Методы измерения шероховатости поверхности

Методы измерения шероховатости поверхности можно разделить на локальные и интегральные. [c.365]

Широко известным является щуповой метод измерения шероховатости поверхности [5]. В качестве щупа используют остро заточенную (как правило, алмазную) иглу, приводимую в поступательное движение по определенной траектории относительно исследуемой поверхности. Ось иглы располагают по нормали к поверхности. Опускаясь по впадинам и поднимаясь на выступы, игла колеблется, повторяя профиль образца. Механические колебания иглы преобразуют в электрические и таким [c.230]

Нарушение корреляции между спекл-структурами, обусловленное изменением угла падения светового пучка, наблюдается также в случае диффузно отражающих объектов. В дальнейшем мы увидим, что на этом основан один из методов измерения шероховатости поверхностей (гл. 9, 2). [c.35]

Методы измерения шероховатости поверхности [c.200]

СРЕДСТВА И МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ [c.171]

Методы измерения шероховатости поверхности по принципу действия делятся на контактные и бесконтактные. [c.130]

Пределы допустимых погрешностей показаний распространенных на заводах приборов для измерения шероховатости поверхности лежат в границах от 4,5 до 45% (нижняя граница относится к грубым поверхностям, а верхняя — к самым чистым), что составляет от 0,03 до 4 мкм. Нижняя граница по этим данным почти в 2 раза меньше нормативной погрешности аттестации ( 0,05 мкм) срединной длины самых малых плоскопараллельных концевых мер (до 10 мм) по наивысшему (1-му) разряду посредством наиболее точного (абсолютного интерференционного) метода. В этом состоит вторая особенность измерений неровностей поверхности. [c.64]

ИЗМЕРЕНИЕ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫМ МЕТОДОМ [c.88]

ИЗМЕРЕНИЕ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ МЕТОДАМИ СВЕТОВОГО СЕЧЕНИЯ И ТЕНЕВОЙ ПРОЕКЦИИ [c.105]

СРЕДСТВА И МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ОБРАБОТАННЫХ ПОВЕРХНОСТЕЙ [c.117]

Основные методы и средства измерения шероховатости поверхности приведены в табл. 135. [c.150]

Ш5. Основные методы и средства измерения шероховатости поверхности [c.151]

Для контроля шероховатости поверхности режущего инструмента используют приборы и методы, применяемые в общем машиностроении. Краткая техническая характеристика приборов для измерения шероховатости поверхности приведена в табл. 17. [c.689]

Прямой метод измерения индикатрисы рассеяния является безусловно наилучшим способом контроля качества рентгеновской оптики, однако имеет ограниченное применение. Сложности возникают при измерении неплоских зеркал, зеркал больших размеров, а также при контроле в ироцессе изготовления рентгеновского зеркала. С этим связаны поиски других методов контроля шероховатости поверхности, и самым существенным в этой работе является, по-видимому, сравнение результатов измерения каким-либо выбранным методом с измерениями рассеяния в рентгеновской области. Ниже мы более подробно остановимся на установлении корреляции измерений, выполненных различными способами. [c.240]

Количественный метод оценки основан на измерении шероховатости поверхности при помощи приборов. Для контроля [c.19]

Приборы для измерения шероховатости поверхности. Оценка шероховатости поверхности осуществляется качественным и количественным методами. Качественный метод оценки основан на сравнении обработанной поверхности с образцами, а количественный — на измерении неровностей специальными приборами. [c.197]

МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ОБРАБОТАННОЙ ПОВЕРХНОСТИ [c.206]

Методы измерения шероховатости обработанной поверхности разделяются на качественный и количественный. [c.212]

Рнс. 89. Измерение шероховатости поверхности методом светового сечения [c.155]

Сущность процесса формирования поверхности может быть раскрыта в результате всестороннего микроскопического и профил ографического исследования в сочетании с методами измерения шероховатости поверхности, микротвердости, остаточных напряжений и металлографического анализа. Ограничение исследований измерения высоты неровностей, образующихся при различных условиях обработки, с построением соответствующих графиков и составлением эмпирических соотношений между размерами неровностей и отдельными технологическими факторами дает частные зависимости только в пределах проведенных экспериментов. Такие исследования не определяют общих закономерностей процесса формирования поверхности. В связи с этим совершенствование методов формообразования поверхностных слоев и отработку оптимальных режимов изготовления деталей следует проводить с учетом эксплуатационных свойств поверхности. [c.373]

