Разность потенциалов оптическая

Разность потенциалов 331 Разрешающая сила оптических систем [c.548]

Магнитные электронные линзы распространены более широко. Принцип их тот же, что у электростатических линз, но путь электронов в них гораздо сложнее вследствие вращения пучка электронов вокруг оси линзы (фиг. 17, б). Фокусное расстояние такой линзы прямо пропорционально и обратно пропорционально №. Поскольку эти величины определяются соответственно разностью потенциалов и силой тока в катушке возбуждения, очевидно, что для получения удовлетворительного изображения как ускоряющая разность потенциалов, так и сила тока в катушках должны быть постоянны на практике это обычно достигается с помощью специальных стабилизирующих устройств. В отличие от линз светового микроскопа фокусное расстояние здесь можно изменять по желанию, устанавливая различные значения разности потенциалов между элементами линз или изменяя силу тока магнитных линз эти возможности компенсируют в электронно-оптических системах отсутствие механических перемещений. [c.379]

Принцип работы термопары (рис. 25) состоит в следующем если взять две проволоки а и С1 из разных металлов и одни концы сварить и поместить в среду, температуру которой надо измерить, то на свободных концах 6 и появится разность потенциалов, измеряемая милливольтметром, шкала которого градуирована в градусах. Чтобы предохранить термопару от повреждения, ее помещают в стальную трубку, а проволоки покрывают фарфоровой изоляцией. В оптических пирометрах температуру раскаленного металла определяют путем сравнения яркости его свечения с накалом нити электрической лампочки, вмонтированной в прибор. [c.73]

Рентгеновские лучи, прошедшие через контролируемое изделие, попадают на входной флуоресцирующий экран и дают световое изображение изделия. Входной экран представляет собой тонкую алюминиевую подложку с нанесенным на нее флуоресцирующим слоем, на который, в свою очередь, нанесен светочувствительный слой — фотокатод. Кванты видимого света с входного экрана попадают на фотокатод и вырывают из него электроны, причем число вырванных электронов пропорционально числу квантов, падающих на фотокатод. Полученный поток электронов под действием высокой разности потенциалов (25—30 кВ) между фотокатодом и анодом ускоряется и попадает на выходной флуоресцирующий экран ЭОП, вызывая его свечение. Получаемое на выходном экране изображение просвечиваемого изделия рассматривается через увеличительную оптическую систему, причем яркость изображения за счет меньших размеров выходного экрана и ускорения электронов электрическим полем ЭОП в 1000 раз больше, чем на входном экране. Хотя визуальный метод контроля с применением ЭОП обеспечивает высокую производительность контроля и более дешев по сравнению с рентгенографией, но из-за более низкой чувствительности и меньшей четкости изображения применение этого метода ограничено. Визуальный ме- [c.140]

Например, при разности потенциалов в 150 вольт длина электронной волны равна 1 ангстрему — в 5000 раз короче длины волны световых колебаний при обычно применяемых в настоящее время значениях V, порядка 10 вольт, Х=0.04 ангстрема, в 10 раз меньше, чем в оптическом микроскопе. [c.91]

Например, пучок электронов, ускоренный разностью потенциалов 60 кв, имеет длину волны 0,05 А (0,005 нм). При этом теоретическое разрешение должно быть в 100 ООО раз больше, чем в случае оптического микроскопа. [c.15]

Помимо использования нелинейных свойств вольт-амперной хар-ки и зависимости ёмкости от напряжения, Э.-д. п. находит многообразные применения, основанные на зависимости контактной разности потенциалов и тока насыщения от концентрации неосновных носителей. Их концентрация существенно изменяется при разл. внеш. воздействиях — тепловых, механических, оптических и др. На этом основаны разл. рода датчики [темп-ры, давления, света, ионизирующих излучений (см. Полупроводниковый детектор) и т. д.]. Э.-д. п. используется также для преобразования све- [c.882]

Как уже отмечалось, поляризационно-оптические измерения позволяют отыскать только направления и разности главных напряжений. Раздельно напряжения можно определить путем дополнительного применения методов интегрирования или других экспериментальных методов. В методе электрической аналогии используется то обстоятельство, что сумма нормальных напряжений в плоской задаче (Oj Стг) и распределение потенциалов V в равномерно проводящей плоской среде удовлетворяют уравнению Лапласа, т. е. [c.224]

Явный успех расчетов в приближении самосогласованного поля для переходных металлов создает впечатление, что наше интуитивное представление о сходстве между потенциалами в твердом теле и свободном атоме оказывается неверным. Это очень интересный вопрос. В хроме, который имеет конфигурацию свободного атома Зс( 45 , в металлическом состоянии появились бы зоны, связанные как с так и с -состояниями, и эти зоны были бы только частично заполнены. Такое описание, по-видимому, согласуется с наблюдаемыми оптическими переходами в этом металле, хотя, как мы уже говорили, чтобы описать переходы в свободном атоме, нам пришлось бы для нахождения соответствующих правильных разностей энергий заново рассчитывать волновые функции и отвечающие им энергии в конечном состоянии. Став на точку зрения, прямо противоположную нашей интуиции, можно было бы предположить — и это было бы самым простым выходом из положения,— что в свободном атоме также возможно частичное заполнение уровней. Такая [c.94]

