрих с соавторами [1035] в 1974 г. опубликовали интер-ферометрический метод лазерного сканирования (раздел 13.2). В качестве одного из двух зеркал интерферометра Майкельсона служит тонкая гибкая мембрана. Она располагается в акустической ячейке, заполненной жидкостью, и перемещается вместе с ультразвуковым волновым полем. Поверхность мембраны сканируется системой отклонения лазерного луча (ультразвуковидение, камера R A). [c.194]

Все измерения проводятся в одномодовом режиме генерации, причем частота генерируемой моды перед началом каждого цикла измерений длительностью несколько минут устанавливается по центру доплеровской кривой с помощью сканирующего интерферометра следующим приемом. Определяются два соседних значения напряжения на электрострикторе оптического резонатора, при которых генерируются две моды с равной интенсивностью излучения. Затем на электростриктор подается напряжение, равное среднему из этих двух значений. Изменение периметра оптического резонатора за время цикла измерений не превышает 0,1 Я. Значения коэффициентов г внешней связи можно менять с помощью поляризационных фильтров от О до Максимальные величины г , которые они имеют при отсутствии поляризационных фильтров и точной юстировке возвратных зеркал. [c.233]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...