Приборы Ширина

Разрешающая способность спектрографа. Спектральный прибор отображает строго монохроматическое излучение, освещающее входную щель, в виде некоторого распределения освещенности. Зто распределение называют инструментальным контуром спектральной линии. Его вид определяется совместным действием различных факторов. К их числу относятся дифракция на действующем отверстии спектрографа различные аберрации и другие погрешности оптики прибора, ширина входной щели и зернистая структура фотографической эмульсии. Если один из этих факторов является преобладающим, форма инструментального контура линии в основном определяется его действием. [c.15]

Для того чтобы инструментальный контур спектральной линии имел наименьшую (характерную для данного прибора) ширину, а практическая разрешающая способность была наибольшей,, спектрограф должен быть тщательно сфокусирован. Фокусировка состоит из нескольких операций, в результате выполнения которых отдельные оптические элементы спектрографа должны располагаться так, чтобы аберрации были минимальными, а светочувствительный слой фотопластинки оказался совмещенным с фокаль -ной поверхностью. [c.26]

Выше мы рассмотрели случай, когда строго монохроматическое излучение, направленное в спектральный прибор через бесконечно узкую щель, передается прибором в искаженном виде, т. е. на выходе прибора получается не бесконечно узкая спектральная линия, а некоторое распределение потока излучения, определяемого дифракцией на действующем отверстии прибора. В реальном спектральном приборе ширина инструментального контура идеализированной монохроматической линии [c.426]

В основной период два монтера пути расшивают шесть концов шпал, ставят пластинки-закрепители, регулируют стяжным прибором ширину колеи по шаблону, затем второй монтер пути зашивает рельсовую нить на четвертой, третьей, второй и первой шпалах и вслед за этим начинает забивку дополнительных и третьих основных костылей на этих шпалах, а первый и третий монтеры пути, поставив стяжной прибор в седьмом шпальном ящике, расшивают рельс на седьмой, восьмой, десятой и, девятой шпалах, регулируют прибором ширину колеи по шаблону и зашивают рельс на восьмой, седьмой, шестой и пятой шпалах (первый монтер), а также на десятой и девятой (третий монтер) [c.83]

Установка прибора на столе станка позволяет применять его при продольном шлифовании. Для шлифования ступенчатых валов возможна установка нескольких приборов. Ширина каждого прибора не превышает 20 мм. Шкала нанесена на узкой цилиндрической поверхности прибора. [c.23]

Ю" М при скорости подачи напряжения 2,04 мв сек, максимальной чувствительности прибора ширина полуволны будет 25 мм. [c.45]

На рис. 251 показан пример анализа серийного производственного чертежа детали. С помощью прибора были определены оптимальные размеры заготовки (рис. 251, а) для раскроя на карточки и оптимальная ширина ленты (полосы) при групповом раскрое (см. рис. 251, б). [c.343]

Оптимальный ряд характеризуется наименьшей площадью полосы (ленты), приходящейся на одну деталь (фигуру) и задается двумя параметрами оптимальной шириной и углом поворота детали в полосе в соответствии с конкретным типом группового раскроя. Эти параметры точно фиксируются прибором с выдачей экономической характеристики для оптимальных рядов конгруэнтных (одинакового контура) фигур. [c.345]

Сопровождающий прямоугольник с вписанным контуром детали позволяет весьма наглядно и однозначно формировать оптимальный раскрой на листе (полосе). Прибор фиксирует оптимальную ширину (В) полосы и положение контура фигуры в полосе (Р ) для данного типа группового раскроя (однорядного, гнездового, многорядного и др., рис. 253), обеспечивая наивысшее качество раскроя. Таким образом, для группового раскроя на ленты (полосы) новый способ позволяет однозначно получить еще два важных оптимальных параметра Вир. [c.297]

Прибор для штриховки применяется для быстрого и равномерного проведения линий штриховки под углом 45° к горизонтальной прямой и на одинаковом расстоянии друг от друга. Эти приборы обычно изготовляются самими учащимися. Наиболее прост в изготовлении прибор, показанный на рис 6, к. В катет угольника забивается короткий металлический стержень (часть тонкого гвоздя без шляпки), а в линейке делается несколько прямоугольных прорезей различной ширины. Глубина прорезей несколько больше длины стержня угольника Ширина прорезей определяет расстояние между параллельными штрихами. [c.9]

Лазерную сварку с использованием непрерывного излучения применяют для герметизации корпусов приборов, привариваемых наконечников к лопастям газовых турбин, приварки режущих кромок из закаленной стали к полотнам металлорежущих пил и т. д. Скорость сварки достигает нескольких метров в минуту ширина шва до 0,5 мм. [c.297]

