Проекторы

Комплексный метод контроля применяют для резьбовых деталей, допуск среднего диаметра которых является суммарным допуском. Этот метод основан на одновременном контроле среднего диаметра, шага, половины угла профиля, а также внутреннего и наружного диаметров резьбы путем сравнения действительного контура резьбовой детали с предельными. Это достигается при помощи предельных калибров, а для резьб малых размеров — при помощи проекторов. [c.175]

Шаг резьбы и половину угла профиля резьбы контролируют в основном на микроскопах или проекторах. Для измерения шага резьбы иногда применяют стационарные или накладные шагомеры (рис. 14.13,6). При измерении резьб гаек одним из основных методов является метод слепка. Во внутренней резьбе примерно на секторе в /3 окружности при помощи легкоплавкого сплава снимают слепок с профиля резьбы и затем на микроскопе измеряют параметры резьбы. Этот метод очень трудоемкий, сложный и недостаточно точный. [c.180]

Оптико-механические измерительные приборы. Эти приборы находят широкое применение в промышленности, поскольку позволяют выполнять измерения различных изделий с высокой точностью. По сравнению с механическими головками они имеют значительно большие пределы измерений, могут иметь табло с цифровым отсчетом. При необходимости их можно использовать для автоматического управления производственными процессами. Оптико-механические приборы бывают контактные (оптиметры, длиномеры, измерительные машины) и бесконтактные (микроскопы и проекторы). [c.120]

Точность резьбы можно контролировать дифференцированным (контроль каждого параметра в отдельности) и комплексным (контроль расположения контура резьбы в предписанном поле допуска) методами. Метод контроля каждого параметра резьбы в отдельности (среднего диаметра, шага и угла профиля) трудое.мок, поэтому его применяют для точных резьб ходовых винтов, резьбовых калибров, метчиков и т. и. Иногда по результатам контроля отдельных параметров судят (после вычислений) о комплексном параметре, например о приведенном среднем диаметре резьбы. Комп,лексный контроль резьб выполняют либо с помощью предельных калибров, либо с помощью проекторов и шаблонов с предельными контура. п1. [c.295]

Для исключения влняния упомянутых погрешностей действительные значения половины г га профиля (а/2)д определяют с помощью микроскопов или проекторов по результатам четырех измерений (см. рис. 12.13, в) [c.300]

Задача 368 (рис. 271). В механизме проектора ползуны А м С движутся друг от друга со скоростью V каждый. Определить в момент, когда BDE = (f, скорости шарниров В, Е, F, D, если АЕ= = F a, BE BF = ED = FD -- l. [c.147]

Наглядные картины расположения атомов в кристалле удается получать с помощью электронного микроскопа и ионного проектора (рис. 101). [c.90]

Рис. 48. Фотография кристалла платины в ионном проекторе, X10 ООО ООО

Вакансии (дефекты Шоттки). Так как точечные дефекты соизмеримы с размерами атомов, их можно увидеть, например, только с помощью лонного проектора. [c.30]

Источниками света в проекторах обычно служат галогенные лампы накаливания мощностью 100—500 Вт, охлаждаемые с помощью воздушной вентиляции. Оптическая система, как правило, содержит теплофильтр для устранения мощного теплового излучения этих источников (например, стекла типа СЗС-21 толщиной 2—3 мм). [c.56]

Экраны проекторов просветного типа должны иметь высокую разрешающую способность (до 50 mm"1) и обладать хорошими светорассеивающими свойствами для получения возможно более равномерного пространственного распределения яркости. В качестве материалов для экранов применяют матовые стекла, тонкие матированные лавсановые пленки или специальные экраны с многослойными прозрачными покрытиями из мелкодисперсных красителей, а также линзы Френеля с тонкой растровой структурой. Хорошими свойствами обладают экраны из тонкого слоя воска на стекле, однако они сложны в изготовлении. [c.56]