При изучении углеродистых сталей рассматривают область диаграммы железо—углерод с содержанием до 2,63% С. При этом независимо от того, является ли образец литым, катаным или отожженным, помимо феррита, присутствуют третичный, входящий в состав перлита, и вторичный цементиты. В мягких сортах стали (армко-железо, томасовская и т. д.) встречается преимущественно третичный цементит. Его трудно обнаружить после травления, хорошо выявляющего границы зерен. Это действительно и для сталей с 0,04—0,9% С (доэвтектоидные стали), поскольку перлит представляет собой структурную составляющую, содержащую еще более тонкие по сравнению с ферритом детали. В то время как границы зерен феррита (феррито-перлитная структура) растворами азотной и пикриновой кислот в спирте выявляются хорошо, участки перлита выглядят перетравленными (темными). Это связано с соотношением структурных параметров (например, межпластинчатым расстоянием в перлите), глубиной протрава и в некоторой степени с разностью потенциалов. Оптическое различие обеих фаз, феррита и цементита в перлите имеет обратную зависимость, т. е. глубина протрава становится больше, чем занятое ферритом межцементитное пространство и ширина цементитных пластин. Таким образом, допустимая для микроскопических наблюдений глубина протрава становится больше, чем занятое ферритом межцементитное пространство и ширина цементитных пластин. Таким образом, допустимая для микроскопических наблюдений глубина протрава тем легче превышается, чем дисперснее структура перлита, чем сильнее травитель или чем больше продолжительность травления. [c.79]

Более совершенный гальванометр (например, гальванометр типа H.S. фирмы Лидс и Нортроп ) имеет чувствительность, равную - 3-10 в мм, и время установления 5 сек. В нашем случае он обеспечит точность измерения сопротивления порядка 5%. Очевидно, что в задачах рассматриваемого типа ток, протекающий через гальванометр при практически достижимом приближенном равновесии ( 10 а), не может оказывать прямого влияния па разность потенциалов между концами образца. Чувствительность можно улучшить путем увеличения длины светового указателя. Действительно, в таком гальванометре легко использовать световой указатель длиной 3 м (вместо обычного метрового). Другим путем увеличения чувствительности является применение остроумного и простого оптического умножителя, предложенного недавно Дофини [57] (фиг. 14). Вместо простого однократного отражения светового луча зеркалом гальванометра, которое отбрасывает луч на отсчетную шкалу, в умножителе применено многократное отражение от дополнительного неподвижного зеркала, расположенного вблизи поверхности зеркала гальванометра и примерно параллельного ей. Световой луч испытывает в умножителе ряд последовательных отражений от зеркала гальванометра прежде чем попадает на шкалу, и благодаря этому угловое отклонение зайчика соответственно увеличивается. Дофини получил удовлетворительные результаты, пользуясь гальванометром, который давал с его приспособлением шестикратное увеличение yrjroBoro отклонения. Количество отражений, естественно, зависит от размера зеркала гальванометра. При малых зеркалах обычно используется трех- или четырехкратное увеличение углового отклонения. [c.173]

ЭФФЕКТ [тепловой стандартный характеризуется изменением изобарно-изотермного потенциала в процессе образования одного моля химического соединения из простых веществ при условии, что процесс является изотермическим (t = 25" С), а исходные простые вещества и образующиеся соединения находятся при давлении 98 кПа Фарадея состоит в том, что оптически неактивная среда приобретает под действием внешнего магнитного поля способность вращать плоскость поляризации света, распространяющегося вдоль направления поля Фуко состоит в том, что в течение времени плоскость качания сферического маятника поворачивается на определенный угол в сторону против вращения Земли Холла заключайся в том, что в металле или полупроводнике с током, помещенном в магнитное поле, перпендикулярное к вектору плотности тока, возникает поперечное поле и разность потенциалов фотопьезоэлектрическнй — возникновение ЭДС в однородном полупроводнике при одновременном одностороннем его сжатии и освещении Штарка состоит в расщеплении и сдвиге спектральных линий под действием на излучающее вещество внещнего электрического поля] [c.302]

Наиболее распространены в качестве источников света при интерференционных измерениях длины газоразрядные трубки Гейсле-ра. В этих трубках между двумя электродами — катодом и анодом, к которым приложена разность потенциалов, протекает тлеющий разряд при сравнительно низком давлении— 1—2 мм рт.ст. На катоде имеется очень узкая светящаяся полоска, затем располагается темное катодное пространство, далее идет область яркого тлеющего свечения, затем Фарадеево темное пространство , за которым до самого анода простирается область положительного столба с ярким свечением, которое, главным образом, и используется для освещения оптических приборов. Яркость свечения положительного столба зависит от поперечного сечения трубки чем это сечение уже, тем ярче светится положительный столб. Поэтому, как правило, все гейслеровские трубки снабжены капиллярами. [c.56]