Классификационную характеристику стандартизованных изделий указывают в титульной части стандарта. Примеры ОКП 12 8800 (Штифты) — класс (12), подкласс (8), группа (8) ОКП 42 6510 (Приборы чертежные) — класс (42), подкласс (6), группа (5), подгруппа (I) ОКП 39 4253 (Нутромер индикаторный с ценой деления 0,01 мм) —класс (39), подкласс (4), группа (2), подгруппа (5), вид (3), т. е. в последнем примере КХ относится к уже определенному виду изделия. После обозначения класса (по ОКП) оставляют пробел шириной в один знак. [c.159]

Следовательно, можно считать, что спектральный прибор, выделив синусоидальные составляющие из исследуемого излучения, как бы провел экспериментальное разложение заданной функции в ряд Фурье. Математическая операция получения спектра функции E t) и физический эксперимент, заключающийся в разложении электромагнитной волны на составляющие, привели к одинаковым результатам и, по-видимому, близки по количеству получаемой информации об исследуемом излучении. Такое же сравнение математического и физического спектров можно провести и в более сложном случае, когда изучаемая функция не является суммой гармонических колебаний, хотя отличная от нуля ширина аппаратной функции усложняет интерпретацию эксперимента и приводит к дополнительным трудностям, которые здесь не рассмотрены. [c.69]

Упрощенная оптическая схема спектрального прибора была представлена на рис. 1.16. Введем следующие обозначения В — яркость изображения источника в плоскости входной щели bi — ширина щели h — ее высота S — площадь поперечного сечения пучка, падающего на диспергирующий элемент. [c.326]

Очевидно, что чем длиннее цуг, испускаемый атомом, т. е. чем монохроматичнее свет, тем при большей разности хода возможна интерференция. В случае газоразрядных источников света в приборе Майкельсона удавалось наблюдать интерференцию при разности хода около полумиллиона длин волн. Опыты этого рода могут служить для характеристики процессов при излучении атома (см. 22). Обратно, располагая источником монохроматических волн, можно осуществить интерференцию при огромной разности хода и таким образом определить длину волны с очень большой точностью. Для некоторых лазерных источников света (гелий-неоновый лазер, например) ширина спектра излучения составляет 10 —10 с , что позволяет наблюдать интерференцию при разности хода в 10 —10 длин волн. [c.143]

Майкельсон применил интерферометрическое наблюдение для оценки малых угловых расстояний между двойными звездами, а также для оценки углового диаметра звезд. Метод Майкельсона, равно как и применение его к определению размеров субмикроскопических частичек, будет изложен ниже (см. 45). Наконец, понятно, что интерференционные методы, позволяющие с огромной точностью определять длину волны, могут служить для самых тонких спектроскопических исследований (тонкая структура спектральных линий, исследование формы и ширины спектральных линий, ничтожные изменения в строении спектральных линий). Интерференционные спектроскопы, их достоинства и недостатки будут обсуждены вместе с другими спектральными приборами (дифракционная решетка, призма) в 50. [c.149]

Тип 4. Профиль кулачка очерчен дугами окружностей. Условию выпуклости профиля кулачка при его постоянной ширине отвечает кулачок Вольфа, очерченный дугами ок1)ужиости радиусов Rq, R и Ro + R. Такие кулачки птроко Г1 )нмеияются в кулачковых механизмах киноаппаратуры н приборов. [c.63]

Склонность стали к образованию усадочных раковин и пор определена на цилиндрическом образце, переходящем в верхней части в усеченный конус усадочная лористость — по ширине пористой зоны трещиноустойчивость — на приборе конструкции ЦНИИТМаша. Прибор показывает стойкость стали против 06pia30BaHHH горячих трещин, которые образуются вследствие заторможенной усадки образцов. Литейные свойства определены при температуре начала затвердевания слитка 50—70 °С. [c.10]

Модульный принцип конструирования блоков радиоэлектронной аппаратуры иллюстрируется на рисунке 6.1, е. Минимальный призматический прямоугольный блок-модуль показан в правом верхнем углу (см. рис. 6Л, е). Остальные отсеки стойки аппаратуры выбирают кратными высоте и ширине модуля. Сотовую конструкцию из шестигранных призм (рис. 6.1, ж) применяют в качестве сеток, управляющих электронными потоками в электровакуумных приборах. Такие сетки имеют больщую прозрачность (в связи с тонкими перемычками) при хорошей механической прочности и высокой теплопроводности. На рисунке 6.1,3 показано применение призматических поверхностей в качестве направляющей прямолинейного движения с одной степенью свободы. Такие направляющие широко используются в различных видах технологического оборудования, особенно в металлорежущих станках. [c.73]

Как следует из определения, спектральный прибор дает различимые максимумы и минимумы при ширине интервала ДХ G. В качестве примера определим дисперсионную область дифракционнон решетки. [c.197]