В заключение следует указать, что важным условием дальнейшего развития щупового и других методов измерения шероховатости поверхности является установление количественной зависимости между шероховатостью и эксплуатационными характеристиками широкой номенклатуры изделий машиностроения, приборостроения и других отраслей промышленности, так как от этого зависят выбор градаций шероховатости и требования, предъявляемые к приборам- [c.160]

Автоматическое измерение параметров объектов — это определение физических характеристик объектов, а также обнаружение и измерение координат объектов по радиолокационным изображениям, полученным в системах с синтезированной апертурой, определение числа, размеров и плотности аэрозольных частиц по рассеянному ими волновому полю, определение численных параметров диаграмм направленность антенн и т. п. задачи. В основном для их решения могут использоваться приемы и методы, применяемые при обработке изображений вообш е. Однако для некоторых задач разрабатываются и спецхшльные методы, учи-тываюш ие особенности формирования голограмм и измеряемого физического параметра. Таковы, например, методы измерения шероховатостей поверхностей по спекл-шуму на восстановленных изображениях этих объектов [91, 108, 119, 153], измерение размеров рассеиваюш их частиц [210] и т. п. [c.175]

Методы измерения шероховатости поверхности разделяют на бесконтактные и контактные. Для бесконтактных измерений применяют различные оптические гГриборы, предназначенные главным образом для оценки шероховатости по параметру Яг. Среди них наибольшее распространение получил двойной микроскоп Линника. Действие двойного микроскопа основано на принципе светового сечения поверхности. Положим, требуется определить размер Н выступа на обработанной детали 1 (рис. 36, а). На контролируемую поверхность с помощью осветительного тубуса 3 направляют узкую полоску света. Для этого внутри тубуса имеется миниатюрная лампочка, от которой лучи света через линзы направляются в щелевую диафрагму, а оттуда в виде узкой полоски через оптическую систему (на рисунке не показана) падают на контролируемую поверхность. Если она неровная, световая полоска, попадая на нее, изгибается, четко обрисовывая контуры неровностей. Так как осветительный тубус наклонен под углом 45 к поверхности детали, то освещенные неровности выглядят в световом сечении увеличенными. Световое сечение рассматривают через наблюдательный тубус 2 под углом 90° к этому сечению. Оптическая система наблюдательного тубуса позволяет видеть это сечение сильно увеличенным. [c.74]

Интегральные рефлексометрические методы оценки шероховатости поверхности основаны на измерении интенсив- [c.73]

Характеристики приборов, применяемых для измерения шероховатости поверхности, приведены в табл. 11. Шероховатость поверхности определяют также визуальным сравнением контролируемой поверхности с образцами шероховатости или с деталью, шероховатость поверхности которой аттестована. Этот метод дает надежные результаты до 6-го класса включительно. Для повышения надежности контроля шероховатости поверхностей по образцам до 10-го класса применяют микроскопы сравнения накладного, переносного и стационарного THROB. [c.80]

При контроле и измерении шероховатости поверхностей пользуются методом визуальной оценки, контактными и бесконтактными профильными методами, к которым относятся методы светового сечения, теневой проекции, микроинтерференцион-иый и растровый методы. В тех случаях, когда не представляется возможным непосредственно измерить шероховатость поверхности, с измеряемой поверхности снимают слепок и определяют параметры шероховатости поверхности по слепку. [c.345]

Спеклы мешают рассматриванию объектов, освещённых когерентным светом, поэтому для их устранения используют разл. методы, сводящиеся либо к существ, уменьшению размеров С., либо к усреднению спекл-структуры во времени при случайном изменении распределения фазы волны, освещающей объект (или голограмму). Но С. имеют и широкое практич, применение в спекл-фотографив и спекл-интерферо-метрии [1—3, 5] для регистрации перемещений к деформаций объектов с диффузной поверхностью, для измерения шероховатостей поверхности, в астрономии [c.604]