Большинство современных проекторов обладает измерительными функциями. Измерения производят при сравнении изображения контролируемого изделия с его чертежом или шаблоном, выполненным в масштабе проекции и закрепленным на экране, или при перемещении предметного стола микровинтами до совмещения изображения контуров детали с меткой на экране. Размер детали определяют как разность соответствующих показаний микровинтов. [c.57]

Многие современные измерительные проекторы имеют фотоэлектрические или магнитные датчики, позволяющие регистрировать перемещения стола на табло цифрового индикатора с точностью до 0,005 мм. С помощью некоторых проекторов можно определять полярные координаты дефектов. [c.57]

Проекторы сведенного (двойного) изображения применяют при массовом контроле однотипных деталей. Меняя угол наклона зеркал, устанавливают номинальный размер изображения. О качестве детали судят по отклонению ее изображения от эталона. [c.57]

Проектор светового сечения позволяет получить на экране изображение профиля изделия сложной формы, освещаемого с боков плоскими пучками света. На изделие обычно наносят слой черни (сажи и т. п.), чтобы усилить контраст изображения. Точность измерения контура может достигать 0,01 мм при увеличении 10—20. При контроле протяженных изделий применяют цилиндрические объективы. [c.57]

Контактно-проекционные приборы служат для контроля профиля изделий методом регистрации на экране изображения щупа, перемещение которого связано с изменением размера детали технические характеристики оптико-механических проекторов приведены в табл. 4. [c.57]

Рис. 2. Основные типы оптических схем проекторов

Технические характеристики проекторов [c.59]

К приборам этого класса относятся проекторы различного типа, в том числе телевизионные, обычные и стереоскопические микроскопы, эндоскопы. [c.80]

Расширению областей применения телевизионных проекторов способствует серийное производство высокоэффективных передающих трубок и аппаратуры промышленного телевидения. [c.80]

Технические характеристики некоторых телевизионных проекторов даны в табл. П. [c.80]

ЛПН-1000 100-1000 0,2-2 1000 Лазерный проектор с системой локального лучевого нагрева образцов [c.81]

Приемники волн СВЧ 212 Проекторы 57—59 [c.485]

В условиях возможного наступления пассивности (в присутствии окислителя и при отсутствии активаторов) контакт с катодным металлом может обеспечить наступление пассивного состояния основного металла и значительно снизить при этом скорость его коррозии, т. е. является катодным проектором (см. с. 323). Контакт с анодным металлом в этих условиях затрудняет наступление пассивности основного металла, а если последний находится в пассивном состоянии, может его депассивировать, что приводит к увеличению его коррозии (см. с. 306). [c.362]

Цифровая обработка двумерных изображений сейчас вводится почти во все основные отечественные диагностические системы - рентгенотелевизионные интероскопы, тепловизоры, звуковизоры, телевизионные проекторы, эндоскопы. [c.227]

Проекторы предназначены для контроля н измерения деталей, спроецированных в увеличенном масштабе на экран. Проекторы могут работать в проходящем и отраженном свете. Их используют главным образом для контроля изделий со сложным профилем шаблонов, плат, лекал, зубчатых колес, HiTaMnoBaHHbix детален, фасонных резцов и т. п. Свет от источника (рис. 5.17, а и б) через конденсор 1 параллельным пучком направляется на проверяемую деталь 2. Объективом 3 действительное обратное изображение детали, через систему зеркал 5—6 проецируется на экран 4. Контролируемое изображение детали на экране можно проверять различными методами, например сравнения с вычерченным в увеличенном масштабе номинальным контуром с двойным контуром, вычерченным в соответст-вки с 1]редельными положениями годного профтля показаний от-счетных устройств проектора с помощью масштабных линеек совмещением противоположных контуров детали. В соответствии с ГОСТ 19795—82 выпускают проекторы типа ПИ с экраном диаметром до 250 мм 250—400 мм и свыше 400 мм. Часовой проектор ЧП (рис. 5.17, б) состоит из осветителя I, сменных конденсоров 3, стола 5 с продольным и поперечным винтами 4 п 9 (цена деления [c.129]

