Двухлучевые интерферометры и их применение

По сравнению с двухлучевой интерферометрией применение Многолучевого интерферометра имеет ряд преимуществ, главными из которых являются возможность наблюдения колеблющейся интерференционной картины в более широком диапазоне амплитуд, и увеличение точности измерений смещенного положения интерференционной полосы за счет меньшей величины ее относительной ширины. [c.211]

Рис. 3.5.. Применение двухлучевого интерферометра Майкельсона в качестве коррелятора напряженности поля. В детекторе D складываются напряженности полей Ex t) E(t) E2(t) E t+i) отраженного от зеркал Si и S2 входного сигнала. Время задержки т от импульса к импульсу может изменяться смещением одного из зеркал. Выходной сигнал пропорционален энергии, поступающей в место регистрации, при условии, что время интегрирования детектором достаточно велико. Эта энергия пропорциональна величине

Этот метод неоднократно использовался также и для исследования аномальной дисперсии света в растворах и твердых веществах с применением других типов двухлучевых интерферометров. [c.472]

Такой дифрактометр пригоден для решения различных задач. Нетрудно заметить, что фактически исследовалась (с применением новых понятий и терминов) идея двухлучевого интерферометра Рэлея, который еще в начале нашего столетия использовался Майкель( оном для измерения угловых размеров небесных светил (см. 6.7). [c.313]

Из новых методов анализа спектрального состава излучения следует еще указать па голографические методы, которые появп-лпсь после успешного применения лазеров в голографической технике. В одном из методов голографической спектроскопии исследование спектра производится в два этапа [9. 111. Сначала с помощью двухлучевого интерферометра (типа интерферометра Май-кельсопа) и фотопластинки получают спектральную голограмму от изучаемого источника излучения, затем, используя голограмму как диспергирующий п фокусирующий элемент, производят с помощью лазерного монохроматического излучения анализ спектрального состава излучения исследуемого источника. Отметим, что поскольку голограмма регистрируется на фотопластинке одновременно для всей изучаемой спектральной области, то голографический метод применим и для анализа интегральных спектров импульсных источников. [c.15]

Ограничения во временном разрешении двухлучевого интерферометра, связанные с частотными характеристиками регистрирующей аппаратуры, снижаются при использовании скоростных фотохронографов на базе электроннооптического преобразователя [20, 53]. В этом случае разрешающая способность метода может достигать субнаносекундного уровня, причем экспериментальные регистро-граммы становятся гораздо более наглядными и легче обрабатываемыми. Кроме того, метод становится менее чувствительным к колебаниям коэффициента отражения контролируемой поверхности и, как следствие, интенсивности поступающего в прибор света. С другой стороны, эффективность использования светового потока выше в вариантах с применением фотоэлектронных умножителей. [c.70]

В монографии справочного характера [21] отдельная глава посвящена оптическим свойствам кристаллов с учетом их анизотропии. Изложение ведется на современном уровне с привлечением тензорного аппарата кристаллофизики. В книге [11] рассмотрены вопросы инженерной теории в основном двухлучевых интерферометров. Описаны также интерферометры для различных технических измерений. В основном аналогичные вопросы затрагиваются в монографии [20] применительно к многолучевым интерферометрам, построенным по схеме Фабри—Перо. Разнообразные применения различных интерферен ционных схем для производственного контроля оптических эле ментов и устройств рассмотрены в работе [13]. Следует отме тить единственную в своем роде книгу [8], где излагаются ре фрактометрические методы, в частности, интерференционные [c.525]

Оценки упрощаются при применении метода к частному случаю, когда время усреднения для стационарного сигнала выбирается больщим по сравнению с корреляционным временем, а для импульсного излучения оно принимается равным полной длительности сигнала (во втором случае величину т следует изменять от импульса к импульсу). Тогда выходной сигнал зависит еще лищь от т. Из функции Ф(т) можно непосредственно определить время корреляции излучения, а тем самым и обратную величину — щирину линии А/ . Таким образом, рассматриваемый частный случай аналогичен обычному процессу измерения, выполняемому с двухлучевым интерферометром, например интерферометром Майкельсона с интегрирующим приемником (корреляционное время много меньше времени интегрирования). Мы приходим к выводу, что описанное устрой-ство позволяет измерить корреляционную функцию 6(0 ( + т) электромагнитного излучения с напряженностью поля (0- Достигаемая в рассматриваемом частном случае разрешающая способность в значительной мере задается стабильностью интерферометра, существенно зависящей от длины пути запаздывания тс. (Для того чтобы в действительности при помощи описанного метода получить разрешение порядка нескольких герц, потребовалось бы, чтобы длина пути запаздывания была порядка 10 м и поддерживалась во время измерения постоянной с точностью до ) [c.54]

Такой метод анализа спектров с помощью двухлучевой интерферометрии имеет исторический интерес как первое применение интерференции в спектроскопии позднее он был вытеснен методами многолучевой интерферометрии (см. 7.6). Однако сравнительно недавно снова возродился интерес к двухлучевому методу в применении к инфракрасной области спектра (см., например. [47] и обзорную статью по Фурье спектроскопии [47а1), так как в этом случае он имеет ряд технических преимуществ. [c.297]

Лазерные измерительные интерферометры обычно строятся по двухлучевой системе Майкельсона, включающей лазер, светоделительное зеркало и два отражателя, один из которых неподвижен, а другой жестко связан с изделием (см. рис. 7, в). Отразившись от эталонного и объектного зеркал, пучки света соединяются и интерферируют. На выходе прибора с помощью фотометрического счетчика подсчитывается число полос иитерферепции, пропорциональное перемещению изделия. Погрешность ЛИ составляет не более длины волны света, излучаемого лазером (при измерениях в пределах десятков метров и более). Недостаток ЛИ — 01н0сительн0 высокая чувствительность к механическим воздействиям, что обусловило их применение, в основном, в прецизионном приборостроении, станкостроении и метрологии. Применение угловых отражателей вместо плоских зеркал существенно уменьшает чувствительность ЛИ к вибра- [c.64]

Длина когерентности применение двухлучевой интерференции к изучению тонкой структуры спектральных линий. Газ (например, пары кадмия), возбуждаемый в определенных условиях электрическим разрядом, испускает свет, спектр которого состоит из резких ярких линий, разделенных темны ли промежутками,— так называемый имиссионный линейчатый спектр. Выделим свет одной из этих линий и осветим им, например, интерферометр Майкельсона, установленный так, чтобы образовались кольцевые интерференционные полосы тогда мы увидим, что полосы становятся отчетливыми, если длины оптических путей обоих интерферирующих пучков примерно одинаковы. При возрастании оптической разности хода видность полос уменьшается (вообще говоря, нелюнотонно) п в конце концов они исчезают. [c.292]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...