Решетка диффракционная

Рефракция коническая 333, VI. Решетки диффракционные 856, VI. Ригель 518, VI. [c.474]

Наряду с распространяющимися в теле упругими волнами он рассматривает также и неоднородные поверхностные волны, обусловливающие в основном диффракцию при отражении. Учет этих волн приводит к усложнению геометрического места концов волновых векторов (фазовой поверхности), поскольку теперь приходится учитывать и мнимые значения волнового вектора. Казалось бы, что при этом каждая из плоских волн, входящих в двумерное многообразие, соответствующее фазовой поверхности, должна проявляться на отражающей грани тела и участвовать в формировании интерференционной картины. Это значит, что для монохроматического падающего света каждая из таких плоских волн должна давать, подобно штриховой решетке, диффракционный спектр, отклоненный на угол, соответствующий длине упругой волны. Но тогда плоскость изображения была бы заполнена двумерным континуумом интерференционных точек. В действительности же возникает одномерный континуум—интерференционная кривая. Следовательно, существует принцип отбора, ограничивающий множество интерференционных точек. [c.366]

Интерференция, производимая диффракционными решетками. [c.82]

Свет из освещенной горизонтальной щели З" (фиг. 3.232) проходит через вертикальный коллиматор С и затем диффракционной решеткой G или призмой разлагается в вертикальный спектр. Последний после прохождения через образец В, подвергнутый напряжению, или наблюдается глазом с помощью зрительной трубы и микрометра, или, что еще лучше, фотографируется спектрографической камерой К- [c.206]

В 53 мы будем рассматривать диффракционную решетку, состоящую из периодически расположенных лент, которые лежат в плоскости 2 = 0, имеют конечную ширину (в направлении оси у) и бесконечную длину (по оси л ). Ленты будем считать идеально проводящими и бесконечно тонкими. Как будет показано в 53, диффракционная задача для такой решетки будет решена, если предварительно решить следующую ключевую задачу. [c.279]

Тогда формулы (53.02) и (53.03) определят диффракционное поле для решетки, изображенной на рис. 89,а, а формулы 19 291 [c.291]

Коэффициенты Ап и при п= 1 +2,... определяют комплексные амплитуды диффракционных спектров. Мы не приводим графиков для Л и Вп, поскольку согласно последней формуле (53.04) они отличаются только множителем V2 от п1, для которых графики приведены ранее (рис. 86 и 87). Для решетки можно ввести следующие энергетические величины [c.292]

Эмиссионный спектрограф с трехмерной диффракционной решеткой. [c.41]

В тяжелой воде и в углероде (графите) достигается лучшее приближение к тепловому равновесию [47]. Малость эффективного сечения захвата этих материалов и, следовательно, большое время жизни тепловых нейтронов более чем компенсируют их меньшую эффективность в качестве замедлителей. Однако и в случае углерода спектр испускаемых нейтронов отличается от внутреннего спектра, хотя и по другой причине, чем в случае водорода диффракционный эффект в графитовой решетке приводит к преимущественному испусканию холодных нейтронов. В одном случае удалось наблюдать эффективную температуру испускаемых нейтронов всего лишь в 18° К- С точки зрения радиохимии углерод является полезным замедлителем только в соединении с котлом, так как в других случаях нейтронная плотность слишком быстро падает из-за большой диффузионной длины. [c.48]

Соответственными методами (призмы, диффракционные решетки и т. п.) можно, наоборот, разложить белый цвет на составные цвета (фиг. 52а, 52Ь стр. 5 3) и таким образом получить спектр, который имеет вид веера, расположенного по длинам волн, начиная от красного цвета (около 800 Ж л.) и кончая фиолетовым (около 400 л а). Твердые и жидкие тела при лучеиспускании дают непрерывный спектр, т. е. они посылают свет всех длин волны. [c.523]

Переход от измеренных положений линий к длинам волн осуществляется с помощью соответствующей интерполяционной формулы. При измерении спектрограмм, полученных с диффракционной решеткой, используется линейная формула [c.231]

Нагреваемая кварцевая разрядная трубка спектрограф с диффракционной решеткой. [c.233]

И штрихов подвижной решетки. Эти световые импульсы, попадая на фотоэлемент, превраш,аются в пульсирующий электрический ток, причем частота импульса будет зависеть от скорости перемещения подвижной решетки (от скорости перемещения суппорта). Таким образом, можно фиксировать перемещения суппорта, равные долям деления диффракционной решетки. [c.201]

Крайне важно, что метод косвенного наблюдения ультразвуковых волн при помощи диффракции света может быть применен как к бегущим, так и к стоячим волнам. В первом случае мы имеем дело с ультразвуковой решеткой, движущейся со скоростью звука перпендикулярно к направлению распространения света. В этом случае будет иметь место эффект Допплера для света. Если луч света частоты v , падающий перпендикулярно на звуковую волну, отклоняется при этом на угол то первоначальная скорость света С изменяется на величину где с—скорость звуковой волны. Частота света к-го диффракционного порядка определяется вследствие эффекта Допплера следующим выражением [c.171]

