Оптический интервал

Расстояние между задней главной точкой первой системы и передней главной точкой второй системы — косую толщину — обозначим через d и расстояние между задним фокусом первой системы и передним фокусом второй — оптический интервал — через А. [c.11]

Но в нашем случае величина отрезка Z2 может рассматриваться как величина оптического интервала А, взятая с обратным знаком. Тогда, сопоставляя формулы (1.22), (1.23), получаем [c.12]

Простейшая телескопическая система состоит из двух основных компонентов — объектива и окуляра (фиг. 60), причем задний фокус объектива совмещен с передним фокусом окуляра. Оптический интервал Д равен нулю и со- [c.120]

Расстояние от вершины сферической поверхности с номером к до вершины предыдущей поверхности с номером к . Расстояние от второго фокуса первой системы до первого фокуса второй системы (оптический интервал) в сложной оптической системе из двух систем. . Расстояние от оптической оси до точки преломления (отражения) главного луча, т. е. луча, проходящего через центр входного зрачка. . . . луча (кроме главного луча), ..... [c.368]

Оптический интервал Д микроскопа не имеет постоянного значения. Как видно из схемы, при употреблении длинно- [c.60]

В связи с этим при определении собственного увеличения объектива чаще берут не оптический интервал, а механическую длину тубуса, на которую и рассчитываются объективы микроскопа [c.61]

Изменение длины тубуса производится в следующих случаях 1) при употреблении объективов, рассчитанных на иную длину тубуса, 2) при употреблении специальных микрофотографических окуляров, работающих при укороченной длине тубуса, 3) для исправления недостатков промежуточного изображения, рисуемого объективом, 4) при использовании держателей объективов, изменяющих оптический интервал. [c.73]

Нельзя изменять длину тубуса произвольно, преследуя какие-либо иные цели, как, например, повышать увеличение или регулировать диаметр поля. Всякое произвольное изменение длины тубуса ведет к изменению оптического интервала, входящего в расчет оптической системы микроскопа, а следовательно, и к ухудшению качества изображения. [c.73]

Если оптический интервал Д обращается в нуль, то фокусные расстояния / и / обращаются в бесконечность, т. е. система будет телескопической. (Такой случай осуществляется, например, в зрительной трубе.) В этом случае уравнения (12.1) переходят в (11.23), причем [c.86]

Определим оптическую силу сложной системы, зная оптические силы составляющих систем и их взаимное расположение. Будем предполагать, что показатели преломления всех пространств предметов и изображений одинаковы. Обозначим через расстояние Я хН передней главной плоскости второй системы от задней главной плоскости Н первой системы. Оптический интервал между рассматриваемыми системами будет [c.87]

Применим полученные результаты к системе двух центрированных тонких линз собирательной и рассеивающей, поставленных друг за другом. Пусть фокусные расстояния линз по абсолютной величине одинаковы /х = — h, а потому f i = — fi- Оптический интервал между линзами А = /i + /12 + /а = къ т. е, положителен (/ja > 0). Из формулы (12.6) получаем [c.87]

На рис. 194 показана оптическая система, эквивалентная системе микроскопа и Р — передний и задний фокусы Я и Я — передняя и задняя главные точки эквивалентной системы Др — оптический интервал, называемый оптической длиной тубуса). [c.323]

По формуле (472) находим оптический интервал (А = г1), по формуле (473) — конфокальный параметр лазерного пучка, преобразованного первым компонентом (2к1 = 2кг). Зная по техническим условиям необходимую угловую расходимость 2 на выходе системы, по формуле (471) устанавливаем.угловое увеличение системы и согласно формуле (475) вычисляем фокусное расстояние второго (положительного) компонента [c.326]

Задний фокус совмещен с передним фокусом т. е. оптический интервал Ао = 0. Крайний луч АВ, входящий в систему параллельно оптической оси, после объектива направится к его [c.302]

В дальнейшем мы рассмотрим конкретные методы получения наибольшей величины отношения сигнал/шум при использовании различных приемников света, а сейчас имеет смысл остановиться на вопросе о границах всевозможных видов излучения внутри оптического диапазона спектра. Обычно считают, что длины волн видимого спектра лежат в интервале 4000—7000 А. Хорошо известно, что внутри этого интервала чувствительность глаза изменяется по закону, представленному на рис. 1, достигая максимального значения в зеленой области (л 5000 А). Хотя такая чувствительность глаза связана с длительным приспособ- [c.12]