В производственных условиях перед контролером часто возникает вопрос о возможности применения того или иного ш,упового прибора для измерения шероховатости поверхности изделий из мягких материалов. Профилометрам и профилографам присущи определенные погрешности, объясняемые природой контактного метода измерений. Основными пара-.метрами прибора, которые в первую очередь определяют величину искажений при ощупывании поверхности, являются, как указывалось выше, радиус закругления щупа г и усилие Р. Если радиус закругления иглы. можно рассматривать на определенном отрезке времени как величину постоянную для данного прибора, то измерительное усилие, в зависимости от динамических характеристик ощупывающей системы, скорости ощупывания и характера профиля контролируемой поверхности, может сильно изменяться- Это обстоятельство учитывается при конструировании приборов, В современных профилометрах и профилографах, благодаря рациональной конструкции датчиков, а также уменьшению скорости ощупывания добиваются значительного снижения доли динамической составляющей Р,) в общей величине усилия Р. Если радиус закругления иглы у большинства профилометров принят равным 10—15 мк. то измерительное усилие колеблется в весьма широких пределах и достигает в некоторых конструкциях 1—2 гс. Естественно, что при таких уси- лиях на поверхности контролируемого изде.лия, в зависимости от меха нических свойств, и в первую очередь, от твердости материала, будут оставаться более или менее глубокие царапины. Царапание, как следует из анализа, приводимого в главе VI, может по-разному сказаться на показаниях щуповых приборов. Когда размеры впадин велики по сравнению с размерами щупа (при пологом профиле с большим шагом неровностей), а перепад усилия ощупывания на дне впадины и на выступе характеризуется небольшой величиной, погрешности измерения незначительны. При узких микронеровностях, вследствие различных условий деформаций материала на гребешке и во впадине, происходит сглаживание профиля и соответствующее уменьшение измеренной высоты. Это уменьшение тем значительней, чем мягче материал контролируемого изделия и чище его поверхность. На фиг. 115 схематически показаны общие соотношения мелкду данными, получающимися при ощупывании, поверхности иглами с радиусами закруглений г= 10 мк при измерительных усилиях — 2 с С и показаниями оптических бесконтактных приборов. По оси абсцисс графика отложены классы чистоты, установленные с помощью оптических приборов по оси ординат — классы, получающиеся при ощупывании иглами, имеющими указанные выше г и Р. Кривая Т относится к теоретической поверхности абсолютно твердого тела с весь ма пологими неровностями кривая Л4 —- к поверхности изделий с твердостью Ял <20 кгс1мм и углом раскрытия впадин 100°. Между этими двумя кривыми располагаются кривые, относящиеся к поверхностям изделий из стали (С), бронзы (б) и т. п. При контроле профилометрами, имеющими значительные усилия ощупывания чистых поверх- [c.154]

В большинстве работ, где измерение шероховатости поверхности проводилось этим методом [3, 26, 40, 17], использовалась теория рассеяния Бекмана, рассмотренная в гл. I. Наиболее подробный анализ экспериментальных данных на базе этой модели был проведен Хайзингером [40], который показал, что наблюдаемые интегральные интенсивности и угловые индикатрисы рассеяния поверхности с шероховатостью а = 0,2-г-10 нм хорошо согласуются с расчетом для широкого диапазона длин волн и углов скольжения. Однако в рамках теории Бекмана оказалось невозможным объяснить некоторые наблюдаемые особенности рассеяния, в частности, резкий рост значения о, определяемого по интегралу рассеяния, при малых улах скольжения, а также появление в некоторых случаях. нескольких максимумов в угловой индикатрисе рассеянной компоненты. [c.238]

После рассмотрения различных методов измерения шероховатости сверхгладких поверхностей возникает вопрос о том, какой же метод следует предпочесть для оценки качества поверхности рентгеновских зеркал. Каждый из рассмотренных методов и приборов имеет свои недостатки и достоинства. Совокупность таких требований, как предельная чувствительность, простота реализации, возможность неразрушающего контроля, минимизация времени измерения и т. п., оказывается противоречивой. Понятно, что самую полную информацию о поверхности рентгеновского зеркала дает метод измерения индикатрисы рассеяния той энергии, где предполагается использование зеркала. Однако отсутствие выпускаемых промышленностью приборов такого типа и их достаточно высокая сложность практически исключают возможность использования их как средства контроля технологии изготовления зеркальной рентгеновской оптики. Проведенный обзор и анализ методов показывает, что в качестве приборов для контроля готовых образцов рентгеновских зеркал можно рекомендовать щуповой профилометр, прибор для измерения TIS и метод реплик в просвечивающей электронной микроскопии. Вторая группа приборов, имеющих самостоятельное значение, — приборы для контроля качества рентгеновской оптики в процессе ее изготовления. Наиболее удобен для этой цели дифференциальный интерференционный микроскоп Номарского при условии его достаточной калибровки (в некоторых случаях можно использовать щуповой профилометр). [c.244]