Для простоты и наглядности рассуждений будем считать, что разность между o)i и (02 (а также между со2 и м3) значительно превышает ширину аппаратной функции йм. Тогда измерение интенсивности света на одной частоте не приведет к искажению измерений на другой частоте и мы зарегистрируем три максимума. Пусть приемник света в исследуемом интервале частот малоселективен, а поглощение радиации в самом приборе неселективно. Тогда отношение квадратов амплитуд (или отношение площадей под тремя пиками на спектрограмме) будет равно отношению . Если преодолеть трудности с калибровкой прибора, всегда сопутствующие абсолютным измерениям , то сумма указанных площадей определит среднее значение исследуемой функции. [c.69]

Оценка А/, при выбранных выше значениях (I = 0,5 см X = 5 10" см) приводит к допустимой ширине структуры, примерно равной 0,25А. При больишх значениях I область свободной дисперсии А/, становится еще меньше. Это значит, что интерферометр Фабри—Перо следует использовать лишь для иссл дования контуров спектральных линий, выделенных каким-либо более грубым спектральным прибором. [c.247]

Разумеется, соотношение (6.86) непригодно для оценки разрешающей силы призмы. При выводе соответствующего выражения исходят из того, что грань призмы (при обычном соотношении размеров призмы и объективов спектрального прибора) ограничивает эффективное сечение выходящего пучка света. Расчет проводится для симметричного хода лучей в призме (см. рис. 6.54), и тогда надо решать задачу дифракции света на прямоугольном отверстии, ширина которого определяется размерами призмьГ. Окончательный результат оказывается весьма простым и наглядным [c.325]

Наибольшие значения разности хода имеют место при голографировании трехмерных объектов, когда Ь практически совпадает с размерами объекта. Если, следовательно, последние составляют несколько десятков см, то Av не может превышать 0,01 см . Для сравнения укажем, что ширины спектральных линий в газоразрядных источниках света, как правило, находятся в пределах 0,1 — 1 см , и поэтому их применение в голографии предполагает дополнительную монохроматпзацию с помощью спектральных приборов с высокой разрешающей силой типа интерферометра Фабри —Перо (см. 30, 50). [c.260]

В случае спектрографов с несколькими призмами из одного материала (6п/8Х одинаково) Ь равно сумме основании всех призм. Так, небольшой трехпризменный спектрограф ИСП-51, каждая из призм которого имеет основание около 7 см, в фиолетовой части спектра, где дисперсия бд/бА, = 0,0001 нм имеет теоретическую разрешающую силу = 20 000, т. е. па приборе нельзя разрешить две фиолетовые линии, различающиеся меньше чем на 0,02 нм. Реальная разрешающая сила несколько ниже из-за влияния конечной ширины щели, а также вследствие несовершенства опт]1ки спектрографа и зернистой структуры фотоэмульсий. [c.369]

Для характеристики степени монохроматичности спектральных линий, т. е. излучения практически изолированных атомов, надо исследовать распределение интенсивности излучения по частотам с помощью прибора высокой разрешающей способности, например интерферометра Майкельсона или Фабри—Перо. Результат такого исследования можно представить в виде диаграммы (рис. 28.16), где по оси абсцисс отложены длины волн, а по оси ординат — соответствующие интенсивности. Конечно, нижние части полученных кривых очень мало достоверны, и можно полагать, что в идеальных условиях кривые спадали бы к нулю асимптотически. В разных условиях опыта (различие в природе пара, различие в температуре и давлении его, в степени иониза-0,01 000 0,03 Щ ции и т. д.) форма спектральной линии, изображенная на рис. Рис. 28.16. Контур линии испуска- 28.16, может быть различной. В качестве характеристики ширины линии условно принимают расстояние в ангстремах между двумя точками А, В, где ордината достигает половины максимальной. Эту условную характеристику принято называть шириной спектральной линии. Как сказано, она в очень благоприятных случаях может составлять 0,001 А и менее, но обычно бывает значительно шире кроме того, и форма линии мом ет сильно отступать от приведенной на рисунке, будучи иногда заметно асимметричной. [c.572]

Оптические квантовые генераторы с плавной перестройкой частоты служат основой для спектральных приборов с исключительно высокой разрешающей силой. Пусть, например, требуется исследовать спектр поглощения какого-либо вещества. Измерив величину лазерного потока, падающего на изучаемый объект и прощедшего через него, можно вычислить значение коэффициента поглощения. Перестраивая частоту лазерного излучения, можно, следовательно, определить коэффициент поглощения как функцию длины волны. Разрешающая способность этого метода совпадает, очевидно, с шириной линии лазерного излучения, которую можно сделать очень малой. Ширина линии, равная, например, 10 см" , обеспечивает такую же разрешающую способность, как дифракционная рещетка с рабочей поверхностью длиной 5 м, а изготовление таких больших решеток представляет почти неразрешимую задачу. [c.819]

