Дисторсия

Рисунок 4.20 - Схема Г. Си, иллюстрирующая дилатацию и дисторсию локальных объемов на фронте трещины Каждый блок под действием приложенного напряжения подвергается изменению объема и формы. Основные соотношения для каждого элемента могут различаться, и поэтому решение увязывается с историей нагружения. Это требует формирования банка данных, содержащего кривые напряжение - деформация при одноосном растяжении, охватывающие область локальных скоростей деформации, реализуемых в различных объемах материала на фронте трещины. Согласно Г.К. Си, плотность энергии является наиболее информативным параметром состояния, а площадь под кривой истинное напряжение -истинная деформация характеризует изменение функции плотности энергии

Заканчивая это краткое рассмотрение всевозможных аберраций, мы лишь упомянем о дисторсии — погрешности оптической системы, при которой увеличение неодинаково по всему полю зрения. Такое нарушение масштабов часто наблюдается в телевизионных системах и иллюстрирует этот вид аберраций. [c.332]

Зонные характеристики качества преобразователя — коэффициент радиационно-оптического преобразования, предел разрешения и другие почти всегда различны для различных участков его рабочего поля. Так, изменение яркости выходного экрана радиационного электронно-оптического преобразователя от центра к краю вызвано главным образом подушкообразной дисторсией. Существующие радиационные электронно-оптические преобразователи по полю экрана, равному 0,9 диаметра, имеют изменение яркости около 10 % для входного экрана размером 16 см, 20 % — для экрана 22 см и 30 % — для экрана 32 см. [c.358]

В 1952 г. отечественной промышленностью был выпущен проектор ЧП для часовой и приборостроительной промышленности. Оптическая ось объектива и конденсора расположены вертикально к плоскости предметного стола. Прозрачный экран, слегка наклоненный относительно горизонта, имеет размер 500 X 460 мм. Объективы проектора вмонтированы в ползушку, а конденсоры — в револьверную головку. Объективы имеют увеличение 10 , 20 , 50 , 100 и соответствующие к ним конденсоры. Дисторсия на участке экрана 300 мм не превышает 0,2 мм. Проектор может работать как в проходящем, так и отраженном свете. Источником света в обоих случаях служит лампа накаливания СЦ-62, напряжением 12 б и мош,ностью 100 вт. [c.379]

Исследование аберраций показало, что наиболее существенное влияние на результат измерения оказывает дисторсия [95], действие которой проявляется через изменение размеров дифракционной картины. Следовательно, объектив необходимо рассчитывать, исходя из условия постоянства дисторсии при изменении положения изделия в заданных пределах. Влияние аберраций особенно сильно сказывается при измерении изделий с малыми размерами, т. е. при больших углах дифракции. В приборе ДИД-2 использовался объектив с изменением дисторсии не более 2% при смещении изделия в пределах 5 мм вдоль оси пучка лазера и 1 мм поперек оси для диаметра изделия 10 мкм. [c.267]

Дисторсия проявляется в случае, если Ёф( как видно из ф-л ( ), она может быть в меридиональной плоскости g = EV 6С =0, Дисторсия не зависит от координат точки пересечения луча с плоскостью входного зрачка (поэтому каждая точка изображается точкой), но зависит от расстояния точки до оптич. оси ( Z ), поэтому изображение искажается, нарушается закон подобия. Напр., изображение квадрата имеет вид подушкообразной и бочкообразной фигур (рис. 4) соответственно в случае А >0 и <0. [c.9]

Применение мелкозернистой фотоэмульсии. Уменьшение дисторсии [c.459]

Дисторсия. Искажение изображения в результате изменения масштабов изображения в различных его областях. В середине изображения нарушение равно нулю, а в направлении к краям изображения увеличивается. [c.176]

Аберрация, называемая дисторсией, связана с различным увеличением деталей объекта,, находящихся на разном расстоянии от оптической оси, так что изображения прямых линий оказываются искривленными и нарушается подобие в геометрической форме между предметом и его изображением. И наконец, возможно искривление изображения, при котором точечные изображения, возникающие от плоского объекта, перпендикулярного оптической оси, лежат не на плоскости, а на искривленной поверхности. [c.23]