В соответствии с экспериментальными возможностями для радиодиапазона нас интересует ток в проводнике, разность потенциалов на емкости и другие величины, линейно зависящие от векторов электромагнитного поля. Средние значения этих величин при тепловом равновесии равны нулю, отклонения их от этих средних нулевых значений должны рассматриваться как флуктуации, мерой величины которых является средний квадрат тока или разности потенциалов, связанные со средним квадратом векторов электромагнитного ноля. При оптической постановке вопроса нас интересуют с самого начала средняя энергия или интенсивность поля, которые квадратично зависят от векторов электромагнитного поля, так что эти величины отличны от пуля и при тепловом равновесип. [c.112]

Схемы первых электронных микроскопов были такими же, как у оптического микроскопа с двумя системами линз (рис. 14). Электроны, искускаемые катодом 5, ускоряются на пути к аноду разностью потенциалов V. Полученный таким образом электронный пучок после фокусирования конденсором С проходит через объект (реплику — отпечаток с металлической поверхности, тонкую фольгу и т. д.). Электроны, прошедшие через объект, собираются объективом О исключение составляют поглощенные и рассеянные электроны, количество которых зависит от рельефа, состава или структурных нарушений в объекте. Затем изображение объекта проектируется через окуляр Р на флуоресцирующий экран или фотографическую пластинку. [c.14]

На рис. 2,3, а изображена ионно-оптическая система экспериментаяь-ного ионного двигателя с газоразрядным источником. Она состоит из трех электродов формирующего, ускоряющего и замедляющего, каждый из которых вьшолнен в виде сетки из металлических прутков, закрепленных своими концами в кварцевых державках. Ускоряющая система непосредственно крепится к ионному источнику, так что формирующий электрод является его передней стенкой и находится под катодным потенциалом источника. Распределение потенциала в ионно-оптической системе схематически изображено на рис. 2.3, 6. Ионный источник и формирующий электрод поддерживаются под высоким положительным потенциалом относительно замедляющего электрода, потенциал которого Такая система ускорение - замедление позволяет наилучшим образом обеспечить возможно большую плотность Ионного тока при заданной скорости истечения ионов. В трехэлектродной системе плотность ионного тока определяется разностью потенциалов между формирующим и ускоряющим электродами (Ф1 + Фг), а скорость истечения ионов — разностью потенциалов между формирующем и замедляющим электродами (Ф1 - Фз = Ф1, так как Ф3 = 0). [c.51]

ГАЛЬВАНОМЕТР, электроизмерительный прибор высокой чувствительности для измерения малых токов, напряжений и кол-ва электричества (см. Баллистический гальванометр). Широко применяется в кач-ве нулевого индикатора для определения отсутствия тока в электрич. цепи или нулевой разности потенциалов между к.-л. двумя точками цепи. Наибольшее распространение получил Г. пост, тока с магнитоэлектрическим измерительным механизмом. Для повышения его чувствительности используют оптические отсчётные устройства, располагая выносную шкалу на значит, расстоя- [c.107]

Так как поляризационно-оптический метод дает только разность главных напряжений, за исключением контуров, где одно из напряжений известно, еще одно необходимое соотношение между главными напряжениями в виде сумм главных напряжений было получено с помощью электрической аналогии. Контур модели из электропроводной бумаги был разделен на участки, к каждому из которых прикладывали потенциал, пропорциональный сумме главных напряжений на данном участке контура. Суммы главных напряжений на контуре определяли по данным поляризационно-оптического метода. Между контуром модели и электродами из медной фольги была оставлена полоса бумаги шириной около 3 мм. На этом расстоянии приложенные потенциалы сглаживались, так что их распределение на контуре ближе соответствовало непрерывному распределению напряжений, имеющемуся на контуре модели из оптически чувствительного материала. Картина изопах для одной из моделей воспроизведена на фиг. 9.29. [c.259]

Для решения дифференциального уравнения Лапласа (81) может быть также применен экспериментальный метод электрической аналогии. В электрической модели с напряжениями, создаваемыми на контуре, распределение потенциалов внутри поля удовлетворяет уравнению Лапласа. Чаще всего плоскую электрическую модель изготавливают из электропроводной бумаги и исследуют на установках типа ЭГДА [16]. Этот метод позволяет определять величины сумм главных напряжений + Ог внутри контура модели, что в сочетании с данными поляризационно-оптического метода Oj — 02 дает возможность получать раздельно главные напряжения и (Ja-Линии равных сумм главных напряжений Oj + (jg (изопахики) могут быть определены и при помощи оптического прибора — интерферометра как линии равных приращений толщины модели. Интерферометр ИТ [17] позволяет определять Oj + на материалах с малой оптической чувствительностью (типа органического стекла). В результате наложения интерференционных картин в модели до и после ее загружепия образуются муаровые полосы, являющиеся изопахиками. При работе с оптически чувствительными материалами типа эпоксидных смол этот интерферометр с введенным в его схему анализатором позволяет определять абсолютную разность хода лучей, поляризованных в плоскостях, соответствующих напряжениям и Ог. Главные напряжения определяют в этом случае по отдельности через абсолютные разности хода [c.69]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...