Расстояние объектива рабочее

Для наблюдения за структурой и измерения сетки (рис. 6.4) на крышке вакуумной камеры (1) размещен металлографический микроскоп 2 типа МВТ. Измерение сетки осуществляется с помощью микрометрической оптической головки типа МОВ-1-15. Фотографирование структуры или сетки осуществляется с помощью микрофотонасадок МФН-1 (на пластинки 9 X 12 см) и МФН-12 (на фотопленку) при увеличениях до 300 крат при рабочем расстоянии объектива около 80 мм. На рис. 6.5 приведены отдельные моменты развития деформаций в вершине трещины). Для наблюдения за развитием трещины, а также для измерения раскрытия трещины и деформаций в ее вершине при больших увеличениях используется также промышленная телевизионная установка, присоединяемая непосредственно к металлографическому микроскопу (рис. 6.6). Изображение зоны развития трещины подается на телеэкран (рис. 6.7). [c.225]

Если фокусное расстояние объектива велико по сравнению с радиусом транспаранта и радиусом рабочей зоны в фурье-плоскости, то [c.154]

Выпускаются объективы, начиная с увеличения 1х с апертурой 0,03 (рис. V.4), отличающиеся тем, что первый компонент отрицательный второй компонент, как всегда, положительный. Благодаря этому рабочее расстояние объектива приближается к нормальному, и угол поля зрения увеличивается ввиду уменьшения значений третьей и четвертой сумм. [c.405]

Рабочее расстояние объектива.............. 25,7 мм [c.158]

При заказе решеток указываются следующие характеристики тип решетки (плоская или вогнутая) для вогнутых решеток указывается радиус кривизны количество штрихов на 1 мм размер нарезаемой поверхности (первое число — ширина нарезаемой поверхности, второе — длина штриха в мм) рабочий порядок спектра область высокой концентрации света для какого прибора предназначается решетка (указываются фокусное расстояние объектива камеры спектрографа и угол между падающим и дифрагированным пучками), и другие свойства решетки, интересующие заказчика. [c.46]

Микроскоп состоит из двух оптических систем — объектива и окуляра (на рисунке они показаны в виде одиночных линз). Наблюдаемый объект / (препарат) помещают перед фронтальной линзой объектива 5 в плос- кости между главным (/ об) и двойным фокусным расстоянием объектива. Расстояние от наружной поверхности фронтальной линзы объектива до объекта называется рабочим расстоянием I. Проходящие через объект лучи света образуют за передним фокусным расстоянием окуляра 5 Рок действительное увеличенное и перевернутое изображение У объекта. Это изображение рассматривается через окуляр, для которого это изображение является объектом наблюдения. Окуляр образует второе увеличенное прямое, мнимое изображение предмета I" на сетчатке глаза 6. Таким образом, окуляр лишь увеличивает изображение, образуемое объективом, и никаких деталей наблюдаемого объекта выявить не может. [c.28]

Объектив высокотемпературного микроскопа не может быть помещен близко к раскаленному образцу поэтому, а также нз-за конструкции вакуумной камеры, между объективом и образцом должно быть сравнительно большое расстояние. Это потребовало разработки специальных зеркальных и зеркально-линзовых объективов, рабочее расстояние которых больше, чем у обычных. [c.67]

Объективы микроскопа исправляются для определенных рабочих расстояний. Такими расстояниями являются длина тубуса микроскопа и предметное расстояние объектива. [c.114]

В связи с этим при работе с сильными объективами фокусировку микроскопа рекомендуется производить другими способами, не изменяя рабочих расстояний объектива. [c.114]

Специальные фотографические окуляры, рассчитанные на получение действительного изображения, не нарушают рабочих расстояний объектива. [c.114]

Трудность исследования под оптическим микроскопом поверхностей изломов металлических образцов, являющихся весьма неровными в микроскопическом масштабе, связана с очень малой глубиной фокуса и небольшим рабочим фокусным расстоянием объектива в этом приборе. Поэтому фрактография , или наблюдение плоскостей излома разрушенных металлических образцов под оптическим микроскопом ле может получить широкого распространения. [c.49]

В электронном микроскопе, наоборот, рабочее фокусное расстояние объектива достаточно, а глубина фокуса приблизительно в 1000 раз больше, чем глубина фокуса оптического микро- [c.49]