О оптическая схема с прозрамцым экраном б оптическая схемя с непрозрачным экраном в схсма часового проектора [c.129]

Задача 369 (рис. 272). Проектор Делоне состоит из двух шарнирно соединенных между собой стержней АН и ВС длиной I каждый, с которыми шарнирно соединены два других стержня ED и [c.147]

Наблюдення отдельных атомов. В настоящее время основные положения молекулярно-кинетической теории подтверждаются многочисленными опытами с использованием достижений современной экспериментальной техники. С помощью ионного проектора получают изобралсения кристаллов, по которым можно представить их строение. Электронные микроскопы позволили получить изображения, по которым оказалось возможным определение расстояния между отдельными атомами в молекуле. [c.73]

Наибольший интерес представляют прямые методы наблюдения и исследования дислокаций, их скоплений и точечных дефектов. К ним относятся исследования с помощью ионного проектора, рентгеновской топографии и прямые световые и электрономикроскопические исследования. Прямые методы дают наиболее ценную информацию о дефектах в кристаллах, однако неприменимы для количественных оценок при изучении металлов, подвергнутых значительной пластической деформации, или технических сплавов сложного состава. В этом случае приходится применять косвенные методы исследования рентгеноструктурный анализ с оценкой формы и интенсивности интерференционных максимумов механические испытания измерение внутреннего трения, электрических и магнитных характеристик. [c.94]

ИОННАЯ МИКРОСКОПИЯ. Для прямого анализа расположения атомов вокруг линии дислокации необходимо очень высокое разрешение. В настоящее время такое разрешение дает только ионный микроскоп (ионный проектор), принцип действия которого состоит в следующем. С поверхности образца, представляющего собой иглу с очень малым радиусом закругления острия (менее 10 см), находящуюся под действием поля высокого напряжения, срываются электроны. За счет эффекта поляризации на игле осаждаются молекулы нейтральнм о газа. После соприкосновения с ио-верхностью металла молекулы газа диффундируют к острию иглы. Когда такая молекула попадает в область местного усиления поля высокого напряжения, происходит ее ионизация и ион летит под действием ускоряющего высокого напряжения к флуоресцирующему экрану прибора. Этот метод, имеющий наибольшее разрешение из всех известных в настоящее время прямых методов исследования структуры материалов, позволяет различать отдельные атомы в кристаллах. Увеличение прибора определяется соотношением между радиусом кривизны острия и расстоянием от объекта до экрана и может достигать нескольких миллионов. [c.94]

Для индивидуального пользования применяют черно-белые и цветные электронно-лучевые трубки (ЭЛТ) с люминесцирующими экранами, зано-минающие ЭЛТ с видимым изображением, цифровые индикаторы на основе тлеющего разряда и т, п. Индикаторы коллективного пользования строятся на основе ЭЛТ типа Скиатрон , многоэлементных люминесцентных, светодиодных и других панелей, проекторов тина Эйдофор с записью информации на магнитной пленке и др. В настоящее время используют в основном индикаторы первой группы. Однако в будущем значительно шире будут применять индикационные устройства с большими экранами, пред- [c.30]

Радиопромышлен- ность Контроль качества печатных плат на телепизионных и оптических проекторах, контроль геометрии фотошаблонов и др, [c.49]

Свойства зрения. При работе с приборами визуального контроля (микроскопы, проекторы, эндоскопы, телескопы, телевизионные системы и др.) важно правильно использовать свойства зрения оператора. Зрение (виде-иие) является сложным динамическим нелинейным лроцессом, включающим сканирующие, канвергенционные (фо-кусировочные) и адаптационные (измелен не диаметра зрачка) движения глаз и обработку зрительной информации в центральной. нервной системе человека. [c.51]

Проекторы широко применяют для контроля различных изделий во многих отраслях промышленности инструментов, резьбовых деталей, зубчатых колес, приборных камней, объектов сложной формы (например турбинных лопаток), а также изделий из хрупких и легкодеформируемых материалов и т. д. [c.56]

