Коэффициент пропускания оптической систем

При расчете коэффициента пропускания оптических систем удобнее пользоваться формулой (38), по которой сначала вычисляют оптическую [c.76]

При расчете коэффициента пропускания оптических систем удобнее пользоваться формулой (28), по которой сначала вычисляют оптическую плотность системы О = —lgт, а затем по вычисленному значению В находят коэффициент пропускания т [c.74]

Формулой (1.31) не учитываются потери при отражении на поверхностях склейки деталей, если иа них нет светоделительных покрытий, и на поверхностях призм при полном внутреннем отражений, так как потери на этих поверхностях незначительны. При расчете коэффициента пропускания оптических систем удобнее пользоваться формулой (1.32), по которой сначала вычисляют оптическую плотность системы ) = = — ят, а затем по вычисленному значению > находят коэффициент пропускания т. [c.48]

Практически все пирометры излучения имеют стеклянную или кварцевую оптическую систему. Изменение температуры этой оптики может привести к изменению коэффициента пропускания оптической системы. Например, изменение температуры поглощающего стекла с 25 до 35°С вызывает допол- [c.64]

Предположим, что имеется идеальный нейтральный фильтр с коэффициентом пропускания т (практическую реализацию такого фильтра рассмотрим позднее) и можно измерить отношение R(Tau, Т) = 1/х следующим образом. Выбрав подходящий детектор со спектральной характеристикой s X), через оптическую систему, которая включает узкополосный фильтр со спектральным коэффициентом пропускания t X), наблюдаем по очереди черные тела при температурах Гди и Т. Температура второго черного тела Т регулируется до тех пор, пока сигнал от детектора, регистрирующего излучение черного тела в точке золота, не станет равен сигналу, возникающему при наблюдении второго черного тела через нейтральный фильтр. При этих условиях можно записать [c.369]

Лучистый поток, прошедший через оптическую систему и участвующий в образовании изображения спектральной линии, равен Ря = тРл. где X — коэффициент пропускания, учитывающий потери лучистой энергии. Освещенность спектральной линии опреде- [c.379]

Поток излучения, падающий в оптическую систему, состоящую из преломляющих и отражающих поверхностей, не весь проходит через нее. Как было показано, часть света теряется на отражение, поглощение и рассеяние. Количество света, пропущенного данной деталью (системой), определяется коэффициентом пропускания т, которым называют отношение потока излучения Ф , прошедшего через данную среду, к потоку излучения Ф, входящему в эту среду [c.56]

Коэффициент пропускания потока излучения можно представить в виде произведения коэффициентов пропускания деталей, составляющих оптическую систему, - [c.58]

Этот световой поток в результате прохождения через оптическую систему и элемент площадки диапозитива ослабляется в соответствии с коэффициентами пропускания света оптической системы т и диапозитива т , и на поверхность фотокатода ФЭУ поступает световой поток [c.431]

Если через Ф е обозначить поток, прошедший оптическую систему, то коэффициент пропускания системы т = Ф /Ф . [c.118]

Поток излучения, прошедший оптическую систему и падающий на площадку dQ [см. формулу (192)], с учетом коэффициента пропускания т оптической системы, а также изменения яркости по формуле (205) будет следующим [c.124]

Основными энергетическими характеристиками оптической системы являются коэффициент пропускания и светосила оптической системы. Производные величины — облученность в плоскости изображения и для фотографических систем — количество облучения. [c.87]

Светосилой Н является величина, характеризующая зависимость лучистой энергии, прошедшей оптическую систему и используемой для создания изображения в ее фокальной плоскости от геометрических параметров оптической системы и коэффициента пропускания. Так как общее количество лучистой энергии, входяще в систему, определяется площадью зрачка входа и обратно пропорционально квадрату фокусного расстояния объектива, то для определения светосилы применяют зависимость [c.89]

В ранее использованной модели [163, 171] предполагалось, что элементарные слои, образующие стопу, имеют толщину, равную d, и их оптические характеристики принимались равными характеристикам частиц. Такая связь между свойствами элементарного слоя и образующих его частиц может быть использована по крайней мере в качестве первого приближения при плотной упаковке частиц. Если система частиц сохраняет высокую объемную концентрацию при неплотной упаковке, связь между параметрами элементарного слоя и образующих его частиц будет более сложной. Для расчета этой зависимости служит геометрическая модель элементарного слоя—двумерная модель дисперсной среды [177], в которой реальные частицы, расположенные случайным образом в одной плоскости, заменены системой регулярно расположенных в узлах плоской квадратной сетки с шагом 2ур сфер. В рамках геометрической оптики взаимодействие излучения с поверхностью не зависит от ее размеров [125], поэтому принято, что сферы имеют единичный радиус. Предполагается, что поверхность их диффузно отражающая, серая. Для расчета характеристик элементарного-слоя используется вспомогательная схема (рис. 4.1), образованная моделью 2 и двумя абсолютно черными плоскостями I и 3. Задав на а. ч. плоскости 1 поток излучения плотностью qb, можно найти коэффициенты отражения и пропускания модели rt и Т( по отношению потоков, попадающих на плоскости / и 5 после многократного отражения на частицах, образующих систему 2, к заданному потоку, а затем поглощательную способность и равную ей степень черноты. [c.149]