Аналогично предыдущему варианту, задаваясь рабочим расстоянием объектива, увеличением фронтальной системы, марками стекол, толщинами линз и воздушными промежутками между ними, можно вычислить 4, а также и угол а , определяемый из условия заданной величины 5, фронтальной системы. Выбор такой конструкции фронтальной системы дает возможность [c.220]

Необходимость защиты оптической системы микроскопа от воздействия высокой температуры потребовала разработки специальных линзовых, зеркально-линзовых и зеркальных объективов с увеличенным по сравнению с обычными системами рабочим расстоянием [119, 175, 180]. Применение объективов с большим рабочим расстоянием (от 15 до 60 мм) и числовой апертурой 0,2—0,65 позволяет, во-первых, существенно упростить конструктивное выполнение элементов рабочей камеры и захватов нагружающих устройств во-вторых, достаточно свободно разместить в рабочей камере устройство для защиты смотрового кварцевого стекла от осаждения конденсата и, в-третьих, расширить экспериментальные возможности испытательных установок по диапазону рабочих температур, видам нагружения и т. д. [119]. [c.85]

В микроскопе МВТ используются объективы с рабочим расстоянием не менее 14 мм, что позволяет разместить между поверхностью образца и фронтальной линзой объектива смотровое стекло. Расстояние от поверхности образца до наружной поверхности смотрового стекла составляет 12—12,5 мм. [c.24]

Развитие тепловой микроскопии и особенно необходимость повышения предельной температуры нагрева исследуемых образцов — все это потребовало создания специальных оптических систем с приспособлением для защиты смотрового стекла от осаждения конденсата испаряющихся частиц и с высокотемпературным микроскопом, снабженным объективами с большим рабочим расстоянием для исследования в видимой области спектра. [c.86]

Использование описанных выше устройств облегчает изучение структуры нагретых образцов с помощью высокотемпературных микроскопов, снабженных специальными объективами с большим рабочим расстоянием (от 15 до 60 мм) и числовой апертурой 0,2—0,65. Применение объективов с большим рабочим расстоянием позволяет, во-первых, существенно упростить конструктивное выполнение элементов рабочей камеры и захватов нагру-90 жающего устройства во-вторых, достаточно свободно разместить в рабочей [c.90]

Известно, что если выполнить кольцевое зеркало, внутренняя отражающая поверхность которого будет иметь форму эллипсоида вращения, то изображение поверхности, помещенной, например, в фокусе f i, будет передаваться во второй фокус эллипса При относительно небольших диаметрах кольцевого зеркала (порядка нескольких сот миллиметров) расстояние между фокусами и F может составлять порядка 1—1,5 м. Это позволяет создавать установки для тепловой микроскопии, в которых кольцевое зеркало, являющееся объективом, размещается непосредственно внутри рабочей камеры, а второй фокус располагается за ее пределами, что дает возможность рассматривать изображение поверхности образца. [c.97]

Кольцевое зеркало 8 является своеобразным зеркальным объективом, обладающим числовой апертурой 0,47 и рабочим расстоянием 101,6 мм. [c.97]

Недостатком рассмотренного устройства является специфическая для данного зеркального объектива нечеткость передаваемого изображения вследствие технологической сложности выполнения высококачественной поверхности эллиптического зеркала. В последнее время в ЛОМО разработаны новые зеркально-линзовые объективы, позволившие создать весьма совершенные оптические системы, предназначенные для исследований методами тепловой микроскопии. В частности, при использовании объективов с рабочими расстояниями 32 и 17,2 мм и апертурами 0,4 и 0,65 получили оптическую систему, обеспечивающую наблюдение объекта в светлом поле, при косом освещении и методом фазового контраста. [c.99]

В микроскопе МВТ используются объективы с рабочим расстоянием не менее 14 мм. Это позволяет помещать между поверхностью образца и фронтальной линзой объектива смотровое стекло, детали устройства для предохранения смотрового стекла от напыления, а также сохранять необходимый зазор, который предотвращает нагрев объектива за счет теплового излучения от образца. Расстояние от поверхности образца до наружной поверхности смотрового стекла рабочей камеры установки составляет 12— [c.121]

Используемые объективы, расчет и конструирование которых осуществлены В. А. Пановым [23], имеют рабочие расстояния 32 и 17,2 мм [c.136]