Существуют режимы работы оптических квантовых генераторов, в которых выходящее из них излучение имеет вид последовательности эквидистантных, относительно коротких импульсов света. На рис. 40.19 приведена зависимость от времени мощности излучения лазера ), введенного в такой режим. Продолжительность каждого импульса составляет примерно 5-10" с ), а интервал времени между последовательными импульсами точно равен длительности одного цикла Т = 2Ыс (в данном случае 6,8-10 с). Полное число импульсов определяется временем существования инверсной заселенности уровней иона неодима. [c.811]

Различают две разновидности фотоэлектрических пирометров. К первой из них относятся пирометры, использующие сравнительно узкий спектральный интервал с эффективной длиной волны 7 = = 0,65 мкм (как и у оптических пирометров). Во второй разновидности фотоэлектрических пирометров используются щирокие -спектральные интервалы с различными значениями эффективной длины волны, зависящими как от спектрального состава излучения объекта измерения, так и от спектральных свойств применяемого фотоэлемента. Отсутствие в настоящее время полных сведений о значениях степени черноты тел в различных интервалах длин волн создает серьезные трудности для пересчета яркостной температуры, измеренной пирометрами этой разновидности, на действительную, поэтому такие пирометры используют главным образом для контроля температуры, когда знание действительной температуры необязательно. [c.187]

Воспроизводимость результатов капиллярного неразрушающего контроля вычисляют, пользуясь методом двукратных совпадений, как процентное отношение доверительного интервала количества следов однотипных несплошностей, выявленных по их заданному оптическому и (или) геометрическому параметру испытуемым методом (материалами), к количеству следов, выявленных образцовым методом (материалами) на группе объектов, например, лопаток турбин с однотипными многочисленными несплошностями (трещинами, парами и т. п.). [c.171]

Для фотографирования и киносъемки микроструктуры использовалась оптическая часть прибора ПМТ-3 [93]. Этим же коллективом исследователей была разработана установка, предназначенная для наблюдения, фотографирования и киносъемки изменений микрорельефа на поверхности образца, а также рентгеноструктурных исследований непосредственно во время его охлаждения, низкотемпературного растяжения и при последующем нагреве. Интервал рабочих температур составляет 10—300 К, максимальная нагрузка на образец 200 кгс, скорость деформации 0,03 мм/с. [c.193]

Универсальные измерительные устройства обеспечивают измерение величины в пределах определенного интервала значений. Универсальные устройства являются шкальными инструментами или приборами и подразделяются на штриховые с нониусом (штанген-инструмент), микрометрические, механические шкальные, рычажно-оптические) проекционные, интерференционные, пневматические, электрические и радиоизотопные. [c.583]

Здесь А — оптический интервал, т. е. расстояние между задним фокусом объектива микроскопа и передним фокусом окуляра, где расположено изображение предлгета, даваемого объективом микроскопа. Все эти величины возможно изменять каждую в отдельности. Однако для данной конструкцкн микроскопа обычно длина его тубуса А остается неизменной, а изменяют только фокус- [c.54]

Оптический интервал 85 Оптическое детектирование 728 Ортотомная система 54 Освещен нос гь 148 [c.748]

Это затруднение было преодолено в ревизии температурной шкалы 1968 г., когда единица температуры по практической и термодинамической шкалам была одинаково определена равной 1/273,16 части термодинамической температуры тройной точки воды. Единица получила название кельвин вместо градус Кельвина и обозначение К вместо °К. При таком определении единицы интервал температур между точкой плавления льда и точкой кипения воды может изменять свое значение по результатам более совершенных измерений термодинамической температуры точки кипения. В температурной шкале 1968 г. значение температуры кипения воды было принято точно 100 °С, поскольку не имелось никаких указаний на ошибочность этого значения. Однако новые измерения с газовым термометром и оптическим пирометром, выполненные после 1968 г., показали, что следует предпочесть значение 99,975 °С (см. гл. 3). Тот факт, что новые первичные измерения, опираюшиеся на значение температуры 273,16 К для тройной точки воды, дают значение 99,975 °С для точки кипения воды, означает, что ранние работы с газовым термометром, градуированным в интервале 0°С и 100°С между точкой плавления льда и точкой кипения воды, дали ошибочное значение —273,15 °С для абсолютного нуля температуры. Исправленное значение составляет —273,22 °С. [c.50]

Рис. 3.12. Акустический интерферометр НФЛ для интервала температур от 2 до 20 К [20]. А — смазка стайкаст В — постоянный магнит С и О — электрические экраны Е— пьезоэлектрический датчик ускорения Е — диафрагма О — акустический канал Я — поршень, на котором крепится уголковый отражатель / — германиевые термометры сопротивления / — уголковый отражатель J( — стержень, который толкает поршень Е — разделитель лучей М — подвес Я — оптическое окно О — опора Р — верхняя камера Q — подвижная труба Р — радиационный экран 5 — термометр сопротивления Т— тепловой якорь (с нагревателем) и — тепловой якорь при Т=4,2 К V — вакуумная полость W — центральная несущая труба У — лазерные лучи 2 — ванна с жидким гелием.