Пять последующих глав посвящены практическим приложениям, в основе которых лежат указанные выше явления гл. 6 — оптической обработке изображений, модулированных спеклами, гл. 7 — регистрации перемещений и деформаций диффузных объектов, гл. 8 — применениям в астрономии, гл. 9 — измерению шероховатости поверхностей. Наконец, в гл. 10 рассматриваются некоторые другие применения оптики спеклов, в частности для исследования прозрачных объектов, определения макрорельефа диффузных поверхностей, аппаратной функции и аберраций оптической системы, а также для исследования движения диффузных объектов. Особо отмечу астрономические приложения, примером которых может служить один из самых красивых экспериментов в оптике, проведенный астрономом Лабейри. Он исследовал двойные звезды, уподобляя атмосферную турбулентность диффузору, и, в частности, измерил замечательным методом, открываю-ихим поистине Е евиданные возможности, их видимый диаметр. [c.8]

Для измерения высоты микронеровностей и отнесения обработанной поверхности к тому или иному классу чистоты применяются специальные приборы двойной, микроскоп Линника, микропрофилометры, микроинтерферометры и др.), а также эталоны шероховатости (для оценки поверхности методом сравнения). Измерение шероховатости поверхности должно производиться в направле- [c.71]

Наибольшее распространение при измерении шероховатости поверхностей получили щ уповые методы, что объясняется относительно простой схемой регистрации и анализа информации. В основе этих методов лежит механическое ощупывание неровностей индентором и передача колебаний последнего на чувствительный датчик, преобразующий эти колебания в электрический сигнал. При линейной характеристике датчика сигнал, снимаемый с него, представляет собой профиль исследуемой поверхности в плоскости перемещения индентора. Создание комплексов на основе профилометров, состыкованных с ЭВМ, позволяет получать профиль в любом выбранном сечении, определять площадь опорной поверхности на заданном уровне, объем замкнутых полостей, образованных неровностями. и т. д. Вместе с тем измерение шероховатости с помощью щуповых методов имеет ограничение по точности и адекватности получаемой информации. Это связано со свойствами индентора, как твердого тела, имеющего конечные геометрические размеры и обладающего конструктивными связями. Возможности метода ограничены регистрацией неровностей с шагами не менее 2 мкм и углами наклона не более 20°. Недостатки методического характера связаны с невозможностью получения информации о морфологии и текстуре поверхности. [c.175]

Применение. Многослойная интерферометрия интенсивно применяется для исследования поверхностей скола, появления линий скольжения, следов индентора и т. п. Поскольку легко могут быть измерены ступеньки высотой 25—30 А (и с неко- торыми трудностями меньшей высоты), имеется потенциальная возможность использовать метод для измерения шероховатости поверхности с очень малой высотой неровностей. Многочисленные примеры применения метода описаны Толанским [87]. [c.374]

После каждой серии опытов п >оизводили измерение шероховатости поверхности. В качестве исследуемого параметра была взята высота неровностей по десяти точкам Rz как наиболее метрологически обеспеченный параметр. Измерение Rz производили двумя параллельными способами бесконтактным методом на двойном микроскопе МИС-11 и контактным методом путем снятия профилограмм на профилографе-профилометре модели 201. Исследовали как частные зависимости Rz = f (и) У г = /(5) Rг = f t), так и обобщенную зависимость Rz = [c.47]

Разработанные методы обеспечения требуемых параметров шероховатости поверхности ВКПМ не могут быть эффективно использованы без надежных методов их измерения. В то же время измерение шероховатости поверхности ВПКМ из-за их специфических свойств обладают рядом особенностей в первую очередь из-за низкого коэффициента отражения обработанной поверхности, относительно малой твердости материала и его высоких упругих свойств, особенности его структуры. Методы измерения параметров шероховатости поверхности ВКПМ подразделяют на непосредственный, косвенный и сравнения. [c.58]

Двойной микроскоп МИС-П предназначен для измерения шероховатости поверхности профильным методом. Прибор одновременно преобразует весь профиль исследуемой поверхности, давая так называемое световое сечение поверхности. Прибор имеет четыре комплекта спаренных объектов, обеспечивающих увеличение от 90х до 500х при апертурах от 0,13 до 0,50 и поле зрения от 0,3 до 2 мм. На этих приборах можно контролировать поверхности, получаемые при механической обработке деталей практически из любого материала (диапазон измеряемых неровностей от 1,6 до 80 мкм). [c.488]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...