Толщина покрытия, метод определения оптический

Металлографический метод нередко выполняет роль арбитражного в спорных случаях и зачастую служит для проверки точности других неразрушающих методов определения толщины покрытия. Используя обычную технику подготовки шлифов и оптические микроскопы, можно произвести измерения с точностью 1 мкм, а применяя метод косого сечения при изготовлении образцов,— с точностью 0,1—1,0 мкм. С помощью электронного микроскопа можно измерить еще более тонкие осадки. [c.146]

В технической литературе и некоторых РТМ упоминаются следующие оптические методы, пригодные для контроля толщины покрытий 1) поляризационный метод 2) метод определения толщины по цвету окраски покрытия 3) интерференционный метод 4) метод светового сечения 5) метод теневого сечения. [c.86]

Для определения толщины покрытий, нанесенных на неметаллические подложки, кроме микрометрического метода можно использовать оптические методы, например метод светового сечения [10]. Принцип метода состоит в измерении смещения луча света а, отраженного поверхностью пленки и подложки, которая пропорциональна толщине покрытия (рис. 28) [c.140]

Известны разнообразные способы определения толщины как свободной пленки,. так и покрытия на подложке—от простого измерения микрометром до применения сложных оптических и магнитных приборов. Обычные микрометрические методы определения толщины покрытия на подложке большей частью связаны [c.206]

Достоверные результаты можно получить только на однородных пленках известной толщины. Может быть эффективным налив краски на плоские черно-белые стеклянные пластинки с помощью аппликатора. Другим методом определения является нанесение краски на прозрачную синтетическую пленку равномерной толщины (например на полиэфирную) и проведение измерений при оптическом контакте окрашенной синтетической пленки со стеклянной пластиной (оптический контакт дает жидкость с показателем преломления, идентичным показателю преломления синтетической пленки) [8]. В обоих методах толщина покрытия определяется исходя из веса краски на единицу площади. [c.446]

Рис. 1.7. Зависимость внутренних напряжений в стеклянной подложке 00 (Л и в нитроцеллюлозных покрытиях ав 2, 3) от толщины 1, определенных оптическим (2) и консольным (3) методами.

Рис. 1.12. Зависимость внутренних напряжений в подложке (То (/) и в перхлорвиниловых покрытиях ад (2, 3), определенных оптическим (2) и консольным (5) методами, от толщины 1.

Таким образом, на получение заданных оптических характеристик терморегулирующих покрытий существенно влияет их толщина. Выражения (5-23) и (5-25) позволяют рассчитать значения оптимальной толщины покрытия. Однако они не учитывают специфических условий работы деталей с покрытиями, а также метода нанесения материала. Поэтому при определении толщйны покрытия деталей, работающих при температурах выше 500 С, необходимо большую из величин, полученных по формулам (5-23) и (5-25), увеличить на 30—35%. [c.120]

Для определения толщины покрытий известны разнообразные способы -от простого измерения микрометром до применения сложных оптически. и магнитных приборов. Распространено определение толщины покрытий магнитными методами без нарушения целостности покрытия (толщиномерами типа ИТП-1, МИП-10, МТ-ЗОН и др.). Пршщип действия этих приборов основан на изменении силы протяжения мапптга к ферромагнитной подложке [c.116]

Дефекты могут быть обнаружены под слоем )1еэлектропроводящего, в частности лакокрасочного, покрытия толщиной до 1 мм. Это очень важно, поскольку визуально-оптические методы определения таких дефектов не дают положительного результата. [c.344]

Методы контроля то.чщины покрытий, получаемых электрохимическими и химическими способами, а также термины и определения основных понятий в области измерения толщины стандартизированы [122, 132]. Анализ литературы показал, что из девяти методов определения толщины покрытий, рекомендуемых стандартом [122], для газотермических покрытий используются лишь три магнитный, электромагнитный (вихревых токов) и металлографический. Остальные методы не применяются либо из-за высокой коррозионной стойкости керамических покрытий (кулонометрический метод и методы струи и капли), либо из-за сложности и специфичности необходимого оборудования (радиационный и оптический методы), либо из-за больших погрешностей (гравиметрический метод). [c.82]