В тех случаях, когда исследователь интересуется исключительно конодами, а не зависимостью периода решетки от состава, для различных фаз иногда можно без потери точности значительно сэкономить время, необходимое для исследования, применяя различные варианты следующих методов. Предположим, что на рис. 237 указана такая же система, как на рис. 234, и что фазовые границы ху и zw определены точно. Рассмотрим сплав Р, лежащий вне гомогенной а-области. Ясно, что при любом направлении коноды, проходящей через Р, ее пересечение с линией ху не будет далеко удалено от точки Р. Мы можем приготовить серию спл1авов 1, 2, 3, 4, расположенных, хотя и близко к границе zw, но в то же В ремя достаточно удаленных от нее, чтобы дать диффракционные линии а-фазы, имеющие резкость, достаточную для точного измерения. Затем [c.370]

Однако металлические пленки препаратов для полупрямого исследования, как правило, дают настолько интенсивную собственную диффракцион-ную картину, что на ее фоне могут совершенно потеряться отражения, соответствующие кристаллической решетке второй фазы, — особенно тогда, когда этой фазы в исследуемом сплаве немного. В этом случае незаменима лаковая пленка (без отте-нения), которую можно изготовить настолько тонкой, что диффузное рассеяние в ней электронов практически совершенно не будет сказываться на качестве электронограммы частиц, находящихся в пленке. [c.37]

В предыдущих главах метод факторизации применялся для строгого решения диффракционных задач, в которых имелись по-лубесконечные структуры — плоские или цилиндрические. Переход к конечным телам, разумеется, возможен, но при этом приходится делать те или иные аппроксимации, и получаемые результаты имеют приближенный характер (см. 23, 40, 43, 48—51), хотя обычно точность их весьма высока. В данной главе мы рассмотрим некоторые задачи, относящиеся к решеткам и к диафрагмам в волноводе, для которых метод факторизации дает строгое решение, хотя никаких полубесконечных структур в этом случае нет. [c.279]

Поскольку коэффициенты входят в решение диффрак-ционной задачи для решетки из лент ( 53), целесообразно рассмотреть их зависимость от параметра (52.06) и, в частности, проследить, как они стремятся к предельным значениям (52.35), которые могут быть найдены из элементарных соображений. На рис. 85—87 даны абсолютные значения Rn ак функции q при 0<1 <4, причем мы ограничиваемся теми Rn, которые (при данном q) соответствуют плоским волнам, т. е. диффракцион-ным спектрам в собственном смысле этого слова. Из рис. 85 и [c.285]

Пусть шоская электромагнитная волна (падает нормально на решетку из параллельных металлических лент, которые будем считать идеально проводящими и бесконечно тонкими. Эти ленты (ширины d) периодически расположены в плоскости г = 0 (ри . 89) и разделены просветами (щелями), также имеющими ширину d. Мы вычислим строго диффракционное поле как для случая, когда падающая волна поляризована вдоль полос ( -по-[пяризация, электрическое Полё имеет только составляющую Ех)у так и для случая, когда падающая волна поляризована поперек щелей (Я-поляри-зация, магнитное поле имеет только составляющую Н ), [c.289]

Данная система является для длинных волн (по сравнению с d) фильтром, отражающим поляризацию и пропускающим.Я-поляриза1Цию, а для коротких волн—диффракционной решеткой, передающей диффракционным спектрам около половины мощности падающей волны и почти не реагирующей на поляризацию падающей волны (см. ниже). При ширине щелей, отличной от ширины лент, данную задачу решить в замкнутом виде не удается, поскольку ключевая задача 52 приводит к функциональным уравнениям, к которым о(бы Чный 1метод факторизации неприменим. [c.289]

Физические методы. Среди физических методов наиболее широкое распространение получил рентгеновский метод. С помощью этого метода измеряют деформацию кристаллической решетки по диффракционным линиям, которые характеризуются величи- [c.270]

Доказательство того, что металлические кристаллы способны деформироваться упруго в очень тонких слоях или разрушаться на небольших участках тонких слоев, слегка наклоненных по отношению к плоскостям скольжения, приведено на стр. 225—226. Наличие местно распределенных упругих деформаций в металле (после наклепа) обнаруживается астеризмом (рассеянно удлиненными пятнами) в диффракционной решетке металлов при рентгеновском анализе. См. Seitz, цит. на стр. 65. [c.70]

Для разложения света в спектр при меняются спектральные приборы с приз ма.ми или диффракционными решетками В зависимости от способа регистрациг спектра они делятся на визуальные — стилоскопы, стилометры и фотографи ческие — спектрографы. В визуальны. приборах спектр рассматривается непо средственно в приборе глазом, чере окуляр, и все оптические части делаютсв из стекла. Тем са.мым область исполь зуемых длин волн ограничивается види мой частью спектра (длины волн 4000— [c.50]