В результате этого, несмотря на наличие большого количества эксиериментальных данных по оптическим свойствам диэлектрических материалов, использование, их в практической работе затруднительно, так как требует тщательной иерепроверки. Кроме того, как уже отмечалось, результаты исследований не систематизированы, носят характер фиксации, а теория расчета, связывающая степень черноты структурными параметрами твердого тела, развита, особенно в части диэлектриков, недостаточно. Все это вызывает очень большие трудности при выборе материалов с требуемыми свойствами, причем с увеличением температурного интервала эксплуатации задача еще больше усложняется. [c.39]

В дальнейшем мы ознакомимся с различными приемами моно-хроматизации света (интерференционные фильтры, монохроматоры с дифракционной решеткой или призмой и т.д.). На данной стадии изложения важно отметить, что при оптических наблюдениях можно добиться необходимого эффекта не только ограничением интервала излучаемых частот, но и использованием селективного приемника излучения. Действительно, если применять источник света, излучающий весь набор частот, [c.212]

Примером такой среды может служить смесь при определенных соотношениях бензола и сероуглерода с погруженными в нее мелкими крупинками стекла. Граница раздела в такой среде перестает быть заметной — среда становится однородной. Свет через нее проходит не ослабляясь. Но поскольку стекло и жидкость обладают различной дисперсией, такая смесь оказывается оптически однородной средой только для света относительно узкого интервала длин волн. Именно эта спектральная область пройдет через среду без ослабления, а другие испытают значительное рассеяние. Этот принцип положен в основу изготовления дисперсионных светофильтров, которые пропускают свет узкого епектраль-ного состава (Л 1 30ч-50 А). [c.114]

Преобразователем является фотодиодная матрица МФ-14Б, в плоскости которой находятся 32X32 чувствительных элемента. Матрица включена в режиме накопления и осуществляет преобразование оптического сигнала в электрический аналоговый пропорционально величине светового потока за время накопления. Допускается регулирование интервала времени накопления и чувствительности по условиям освещенности рабочей сцены. Результат обработки изображения в цифровой форме выдается через выходной буфер ЭВМ в систему управления роботом. СТЗ имеет две градации яркости (выходной сигнал в виде цифрового шестнадцатиразрядного двоичного кода) время обработки изображения 60 мс разрешающая способность 2,5 мм. [c.348]

Адгезия к окислам металлов и металлических пленок, осажденных на окисную подложку, во многом определяется образованием химических соединений [3], в частности окислов [5, 10, 12L При исследовании тонких пленок молибдена и ванадия, напыленных на подложки SiOj и AlaOg, необходимо обратить внимание на возможность обнаружения на межфазной границе пленка — подложка окислов молибдена и ванадия соответственно. Однако в то время как металл обладает максимально возможным коэффициентом поглощения К Ю —10 смг ) в очень широкой области спектра от жесткого ультрафиолета и до радиоволн включительно, окислы в широких спектральных участках обладают значительно меньшим коэффициентом поглощения [14]. Поэтому сравнительно небольшие по интенсивности полосы поглощения окислов практически невозможно обнаружить на фоне мощного поглощения чистого металла. Лишь в определенных участках спектра, в которых начинаются собственные поглощения, обусловленные междузонными переходами, величина поглощения окисла может в какой-то мере приближаться к коэффициенту поглощения металла. Для обнаружения окислов молибдена и ванадия по оптическому пропусканию тонких пленок, напыленных на окисные подложки, необходимо было выбрать такой спектральный интервал, в котором происходит резкое изменение величины коэффициента поглощения окисла молибдена или ванадия) от сравнительно небольших значений до значений, близких к их металлическому поглощению. Только в этом случае можно обнаружить характерные спектральные изменения пропускания, которые будут указывать на наличие того или иного окисла. Так как при высоких температурах, начиная с 800° С и выше, стабильны только [c.19]

Смотреть страницы где упоминается термин Оптический интервал : [c.123] [c.82] [c.42] [c.18] [c.52] [c.61] [c.75] [c.85] [c.165] [c.168] [c.186] [c.100] [c.42] [c.56] [c.319] [c.166] [c.579] [c.789] [c.53] [c.28] [c.216] [c.20]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...