Поток излучения, вошедший через щель в коллиматор, пройдя через его объектив, дпспергирующую систему и объектив камеры, концентрируется в изображении щели в данной длине волны. При этом его величина несколько уменьшается за счет потерь на отра-женпе от поверхностей коллиматорпого и камерного объективов и дпспергпрующей системы, а также за счет поглощения и рассеяния в материале фокусирующей оптики п диспергирующей системы. Эти потери мы будем учитывать введением коэффициента пропускания оптической системы спектрального прибора т п (л) < 1, зависящего от длины волны. Отметим, что у современных спектральных приборов величина Тсп (Я) может колебаться в интервале от (1.3 до 0,7, причем она зависит от поляризации излучения. [c.55]

Система из блоков 126, 13, 14 и 116 функционирует как замкнутая автоматическая система, в которой наличие помеховых составляющих на выходе блока 126 обеспечивает такое увеличение коэффициента усиления усилителя 116, чтобы уменьшить помеховые составляющие на выходе блока 126 до минимума. В этом случае компенсация помехового сигнала в канале а происходит полностью только в том случае, когда помеховый сигнал с выхода детектора 9а пропорционален сигналу на выходе детектора 96. Однако это условие может быть выполнено не всегда, хотя бы потому, что полосы пропускания, оптических систем каналов различны. Сигналы с выходов блоков 12а и 126, свободные от составляющих помехи и содержащие составляющие цели, суммируются сумматором 15 и после дополнительной фильтрации поступают к потребителю 16). [c.106]

В качестве конструктивных параметров слоя пространства выступают значения спектрального коэффициент i пропускания и коэффициента преломления в зависимости от коордиШ Т и направления визирования. Поэтому проектанту необходимо работат с функциями нескольких переменных. Для перехода к элементарным параметрам создаются методики и программы для ЭВМ, позволяющие 1аменить изучаемый слой пространства эквивалентной оптической систем ЗЙ с сосредоточенными параметрами, имеющей эквивалентный коэффициент поглощения [ 1,6]. [c.11]

Слой пространства изменяет амплитуду и фазу волн и, следовательно, существенно влияет на изображение, которое строится оптической системой ОЭП. Поэтому для построения модели обобщенного ОЭП необходимо учесть свойства срещл со случайным распределением коэффициентов пропускания и преломления. Характериотики таких распределений для практически важных сред, например дл1 атмосферы, определяются полуэм-пирическими зависимостями. При модельном представлении слоя пространства используют выражение дл совместной передаточной функции слоя пространства и оптической сист мы [ 4] [c.56]

Фотоматериалы как элементы оптических и голографических систем в настоящее время достаточно хорошо изучены (см., например, [23, 154]). Экспонированную и проявленную фотоэмульсию с точки зрения теории систем в первом приближении можно описать как последовательное соединение нелинейного простран-ственно-безынерционного элемента и линейного пространственноинвариантного фильтра. В соответствии с этим представлением основными техническими характеристиками фотоматериалов являются коэффициент пропускания и передаточная характеристика. [c.63]

Часто возникает вопрос, возможно ли измерить Т (х, г/) и х (v, g), т. е. параметры, описывающие систему как линейную по отношению к амплитуде считывающего света, используя методы, развитые для некогерентных систем, которые линейны по отношению к.интенсивности света Интересно рассмотреть соотношения между передаточной функцией для ПВМС в когерентном свете, полученные выше, и некогерентной оптической передаточной функцией Н (v, ). Если мы используем некогерентный свет, то предполагается, что оптическая система линейна к интенсивности считывающего света, и модулятор описывается с помощью коэффициента пропускания Ф х, у), так что [c.41]

Последнее выражение представляет собой систему линейных уравнешш для определения коэффициентов пропускания п отражения. Поле, прошедшее через оптический элемент, имеет вид [c.210]

Ранее в данном разделе было показано, что коэффициенты объединения по входу н разветвления по выходу взаимосвязаны с шириной полосы пропускания системы. Одно из преиму-пгеств применения ОПЛМ заключается в том, что использова-нне отдельных электронных компонент с волоконно-оптическими межэлементными соединениями позволяет использовать очень низкие плотности размещения реальных вентилей по сравнению с интегральными схемами со сверхвысокой степенью интеграции. Таким образом, в значительных по объему волоконно-оптических системах может быть рассеяна существенно ббльшая мощность, чем в компактных интегральных схемах со сверхвысокой степенью интеграции. Так как скорости переключения в конечном счете ограничены возможностью отвода выделяемого тепла, волоконно-оптические системы позволяют, крохме того, достичь более высоких тактовых частот. В самом деле, обычным явлением стала работа волоконно-оптических систем в области гигагерцевых частот, тогда как очень трудно добиться работы микроэлектронного чипа со сверхвысокой степенью интеграции при таких частотах. [c.253]