Дисторсия изображения. В случае, когда лучи, участвующие в построении изображения, об()азуют достаточно боль-Рис. 7.20 и1ие углы с главиоС оптической осью, [c.188]

При традиционном описании процесса пластической деформации исходят из того, что существующие в кристаллах системы скольжения позволяют обеспечить его формирование без разрушения сплошности. В.Е. Паниным и др. [11] было доказано, что пластическое течение происходит одновременно на нескольких уровнях, причем трансляция на одном уровне обязательно сопровождается поворотом на более высоком уровне, и наоборот. Принципиально важным в этом подходе является то, что любое нарушение структуры кристалла при подводе к нему внешней энергии рассматривается с позиции самоорганизации локальных структур, обусловленной энтропийными эффектами. Вторичные структуры, формирующиеся в деформируемом кристалле при достижении необходимого уровня возбуждения, представляют совокупность локальных структур - от дефектов типа точечных или линейных до аморфного состояния, возникающего при высокой плотности дефектов. Таким образом, при анализе пластической деформации кристаллов необходимо учитывать кооперативное взаимодействие трансляции, ответственной за изменение формы (дисторсии), и ротации, ответственной за изменение объема (дилатации). При этом важную роль в распространении скольжения играют границы зерен. Эволюция скольжения включает образование полос скольжения на начальных этапах пластической деформации, которые потом трансформируются в полосы микроскопического сдвига, что приводит к возникновению зоны локализованной макропластической деформации, проходящей через весь объем. Переход от одного масштабного уровня (микрополосы) к другому (макротюлосы) являет собой неустойчивость пластической деформации, предопределяющую шейко-образование. Он характеризуется тем, что шменяются элементарные носители деформации - дислокации сменяются дисклинациями. Дисклинации являются более энергоемкими дефектами, чем дислокации, что позволяет системе про- [c.241]

Пусть U — вектор геометрического смещения точек среды, отсчитываемый, скажем, от их положения перед началом процесса деформации его производная по времени и =v. Если образовать с помощью вектора и тензор полной дисторсии Wn — dujdxi, то мы получим его пластическую часть вычтя из Wtk тен- [c.165]

Дисторсия обычно не очень вредит наблюдению, но становится очень опасной, если при помощи оптической системы производятся съемки, предназначенные для промеров (например, в геодезии или, особенно, в аэрофотограмметрии). Поэтому объективы для таких работ очень тщательно исправляются на дисторсию. Так, например, хороший объектив, рассчитанный М. М. Русиновым, предназначенный для картографических аэросъемок, при поле зрения в 120° дает ошибку в определении направления на объект, не превышающую 10". [c.309]

Так, для объективов астрономических труб, где источником служат точки, расположенные вблизи оси, важно соблюдение условий синусов и устранение с( )ерической и хроматическй аберраций для точек в центре поля для микрообъективов и ( )отообъективов, предназначенных для (фотографирования щирокого поля зрения, необходимо, кроме соблюдения условия синусов, устранение аберраций, искажающих поле (дисторсия, искривление поля и т. д.), а также хроматической аберрации. Объективы, предназначенные для наблюдения объектов малой яркости, должны иметь возможно большее относительное отверстие, и это вынуждает мириться с некоторыми аберрациями, неизбежными при работе с очень широкими пучками. Исправление хроматизма в приборах, предназначенных для визуальных наблюдений и для фотографии, рассчитано на разные спектральные области применительно к тому обстоятельству, что максимум чувствительности глаза лежит в желто-зеленой части спектра, а чувствительность фотопластинок обычно сдвинута в более коротковолновую область. Объектив коллиматора спектрального аппарата должен быть очень хорошо исправлен на хроматическую аберрацию, тогда как объектив камеры может быть совсем не ахроматизован, но в нем весьма вредны астигматизм наклонных пучков и кома впрочем обычно оптика спектрографа рассчитывается как целое, так что недостаток одной ее части в большей или меньшей степени компенсируется за счет другой части. [c.318]