Для исследования микроструктуры образцов, нагреваемых до 3000° С и выше, необходимы специальные объективы, обладающие большим рабочим расстоянием, так как потери на излучение с поверхности образца возрастают пропорционально четвертой степени температуры его нагрева. На рис. 74 дан график значений тепловых потерь за счет излучения с нагретой поверхности в диапазоне от 600 до 3000° С (при коэффициентах излучения Ki 0, 2 0,4 0,6 0,8 и 1 и в отсутствие защитных экранов). Как видно из графика, при нагреве до 3000° С каждый квадратный сантиметр поверхности образца может излучать 400 Вт и более. Поэтому необходимо удаление фронтальной линзы линзового объектива от образца для снижения интенсивности ее нагрева и предотвращения выхода из строя объектива. [c.140]

Отсчетное устройство прибора следующее. Лампа 21 посредством коллектора 20 освещает прозрачный штрих, нанесенный на пластине 19, установленной в фокальной плоскости окуляра 18. Пластина 19 может перемещаться при вращении винта с отсчетным барабаном. Призма 17 отражает пучок лучей на выходную грань спектральной призмы 16, которая одновременно является зеркалом, направляющим изображение светящегося штриха отсчет-ного устройства в глаз наблюдателя. Увеличение прибора 510, Фокусное расстояние объектива 10 мм, апертура 0,5, увеличение (с дополнительной линзой) 34. Увеличение окуляра 15. Длина рабочего участка в плоскости объекта 0,25 мм. [c.102]

Перпендикулярность рабочих граней мер, как и пирамидаль-ность, можно измерять и на гониометре ГС-5. В этом случае для получения отсчетов по авто,коллимационным бликам в вертикальной плоскости используют предусмотренный в комплекте гониометра окулярный микрометр, оснащенный автоколлимацнонным окуляром Гаусса. При его отсутствии величину отклонения друг от друга горизонтальных линий автоколлимационного блика и креста сетки окуляра в вертикальной плоскости можно оценить, сравнивая цену интервала между штрихами биссектора креста с этим отклонением. Цену интервала между штрихами вертикального биссектора (этот интервал такой же по величине, как и у горизонтального биссектора) можно просто измерить отсчетными устройствами гониометра. Для этого вертикальную линию автоколлимационного блика следует вначале совместить с одним штрихом вертикального-биссектора, а затем с другим. Разность отсчетов, полученных npiii обоих совмещениях, составляет цену интервала биссектора в угловом выражении. Цену интервала можно также рассчитать, есл№ знать линейный размер между -штрихами биссектора на сетке окуляра и фокусное расстояние объектива — для гонио1метра ГС-5 цена составляет величину 12",5. [c.367]

Изложенным требованиям в полной мере удовлетворяет трехлинзовый объектив, в котором только центральная линза имеет оптическую силу, причем апертурная диафрагма помещена в ее плоскости. Оптическая схема объектива приведена на рис. 4.8 [а. с. 1045203 (СССР)]. Световой диаметр и частота структуры центральной линзы зависят не от рабочего поля (полевого угла) объектива, а только от его рэлеевского разрешения, т. е. от апертурного угла. Остальные два элемента системы, световой диаметр которых зависит от рабочего поля, являются линзами без оптической силы, т. е. дифракционными асфериками, у которых даже при большом световом диаметре, как правило, приемлемая частота структуры. Асферики расположены по разные стороны от силовой ДЛ, как показано на рис. 4.8. В рассматриваемом объективе десять конструктивных параметров отрезки силовой линзы S, s расстояния от силовой линзы до асферик d, d коэффициенты асферической деформации всех элементов 5а> Зл 5л За которые связаны всего двумя конструктивными соотношениями, определяющими увеличение и фокусное расстояние объектива [c.142]

Результаты подобных расчетов приведены на рис. 4.12. Вычисления проводились для области значений параметров транспаранта, представляющих наибольший практический интерес [26], рабочая длина волны Я, = 632,8 нм. Вдоль каждой кривой на рис. 4.12 минимально возможное фокусное расстояние объектива постоянно, а период структуры ДЛ объектива меняется. Некоторые его значения отмечены на кривых. Данные рис. 4.12 показывают большие потенциальные возможности дифракционного фурье-объек-тива. Низкий уровень оста-точных аберраций дублета линза — асферика позволяет рассчитывать на его основе фурье-анализаторы с высокими оптическими характеристиками, причем параметры их линз технологически достижимы. Так, фокусное расстояние объектива, способного обеспечить обработку транспаранта диаметром = 80 мм при максимальной пространственной частоте 0тах = 70 ММ- , / -= 400 ММ (габаритный размер системы — 800 мм), минимальный период в структуре ДЛ "min — [c.155]