Присоединение к представлениям о фотонах законов квантовой механики (в форме Бора) позволяет в простейших случаях подойти и к формальному объяснению явлений диффрак-циц. Пусть на диффракционную решетку с постоянной а падает под углом а фотон Ьу, рассеиваясь под углом р. Ударяясь о решетку, фотон сообщает ей нек-рое количество движения. Решетка с массой М приобретает скорость V. В соответствии с основным постулатом Бора (см. Кванты) момент количества движения системы, имеющей периодич. структуру с периодом а (диффракционная решетка), должен подчиняться квантовому условию [c.148]

Высоковольтная дуга между алюминиевыми э. ектродами спектрограф с диффракционной решетк> й. [c.233]

В 1966 г. Робертсон и Мерритт [1496] исследовали электронный спектр различных изотопных модификаций диазирина в газообразном состоянии при температурах от 25 до 125° С. Давление газа в кювете достигало 0,2 мм рт. ст. Длина поглощающего пути изменялась в пределах от 4 до 24 м. Спектр регистрировался па приборе с диффракционной решеткой (/ = 3,4 л(), смонтированной по схеме Эберта. В спектре наблюдались две системы полос, расстояние между которыми составляет 200 см (начала полос расположены соответственно при 30 970 и 31 187 м- ). Анализ структуры полос в спектрах изотопных модификаций диазирина показал, что типы полос различны в двух системах, которые связаны, очевидно, с переходами из основного в различные возбужденные электронные состояния, и позволил вычислить приводимые ниже значения частот колебаний. [c.689]

Состав окисных пленок на железе. Состав окисных пленок на железе зависит от условий их образования. Как объяснено на стр. 138, толстый слой, образующийся три усиленном нагревании железа на воздухе, обычно содержит три слоя, приближающихся по составу к РегОз, РезО и РеО. Однако самый глубокий слой (закись железа) отсутствует в пленках, полученных ниже ЫЪ"". Такие пленки, полученные на воздухе при комнатной температуре (невидимые, когда они на металле), состоят, как это было установлено после снятия их, из окиси железа с некоторыми металлическими включениями. Пленки, дающие интерференционные цвета также состоят из окиси железа, но в случае цветов высокого порядка над ними находится менее прозрачный слой магнетита, который бывает очень толст на сильно нагретом железе. Недавно СмитЗ, применяя эле1ктронно-диффракционный метод, сделал другое заключение. Он установил, что пленки, полученные нагреванием полированного железа в воздухе, представляют, вероятно, магнетит. Действительно у-окись железа и магнетит дают ту же самую решетку, однако некоторые изменения ре- шетки были обнаружены при нагреве до 600°, и это было приписано окислению магнетита в гематит. По мнению автора, изменение диффракционной картины не должно было бы само по себе оправдывать отказ от взгляда, что цвета [c.93]

Вогнутые диффракционные решетки, впервые построенные Ролендом в 1882 г., наносятся на цилиндрическую металлическую полированную поверхность. Штрихи наносятся парал- [c.308]

Для простоты Аббе в качестве объекта рассматривает решетку (фиг. 31), освещенную когерентным пучком, созданным, например, малым источником света 5, помещенным в фокусе коллиматора С. Согласно описанию свойств решетки (стр. 54) в фокальной плоскости объектива микроскопа создаются диффракционные спектры 5 , 52, 5з... эти спектры играют роль вторичных когерентных источников, интерферирующих между собой в результате этой интерференции создается перед окуляром картина / , которая воспринимается, как изображение решетки R. Вычисления П окавывают, что изображение тем лучше, чем больше имеется спектров в фшалъной плоскости объектива число спектров обратно пропорционально расстоянию между штрихами, м тем больше, чем больше численная апертура микроскопа. Необходимо наличие не менее двух спектров, чтобы была видна структура изображе -гия, позволяющая считать число штрихов. При одном спектре получается серый фон микроскоп не разрешает решетки. Согласно этой теории, при освещении, перпендикулярном плоскости решетки, наименьшее разрешаемое расстоятше равно [c.61]

Термические излучатели в настоящее время не применяются мы вкратце остановимся на них лишь из соображений полноты изложения. Альт-берг [ 1031 получал звуковые колебания с частотой до 300 кгц от искрового разряда в зазоре, питаемого от демпфированного колебательного контура. Такие искровые разряды излучают, конечно, широкий спектр для выделения какой-нибудь одной частоты приходится применять специальные средства—например, диффракцион-ную решетку [14051. Амплитуда колебаний, излучаемых такими источниками, крайне непостоянна и зависит от различных факторов, некоторые из которых невозможно контролировать. Излучение таких искровых источников используется теперь только в немногих исследованиях по распространению звука, в архитектурной акустике при испытании моделей [14641 и при исследованиях передачи звука в музыкальных инструментах [622, 624]. [c.38]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...