ЭЛТ применяют в основном в системах бегущего луча в устройствах анализа фотоснимков и в телевизионных ( икроскопах. Для них характерны высокое быстродействие, большая информационная емкость (до 10 элементов на растр). Недостаток ЭЛТ — невысокая яркость (10 —10 кд/м ), сложность системы электронной развертки, большая дисторсия. [c.100]

Дисторсия всех объективов для участка, ограниченного квадратом со стороной в 300мм не более 0,2 мм. [c.380]

ДИСТОРСИЯ м е X а и и ч е с к а я—изменевне взан.ч-ного расположения материал 1.ных точек среды (тела), вызванное внеш. воздействием или внутр. силами и включающее деформацию. Если и,-Х2, — координаты вектора перемещения нок-рой точки М(-г ,, гз) в прямоугольной нрямолипей[1011 системе координат Oxix- хз, то количественной мерой Д. являе-1ся тензор Д. d,y =- dui/ dxj. При djj < 1 Д. наз. малой. Симметричная часть тензора малой Д. dy,-)/2 = е/у [c.656]

УВЕЛИЧ НИЕ оптическое —отношение линейных или угл. размеров изображения предмета, получаемого с помощью оптич. системы, к соответствующим размерам самого предмета. Характеризуя наиболее употребит, осесимметричные системы, различают линейное, угл. и продольное У. о. Линейное (поперечное) увеличение р — отношение длины / изображения отрезка, перпендикулярного оптич. оси системы, к длине этого отрезка / = 1/1. При р>0 (направления I к 1 совпадают) изображение наз. прямым, при р<0 (/ и / антипараллельны)—обратным или перевёрнутым, при —уменьшенным, при 1Р1> 1—увеличенным. Величину р оптич. системы можно вычислить, используя выражение fjx= —x /f, где /н/ — переднее и заднее фокусные расстояния, ахи х — расстояния от переднего фокуса до предмета и от заднего фокуса до изображения соответственно. В реальных оптич. системах линейное У. о. для сопряжённых плоскостей не остаётся постоянным по всему полю зрения. Это приводит к нарушению геом. подобия между предметом и его изображением, наз. дисторсией (см. Аберрации оптических систем). [c.200]

Дж. Си [285—287] ввел представление о функции плотности энергии деформации dWIdV (W — энергия, V—объем) и о ее критическом значении dWtdV) - Условия деформированного состояния у вершины трещины таковы, что индивидуальные элементы (блоки) под действием приложенного напряжения подвергаются дилатации и дисторсии (рис. 100). Таким образом, плотность энергии деформации включает энергию, идущую на дилатацию и дисторсию. Основные соотношения для каждого элемента могут различаться, поэтому решение увязывается с историей нагружения. Суммарная запасенная энергия упругой деформации в каждый момент времени учитывается с помощью функции плотности энергии деформации, представленной в виде [c.165]

В теории вязкопластичности эволюция поверхностей, ограничивающих область упругости в пространстве напряжений, может быть представлена сочетанием расширения (сужения), вращения, переноса и дисторсии поверхности текучести и поверхностей равных потенциалов - правилом кинематического и изотропного упрочнения. Введение тензора внутренних напряжений (тензора микронапряжений) ру как реального центра поверхности течения связано с наличием остаточньк напряжений на уровне микроструктуры и микронапряжений, связанных с разнообразными неоднородностями в структурных составляющих на мезоуровне. Дальнейшие упрощения заключаются в ведении дополнительных гипотез [c.372]

Оптика (1977) -- [ c.188 ]

Оптика (1976) -- [ c.308 , c.309 ]

Металлургия и материаловедение (1982) -- [ c.176 ]

Оптика (1986) -- [ c.357 ]

Электронная и ионная оптика (1990) -- [ c.286 , c.287 ]

Дифракция и волноводное распространение оптического излучения (1989) -- [ c.145 , c.308 ]

Техническая энциклопедия Том15 (1931) -- [ c.145 ]

Основы оптики Изд.2 (1973) -- [ c.209 , c.430 , c.432 ]

Общий курс физики Оптика Т 4 (0) -- [ c.106 ]

Техническая энциклопедия Том 1 (0) -- [ c.145 ]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...