Фокусное расстояние объектива телескопа рассчитано таким образом, что при расстоянии от источника, равном 1 м, и диаметре его 6,5 см термобатарея полностью перекрывается фокальным изображением источника. При установке прибора на большее расстояние полное перекрытие термоприемника изображением тела имеет место в том случае, когда отношение диаметра излучающей поверхности к расстоянию от тела до телескопа равно / 6 Только при соблюдении этого условия вся рабочая часть термопри- [c.337]

К рабочей плите тумбы 9 (фиг. 89) жестко прикреплены кронштейны 5 и 7. Центральный коллиматор 3 закреплен неподвижно на кронштейнах 5 к 1. Коллиматор 3 устанавливается в горизонтальное положение. Фокусное расстояние объектива коллимато- [c.123]

Объектив микроскопа образует увеличение изображения предмета в плоскости, удобной для рассматривания через окуляр. Увеличение объектива равно —где 0 и Ц— рабочие расстояния объектива, удовлетворяющие соотношению (2). Если — фокусное расстояние окуляра, измеренное в сан-тшиетрах, то его увеличение, согласно (4), равняется 25/ /1 [, Следовательно, [c.238]

Требуется рассчитать ахроматический объектив с высокопре-ломляющей йод-метиленовой иммерсией для рудного микроскопа. Эта иммерсия имеет показатель преломления, близкий к показателям преломления пленок окислов, покрывающих поверхностные участки образцов руд. что позволяет значительно повысить контраст изображения структуры. Объектив должен быть исправлен для бесконечно удаленного изображения. За объективом помещается ахроматическая линза с фокусным расстоянием 250 мм. Фокусное расстояние объектива должно составлять 4 мм, числовая апертура — 0,85. Расстояние предмета от первой поверхности объектива — рабочее расстояние — должно составлять не менее 0,6 мм. Линейное поле зрения в пространстве изображения, т. е. в задней фокальной плоскости ахроматической лиизы, должно быть равным 21 = 18 мм. Хроматизм увеличения объектива в относительной мере должен составлять 1,5—2%, поскольку в комплект микроскопа входят компенсационные окуляры, имеющие хроматизм увеличения такого же порядка. С целью упрощения конструкции допускается наличие кривизны нзображсиия- [c.455]

Промежуточное уменьшение оригинала и получение его изображения на фо. топластине производится средствами прецизионной фотографии. При этом, что. бы сохранить заданную точность, контрастность и четкость рисунка, необходимо выполнить ряд ограничений, накладываемых на технологический процесс микрофотографии. При значительном уменьшении фотопластина должна располагаться в фокальной плоскости. Для снижения расстояния от объектива до оригинала следует применять короткофокусные объективы или проводить уменьшение оригинала в несколько этапов. Допуск иа расположение оригинала или фотопластины отлосительно объектива вдоль оптической оси определяется неизменностью резкости изображения (глубиной резкости) на фотопластине. Глубина резкости и фокусное расстояние объектива определяют размеры рабочего поля изображения. Этот размер составляет около 1/5 фокусного расстояния объектива [31]. Возможность создания раздельных элементов изображения зависит от разрешающей способности объектива, которая определяется числом различимых тестовых линий, приходящихся на расстояние в I Мм. [c.76]

Кроме того, в процессе эксперимента может возникнуть необходимость измерения отпечатков непосредственно при температуре опыта. Для выполнения перечисленных задач оптическая система в приборе выполнена следующим образом. Станина оптической системы 30 посажена на выведенную из камеры ось наружной рамки и поворачивается вместе с ней вокруг оси /—I. Тубус с оптикой размещается над смотровым окном в крышке камеры. Для наблюдения за объектом исследования применяется микроскоп МВТ с длинофокусным объективом типа МИМ-13-С0 с рабочим расстоянием 59,5 мм. [c.69]

Фотографирование структуры производится с помощью микрофотонасадки МФН-1 Максимальное увеличение оптической системы 350-кратное. Для освещения поверхности образца при высоких температурах применяются ртутные лампы типа ДРШ-100. Перемещением тубуса с помощью зубчатого устройства объектив устанавливается над образцом на требуемом рабочем расстоянии. Оптическая ось объектива и ось индентора смещены на определенный угол, что позволяет попеременно подводить объектив и индентор к исследуемому участку на поверхности образца. Путем перемещения оптической системы микровинтовым устройством 31 с нониусной шкалой в горизонтальных направляющих троектории движения осей индентора и объектива при повороте вокруг оси I—/ совмещаются. Угол поворота системы фиксируется вилкообразным регулируемым упором 32, установленным на крышке камеры. Таким образом достигается прицельное внедрение индентора в выбранную зону на поверхности образца. [c.69]