В начале 1938 г. в одном и том же номере Nature появились два коротких сообщения Капицы [22] и Аллена и Мейснера [23], в которых описывалось течение Не II через узкие отверстия. В обеих работах жидкость вытекала под действрюм собственного веса из приподнятых над гелиевой ванной сосудов. В работе Капицы н идкость перетекала по зазору между двумя оптически плоскими пластинками, в работе Аллена и Мейснера были использованы тонкие капилляры. В первом случае ширина зазора менялась при помощи небольших прокладок, во втором—исследовались капилляры разного диаметра. Именно в этих работах и было открыто удивительное свойство Не II, ставшее известным как сверхтекучесть (это название предложено Капицей [22]). Им было обнаружено, что, если зазор в его приборе не содержал никаких прокладок (ширина щели в этом случае определялась интерференционным методом и была равна 5-10 см), истечение Не I из сосуда можно было заметить только через несколько минут, в то время как в области Не II весь сосуд опорожнялся в несколько секунд. Численные [c.793]

В любом случае определение непрямолинейности подкрановых рельсов может осуществляться различными способами створных измерений (оптическими, струнными, лучевыми), способом измерения малых у1 лов или путем определения координат осевых точек рельсов. Непосредственные измерения ширины колеи контактным или механическим способом производят при помощи рулетки (если ширина колеи не превышает длины мерного прибора и доступна для измерений) или других приборов для механических измерений линейных величин, а косвенный метод предусматривает определение ширины колеи из линейно-угловых геодезических построений (способы ломаного базиса, микротриангуляции, четырехугольника). Нивелирование подкрановых рельсов выполнясггся геометрическим, тригонометрическим или гидростатическим методами. [c.10]

На балке крана (рис.32, б) отмечают базис Ьо. На рельсы у крана устанавливают приборы, оси кареток которых автоматически располагаются по осям рельсов, и отсчитывают по линейкам 12 до-меры // и до концов базиса. Ширину колеи в данном сечении вычисляют как сумму базиса и домеров. Перемещая кран, последовательно измеряют ширину колеи в заданных сечениях. Точность измерений составляет 2-4 мм. [c.67]

Если на противоположном конце рельса установить нивелир, центрировав его над зельсовой осью с помощью отвеса, то одновременно с измерением ширины колеи можно проверить прямолинейность и горизонтальность этого рельса. С этой целью горизон-зальную визирную ось ориентируют по марке прибора, перемещая которую вверх-вниз по направляющей 15, добиваютея, чтобы перекрестие сетки нитей совпало с пересечением горизонтальной и вертикальной осей марки. При движении крана к наблюдателю производят отсчеты по горизонтальной и вертикальной шкалам марки, фиксируя тем самым отклонения рельса в горизонтальной и вертикальной плоскостях. Нивелирование второго рельса производится при обратном движении крана, а отклонения оси этого рельса от прямой линии вычисляют по измфенным значениям ширины колец. [c.67]

Рис. 32. Прибор-марка а) и схема измерения ширины колеи и иепрямопинейностирельсов (б)

Для механизахцш и автоматизации процесса измерения ширины колеи предназначен прибор i O-50 (рис. 17), описанный в разделе 5. [c.69]

Следует сказать, что при peaJтизauии ряда механических и других способов измерения ширины колеи, отсчетные узлы и передаточные механизмы специальных приборов и устройств перемешают с помощью мостовых кранов. В этом случае разворот моста крана относительно продольной оси пути может оказать влияние на точность определения его геометрических параметров. [c.71]

Вщ ак (Кавунец Д.И. и др. Определение геометрических параметров подкрановых путей с помощью лазерных визиров /УИнж. геод. 1979, вып.22. С.90-93) рекомендуется строить лучевые параллельные створы АА и ББ. Для этого (рис.40) один визир центрируется над осью рельса, а на другом конце пути на рельсы устанавливают приборы-марки и измеряют расстояние Е между осями рельсов. Второй лазерный визир устанавливают на такое же расстояние о между лазерными лучами. После этого горизонтальные лазерные лучи наводят на нули горизонтальных шкал. Перемещая подвижные марки вверх-вниз, совмещают нулевые штрихи вертикальных шкал с геометрическим центром светового пятна. Последовательно устанавливая приборы-марки на рельсы против каждой колонны, определяют превышения и отклонения осей рельсов от створа. Ширину колеи вычисляют по формуле ( 53), заменив в ней (7 на й. [c.82]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...