Цвет экранов обычно нейтральный (белый), однако в последнее время выпускают просветные экраны с темными противоореольными слоями, снижающими влияние паразитных засветок. Размер экрана колеблется от 100X100 до 2000X2000 мм. Яркость экранов составляет в среднем 40— 100 кд/м , что позволяет пользоваться проекторами при обычном освещении. [c.57]

По типу оптической схемы проекторы можно классифицировать на следующие группы 1) подобного увеличения 2) сведенного изображения 3) совмещенного и стереоскопического изображения 4) светового сечения 5) контактно-проекционные 6) телевизионные (рис. 2 соответственно а—е). Проекторы подобного изображения наиболее многочисленны. Их используют для контроля готовых изделий и в процессе их изготовления (станочные проекторы). Применение панкра-тических объективов позволяет решать задачи контроля пропорций изделий. [c.57]

Телевизионные проекторы широко применяют в дефектоскопии и обладают следующими преимуществами В03М0ЖН0С1Ъ10 усиления яркости, кон- [c.80]

С помощью телевизионных проекторов можно легко автоматизировать процесс измерений и контроля и выдавать результаты на ЭВМ, а также производить различные преобразования изображения и их количественную обработку (выделе11ие изолиний и т. д.). [c.80]

Наиболеее распространена схема проектора с передающей телевизионной трубкой. Она включает источник света, объектив, передающую трубку, видеотракт с блоками усиления и обработки сигнала и видеоконтрольное устройство. Для управления процессом контроля и запоминания информации могут быть использованы ЭВМ и видеомагнитофоны. [c.80]

ЛСМ ФРГ, Оптоп (1) 200—8000 0,1 — 4 1000 Лазерный сканирующий ТВ проектор с цифровой системой запоминания изоб--рамчений, время формирования кадра 1 — 4 с. Использован гелий-кадмиевый ла. зер для люминесцентной дефектоскопии [c.81]

ЛП-11 СССР, нииин н ИТК АН БССР 0,1 10-100 50—100 (4000) ТВ сканирующий лазерный проектор с управлением от 9ВМ и записью нзоб-рам ений на фото-хромном носителе. Размер экрана 1х X 1 м. Использован аргоновый лазер Максимальный размер объектов до 200 мм. Измерения элементов структур масок БИС производятся фотоэлектрическим микроскопом [c.81]

Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий том 1 (1986) -- [ c.57 , c.59 ]

Справочник машиностроителя Том 2 (1955) -- [ c.250 ]

Справочник металлиста Том 2 Изд.2 (1965) -- [ c.693 , c.695 ]

Точность и производственный контроль в машиностроении Справочник (1983) -- [ c.178 , c.178 ]

Справочник технолога-приборостроителя (1962) -- [ c.74 ]

Справочник технолога машиностроителя Том 2 (1972) -- [ c.508 , c.509 , c.510 , c.532 ]

Справочник машиностроителя Том 3 (1951) -- [ c.429 ]

Справочник машиностроителя Том 4 (1956) -- [ c.18 ]

Гальванотехника справочник (1987) -- [ c.624 ]

Краткий справочник металлиста (0) -- [ c.327 ]

Справочник машиностроителя Том 6 Издание 2 (0) -- [ c.2 , c.4 , c.18 , c.28 , c.250 ]

Справочник металлиста Том 1 (1957) -- [ c.433 , c.434 , c.435 ]

Справочник технолога машиностроителя Том 2 Издание 2 (1963) -- [ c.726 ]

Справочник контроллера машиностроительного завода Издание 3 (1980) -- [ c.327 , c.328 ]

Алгебраические методы в статистической механике и квантовой теории поля (0) -- [ c.148 ]

Машиностроение Энциклопедический справочник Раздел 1 Том 1 (1947) -- [ c.0 ]

Машиностроение Энциклопедический справочник Раздел 3 Том 5 (1947) -- [ c.185 , c.250 ]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...