Вначале наши установки снабжались металлографическим микроскопом МВТ с линзовыми объективами с рабочим расстоянием 14,5 мм. Однако эти оптические средства не позволяли достигать рабочих температур выше 1200° С. Поэтому были использованы более совершенные линзовые объективы МИМ-13С0 конструкции Ленинградского оптико-механического объединения, имеющие рабочее расстояние 59,22 мм и апертуру 0,27 (Х270). Большое рабочее [c.85]

В существующих отечественных установках для тепловой микроскопии преимущественно использовался металлографический микроскоп МВТ-1 с линзовыми объективами типа (ХФ системы И. А. Аидина, имеющими рабочее расстояние [c.91]

Создание перспективных оптических систем с повышенной разрешающей способностью для тепловой микроскопии и, в частности, разработка объективов с большим рабочим расстоянием непосредственно связаны с развитием зеркальной и зеркально-линзовой оптики. Как известно [23], преимущество зеркально-линзовых объективов перед обычными линзовыми объективами заключается в том, что у них так называемый передний отрезок может более чем в четыре раза превышать фокусное расстояние, что позволяет по-новому решать ряд конструктивных задач проектирования оптических систем для средств высокотемпературной металлографии, для приборов локального микроспектрального анализа и других устройств. [c.95]

В 1950 г. в Государственном оптическом институте (ГОИ) были разработаны специальные зеркально-линзовые насадки к объективам микроскопа, увеличивающие рабочее расстояние. В качестве примера на рис. 43 приведена оптическая система, состоящая из собственно объектива микроскопа с увеличением 40 и апертурой 0,65 (40x0,65) и микронасадки (компоненты / и //) с рабочим расстоянием 30 мм и увеличением 1, дающей промежуточное изображение О. Первая поверхность линзы I выполнена асферической и тщательно просветлена. Чтобы исключать влияние прямой засветки, на центральную часть линзы нанесен непрозрачный экран. [c.95]

За поверхностью образца наблюдают через кварцевое смотровое стекло в верхней части камеры с помощью установленного йа ней металлографического микроскопа Панфот. Микроскоп снабжен объективом Лейтц Н 20 с рабочим расстоянием 8,8 мм. [c.113]

Промышленностью выпускается мало аппаратуры для измерения твердости нагретых образцов [36, с. 370]. В Японии, например, фирма Ниппон Когаку К. К- изготавливает твердомер Никон , с помощью которого можно исследовать различные материалы в вакууме или в инертных средах (аргоне, гелии, азоте), измеряя под микроскопом диагонали отпечатков алмазного или сапфирового индентора Виккерса непосредственно после их нанесения на нагретый образец. Микроскоп снабжен объективом с рабочим расстоянием 18 мм и апертурой 0,3. Оптическая система микроскопа обеспечивает увеличение при визуальном наблюдении поверхности образца в 100 раз и при измерении диагоналей отпечатка в 300 раз. Диаметр поля зрения в первом случае составляет 1,6 мм, во втором 0,53 мм. [c.114]

Оптическая система установка ИМАШ-18 состоит из объектива 11 с большим рабочим расстоянием, укрепленного на опак-иллюминаторе 12 специального металлографического микроскопа. В осветителе микроскопа 13 применена ртутная газоразрядная лампа сверхвысокой яркости типа ДРШ-100-2 мощностью 100 Вт. Яркость свечения жгута паров плазмы в этой лампе составляет около 100 кстб. Следует напомнить, что яркость электрической дуги составляет всего около 15 кстб. Визуальное наблюдение за структурой образца осуществляется через окуляр 14 и монохроматический узкополосной светофильтр 15. Последний является одним из важных элементов оптической системы [58]. Он пропускает преимущественно волны с длиной X = 546 мкм (ртутная линия в спектре лампы) и срезает собственное световое излучение образца, а также волны других длин из спектра лампы. При этом становится возможным прямое наблюдение за микроструктурой образца в отраженном свете, а также фотографирование или киносъемка ее камерой 16. [c.138]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...