Действие сферических зеркал в системе эквивалентно действию линз. Отличительными особенностями зеркал являются больший коэффициент пропускания отсутствие искажений в изображении, вносимых преломляющими поверхностями за счет явления дисперсии (отсутствие хроматических аберраций) меньшие габаритные размеры и масса возможность компоновки оптических систем с меньшей длиной, чем длина систем из линзовых элементов в некоторых случаях, например в осветител1,ны-х системах, обеспечение лучшего использования источника излучения и т. д. [c.70]

Конструкция оптической системы зависит от угла 2ад. Если 2од-<30°, то можно использовать однолинзовую си му для 2(Та < 60° применяют двухлинзовую, а для 2ад. < 9u трехлинзовую систему. Выбрав конструкцию системы, уточн от ее коэффициент пропускания Тд. о. а также длину отрезкой а и а. [c.307]

Одно из важнейших практич. применений О. т. с.— уменьшение отражат. способности поверхностей оптич. деталей (линз, пластин и пр. подробнее см. в ст. Просветление оптики). Нанося многослойные покрытия из большого (13—17 и более) числа чередующихся слоёв с высоким и низким п, изготовляют зеркала с большим отражения коэффициенто.ч, обычно в сравнительно узкой спектр, области (не только в диапазоне видимого света, но и в УФ и ИК диапазонах). Коэфф. отражения таких зеркал (50—99,5%) зависит как от длины волны, так и от угла падения. С помощью многослойных покрытий разделяют падающий свет на прошедший и отражённый практически без потерь на поглощение на этом принципе созданы эфф. светоделители (полупрозрачные зеркала). Системы из чередующихся слоёв с высоким и низким п используют и как интерференц. поляризаторы, отражающие составляющую света, поляризованную перпендикулярно плоскости его падения, и пропускающие параллельно поляризованную составляющую. Степень поляризации в проходящем свете достигает для многослойных поляризаторов 99%. О. т. с. позволила создать получившие широкое распространение интерференц. светофильтры, полоса пропускания к-рых может быть сделана очень узкой — существующие многослойные светофильтры выделяют из спектр, области шириной в 500 нм интервалы длин волн 0,1—0,15 нм. Тонкие диэлектрич. слои применяют для защиты металлич. зеркал от коррозии и при исправлении аберраций линз и зеркал (см. Аберрации оптических систем). О. т. с. лежит в основе многих других оптич. устройств, измерит. приборов и спектр, приборов высокой разрешающей способности. Светочувствит. слои фотокатодов и болометров б. ч. представляют собой тонкослойные покрытия, эффективность к-рых существенно зависит от их оптпч. св-в. О. т. с. применяется в лазерах и квант, усилителях света прп создании приборов высокого разрешения (напр., при изготовлении интерферометров Фабри — Перо) при изготовлении дихроичных зеркал, используемых в цветном телевидении в интерференц. микроскопии (см. Микроскоп) и т. д. К эффектам О. т. с. относятся также Ньютона кольца, Полосы равного наклона. Полосы равной толщины. [c.494]

В принципе световое и вообще электромагнитное поле содержит все возможные длины волн, направления распространения и на правления поляризации. Но главное назначение лазера как прибора состоит в генерации света с определенными характеристиками. Первый этап селекции, а именно по частоте, достигается выбором лазерного материала. Частота V испускаемого света определяется формулой Бора Ну = и нач — конечн и фиксируется выбором уровней энергии активной среды. Разумеется, линии оптических переходов не являются резкими, а по различным причинам уширены. Причиной уширения могут быть конечные времена жизни уровней вследствие излучательных переходов или столкновений, неоднородность кристаллических полей и т. д. Для дальнейшей селекции частот используются оптические резонаторы. В простейшем СВЧ-резонаторе, стенки которого имеют бесконечно высокую проводимость, могут существовать стоячие волны с дискретными частотами. Эти волны являются собственными модами резонатора. Когда ученые пытались распространить принцип мазера на оптическую область спектра, было не ясно, будут ли вообще моды у резонатора, образованного двумя зеркалами и не имеющего боковых стенок (рис. 3.1). Вследствие дифракции и потерь на пропускание в зеркалах в таком открытом резонаторе не может длительно существовать стационарное поле. Оказалось, однако, что представление о типах колебаний (модах) с успехом может быть применено и к открытому резонатору. Первое доказательство было дано с помощью компьютерных вычислений. Фокс и Ли рассмотрели систему двух плоских параллельных зеркал и задали начальное распределение поля на одном из зеркал. Затем они исследовали распространение излучения и его отражение. После первых шагов начальное световое поле рассеивалось и его амплитуда уменьшалась. Однако после, скажем, 50 двойных проходов мода поля приобретала некую окончательную форму и ее амплитуда понижалась в одно и тоже число раз при каждом отражении (с постоянным коэффициентом отражения. Стало ясно, как обобщить понятие моды на случай открытого резонатора. Это такая конфигурация поля, которая не изменяется [c.64]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...