Профилометрический метод. Так же, как и в двух описанных выше оптических методах, в профилометрическом методе определения толщины покрытия необходимо получить уступ между покрытием и основным металлом при удалении покрытия на локальном участке поверхности. В данном случае, однако, толщина определяется из профилограммы, полученной путем регистрации изменений положения стальной иглы при ее перемещении по испытуемой поверхности. Для усиления передаваемого движения иглы увеличения графического изображения исследуемого профиля поверхности, по которому можно провести непосредственные измерения, используются электронные приборы. [c.141]

Более точный способ, пригодный для весьма тонких пленок, основан на применении поляризованного монохроматического света.. Отражение такого света от чистой металлической поверхности приводит к некоторому нарушению поляризации (так называемая эллиптическая поляризация). Если же поверхность покрыта слоем окисла, нарушение поляризации увеличивается тем сильнее, чем толще слой окисла. Это нарушение зависит от угла падения и от оптических свойств пленки и поверхности металла. Если известны угол падения и оптические свойства среды, можно рассчитать толщину пленки. Метод этот разработан Друде и Фойгтом, а применен к определению толщины тонких пленок на металлах Л. Тронстадом [24—26]. Преимущество метода заключается в том, что он дает возможность исследовать поверхность не только в газовой среде, но и в жидкостях, например, в растворах электролитов. Л. Тронстад мог определять толщину пленок от нескольких ангстрем до —200 А. [c.89]

Известны разнообразные способы определения толщины как свободной пленки, так и покрытия на подложке - от простого измерения микрометром до применения сложных оптических и магнитных приборов. Наибольшее распространение получило определение толщины покрытий магнитными методами, так как эти методы дают возможность опрепелить толщину лакокрасочного покрытия на любом предмете (ю ферромапшт-ных металлов) без нарушения целостности покрытия. [c.126]

Определение внутренних напряжений консольным методом проводят на установке, состоящей из консоли, от-счетного микроскопа (оптическая часть микроскопа МИР-12) и термостатирующего устройства (рис. 31). Консоль представляет собой две пластины из нержавеющей стали размером 80X15 мм, толщиной 0,25—0,3 мм (пластина-подложка) и 1,0—1,5 мм (пластина-основа-ние), соединенные точечной сваркой через двухмиллиметровую стальную прокладку. В пластине-основании иногда предусматриваются три отверстия диаметром 10 мм для измерения толщины покрытия микрометром. Пласти-ну-подложку щлифуют шкуркой №№12—20, обезжиривают уайт-спиритом и измеряют ее толщину в трех точках б. Лакокрасочный материал наносят наливом или кистью так, чтобы не было потеков по краям и на обратной стороне пластины, помещают на подставку и сразу измеряют расстояние между пластиной-подложкой и пластиной-основанием к. На подставке можно закреплять одновременно шесть консолей. После отверждения покрытия измеряют длину пленки I, суммарную толщину покрытия б + Аб (в тех же точках, в которых измеряли толщину подложки) и расстояние между пластинами к + Ак. Внутренние напряжения о (в МПа) рассчитывают по формуле [c.145]

Поляризационно-оптический метод определения на пряжений позволяет выяснять причины появления напря женного состояния в склеенных деталях и делать выводы о кинетике нарастания внутренних напряжений в клеевых швах и покрытиях разной толщины, о зависимости внутренних напряжений и прочности клеевого шва, о прочности адгезии и ее зависимости от толщины адгезива, о влиянии различных оптических клеев на склеенные детали, о состоянии клея при полимеризации и т. д. [17, 18 51—531. [c.4]

Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...